【技術實現步驟摘要】
【】本專利技術涉及一種確定試樣的折射率分布的方法。
技術介紹
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技術介紹
1、輻射檢測器是一種測量輻射特性的設備。該特性的例子可以包括輻射的強度、相位和偏振的空間分布。輻射檢測器測量的輻射可以是已經穿過物體傳輸的輻射。輻射檢測器測量的輻射可以是電磁輻射，例如紅外光、可見光、紫外線、x射線或γ射線。輻射可以是其他類型，例如α射線和β射線。
技術實現思路
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技術實現思路
1、本專利技術公開了一種方法，包括：從輻射源發出輻射束，該輻射束穿過實際試樣，然后朝向輻射檢測器行進，其中，所述實際試樣包括m個實際試樣區，其中，所述輻射檢測器包括n個傳感元件，其中，m和n為大于1的整數；使用輻射檢測器，基于所述實際試樣和所述輻射束之間的相互作用，拍攝所述實際試樣的實際圖像；以及基于所述實際試樣的實際圖像，分別確定所述m個實際試樣區的m個折射率值。
2、在一個方面，所述確定m個折射率值不是基于所述實際試樣的另一實際圖像。
3、在一個方面，所述實際圖像是輻射強度分布的二維圖像，不包含光譜數據，并且，不是重建的三維圖像。
4、在一個方面，所述基于所述實際圖像確定所述m個折射率值，包括：生成仿佛由所述輻射檢測器基于所述模擬試樣和所述輻射束之間的相互作用而拍攝的模擬試樣的模擬圖像；確定所述實際圖像和所述模擬圖像之間的差異在預先指定的容差范圍內；以及基于所述模擬試樣的折射率分布，確定所述m個折射率值。
5、在一個方面，所述實際試
6、在一個方面，所述模擬試樣的m個模擬試樣區分別與所述實際試樣的所述m個實際試樣區重合，并且，所述m個折射率值中的每個折射率值都等于所述m個模擬試樣區中的對應的模擬試樣區的折射率值。
7、在一個方面，所述實際圖像包括n個像元，并且，所述模擬圖像包括n個像元。
8、在一個方面，所述實際圖像和所述模擬圖像之間的差異與(ai-si)的函數相關，其中，i＝1、……、n。ai為所述實際圖像的所述n個像元中的像元(i)的值。si為所述模擬圖像的所述n個像元中的像元(i)的值。所述實際圖像的所述像元(i)和所述模擬圖像的所述像元(i)均對應于所述輻射檢測器的所述n個傳感元件中的傳感元件(i)。
9、在一個方面，所述基于所述實際圖像確定所述m個折射率值，包括：使用人工神經網絡并將所述實際圖像作為所述人工神經網絡的輸入來生成所述m個折射率值。
10、在一個方面，所述輻射束為x射線束。
11、在一個方面，所述x射線束的光子能量小于10kev。
12、在一個方面，所述輻射束是錐形束。
13、在一個方面，所述輻射束照射整個所述實際試樣。
14、在一個方面，所述實際試樣是冷凍組織。
15、在一個方面，所述輻射源和所述實際試樣之間的距離與所述實際試樣和所述輻射檢測器之間的距離的比值在0.1至1的范圍內。
16、在一個方面，所述實際試樣具有切片的形狀，該切片具有沿著垂直于所述切片的方向測量的均勻厚度，并平行于所述輻射檢測器的輻射接收表面。
17、在一個方面，該方法還包括：基于所述m個折射率值，從所述實際試樣中去除所述實際試樣的一部分。
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1.一種方法，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定M個折射率值不是基于所述實際試樣的另一實際圖像。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述實際圖像是輻射強度分布的二維圖像，不包含光譜數據，并且，不是重建的三維圖像。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述實際圖像確定所述M個折射率值，包括：
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述實際試樣的每個點都位于所述模擬試樣內。
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，
7.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述實際圖像包括N個像元，所述模擬圖像包括N個像元。
8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，
9.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述實際圖像確定所述M個折射率值，包括：使用人工神經網絡并將所述實際圖像作為所述人工神經網絡的輸入來生成所述M個折射率值。
10.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述輻射束為X射線束。
11.根據權利要求10所
12.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述輻射束為錐形束。
13.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述輻射束照射整個所述實際試樣。
14.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述實際試樣是冷凍組織。
15.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述輻射源和所述實際試樣之間的距離與所述實際試樣和所述輻射檢測器之間的距離的比值在0.1至1的范圍內。
16.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述實際試樣具有切片的形狀，該切片具有沿著垂直于所述切片的方向測量的均勻厚度，并平行于所述輻射檢測器的輻射接收表面。
17.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：基于所述M個折射率值，從所述實際試樣中去除所述實際試樣的一部分。
...【技術特征摘要】
1.一種方法，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定m個折射率值不是基于所述實際試樣的另一實際圖像。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述實際圖像是輻射強度分布的二維圖像，不包含光譜數據，并且，不是重建的三維圖像。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述實際圖像確定所述m個折射率值，包括：
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述實際試樣的每個點都位于所述模擬試樣內。
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，
7.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述實際圖像包括n個像元，所述模擬圖像包括n個像元。
8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，
9.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述實際圖像確定所述m個折射率值，包括：使用人工神經網絡并將所述實際圖像作為所述人工神經網絡的輸入來生成所述m個折射率值。
...【專利技術屬性】
技術研發人員：劉雨潤，曹培炎，
申請(專利權)人：深圳幀觀德芯科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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