【技術實現步驟摘要】
本申請涉及電氣設備領域，具體而言，涉及一種確定目標組件過熱異常的方法、確定目標組件過熱異常的裝置、計算機可讀存儲介質和確定目標組件過熱異常的系統。
技術介紹
1、近年來，隨著光通信、化學分析、生物醫學和環境監測等領域的快速發展，紫外探測器的需求量急劇增加。氮化鎵基紫外探測器因為具有高的敏感度、寬的響應譜、低的暗電流和高的工作溫度等優點，在紫外探測應用中備受矚目，氮化鎵基紫外探測器一般采用p-i-n結構，該結構由p型摻雜層、i型非摻雜層和n型摻雜層組成，其中，i型非摻雜層是探測器的主要光電轉換層，能夠吸收紫外光并產生電子空穴對，由于氮化鎵具有較高的能隙能夠吸收較短波長的紫外光，因此氮化鎵基紫外探測器的響應波長范圍通常為200nm～400nm，電子空穴對在電場的作用下沿著氮化鎵材料內部運動并在摻雜層處產生電流信號，摻雜層與金屬電極相連，將電流信號輸出。
2、氮化鎵基半導體紫外探測器具有高靈敏度、快速響應和良好的穩定性，這些特性使得它們非常適合用于熱成像開關柜中，通過檢測開關柜內部的溫度分布和異常情況，氮化鎵基紫外探測器能夠實時監測開關柜的運行狀態，及時發現潛在的安全隱患，從而提高電力系統的安全性和可靠性，氮化鎵基紫外探測器對紫外光有很高的靈敏度，能夠快速響應并捕捉到開關柜內部的微小溫度變化，從而實現對開關柜內部狀態的實時監測；氮化鎵基材料的穩定性高，能夠保證探測器的長期穩定運行，減少誤報和漏報的可能性，提高開關柜的安全性和可靠性；通過氮化鎵基紫外探測器的應用，可以實現對開關柜內部溫度分布的快速檢測，及時發現異常情況，提高
3、傳統的氮化鎵基半導體紫外探測器開關柜熱成像存在以下缺點：
4、傳統的氮化鎵基半導體紫外探測器對開關柜進行檢測的過程中，僅僅通過氮化鎵基半導體紫外探測器對開關柜熱成像溫度采集，采集的異常溫度數值無法被快速識別，不便于向使用者快速準確提供目標信息。
技術實現思路
1、本申請的主要目的在于提供一種確定目標組件過熱異常的方法、確定目標組件過熱異常的裝置、計算機可讀存儲介質和確定目標組件過熱異常的系統，以至少解決現有技術中無法準確獲得開關柜中過熱異常組件的問題。
2、為了實現上述目的，根據本申請的一個方面，提供了一種確定目標組件過熱異常的方法，包括：獲取多個開關柜的紅外圖像和紫外探測圖像；根據多個所述紅外圖像和多個所述紫外探測圖像，判斷所述開關柜是否存在過熱區域；在所述目標開關柜存在所述過熱區域的情況下，根據所述目標開關柜的空間信息和所述過熱區域，確定所述目標開關柜中存在過熱異常的目標組件，其中，所述過熱區域的第一檢測溫度大于第一閾值，所述空間信息包括所述目標開關柜的中多個組件的位置分布信息。
3、可選地，根據多個所述紅外圖像和多個所述紫外探測圖像，判斷所述開關柜是否存在過熱區域，包括：將所述紅外圖像和所述紫外探測圖像配準；從配準后的所述紫外探測圖像中提取特征信息，所述特征信息包括紫外輻射強度特征；根據所述特征信息和目標關系模型，生成溫度分布信息，其中，所述目標關系模型用于表征所述開關柜的溫度和紫外輻射強度的對應關系；根據所述溫度分布信息，確定所述目標開關柜存在過熱區域。
4、可選地，根據所述目標開關柜的空間信息和所述過熱區域，確定所述目標組件存在過熱異常，包括：根據所述紅外圖像和所述紫外探測圖像，確定所述目標組件的目標位置信息和第二檢測溫度；獲取所述目標組件的運行狀況，其中，所述運行狀況包括所述目標組件在工作條件下的溫度閾值；根據所述運行狀況和所述第二檢測溫度，判斷所述目標組件是否存在過熱異常；在所述第二檢測溫度大于所述溫度閾值的情況下，確定所述目標組件存在過熱異常。
5、可選地，所述方法還包括：根據所述紅外圖像和所述紫外探測圖像，得到多個所述開關柜的第一檢測位置信息和所述過熱區域的過熱位置信息；根據所述第一檢測位置信息和所述過熱位置信息，確定所述目標開關柜。
6、可選地，獲取所述目標開關柜的空間信息，包括：接收所述目標開關柜的掃描信息，所述掃描信息是通過對所述目標開關柜上的標識進行識別生成的信息，所述掃描信息包括所述組件的分布信息和所述組件的溫度閾值信息；從所述掃描信息中調取所述空間信息。
7、可選地，獲取多個所述開關柜的所述紅外圖像和所述紫外探測圖像，包括：獲取紅外熱成像設備檢測得到的所述紅外圖像；獲取紫外探測器檢測得到的所述紫外探測圖像。
8、為了實現上述目的，根據本申請的一種確定開關柜熱過熱異常的裝置，包括：獲取單元，用于獲取多個開關柜的紅外圖像和紫外探測圖像；判斷單元，用于根據多個所述紅外圖像和多個所述紫外探測圖像，判斷所述開關柜是否存在過熱區域；第一確定單元，用于在所述目標開關柜存在所述過熱區域的情況下，根據所述目標開關柜的空間信息和所述過熱區域，確定所述目標開關柜中存在過熱異常的目標組件，其中，所述過熱區域的第一檢測溫度大于第一閾值，所述空間信息包括所述目標開關柜的中多個組件的位置分布信息。
