【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及非破壞性檢測(cè)（non-destructive?testing，ndt），更為具體地，涉及一種渦流檢測(cè)傳感器、分層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)以及檢測(cè)方法。
技術(shù)介紹
1、在金屬板材生產(chǎn)過(guò)程中（如軋壓銅匯流排的生產(chǎn)過(guò)程中），可能出現(xiàn)分層缺陷，如不同層之間的連接不良、氣泡或雜質(zhì)等。這些缺陷會(huì)影響銅匯流排的性能和可靠性，因此需要進(jìn)行有效的檢測(cè)。
2、現(xiàn)今對(duì)于各種易分層的材料（如軋壓銅匯流排等）的分層缺陷檢測(cè)，都是采用渦流檢測(cè)，大多為采用cfrp、frp、鋁薄板等材料進(jìn)行檢測(cè)，大多使用超聲檢測(cè)以及熱成像檢測(cè)這兩種檢測(cè)方式。
3、然而，這兩種檢測(cè)方式在工業(yè)上均各有不足，如超聲檢測(cè)方法存在近表面盲區(qū)，而熱成像檢測(cè)方法存在成本高且圖像對(duì)比率低的問(wèn)題。
4、基于上述技術(shù)問(wèn)題，亟需一種成本低、圖像對(duì)比率高且不會(huì)存在近表面盲區(qū)的金屬材料渦流檢測(cè)方法。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、鑒于上述問(wèn)題，本專利技術(shù)的目的是提供一種渦流檢測(cè)傳感器、分層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)以及檢測(cè)方法，以解決現(xiàn)有的渦流檢測(cè)方法存在近表面盲區(qū)或者存在成本高且圖像對(duì)比率低的問(wèn)題。
2、本專利技術(shù)提供的渦流檢測(cè)傳感器，包括渦流檢測(cè)探頭，所述渦流檢測(cè)探頭包括環(huán)形激勵(lì)線圈和接收線圈；其中，
3、所述環(huán)形激勵(lì)線圈套設(shè)在待檢測(cè)產(chǎn)品的一個(gè)預(yù)選截面的四周，所述接收線圈設(shè)置在所述環(huán)形激勵(lì)線圈的內(nèi)側(cè)。
4、此外，優(yōu)選的方案是，所述接收線圈在所述環(huán)形激勵(lì)線圈的內(nèi)側(cè)設(shè)置有至少兩個(gè)；并且，
5、所
6、此外，優(yōu)選的方案是，所述渦流檢測(cè)傳感器包括至少兩個(gè)渦流檢測(cè)探頭，各渦流檢測(cè)探頭沿所述待檢測(cè)產(chǎn)品延伸方向呈矩陣分布；并且，
7、各渦流檢測(cè)探頭中的環(huán)形激勵(lì)線圈分別套設(shè)在所述待檢測(cè)產(chǎn)品的不同的預(yù)選截面的四周。
8、此外，優(yōu)選的方案是，所述渦流檢測(cè)傳感器還包括沿所述待檢測(cè)產(chǎn)品的延伸方向設(shè)置的傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，所述渦流檢測(cè)探頭與所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)相連；并且，
9、所述渦流檢測(cè)探頭在所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的帶動(dòng)下對(duì)所述待檢測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行不同截面的渦流掃描檢測(cè)。
10、另一方面，本專利技術(shù)還提供一種分層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，包括：信號(hào)發(fā)生器、調(diào)理電路、上位機(jī)以及前述的渦流檢測(cè)傳感器；其中，
11、所述信號(hào)發(fā)生器用于向所述渦流檢測(cè)傳感器中的激勵(lì)線圈輸入激勵(lì)信號(hào)；
12、所述渦流檢測(cè)傳感器用于基于所述激勵(lì)信號(hào)對(duì)所述待檢測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行渦流檢測(cè)，并在所述接收線圈中產(chǎn)生接收信號(hào)；
13、調(diào)理電路用于對(duì)所述接收信號(hào)進(jìn)行處理，并發(fā)送至所述上位機(jī)；
14、所述上位機(jī)用于展示處理后的接收信號(hào)。
15、此外，優(yōu)選的方案是，若所述上位機(jī)上展示的處理后的接收信號(hào)中存在畸變信號(hào)；則，
16、所述上位機(jī)還用于對(duì)所述畸變信號(hào)進(jìn)行分析，以確定所述待檢測(cè)產(chǎn)品中分層缺陷的具體位置和分層寬度。
17、再一方面，本專利技術(shù)還提供一種分層缺陷檢測(cè)方法，所述分層缺陷檢測(cè)方法利用前述的分層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)；包括：
18、通過(guò)所述信號(hào)發(fā)生器向所述渦流檢測(cè)傳感器中的激勵(lì)線圈輸入激勵(lì)信號(hào)；
19、通過(guò)所述激勵(lì)線圈基于所述激勵(lì)信號(hào)在所述待檢測(cè)產(chǎn)品中產(chǎn)生感應(yīng)渦流；
20、通過(guò)所述接收線圈基于所述感應(yīng)渦流產(chǎn)生接收信號(hào)；
21、通過(guò)所述調(diào)理電路對(duì)所述接收信號(hào)進(jìn)行處理，并發(fā)送至所述上位機(jī)；
22、通過(guò)所述上位機(jī)對(duì)處理后的接收信號(hào)進(jìn)行展示。
