【技術實現步驟摘要】
本申請實施例涉及衍射光波導，更具體地，本申請實施例涉及一種衍射光波導的測試系統和測試方法。
技術介紹
1、在衍射光波導領域，光柵效率是一個尤其重要的參數，光柵衍射效率會直接影響光波導最終的光學效率。其中影響光柵效率的原因有很多，如光柵類型、光柵結構等。關于光柵類型和光柵結構等這種硬件條件的因素，可以通過更換光柵類型或優化光柵結構提高光柵的衍射效率，從而最終提高衍射光波導的光學效率。但是無論如何變更光柵類型或優化光學參數，對于衍射光波導總會存在一種現象會直接影響光柵的衍射效率，即back-coupling。
2、其中入射光線從耦入光柵(ig)入射，經過光柵的衍射進入波導并在波導內進行全反射傳輸，全反射光線在經過耦入光柵的時候一部分光線會繼續進行全反射在光波導內傳輸，另一部分光線會在此發生衍射從而耦出波導，造成能量損失，這種現象稱為back-coupling。
3、目前并沒有一種設備或裝置用來檢測back-coupling現象損失的能量。
技術實現思路
1、本申請的目的是提供一種衍射光波導的測試系統和測試方法的新技術方案。
2、第一方面，本申請提供了一種衍射光波導的測試系統。衍射光波導包括光線耦入區，所述測試系統包括：
3、可移動載臺，所述可移動載臺用于承載所述衍射光波導；
4、第一滑軌，所述第一滑軌圍設在所述可移動載臺的外側，所述第一滑軌上設置有光源組件，所述光源組件用于將第一光線投射至所述光線耦入區；
5、第二
6、可選地，所述光源組件包括光源本體，所述光源本體可活動設置在所述所述第一滑軌上。
7、可選地，所述光源組件還包括偏振元件，所述光源本體和所述偏振元件可拆卸連接。
8、可選地，所述第一滑軌具有鏤空區域，所述光線分析部件與所述鏤空區域相對。
9、可選地，所述第二滑軌可移動設置在所述第一滑軌的外側；
10、所述第二滑軌具有第一端部和第二端部，所述第一端部和所述第二端部均設置有電動滑軌，以使所述第二滑軌沿所述電動滑軌移動。
11、可選地，所述第一滑軌為穹頂結構，所述光源組件位于所述穹頂結構的內表面。
12、可選地，所述第二滑軌為穹頂結構，所述光線分析部件位于所述穹頂結構的內表面。
13、可選地，所述光線分析部件為光譜分析儀或者光功率計。
14、第二方面，提供了一種衍射光波導的測試方法。衍射光波導包括光線耦入區，所述測試系統包括：
15、通過將第一光線投射至所述光線耦入區；
16、獲取第二光線，確定所述第二光線的能量，并根據所述第二光線的能量確定所述衍射光波導的光能損失占比，其中所述第二光線為所述光線耦入區耦出的光線。
17、可選地，通過將所述第一光線投射至所述光線耦入區之前還包括：
18、獲取第一光線，確定所述第一光線的能量。
19、本申請的有益效果為：
20、根據本申請實施例提供一種衍射光波導的測試系統，通過第一滑軌、第二滑軌和光線分析部件獲取從光線耦入區耦出的第二光線的能量，根據第二光線的能量確定衍射光波導的光能損失占比?？梢愿鶕饽軗p失占比確定衍射光波導的品質，或者可以根據光能損失占比對衍射光波導的光柵結構進行優化，以達到逐漸降低該光能損失占比，提升衍射光波導的最終的光學效率。
21、通過以下參照附圖對本說明書的示例性實施例的詳細描述，本說明書的其它特征及其優點將會變得清楚。
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1.一種衍射光波導的測試系統，其特征在于，衍射光波導包括光線耦入區(10)，所述測試系統包括：
2.根據權利要求1所述的衍射光波導的測試系統，其特征在于，所述光源組件(4)包括光源本體(41)，所述光源本體(41)可活動設置在所述所述第一滑軌(3)上。
3.根據權利要求2所述的衍射光波導的測試系統，其特征在于，所述光源組件(4)還包括偏振元件(42)，所述光源本體(41)和所述偏振元件(42)可拆卸連接。
4.根據權利要求1所述的衍射光波導的測試系統，其特征在于，所述第一滑軌(3)具有鏤空區域(31)，所述光線分析部件(6)與所述鏤空區域(31)相對。
5.根據權利要求1所述的衍射光波導的測試系統，其特征在于，所述第二滑軌(5)可移動設置，并圍設在所述第一滑軌(3)的外側；
6.根據權利要求1所述的衍射光波導的測試系統，其特征在于，所述第一滑軌(3)為穹頂結構，所述光源組件(4)位于所述穹頂結構的內表面。
7.根據權利要求1所述的衍射光波導的測試系統，其特征在于，所述第二滑軌(5)為穹頂結構，所述光線分析部件
8.根據權利要求1所述的衍射光波導的測試系統，其特征在于，所述光線分析部件(6)為光譜分析儀或者光功率計。
9.一種衍射光波導的測試方法，其特征在于，衍射光波導包括光線耦入區(10)，所述方法包括：
10.根據權利要求9所述的測試方法，其特征在于，通過將所述第一光線(12)投射至所述光線耦入區(10)之前還包括：
...【技術特征摘要】
1.一種衍射光波導的測試系統，其特征在于，衍射光波導包括光線耦入區(10)，所述測試系統包括：
2.根據權利要求1所述的衍射光波導的測試系統，其特征在于，所述光源組件(4)包括光源本體(41)，所述光源本體(41)可活動設置在所述所述第一滑軌(3)上。
3.根據權利要求2所述的衍射光波導的測試系統，其特征在于，所述光源組件(4)還包括偏振元件(42)，所述光源本體(41)和所述偏振元件(42)可拆卸連接。
4.根據權利要求1所述的衍射光波導的測試系統，其特征在于，所述第一滑軌(3)具有鏤空區域(31)，所述光線分析部件(6)與所述鏤空區域(31)相對。
5.根據權利要求1所述的衍射光波導的測試系統，其特征在于，所述第二滑軌(5)可移動...
【專利技術屬性】
技術研發人員：金成濱，代杰，程廣壯，朱春霖，董立超，吾曉，
申請(專利權)人：歌爾光學科技上海有限公司，
類型：發明
國別省市：
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