【技術實現步驟摘要】
本申請涉及波長檢測，特別是涉及一種波長檢測方法、系統、設備及介質。
技術介紹
1、在激光顯示技術中，主要采用的是窄譜寬的紅、綠、藍激光器作為光源。然而，由于輸出功率和轉化效率的限制，激光顯示設備中常用的高功率激光器波長種類相對有限，具體包括445nm、450nm、465nm、520nm、525nm、532nm、638nm、641nm等中心波長。這些激光器通常由多個半導體二極管組成，每個模組的中心波長和譜寬都有所不同，一般在±5nm的范圍內波動。此外，在不同的溫度、濕度條件下，或隨著使用壽命的變化，激光器的波長可能會發生漂移或變化，但漂移量通常保持在5nm以下。
2、鑒于生產、維護以及調節白平衡的需求，對激光顯示設備中的激光器波長和色坐標進行快速檢測顯得尤為重要。當前市場上存在一些能夠檢測波長的儀器，例如橫河干涉光譜儀、cs-2000彩色亮度計和遠方src-600彩色亮度計等，這些光譜儀的精度高達0.1nm以上。然而，它們也存在著成本高、售價昂貴、體積龐大以及使用不便等缺點。相比之下，常規的色散型光譜儀雖然攜帶方便且成本可控，但其精度僅能達到納米級別，無法滿足特定的使用要求。
技術實現思路
1、基于上述問題，本申請提供了一種波長檢測方法、系統、設備及介質。
2、為解決上述問題，本申請實施例提供的技術方案如下：
3、本申請第一方面提供了一種波長檢測方法，包括：
4、將待檢測光線照射到全息光學元件hoe上，所述hoe用于根據入射光線的波長產
5、接收經過hoe衍射后的光線，到達ccd，所述ccd用于接收hoe衍射后的光線，并檢測hoe衍射后光線的強度分布；
6、基于ccd上光線的強度分布，確定待檢測光線的波長。
7、在一種可能的實現方式中，所述待檢測光線為通過準直鏡的光束，所述準直鏡用于將光束轉化為平行光，以使待檢測光線在hoe之前是均勻的。
8、在一種可能的實現方式中，所述待檢測光線為通過狹縫的光束，所述狹縫用于控制光束的寬度。
9、在一種可能的實現方式中，所述hoe為非旋轉模式，基于入射光波長與ccd像素位置之間的對應關系，將ccd上的像素位置轉換為對應的入射光波長。
10、在一種可能的實現方式中，所述hoe為旋轉模式，通過旋轉hoe，使不同波長的衍射光線均落在ccd的同一位置；
11、基于hoe角度與波長的對應關系，將讀取到的hoe角度轉換為待檢測光線的波長。
12、在一種可能的實現方式中，所述基于hoe角度與波長的對應關系，計算得到待檢測光線的波長，包括：
13、基于記錄光束與豎直方向的夾角，衍射光束與豎直方向的夾角，hoe與ccd之間的距離，中心波長，ccd上的像高之間的關聯關系，計算得到待檢測光線的波長。
14、在一種可能的實現方式中，所述基于入射光波長與ccd像素位置之間的對應關系，將ccd上的像素位置轉換為對應的入射光波長，包括：
15、基于記錄光束與垂直方向的夾角，衍射光束與垂直方向的夾角，待測波長，中心波長，ccd上的像高，m2的焦距之間的關聯關系，確定入射光的波長。
16、本申請第二方面提供了一種波長檢測系統，包括：
17、照射單元，用于將待檢測光線照射到全息光學元件hoe上，所述hoe用于根據入射光線的波長產生不同角度的衍射；
18、接收單元，用于接收經過hoe衍射后的光線，到達ccd，所述ccd用于接收hoe衍射后的光線，并檢測hoe衍射后光線的強度分布；
19、確定單元，用于基于ccd上光線的強度分布，確定待檢測光線的波長。
20、本申請第三方面提供了一種電子設備，包括：存儲器，處理器，及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序時，實現前述第一方面所述的檢測方法。
21、本申請第四方面提供了一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質中存儲有指令，當所述指令在終端設備上運行時，使得所述終端設備執行如前述第一方面所述的檢測方法。
22、相較于現有技術，本申請具有以下有益效果：
23、本申請hoe可以根據入射光線的波長產生不同角度的衍射，這使得ccd探測器可以精確地檢測hoe衍射后光線的強度分布，進而通過數據分析得到精確的波長信息，通過將hoe的衍射特性與探測器的精確測量相結合，本申請能夠實現高精度的波長檢測，滿足激光顯示設備中對波長精確度的高要求，同時，本申請采用的全息光學元件(hoe)具有體積小、重量輕的特點，結合簡單的光學結構和緊湊的設計，使得整個光譜儀結構小巧，便于攜帶和使用。
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1.一種波長檢測方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待檢測光線為通過準直鏡的光束，所述準直鏡用于將光束轉化為平行光，以使待檢測光線在HOE之前是均勻的。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待檢測光線為通過狹縫的光束，所述狹縫用于控制光束的寬度。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述HOE為非旋轉模式，基于入射光波長與CCD像素位置之間的對應關系，將CCD上的像素位置轉換為對應的入射光波長。
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述HOE為旋轉模式，通過旋轉HOE，使不同波長的衍射光線均落在CCD的同一位置；
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于HOE角度與波長的對應關系，計算得到待檢測光線的波長，包括：
7.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于入射光波長與CCD像素位置之間的對應關系，將CCD上的像素位置轉換為對應的入射光波長，包括：
8.一種波長檢測系統，其特征在于，所述系統包括：.
9.一種電子
10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質中存儲有指令，當所述指令在終端設備上運行時，使得所述終端設備執行如權利要求1-7任一項所述的檢測方法。
...【技術特征摘要】
1.一種波長檢測方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待檢測光線為通過準直鏡的光束，所述準直鏡用于將光束轉化為平行光，以使待檢測光線在hoe之前是均勻的。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待檢測光線為通過狹縫的光束，所述狹縫用于控制光束的寬度。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述hoe為非旋轉模式，基于入射光波長與ccd像素位置之間的對應關系，將ccd上的像素位置轉換為對應的入射光波長。
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述hoe為旋轉模式，通過旋轉hoe，使不同波長的衍射光線均落在ccd的同一位置；
6.根據權利要求5所述的方法，其特...
【專利技術屬性】
技術研發人員：莊亞寶，朱立全，何龍，顧春，
申請(專利權)人：合肥全色光顯科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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