【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及光譜測試設備，尤其涉及一種用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置和光致發光光譜儀。
技術介紹
1、在材料科學、化學工程與生物醫學研究等領域中，光致發光光譜（photoluminescence?spectroscopy,pl）技術作為一種非接觸、非破壞性的分析方法，展現出了其獨特的優勢與潛力。該技術通過激發材料中的電子躍遷并觀測其隨后釋放的光子能量分布，能夠揭示材料的內在結構、電子狀態及光學性質。然而，材料的發光特性往往高度依賴于其所處的環境氛圍，如氧氣、氮氣、真空或特定氣體環境等。這些環境因素的變化會直接影響材料的發光強度、峰位偏移、發光壽命等關鍵參數，進而影響對材料性能的準確評估與優化。
2、當前，已有一些技術嘗試解決在不同氣氛下進行光致發光光譜測試的問題，但仍存在顯著不足。例如，非原位測試方法要求將樣品在不同氣氛下進行封存處理后再進行測試。這種方法不僅操作繁瑣、耗時費力，而且容易導致不同氛圍或不同樣品之間的測試條件出現差異。這些差異可能源于樣品位置、厚度、表面狀態等因素的微小變化，但卻可能對實驗結果產生顯著影響。
技術實現思路
1、本專利技術旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本專利技術提供一種用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置和光致發光光譜儀，旨在解決相關技術中非原位測試不同氣氛下材料的光致發光光譜的方法操作繁瑣、耗時費力且不同氣氛或不同樣品之間的測試條件之間存在差異，以致于影響實驗結果的問題。
2、本專利技術提供一種用于
3、樣品倉，所述樣品倉的內部設置有樣品容納腔，所述樣品容納腔內設置有樣品限位結構，所述樣品倉上設置有可開合的樣品取放口、進氣接頭和排氣接頭，所述進氣接頭和所述排氣接頭均連通所述樣品容納腔的內外兩側；
4、氣體供給管組，所述氣體供給管組與所述進氣接頭連接。
5、根據本專利技術提供的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，當所述樣品倉處于工作位時，所述樣品容納腔的后側面向上且向后傾斜延伸，所述樣品容納腔的底面與水平面之間的夾角大于或等于0度，且小于或等于20度，所述樣品容納腔的底面與后側面之間的夾角大于或等于90度，且小于或等于120度，所述樣品容納腔的底面和后側面形成所述樣品限位結構。
6、根據本專利技術提供的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，所述樣品容納腔為長方體或正方體形的空腔。
7、根據本專利技術提供的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，所述樣品倉包括倉體和倉蓋，所述樣品容納腔設置在所述倉體內，且所述樣品容納腔的至少其中一端貫穿所述倉體，所述樣品容納腔的其中一端形成所述樣品取放口，所述倉蓋可拆卸的連接在所述倉體上，用于封閉或打開所述樣品容納腔。
8、根據本專利技術提供的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，所述進氣接頭和所述排氣接頭中的其中一者設置在所述倉蓋上，另一者設置在所述倉體上，或者所述進氣接頭和所述排氣接頭均設置在所述倉蓋上，或者所述進氣接頭和所述排氣接頭均設置在所述倉體上。
9、根據本專利技術提供的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，所述倉體與所述倉蓋螺紋連接。
10、根據本專利技術提供的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，所述倉蓋和所述倉體之間設置有密封圈。
11、根據本專利技術提供的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，所述氣體供給管組包括至少一路氣體供給管路，每路所述氣體供給管路上均依次串聯有儲氣裝置、球閥和流量計，所述流量計設置在所述球閥的下游一側，且所述氣體供給管路的下游端與所述進氣結構連接。
12、根據本專利技術提供的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，當所述氣體供給管路的數量大于或等于兩路時，多路所述氣體供給管路的下游端通過氣體混合裝置與所述進氣接頭連接。
13、本專利技術還提供一種光致發光光譜儀，包括如上所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置。
14、本專利技術由于采取以上技術方案，其具有以下優點：
15、本專利技術提供的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，包括樣品倉和氣體供給管組。樣品倉的內部設置有樣品容納腔，樣品容納腔內設置有樣品限位結構，樣品倉上設置有可開合的樣品取放口、進氣接頭和排氣接頭，樣品取放口、進氣接頭和排氣接頭均連通樣品容納腔的內外兩側。氣體供給管組與進氣接頭連接。本專利技術提供的用于光致發光光譜測試的樣品固定裝置，在進行測試之前，可將制作好的樣品通過樣品取放口放入樣品倉的樣品容納腔內，并封閉樣品倉，樣品限位結構可限制樣品的運動，然后將樣品倉固定在測試儀器上。最后，利用氣體供給管組通過進氣接頭向樣品容納腔內注入實驗要求的氣體，排氣接頭用于排出樣品容納腔內原有的氣體。本專利技術提供的用于光致發光光譜測試的樣品固定裝置可保持樣品位置不動，通過氣體供給管組改變樣品倉內的氣氛，實現原位測試樣品光致發光光譜的效果，操作簡單，且可保證同一樣品不同氛圍或同一氣氛不同樣品的測試條件一致。