9、根據本申請的再一方面，提供了一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質包括存儲的程序，其中，在所述程序運行時控制所述計算機可讀存儲介質所在設備執行任意一種所述確定開關柜熱過熱異常的方法。
10、根據本申請的又一方面，提供了一種確定開關柜熱過熱異常的系統，包括：一個或多個處理器，存儲器，一個或多個程序，以及紅外熱成像設備和紫外探測器，其中，所述紅外熱成像設備與所述處理器連接，以采集開關柜的紅外圖像，所述紫外探測器與所述處理器連接，以采集所述開關柜的紫外探測圖像，所述一個或多個程序被存儲在所述存儲器中，并且被配置為由所述一個或多個處理器執行，所述一個或多個程序包括用于執行任意一種所述的確定開關柜熱過熱異常的方法。
11、可選地，所述紫外探測器為肖特基型紫外探測器。
12、應用本申請的技術方案，提供了一種確定目標組件過熱異常的方法，包括：獲取多個開關柜的紅外圖像和紫外探測圖像；根據多個紅外圖像和多個紫外探測圖像，判斷開關柜是否存在過熱區域；在目標開關柜存在過熱區域的情況下，根據目標開關柜的空間信息和過熱區域，確定目標開關柜中存在過熱異常的目標組件，其中，過熱區域的第一檢測溫度大于第一閾值，空間信息包括目標開關柜的中多個組件的位置分布信息。在上述方法中，采用紅外圖像和紫外探測圖像共同確認開關柜中產生過熱異常的目標開關柜，并且，確認出目標開關柜中發生過熱異常的目標組件，以增加了確認開關柜中過熱異常組件的準確性，并且，直接可直接獲取到開關柜中發生過熱的組件，向使用者快速準確提供目標信息的同時，增加了體驗感。
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1.一種確定目標組件過熱異常的方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據多個所述紅外圖像和多個所述紫外探測圖像，判斷所述開關柜是否存在過熱區域，包括：
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述目標開關柜的空間信息和所述過熱區域，確定所述目標組件存在過熱異常，包括：
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，獲取所述目標開關柜的空間信息，包括：
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，獲取多個所述開關柜的所述紅外圖像和所述紫外探測圖像，包括：
7.一種確定開關柜熱過熱異常的裝置，其特征在于，包括：
8.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質包括存儲的程序，其中，在所述程序運行時控制所述計算機可讀存儲介質所在設備執行權利要求1至6中任意一項所述確定目標組件過熱異常的方法。
9.一種確定開關柜熱過熱異常的系統，其特征在于，包括：一個或多個處理器，存儲器，一個或多個程序，以
10.根據權利要求9所述的系統，其特征在于，所述紫外探測器為肖特基型紫外探測器。
...【技術特征摘要】
1.一種確定目標組件過熱異常的方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據多個所述紅外圖像和多個所述紫外探測圖像，判斷所述開關柜是否存在過熱區域，包括：
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述目標開關柜的空間信息和所述過熱區域，確定所述目標組件存在過熱異常，包括：
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，獲取所述目標開關柜的空間信息，包括：
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，獲取多個所述開關柜的所述紅外圖像和所述紫外探測圖像，包括：
7.一種確定開關柜熱過熱異常的裝置，其特征在于，包括：
8.一種計算機可讀存...
【專利技術屬性】
技術研發人員：龍雄峰，鄧凱文，徐達藝，蔣平，唐雷鳴，莫仲輝，李杏，黃志芳，康錢江，黃禎祥，謝威，李華軒，林麗霞，
申請(專利權)人：廣東電網有限責任公司湛江供電局，
類型：發明
國別省市：
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