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    發(fā)光二極管芯片及其制備方法技術(shù)

    技術(shù)編號(hào):44374489 閱讀:2 留言:0更新日期:2025-02-25 09:51
    本發(fā)明專(zhuān)利技術(shù)涉及一種發(fā)光二極管芯片及其制備方法。所述發(fā)光二極管芯片包括:外延層、反射阻擋層、電流擴(kuò)散層、第一電極以及第二電極。外延層包括依次層疊設(shè)置的第一半導(dǎo)體層、發(fā)光層和第二半導(dǎo)體層;第二半導(dǎo)體層內(nèi)具有多個(gè)溝槽。反射阻擋層填充溝槽。電流擴(kuò)散層覆蓋反射阻擋層,且設(shè)置于第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層的表面。第一電極設(shè)置于第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層的一側(cè),且與電流擴(kuò)散層相接觸。第二電極設(shè)置于第一半導(dǎo)體層靠近發(fā)光層的一側(cè)。上述發(fā)光二極管芯片采用內(nèi)嵌式反射阻擋層,提高了芯片的可靠性。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專(zhuān)利技術(shù)涉及顯示,尤其涉及一種發(fā)光二極管芯片及其制備方法


    技術(shù)介紹

    1、近年來(lái),micro-led顯示技術(shù)受到了廣泛的關(guān)注,與液晶顯示(liquid?crystaldisplay,簡(jiǎn)稱(chēng)lcd)技術(shù)和有機(jī)發(fā)光二極管顯示(organic?light?emitting?diode,簡(jiǎn)稱(chēng)oled)技術(shù)相比,micro-led顯示具有發(fā)光強(qiáng)度高、分辨率高、對(duì)比度高、響應(yīng)速度快、壽命長(zhǎng)以及功耗低等優(yōu)勢(shì)。

    2、然而,目前制備micro-led時(shí),由于臺(tái)面結(jié)構(gòu)蝕刻角度較大,較容易引起反射層與焊盤(pán)蒸鍍時(shí)產(chǎn)生裂紋,從而引起推力值低等異常現(xiàn)象,從而降低芯片可靠性。

    3、因此,如何提高micro-led的可靠性是亟需解決的問(wèn)題。


    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

    1、鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,本申請(qǐng)的目的在于提供一種發(fā)光二極管芯片及其制備方法,旨在解決如何提高micro-led的可靠性的問(wèn)題。

    2、本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種發(fā)光二極管芯片,包括:外延層、反射阻擋層、電流擴(kuò)散層、第一電極以及第二電極。外延層包括依次層疊設(shè)置的第一半導(dǎo)體層、發(fā)光層和第二半導(dǎo)體層;第二半導(dǎo)體層內(nèi)具有多個(gè)溝槽。反射阻擋層填充溝槽。電流擴(kuò)散層覆蓋反射阻擋層,且設(shè)置于第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層的表面。第一電極設(shè)置于第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層的一側(cè),且與電流擴(kuò)散層相接觸。第二電極設(shè)置于第一半導(dǎo)體層靠近發(fā)光層的一側(cè)。

    3、本申請(qǐng)實(shí)施例中,通過(guò)第二半導(dǎo)體層內(nèi)設(shè)置多個(gè)溝槽,將反射阻擋層填充溝槽,使得反射阻擋層內(nèi)嵌至第二半導(dǎo)體層內(nèi)。如此,通過(guò)電流擴(kuò)散層覆蓋反射阻擋層,且與第一電極相接觸,使得第一電極的電流通過(guò)電流擴(kuò)散層均勻分布至第二半導(dǎo)體層表面,增大了電流的擴(kuò)散面積,從而增大了發(fā)光效率,同時(shí),電流擴(kuò)散層接觸第一電極,間接加固了第一電極,避免了第一電極完全脫落而影響芯片外觀、芯片電壓及電流擴(kuò)散效果。綜上,本申請(qǐng)采用內(nèi)嵌式反射阻擋層,避免了因臺(tái)面結(jié)構(gòu)蝕刻角度較大,使得于第二半導(dǎo)體層上形成反射層時(shí)產(chǎn)生裂紋,從而提高了芯片的可靠性。

    4、可選地,電流擴(kuò)散層具有電極容置孔,電極容置孔暴露出第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層的表面。第一電極設(shè)置于電極容置孔內(nèi)。

    5、可選地,發(fā)光二極管芯片還包括:歐姆接觸層。歐姆接觸層設(shè)置于第一電極和第二半導(dǎo)體層之間,且與電流擴(kuò)散層相接觸。

    6、本申請(qǐng)實(shí)施例中,歐姆接觸層設(shè)置于第一電極和第二半導(dǎo)體層之間,第一電極和歐姆接觸層均與電流擴(kuò)散層相接觸。如此,第一電極的電流只能從歐姆接觸層往外擴(kuò)散,然后通過(guò)電流擴(kuò)散層將電流往臺(tái)面邊緣擴(kuò)散,避免了電流流動(dòng)受歐姆接觸層與第二半導(dǎo)體層的接觸面積而定導(dǎo)致的發(fā)光面積不均勻,從而進(jìn)一步增加了出光效率。

    7、可選地,歐姆接觸層背離外延層的表面低于電流擴(kuò)散層背離外延層的表面。第一電極背離外延層的表面高于電流擴(kuò)散層背離外延層的表面。如此,電流擴(kuò)散層可以將電流充分往邊緣擴(kuò)散,進(jìn)一步增加了出光效率。

