【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及集成電路，具體涉及一種電路參數校準方法和負反饋校準環路。
技術介紹
1、為了實現電路參數的精確校準，通常在電路中引入校準環路。校準環路通常包括誤差檢測單元和矯正單元，誤差檢測單元用于檢測電路的誤差，并判斷誤差是正值或負值；矯正單元用于在控制參數的作用下通過調節使得誤差逐步減少，直至誤差被矯正到指定范圍內。其中，矯正單元的調節過程應與控制參數之間呈正相關關系，即增加控制參數會導致誤差增加，減少控制參數會導致誤差減少。
2、現有技術中，由于接線順序等外部因素的影響，可能導致矯正單元的調節過程與控制參數之間出現負相關關系。在這種情況下，誤差變化方向的判斷容易出錯，進而影響電路校準效率，使得難以快速完成電路控制參數的校準。
3、基于此，需要一種新技術方案。
技術實現思路
1、有鑒于此，本專利技術實施例提供一種電路參數校準方法和負反饋校準環路，以至少解決現有的校準環路受外部因素影響導致難以準確進行電路控制參數校準的問題。
2、本專利技術實施例提供以下技術方案：
3、本專利技術實施例提供一種電路參數校準方法，應用于負反饋校準環路中與占空比調節單元、誤差檢測單元分別連接的控制單元，所述電路參數校準方法包括：
4、步驟1、初始化控制碼，并對極性賦值為第一極性值；
5、步驟2、基于所述控制碼控制所述占空比調節單元調節所述占空比，并獲取所述誤差檢測單元輸出的比較結果；
6、步驟3、基于所述極性的賦值，以及
7、步驟4、判斷調整后的所述控制碼是否超過控制碼閾值，若所述控制碼未溢出，則保留所述極性為所述第一極性值，并跳轉到步驟6；
8、步驟5、若所述控制碼超過所述控制碼閾值，則判斷所述極性賦值錯誤，并將所述極性翻轉為第二極性值，且跳轉到步驟2；
9、步驟6、根據調整后的所述控制碼，獲取所述比較結果，根據所述比較結果判斷是否環路鎖定，若環路未鎖定，則跳轉到步驟2，若環路鎖定，則校準完成。
10、進一步地，基于所述極性的賦值，以及所述比較結果是否等于預設比較值調整所述控制碼包括：
11、判斷所述極性的賦值，并根據所述極性的賦值以及所述比較結果是否等于所述預設比較值調整所述控制碼。
12、進一步地，在所述極性為所述第一極性值時，
13、在所述比較結果等于所述預設比較值時，則增加所述控制碼；
14、在所述比較結果不等于所述預設比較值時，則減少所述控制碼。
15、進一步地，在所述極性為所述第二極性值時，
16、在所述比較結果等于所述預設比較值時，則減少所述控制碼；
17、在所述比較結果不等于所述預設比較值時，則增加所述控制碼。
18、進一步地，在所述極性翻轉為所述第二極性值后，在跳轉到步驟2之前，對所述控制碼進行初始化。
19、進一步地，在跳轉執行步驟2~步驟4之后，若調整后的所述控制碼超過控制碼閾值，則校準出現錯誤，此時結束校準。
20、進一步地，根據所述比較結果判斷是否環路鎖定包括：
21、在調整后的所述控制碼對應的所述比較結果和調整前的所述控制碼對應的所述比較結果在等于或不等于預設比較值之間切換時，則認為環路鎖定。
22、本專利技術還提供了一種負反饋校準環路，包括：
23、占空比調節單元，所述占空比調節單元用于調節占空比；
24、誤差檢測單元，所述誤差檢測單元用于比對所述占空比和目標值，并輸出比較結果；
25、控制單元，所述控制單元被配置為執行如下步驟：
26、步驟1、初始化控制碼，并對極性賦值為第一極性值；
27、步驟2、基于所述控制碼控制所述占空比調節單元調節所述占空比，并獲取所述誤差檢測單元輸出的比較結果；
28、步驟3、基于所述極性的賦值，以及所述比較結果是否等于預設比較值調整所述控制碼；