23、此外，優(yōu)選的方案是，若所述上位機(jī)上展示的處理后的接收信號(hào)中存在畸變信號(hào)；則，
24、通過(guò)所述上位機(jī)對(duì)所述畸變信號(hào)進(jìn)行分析，以確定所述待檢測(cè)產(chǎn)品中分層缺陷的具體位置和分層寬度。
25、此外，優(yōu)選的方案是，根據(jù)待檢測(cè)產(chǎn)品的預(yù)檢測(cè)深度配置所述激勵(lì)信號(hào)的頻率和幅值。
26、此外，優(yōu)選的方案是，所述通過(guò)所述上位機(jī)對(duì)所述畸變信號(hào)進(jìn)行分析，以確定所述待檢測(cè)產(chǎn)品中分層缺陷的具體位置和分層寬度，包括：
27、對(duì)所述接收信號(hào)進(jìn)行分析，以提取所述接收信號(hào)中與分層缺陷相關(guān)的特征參數(shù)；
28、利用預(yù)設(shè)識(shí)別算法，對(duì)所述特征參數(shù)進(jìn)行分類，以實(shí)現(xiàn)對(duì)所述待檢測(cè)產(chǎn)品中的分層缺陷的自動(dòng)識(shí)別。
29、和現(xiàn)有技術(shù)相比，上述根據(jù)本專利技術(shù)的渦流檢測(cè)傳感器、分層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)以及檢測(cè)方法，有如下有益效果：
30、本專利技術(shù)提供的渦流檢測(cè)傳感器、分層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)以及檢測(cè)方法，采用了陣列渦流檢測(cè)技術(shù)，通過(guò)設(shè)置包括環(huán)形激勵(lì)線圈和接收線圈的渦流檢測(cè)探頭，彌補(bǔ)了超聲檢測(cè)與熱成像檢測(cè)的不足，且使用大型的環(huán)形線圈激勵(lì)，接收線圈接收的方式使其可以適配工業(yè)場(chǎng)景中對(duì)大型銅排的檢測(cè)需求；另外通過(guò)將環(huán)形激勵(lì)線圈套設(shè)在產(chǎn)品外，能夠?qū)崿F(xiàn)一種插入式檢測(cè)設(shè)計(jì)，能夠簡(jiǎn)化產(chǎn)品在檢測(cè)過(guò)程中的操作，使其更加高效便捷。
31、為了實(shí)現(xiàn)上述以及相關(guān)目的，本專利技術(shù)的一個(gè)或多個(gè)方面包括后面將詳細(xì)說(shuō)明并在權(quán)利要求中特別指出的特征。下面的說(shuō)明以及附圖詳細(xì)說(shuō)明了本專利技術(shù)的某些示例性方面。然而，這些方面指示的僅僅是可使用本專利技術(shù)的原理的各種方式中的一些方式。此外，本專利技術(shù)旨在包括所有這些方面以及它們的等同物。
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1.一種渦流檢測(cè)傳感器，其特征在于，包括渦流檢測(cè)探頭，所述渦流檢測(cè)探頭包括環(huán)形激勵(lì)線圈和接收線圈；其中，
2.如權(quán)利要求1所述的渦流檢測(cè)傳感器，其特征在于，
3.如權(quán)利要求2所述的渦流檢測(cè)傳感器，其特征在于，
4.如權(quán)利要求2所述的渦流檢測(cè)傳感器，其特征在于，
5.一種分層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括：信號(hào)發(fā)生器、調(diào)理電路、上位機(jī)以及權(quán)利要求1至4中任意一項(xiàng)所述的渦流檢測(cè)傳感器；其中，
6.如權(quán)利要求5所述的分層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，
7.一種分層缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述分層缺陷檢測(cè)方法利用權(quán)利要求5或6所述的分層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)；包括：
8.如權(quán)利要求7所述的分層缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，
9.如權(quán)利要求8所述的分層缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，
10.如權(quán)利要求8所述的分層缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，
【技術(shù)特征摘要】
1.一種渦流檢測(cè)傳感器，其特征在于，包括渦流檢測(cè)探頭，所述渦流檢測(cè)探頭包括環(huán)形激勵(lì)線圈和接收線圈；其中，
2.如權(quán)利要求1所述的渦流檢測(cè)傳感器，其特征在于，
3.如權(quán)利要求2所述的渦流檢測(cè)傳感器，其特征在于，
4.如權(quán)利要求2所述的渦流檢測(cè)傳感器，其特征在于，
5.一種分層缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括：信號(hào)發(fā)生器、調(diào)理電路、上位機(jī)以及權(quán)利要求1至4中任意一項(xiàng)所述的...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：金志偉，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：北京天辰合創(chuàng)科技有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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