16、進一步地，在本專利技術提供的光致發光光譜儀中，由于設置有如上所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，因此具有與如上所述相同的優勢。
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1.一種用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，當所述樣品倉處于工作位時，所述樣品容納腔（111）的后側面向上且向后傾斜延伸，所述樣品容納腔（111）的底面與水平面之間的夾角大于或等于0度，且小于或等于20度，所述樣品容納腔（111）的底面與后側面之間的夾角大于或等于90度，且小于或等于120度，所述樣品容納腔（111）的底面和后側面形成所述樣品限位結構。
3.根據權利要求2所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，所述樣品容納腔（111）為長方體或正方體形的空腔。
4.根據權利要求3所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，所述樣品倉包括倉體（110）和倉蓋（120），所述樣品容納腔（111）設置在所述倉體（110）內，且所述樣品容納腔（111）的至少其中一端貫穿所述倉體（110），所述樣品容納腔（111）的其中一端形成所述樣品取放口，所述倉蓋（120）可拆卸的連接在所述倉體（110）上，用于封閉或打開所述樣品容納腔
5.根據權利要求4所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，所述進氣接頭（130）和所述排氣接頭（140）中的其中一者設置在所述倉蓋（120）上，另一者設置在所述倉體（110）上，或者所述進氣接頭（130）和所述排氣接頭（140）均設置在所述倉蓋（120）上，或者所述進氣接頭（130）和所述排氣接頭（140）均設置在所述倉體（110）上。
6.根據權利要求4所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，所述倉體（110）與所述倉蓋（120）螺紋連接。
7.根據權利要求4或6所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，所述倉蓋（120）和所述倉體（110）之間設置有密封圈。
8.根據權利要求1所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，所述氣體供給管組包括至少一路氣體供給管路（210），每路所述氣體供給管路（210）上均依次串聯有儲氣裝置、球閥（220）和流量計（230），所述流量計（230）設置在所述球閥（220）的下游一側，且所述氣體供給管路（210）的下游端與所述進氣結構連接。
9.根據權利要求8所述的用于光之發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，當所述氣體供給管路（210）的數量大于或等于兩路時，多路所述氣體供給管路（210）的下游端通過氣體混合裝置（240）與所述進氣接頭（130）連接。
10.一種光致發光光譜儀，其特征在于，包括如權利要求1~9任一項所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置。
...【技術特征摘要】
1.一種用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，當所述樣品倉處于工作位時，所述樣品容納腔（111）的后側面向上且向后傾斜延伸，所述樣品容納腔（111）的底面與水平面之間的夾角大于或等于0度，且小于或等于20度，所述樣品容納腔（111）的底面與后側面之間的夾角大于或等于90度，且小于或等于120度，所述樣品容納腔（111）的底面和后側面形成所述樣品限位結構。
3.根據權利要求2所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，所述樣品容納腔（111）為長方體或正方體形的空腔。
4.根據權利要求3所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，所述樣品倉包括倉體（110）和倉蓋（120），所述樣品容納腔（111）設置在所述倉體（110）內，且所述樣品容納腔（111）的至少其中一端貫穿所述倉體（110），所述樣品容納腔（111）的其中一端形成所述樣品取放口，所述倉蓋（120）可拆卸的連接在所述倉體（110）上，用于封閉或打開所述樣品容納腔（111）。
5.根據權利要求4所述的用于光致發光光譜測試的原位氣氛控制裝置，其特征在于，所述進氣接頭（130）和所述排氣接頭（140）中的其中一者設置在所述倉蓋（120）上，另...
【專利技術屬性】
技術研發人員：李莎莎，劉美蓉，豐榮娟，
申請(專利權)人：中國科學院化學研究所，
類型：發明
國別省市：
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