【技術實現步驟摘要】
本說明書實施例涉及硬件測試，特別涉及一種芯片測試系統以及方法。
技術介紹
1、隨著集成電路(integrated?circuit，簡稱ic)芯片在各種設備中的廣泛應用，功耗管理變得尤為重要。為了提高設備的續航能力和性能，精確測試集成電路芯片的功耗數據成為必要需求。
2、目前，芯片的功耗數據測試主要采用人工方式，測試人員會手動設置測試條件，再將待測芯片安裝到測試電路板上，使用測量工具手動記錄芯片在多個測試任務下的參數，確定芯片的性能測試結果。
3、然而，由于主要依賴人工方式進行測試，不同操作者之間或同一操作者在不同時間進行測試時，測試條件和方法難以完全一致，這直接影響了性能測試結果的可靠性，其次，人工測試容易受到外界環境因素的影響，如溫度變化、供電穩定性等，這些都可能導致測試結果出現偏差，進而影響到對芯片實際性能的評估，另外，人工測試需要投入大量的人力資源，不僅增加了測試成本，而且由于手動操作速度慢，無法滿足大規模生產中快速檢測的需求，效率不足。
技術實現思路
1、有鑒于此，本說明書實施例提供了一種芯片測試系統。本說明書一個或者多個實施例同時涉及另一種芯片測試系統，一種芯片測試方法，另一種芯片測試方法，一種主控設備，一種計算機可讀存儲介質以及一種計算機程序產品，以解決現有技術中存在的技術缺陷。
2、根據本說明書實施例的第一方面，提供了一種芯片測試系統，包括主控設備和測量電路板，測量電路板包括待測試芯片，待測試芯片的電源輸入通路上電連接有測量電阻；<...
【技術保護點】
1.一種芯片測試系統，包括主控設備和測量電路板，所述測量電路板包括待測試芯片，所述待測試芯片的電源輸入通路上電連接有測量電阻；
2.根據權利要求1所述的系統，還包括直流電源，所述直流電源與所述測量電路板電連接，所述測量電路板還包括電源管理芯片，所述電源管理芯片與所述直流電源電連接，所述電源管理芯片與所述待測試芯片之間的電源輸入通路上電連接有測量電阻。
3.根據權利要求2所述的系統，所述電源管理芯片與所述直流電源之間通過直流轉換器電連接。
4.根據權利要求1所述的系統，所述待測試芯片包括多個功能單元，所述電源管理芯片與所述多個功能單元之間包括多個電源輸入通路，任一電源輸入通路上電連接有對應的測量電阻。
5.根據權利要求4所述的系統，所述多個功能單元包括任一個的第一功能單元，所述電源管理芯片與所述第一功能單元之間的電源輸入通路上電連接有第一測量電阻；
6.根據權利要求4所述的系統，所述多個功能單元包括至少兩個的第二功能單元，所述電源管理芯片與所述第二功能單元之間的電源輸入通路上電連接有第一測量電阻；
7.根據權利
8.根據權利要求1-7所述的系統，還包括至少一個輔助測試設備，所述至少一個輔助測試設備通過對應的接口與所述測量電路板電連接；
9.根據權利要求8所述的系統，所述至少一個輔助測試設備包括機械臂和觸摸顯示屏；
10.根據權利要求1所述的系統，所述主控設備，還用于生成所述性能測試結果的可視化圖表。
11.一種芯片測試系統，包括主控設備和測量電路板，所述測量電路板包括RISC-V指令集芯片，所述RISC-V指令集芯片包括RISC-V編譯單元和RISC-V處理單元，所述RISC-V指令集芯片的電源輸入通路上電連接有測量電阻；
12.一種芯片測試方法，應用于芯片測試系統，其中，所述芯片測試系統包括主控設備和測量電路，所述測量電路板包括待測試芯片，所述待測試芯片的電源輸入通路上電連接有測量電阻，包括：
13.一種芯片測試方法，應用于芯片測試系統的主控設備，其中，所述芯片測試系統還包括測量電路，所述測量電路板包括待測試芯片，所述待測試芯片的電源輸入通路上電連接有測量電阻，包括：
...【技術特征摘要】
1.一種芯片測試系統，包括主控設備和測量電路板，所述測量電路板包括待測試芯片，所述待測試芯片的電源輸入通路上電連接有測量電阻；
2.根據權利要求1所述的系統，還包括直流電源，所述直流電源與所述測量電路板電連接，所述測量電路板還包括電源管理芯片，所述電源管理芯片與所述直流電源電連接，所述電源管理芯片與所述待測試芯片之間的電源輸入通路上電連接有測量電阻。
3.根據權利要求2所述的系統，所述電源管理芯片與所述直流電源之間通過直流轉換器電連接。
4.根據權利要求1所述的系統，所述待測試芯片包括多個功能單元，所述電源管理芯片與所述多個功能單元之間包括多個電源輸入通路，任一電源輸入通路上電連接有對應的測量電阻。
5.根據權利要求4所述的系統，所述多個功能單元包括任一個的第一功能單元，所述電源管理芯片與所述第一功能單元之間的電源輸入通路上電連接有第一測量電阻；
6.根據權利要求4所述的系統，所述多個功能單元包括至少兩個的第二功能單元，所述電源管理芯片與所述第二功能單元之間的電源輸入通路上電連接有第一測量電阻；
7.根據權利要求1所述的系統，所述測量電阻包括第一測量電阻和第二測量電阻，所述第...
【專利技術屬性】
技術研發人員：黃河，
申請(專利權)人：阿里巴巴達摩院杭州科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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