29、步驟4、判斷調整后的所述控制碼是否超過控制碼閾值，若所述控制碼未溢出，則保留所述極性為所述第一極性值，并跳轉到步驟6；
30、步驟5、若所述控制碼超過所述控制碼閾值，則判斷所述極性賦值錯誤，并將所述極性翻轉為第二極性值，且跳轉到步驟2；
31、步驟6、根據調整后的所述控制碼，獲取所述比較結果，根據所述比較結果判斷是否環路鎖定，若環路未鎖定，則跳轉到步驟2，若環路鎖定，則校準完成。
32、進一步地，所述誤差檢測單元包括低通濾波器和比較器；
33、所述低通濾波器的輸入端與所述占空比調節單元連接，所述低通濾波器的輸出端與所述比較器的輸入端連接，所述比較器的輸出端與所述控制單元連接。
34、進一步地，所述占空比調節單元為時鐘占空比調節電路，所述控制單元為數字控制邏輯模塊。
35、與現有技術相比，本專利技術實施例采用的上述至少一個技術方案能夠達到的有益效果至少包括：
36、本專利技術的一種電路參數校準方法，在極性被賦值為第一極性值的情況下，根據誤差檢測單元輸出的比較結果調整控制碼，并在調整后的控制碼超出控制碼閾值的時候，判定為極性被賦值錯誤而將極性翻轉設置為第二極性值，最后在極性被賦值為第二極性值的情況下，根據誤差檢測單元輸出的比較結果和第二極性值調整控制碼，從而實現極性的自動翻轉以及控制碼的自動調整，解決了現有的校準環路受外部因素影響導致難以準確進行電路控制參數校準的問題，提高了電路控制參數的校準效率。
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1.一種電路參數校準方法，其特征在于，應用于負反饋校準環路中與占空比調節單元、誤差檢測單元分別連接的控制單元，所述電路參數校準方法包括：
2.根據權利要求1所述的電路參數校準方法，其特征在于，基于所述極性的賦值，以及所述比較結果是否等于預設比較值調整所述控制碼包括：
3.根據權利要求2所述的電路參數校準方法，其特征在于，在所述極性為所述第一極性值時，
4.根據權利要求2所述的電路參數校準方法，其特征在于，在所述極性為所述第二極性值時，
5.根據權利要求1所述的電路參數校準方法，其特征在于，在所述極性翻轉為所述第二極性值后，在跳轉到步驟2之前，對所述控制碼進行初始化。
6.根據權利要求1或5任一所述的電路參數校準方法，其特征在于，在跳轉執行步驟2~步驟4之后，若調整后的所述控制碼超過控制碼閾值，則校準出現錯誤，此時結束校準。
7.根據權利要求1所述的電路參數校準方法，其特征在于，根據所述比較結果判斷是否環路鎖定包括：
8.一種負反饋校準環路，其特征在于，包括：
9.根據權利要求8所述的負
10.根據權利要求8所述的負反饋校準環路，其特征在于，所述占空比調節單元為時鐘占空比調節電路，所述控制單元為數字控制邏輯模塊。
...【技術特征摘要】
1.一種電路參數校準方法，其特征在于，應用于負反饋校準環路中與占空比調節單元、誤差檢測單元分別連接的控制單元，所述電路參數校準方法包括：
2.根據權利要求1所述的電路參數校準方法，其特征在于，基于所述極性的賦值，以及所述比較結果是否等于預設比較值調整所述控制碼包括：
3.根據權利要求2所述的電路參數校準方法，其特征在于，在所述極性為所述第一極性值時，
4.根據權利要求2所述的電路參數校準方法，其特征在于，在所述極性為所述第二極性值時，
5.根據權利要求1所述的電路參數校準方法，其特征在于，在所述極性翻轉為所述第二極性值后，在跳轉到步驟2之前，對所...
【專利技術屬性】
技術研發人員：宋欣寧，程子川，邱瑞恒，葉曉明，
申請(專利權)人：上海晟聯科半導體有限公司，
類型：發明
國別省市：
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