    8、可選地,反射阻擋層背離發(fā)光層的表面高于第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層的表面,或反射阻擋層背離發(fā)光層的表面與第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層的表面平齊。

    9、可選地,反射阻擋層包括分布式布拉格反射層。電流擴(kuò)散層包括透明導(dǎo)電材料層。

    10、可選地,溝槽的形狀包括圓柱體、圓錐體或直棱柱。

    11、基于同樣的專(zhuān)利技術(shù)構(gòu)思,本申請(qǐng)實(shí)施例還提供了一種發(fā)光二極管芯片的制備方法,用于制備如上一些實(shí)施例中的發(fā)光二極管芯片。上述發(fā)光二極管芯片所具有的技術(shù)優(yōu)勢(shì),該制備方法也均具備,此處不再詳述。所述制備方法包括如下步驟:

    12、形成外延層,外延層包括依次層疊設(shè)置的第一半導(dǎo)體層、發(fā)光層和第二半導(dǎo)體層;

    13、于第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層的一側(cè)形成第一電極;

    14、于第一電極周側(cè)的第二半導(dǎo)體層內(nèi)形成多個(gè)溝槽;

    15、填充溝槽形成反射阻擋層;

    16、于第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層且未被第一電極覆蓋的表面形成電流擴(kuò)散層,電流擴(kuò)散層覆蓋反射阻擋層并與第一電極的側(cè)壁相接觸;

    17、于第一半導(dǎo)體層靠近發(fā)光層的表面形成第二電極。

    18、可選地,形成外延層之前,還包括:形成歐姆接觸層。歐姆接觸層位于第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層的表面。于第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層的一側(cè)形成第一電極包括:于歐姆接觸層背離第二半導(dǎo)體層的一側(cè)形成第一電極;歐姆接觸層在第二半導(dǎo)體層上的正投影與第一電極在第二半導(dǎo)體層上的正投影重合。

    19、可選地,于第一電極周側(cè)的第二半導(dǎo)體層內(nèi)形成多個(gè)溝槽,以及填充溝槽形成反射阻擋層,包括:

    20、于第二半導(dǎo)體層和第一電極背離發(fā)光層的表面形成第一掩模;第一掩模具有位于第一電極周側(cè)的第一掩模圖案;

    21、基于第一掩模圖案刻蝕第二半導(dǎo)體層,形成多個(gè)溝槽;

    22、去除第一掩模;

    23、填充溝槽形成反射阻擋材料層;

    24、于反射阻擋材料層背離發(fā)光層的表面形成第二掩模;第二掩模具有正投影位于各溝槽外的第二掩模圖案;

    25、基于第二掩模圖案刻蝕反射阻擋材料層,形成反射阻擋層;

    26、去除第二掩模。

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    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    1.一種發(fā)光二極管芯片,其特征在于,包括:

    2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于,所述電流擴(kuò)散層具有電極容置孔,所述電極容置孔暴露出所述第二半導(dǎo)體層背離所述發(fā)光層的表面;

    3.如權(quán)利要求1或2所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于,還包括:

    4.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于,所述歐姆接觸層背離所述外延層的表面低于所述電流擴(kuò)散層背離所述外延層的表面;所述第一電極背離所述外延層的表面高于所述電流擴(kuò)散層背離所述外延層的表面。

    5.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于,所述反射阻擋層背離所述發(fā)光層的表面高于所述第二半導(dǎo)體層背離所述發(fā)光層的表面,或所述反射阻擋層背離所述發(fā)光層的表面與所述第二半導(dǎo)體層背離所述發(fā)光層的表面平齊。

    6.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于,所述反射阻擋層包括分布式布拉格反射層;所述電流擴(kuò)散層包括透明導(dǎo)電材料層。

    7.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于,所述溝槽的形狀包括圓柱體、圓錐體或直棱柱。

    8.一種發(fā)光二極管芯片的制備方法,其特征在于,包括:

    9.如權(quán)利要求8所述的發(fā)光二極管芯片的制備方法,其特征在于,所述形成外延層之前,還包括:形成歐姆接觸層;所述歐姆接觸層位于第二半導(dǎo)體層背離發(fā)光層的表面;

    10.如權(quán)利要求8所述的發(fā)光二極管芯片的制備方法,其特征在于,所述于所述第一電極周側(cè)的所述第二半導(dǎo)體層內(nèi)形成多個(gè)溝槽,以及填充所述溝槽形成反射阻擋層,包括:

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種發(fā)光二極管芯片,其特征在于,包括:

    2.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于,所述電流擴(kuò)散層具有電極容置孔,所述電極容置孔暴露出所述第二半導(dǎo)體層背離所述發(fā)光層的表面;

    3.如權(quán)利要求1或2所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于,還包括:

    4.如權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于,所述歐姆接觸層背離所述外延層的表面低于所述電流擴(kuò)散層背離所述外延層的表面;所述第一電極背離所述外延層的表面高于所述電流擴(kuò)散層背離所述外延層的表面。

    5.如權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管芯片,其特征在于,所述反射阻擋層背離所述發(fā)光層的表面高于所述第二半導(dǎo)體層背離所述發(fā)光層的表面,或所述反射阻擋層背離所述發(fā)光層的表面與所述第二半導(dǎo)體...

    【專(zhuān)利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:卓俊鋮王濤成飛
    申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人:重慶康佳光電科技有限公司
    類(lèi)型:發(fā)明
    國(guó)別省市:

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