【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及儲層勘探，具體涉及一種預測儲層有效下限深度的方法、裝置、設備、介質，尤其涉及一種基于地溫場預測儲層有效下限深度的方法、裝置、設備、介質，更涉及一種針對勘探早期少井或無井區儲層基于地溫場預測儲層有效下限深度的方法、裝置、設備、介質。
技術介紹
1、目前，碎屑巖儲層有效深度下限預測方法，一般是基于大量巖心測試、測井參數等數據對儲層物性、厚度、電性下限進行評價。
2、如cn118330772a公開了一種碎屑巖薄層巖性油藏的預測方法，首先在確定單砂體展布的宏觀邊界的基礎上，結合物性參數，預測具有儲集性能的有效砂巖體展布范圍，之后利用含油砂巖的巖性、物性、電性下限參數約束，對具備巖性圈閉條件的有效砂巖體進行含油性分析，最終實現含油砂巖體的預測。
3、但是，針對勘探早期少井、無井區儲層仍缺乏有效的預測深度，不利于對少井、無井區儲層的勘探。
技術實現思路
1、鑒于現有技術中存在的問題，本專利技術的目的在于提供一種預測儲層有效下限深度的方法、裝置、設備、介質，以解決針對勘探早期少井、無井區儲層仍缺乏有效的預測深度，不利于對少井、無井區儲層勘探的缺陷。
2、為達此目的，本專利技術采用以下技術方案：
3、第一方面，本專利技術提供了一種預測儲層有效下限深度的方法，所述方法包括：
4、恢復目標儲層的演化過程，并得到儲層致密化溫度；
5、恢復目標儲層所在盆地的熱演化史，并得到盆地地溫場；
6、基于儲層致密化溫度
7、本專利技術提供的方法，通過設計預測過程，明確儲層致密化過程及致密時間結合盆地地溫場特征，實現儲層有效下限深度的有效預測，有力指導少井、無井區儲層勘探部署，從而保證油田能夠高效、合理的開發。
8、作為本專利技術優選的技術方案，所述恢復目標儲層的演化過程，并得到儲層致密化溫度包括：借助微觀分析、同位素分析和包裹體測試重建儲層水巖反應過程，確定不同溫度下儲層成巖環境及孔隙演化特征，確定致密礦物類型并分析對應致密礦物的形成溫度進而得到儲層致密化溫度。
9、作為本專利技術優選的技術方案，所述微觀分析包括：采用偏光顯微鏡觀測巖石薄片，獲取反映該深度段成巖特征的樣品，之后對反映該深度段成巖特征的樣品進行陰極發光、掃描電鏡分析確定成巖礦物的類型、賦存狀態和占位關系。
10、作為本專利技術優選的技術方案，所述同位素分析包括：對微觀分析所得碳酸巖進行c同位素分析和o同位素分析，對自生伊利石進行k-ar年齡計算。
11、作為本專利技術優選的技術方案，所述包裹體測試包括：對氣—液兩相包裹體中的古流體進行相轉變測試，得到包裹體的均一溫度。
12、作為本專利技術優選的技術方案，所述恢復目標儲層所在盆地的熱演化史，并得到盆地地溫場包括：借助地層測試、基底熱流值和地層熱導率測試，基于mckenzie熱史模型得到全盆地溫度梯度平面分布圖。
13、優選地，所述地層測試包括：通過鉆井過程中的鉆桿地層測試和mdt測試中的溫度資料。
14、優選地，所述基底熱流值包括：采用chapman提出的熱阻法計算大地熱流。
15、優選地，所述地層電導率測試包括：測試目的層測試的地層熱導率值。
16、作為本專利技術優選的技術方案，所述基于儲層致密化溫度和盆地地溫場預測得到儲層的有效下限深度包括：借助物性、地溫場、成巖演化的定量關系建立地溫梯度和埋深的線性關系式，之后依據目標儲層的溫度計算得到目標儲層的有效下限深度。
17、第二方面，本專利技術提供了一種預測儲層有效下限深度的裝置，所述裝置包括：
18、獲取儲層致密化溫度模塊，用于恢復目標儲層的演化過程，并得到儲層致密化溫度；
19、獲取盆地地溫場模塊，用于恢復目標儲層所在盆地的熱演化史，并得到盆地地溫場；
20、預測有效下限深度模塊，用于依據儲層致密化溫度和盆地地溫場預測得到儲層的溫度和有效下限深度的線性擬合關系，依據目標儲層的溫度，預測目標儲層的有效下限深度。
21、第三方面，本專利技術提供了一種電子設備，所述電子設備包括：
22、至少一個處理器；以及與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；
23、其中，所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的計算機程序，所述計算機程序被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器能夠執行如第一方面所述預測儲層有效下限深度的方法。
