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【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及激光應用,具體涉及一種基于標準具測頻技術的激光穩頻裝置及方法。
技術介紹
1、窄線寬穩頻激光憑借良好的單色性、相干性以及優異的準直性被廣泛地應用于工程和科學研究中,如物理學:通過測量穩頻激光的波長和頻率,精確測出光速,提高光速的測量精度;光譜學:在光譜分析中,穩頻激光可以提供高分辨率和高精度的光譜數據,常用于研究物質的結構和性質;通信:當激光器在光纖通信系統中作為光源使用時,穩頻激光可以提高信號的穩定性和傳輸距離,減少噪聲和干擾;原子鐘和時間頻率標準:穩頻激光在原子鐘中用于精確鎖定原子躍遷頻率,從而提高時間和頻率標準的精度;制造和加工:激光加工和微加工技術中,穩頻激光用于精密切割、焊接或其他加工,提供高精度的加工質量。在這些高精尖應用領域中,激光器輸出的激光頻率發生漂移均會對結果產生不良影響,其中激光器的頻率漂移主要是由激光器所處工作環境的溫度變化、機械振動、電力變化引起的,針對高精密測量與實際工程應用場景,需要使用具有高度頻率穩定性的激光。
2、現有技術中公開的主要穩頻方法主要包括差分鎖頻技術和鎖相穩頻技術,其中鎖相穩頻技術是一種通過將激光器的輸出頻率與穩定的參考信號相比較,并通過反饋控制回路鎖定其頻率的技術,其可以實現高度穩定和準確的激光頻率輸出,例如pdh鎖頻技術是其中一種具有代表性的方法,其能夠滿足不同波長的激光器的穩頻需求,但是其電調制系統的結構比較復雜,調節過程復雜繁瑣,且成本高。因此,需要一種結構簡單可靠、成本適中的激光穩頻方法和裝置。
技術實現思路
...【技術保護點】
1.一種基于標準具測頻技術的激光穩頻裝置,其特征在于,包括:
2.根據權利要求1所述的激光穩頻裝置,其特征在于,所述激光光源發射調制組件還包括設于所述激光器與聲光調制器之間的光隔離器。
3.根據權利要求1所述的激光穩頻裝置,其特征在于,所述聲光調制器出光側還設有第二分光器,所述第一分光器設于所述第二分光器其中一出光側。
4.根據權利要求1所述的激光穩頻裝置,其特征在于,所述頻率檢測組件還包括恒溫模塊,所述標準具設置在所述恒溫模塊中。
5.一種如權利要求1至4中任意一項所述的激光穩頻裝置的穩頻方法,其特征在于,包括:
6.根據權利要求5所述的穩頻方法,其特征在于,所述步驟2包括:利用仿真模型生成當前參數條件下的激光器的激光的光譜數據,通過對比所選定標準具干涉峰頻率的陷谷間高度的比值,獲知當前激光中心頻率與所選定標準具干涉峰頻率之間的差值是否大于聲光調制器的頻率調節范圍,如果大于,調節激光器工作電流和電壓參數使激光器中心頻率與所選定標準具干涉峰頻率之間的差值在聲光調制器的頻率調節范圍內。
7.根據權利要求5所述的
8.根據權利要求7所述的穩頻方法,其特征在于,將標準具原始信號除以參考光信號得到的消除伴生調幅的所述實測標準具干涉信號。
9.根據權利要求8所述的穩頻方法,其特征在于,采集到的標準具干涉信號可以表示為:其中上式中,Ii為輸入光強,F為標準具精細度,R為標準具反射平面的反射率,δ為干涉時相鄰光束之間的相位差,θ為光束的入射角,λ為激光波長,n為激光傳輸媒介的折射率,h為標準具兩反射面的間距。
10.根據權利要求7所述的穩頻方法,其特征在于,在改變仿真模型中的激光中心頻率的值時,以仿真模型中的激光中心頻率的初始值為基礎調整激光中心頻率值,頻率參數的最小變化量為其中fFSR為標準具自由譜范圍頻率,NFSR為在標準具自由譜范圍內的采樣點數。
...【技術特征摘要】
1.一種基于標準具測頻技術的激光穩頻裝置,其特征在于,包括:
2.根據權利要求1所述的激光穩頻裝置,其特征在于,所述激光光源發射調制組件還包括設于所述激光器與聲光調制器之間的光隔離器。
3.根據權利要求1所述的激光穩頻裝置,其特征在于,所述聲光調制器出光側還設有第二分光器,所述第一分光器設于所述第二分光器其中一出光側。
4.根據權利要求1所述的激光穩頻裝置,其特征在于,所述頻率檢測組件還包括恒溫模塊,所述標準具設置在所述恒溫模塊中。
5.一種如權利要求1至4中任意一項所述的激光穩頻裝置的穩頻方法,其特征在于,包括:
6.根據權利要求5所述的穩頻方法,其特征在于,所述步驟2包括:利用仿真模型生成當前參數條件下的激光器的激光的光譜數據,通過對比所選定標準具干涉峰頻率的陷谷間高度的比值,獲知當前激光中心頻率與所選定標準具干涉峰頻率之間的差值是否大于聲光調制器的頻率調節范圍,如果大于,調節激光器工作電流和電壓參數使激光器中心頻率與所選定標準具干涉峰頻率之...
【專利技術屬性】
技術研發人員:崔洪亮,勞衍深,常天英,羅政純,于淼,
申請(專利權)人:深圳先進技術研究院,
類型:發明
國別省市:
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