【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及行星光譜，具體地說，涉及一種用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件及使用方法。
技術介紹
1、可見近紅外反射光譜記錄了探測樣品中過渡元素的電子躍遷、分子振動的倍頻和組合頻等信息，是研究礦物種類和礦物成分的主要探測手段，在深空探測和相關實驗室研究中廣泛應用，尤其在隕石等行星樣品研究中，可見近紅外反射光譜可實現樣品物質成分的快速、無損探測，具有突出的優勢。
2、根據已有研究，可見近紅外反射光譜技術在隕石和小行星探測中扮演著重要的角色。這種技術能夠提供關于小天體表面物質成分及隕石物質成分的關鍵信息，幫助科學家們理解小行星的表面特性和它們的礦物組成乃至識別不同類型小行星及其與隕石之間關系。在深空探測任務中，如嫦娥一號月球探測任務搭載的干涉成像光譜儀(iim)、天問一號首次火星探測任務攜帶的火星礦物光譜分析儀(mms)、火星勘測軌道器(mro)的火星專用小型偵察影像頻譜儀(crism)等，都采用了可見近紅外反射光譜技術，基于月球及火星表面光譜特征，獲取月球和火星礦物種類、礦物成分和空間分布等信息，認識月球及火星地質成因和演化歷史，取得了豐碩的科學成果。如，山東大學研究團隊以嫦娥一號iim數據為主，繪制并發布了世界首幅1:250萬月球全月巖石類型分布圖，為認識月球地質演化過程提供了基礎數據資料。
3、隕石樣品中存在很多毫米級尺度的斑晶，而測量斑晶有助于理解隕石的起源和演化歷史，以及其源區的巖漿作用環境特征，可以更好地理解太陽系早期的行星分化和物質的分離過程，進而揭示太陽系的形成和演化。
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技術實現思路
1、本專利技術的內容是提供一種用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件及使用方法，其能夠實現對隕石斑晶的可見近紅外波段的微區探測以及獲取采集區域的圖像。
2、根據本專利技術的一種用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件，其包括用于將光纖輸出的光束轉換為平行光的光纖準直器，光纖準直器連接有籠式系統，籠式系統內設有插拔式反射鏡；
3、籠式系統下方連接有用于匯聚平行光束的平凸透鏡，平凸透鏡下方設有用于放置樣品的載物臺，載物臺通過旋轉把套和旋轉螺紋進行高度粗調和細調；載物臺下方設有左右調節臺；
4、籠式系統右方依次連接有雙膠合透鏡、視場光闌、橡膠套筒、可調倍率物鏡、顯微物鏡筒和cmos相機。
5、作為優選，cmos相機連接有電腦，用于顯示樣品成像情況以及光斑位置的實時標定。
6、作為優選，平凸透鏡周圍設有為樣品提供額外照明的led燈圈。
7、作為優選，載物臺為可旋轉的盤狀結構。
8、本專利技術提供了一種用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件的使用方法，其采用上述的用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件，并包括以下步驟：
9、1)準備樣品：根據研究需求準備相應樣品；
10、2)連接設備：將光纖連接到鎢燈和分析光譜的設備asd，確保連接正確無誤；將cmos相機與led燈圈連接至電腦；
11、3)取下插拔式反射鏡：在進行光譜測量前，需要取下插拔式反射鏡以避免干擾；
12、4)測量光譜：打開鎢燈與asd準備測量，先將白板調整到最佳聚焦高度進行標定，之后將樣品調節至同樣高度進行光譜測量，收集樣品的光譜數據；
13、5)放置插拔式反射鏡：光譜測量完成后，重新放置插拔式反射鏡；
14、6)觀察成像：打開led燈圈，調節視場光闌，觀察并記錄成像結果。
15、與現有技術相比，本專利技術的有益效果在于：
16、(1)首次實現顯微地物光譜儀的自主設計與搭建
17、本專利技術可使地物光譜儀采集范圍相較于原來的厘米級別的大小縮小到毫米級別，更有利于對隕石等樣品中較為細小的區域經行精細探測。
18、(2)顯微asd光譜儀實現了圖譜合一
19、本專利技術在實現微區光譜采集的同時，加入了成像功能，可利用圖像搜尋可見近紅外光譜的聚焦位置，提高實驗效率。快速定位光譜采集區域，提供探測對象的微區形貌信息。
20、(3)顯微asd系統實現整機集成
21、減少雜散光，本專利技術將所有的實驗儀器整合到一個完整的封閉系統之中，減少外界光線的干擾，保證數據的可靠性。
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1.用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件，其特征在于：包括用于將光纖輸出的光束轉換為平行光的光纖準直器(1)，光纖準直器(1)連接有籠式系統，籠式系統內設有插拔式反射鏡(2)；
2.根據權利要求1所述的用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件，其特征在于：CMOS相機(13)連接有電腦，用于顯示樣品成像情況以及光斑位置的實時標定。
3.根據權利要求2所述的用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件，其特征在于：平凸透鏡(3)周圍設有為樣品提供額外照明的LED燈圈(7)。
4.根據權利要求3所述的用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件，其特征在于：載物臺(4)為可旋轉的盤狀結構。
5.用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件的使用方法，其特征在于：其采用如權利要求4中任一所述的用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件，并包括以下步驟：
【技術特征摘要】
1.用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件，其特征在于：包括用于將光纖輸出的光束轉換為平行光的光纖準直器(1)，光纖準直器(1)連接有籠式系統，籠式系統內設有插拔式反射鏡(2)；
2.根據權利要求1所述的用于隕石樣品分析的地物光譜儀顯微探測組件，其特征在于：cmos相機(13)連接有電腦，用于顯示樣品成像情況以及光斑位置的實時標定。
3.根據權利要求2所述的用于隕石樣品...
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