24、第四方面，本專利技術提供了一種計算機存儲介質，所述計算機存儲介質中存儲有計算機可執行指令，所述計算機可執行指令被處理器執行時實現如第一方面所述預測儲層有效下限深度的方法。
25、與現有技術方案相比，本專利技術具有以下有益效果：
26、(1)本專利技術提供的方法，通過薄片、陰極發光、掃描電鏡和激光微區同位素分析等測試手段來識別酸堿成巖礦物，并根據礦物形態、賦存狀態和組合方式判斷其對儲層物性的影響和先后形成順序，從而建立酸堿成巖縱向演化模式，恢復儲層致密化過程，確定造成儲層致密化典型礦物及成因。
27、(2)本專利技術通過建立物性、地溫場、成巖演化的定量關系，在恢復地溫梯度平面圖基礎上，通過擬合溫度與深度關系預測少井(＜1口探井/100平方公里)無井區儲層有效下限深度。
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1.一種預測儲層有效下限深度的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如權利要求1所述的預測儲層有效下限深度的方法，其特征在于，所述恢復目標儲層的演化過程，并得到儲層致密化溫度包括：借助微觀分析、同位素分析和包裹體測試重建儲層水巖反應過程，確定不同溫度下儲層成巖環境及孔隙演化特征，確定致密礦物類型并分析對應致密礦物的形成溫度進而得到儲層致密化溫度。
3.如權利要求2所述的預測儲層有效下限深度的方法，其特征在于，所述微觀分析包括：采用偏光顯微鏡觀測巖石薄片，獲取反映該深度段成巖特征的樣品，之后對反映該深度段成巖特征的樣品進行陰極發光、掃描電鏡分析確定成巖礦物的類型、賦存狀態和占位關系。
4.如權利要求2或3所述的預測儲層有效下限深度的方法，其特征在于，所述同位素分析包括：對微觀分析所得碳酸巖進行C同位素分析和O同位素分析，對自生伊利石進行K-Ar年齡計算。
5.如權利要求2-4任一項所述的預測儲層有效下限深度的方法，其特征在于，所述包裹體測試包括：對氣—液兩相包裹體中的古流體進行相轉變測試，得到包裹體的均一溫度。
6.如權利
7.如權利要求1-6任一項所述的預測儲層有效下限深度的方法，其特征在于，所述基于儲層致密化溫度和盆地地溫場預測得到儲層的有效下限深度包括：借助物性、地溫場、成巖演化的定量關系建立地溫梯度和埋深的線性關系式，之后依據目標儲層的溫度計算得到目標儲層的有效下限深度。
8.一種預測儲層有效下限深度的裝置，其特征在于，所述裝置包括：
9.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括：
10.一種計算機存儲介質，其特征在于，所述計算機存儲介質中存儲有計算機可執行指令，所述計算機可執行指令被處理器執行時實現權利要求1-7任一項所述預測儲層有效下限深度的方法。
...【技術特征摘要】
1.一種預測儲層有效下限深度的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如權利要求1所述的預測儲層有效下限深度的方法，其特征在于，所述恢復目標儲層的演化過程，并得到儲層致密化溫度包括：借助微觀分析、同位素分析和包裹體測試重建儲層水巖反應過程，確定不同溫度下儲層成巖環境及孔隙演化特征，確定致密礦物類型并分析對應致密礦物的形成溫度進而得到儲層致密化溫度。
3.如權利要求2所述的預測儲層有效下限深度的方法，其特征在于，所述微觀分析包括：采用偏光顯微鏡觀測巖石薄片，獲取反映該深度段成巖特征的樣品，之后對反映該深度段成巖特征的樣品進行陰極發光、掃描電鏡分析確定成巖礦物的類型、賦存狀態和占位關系。
4.如權利要求2或3所述的預測儲層有效下限深度的方法，其特征在于，所述同位素分析包括：對微觀分析所得碳酸巖進行c同位素分析和o同位素分析，對自生伊利石進行k-ar年齡計算。
5.如權利要求2-4任一項所述的預測儲層有效下限深度的方法，其特征在于，所述包裹體測試包括：對...
【專利技術屬性】
技術研發人員：蔣一鳴，鄒瑋，張武，李帥，肖曉光，姜雪，王宇，
申請(專利權)人：中海石油中國有限公司上海分公司，
類型：發明
國別省市：
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