【技術實現步驟摘要】
本申請涉及終端設備，尤其涉及一種電子筆校準方法、裝置、電子設備及存儲介質。
技術介紹
1、相關技術中，電子筆在低溫環境下靜置一段時間后，再轉至常溫環境下使用，會在平板電腦的屏幕上出現漏墨現象或誤觸現象，這是因為筆尖的自校準會受到溫度變化的影響。因此，如何對電子筆進行自校準，以避免溫度變化導致電子筆觸發漏墨問題或誤觸問題，成為了亟待解決的技術問題。
技術實現思路
1、本申請實施例的主要目的在于提出一種電子筆校準方法、裝置、電子設備及存儲介質，旨在避免溫度變化導致電子筆出現誤觸問題。
2、為實現上述目的，本申請實施例的第一方面提出了一種電子筆校準方法，所述方法包括：
3、響應于電子筆被配置為自校準狀態，形成自校準指令；
4、根據所述自校準指令對目標環境進行溫度采集，得到環境溫度數據；其中，所述目標環境為所述電子筆所處的環境；
5、獲取與所述環境溫度數據匹配的出水判定差量；
6、基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量；
7、基于所述出水基準參量和所述出水判定差量，對所述電子筆的目標出水閾值進行校準處理。
8、在一些實施例，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量之前包括：
9、每隔預設的基礎采樣時間獲取電子筆筆尖的空載壓力值；其中，所述空載壓力值表示沒有給電子筆筆尖施加任何壓力時，電子筆筆尖獲取得到的壓力值；
10、基于預設
11、在一些實施例，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量包括：
12、基于所述環境溫度數據調整所述基礎采樣時間，得到目標采樣時間；
13、每隔所述目標采樣時間獲取電子筆筆尖的所述空載壓力值；
14、基于所述第一數目的所述空載壓力值進行平均值處理，得到所述出水基準參量。
15、在一些實施例，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量還包括：
16、根據在預設的溫度采樣時間內的所述環境溫度數據，得到溫度變化差值；
17、基于所述溫度變化差值調整所述第一數目，得到目標數目；
18、基于所述目標數目的所述空載壓力值進行平均值處理，得到所述出水基準參量。
19、在一些實施例，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量還包括：
20、基于所述環境溫度數據，從預設的多個候選溫度區間中確定目標溫度區間，其中，每一所述候選溫度區間配置有對應的校準糾正值；
21、根據所述校準糾正值對所述基礎校準值進行糾偏處理，得到所述出水基準參量。
22、在一些實施例，所述基于所述環境溫度數據，從預設的多個候選溫度區間中確定目標溫度區域之前，還包括預設多個所述候選溫度區間，包括：
23、設置不同的溫度區間，得到多個所述候選溫度區間；
24、調整環境溫度至每一所述候選溫度區間，并根據所述基礎采樣時間獲取所述空載壓力值；
25、基于所述第一數目的所述空載壓力值進行平均值處理，得到每一所述候選溫度區間對應的基礎校準值；
26、針對每一所述候選溫度區間對應的所述基礎校準值設置偏差值，得到每一所述候選溫度區間配置的所述校準糾正值。
27、在一些實施例，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量還包括：
28、基于所述環境溫度數據所表征的溫度變化趨勢，設置校準變化閾值；
29、當所述環境溫度數據表示環境溫度下降時，根據所述校準變化閾值對所述基礎校準值進行變化量限制處理，得到所述出水基準參量。
30、為實現上述目的，本申請實施例的第二方面提出了一種電子筆校準裝置，所述裝置包括：
31、指令形成模塊，用于響應于電子筆被配置為自校準狀態，形成自校準指令；
32、溫度采集模塊，用于根據所述自校準指令對目標環境進行溫度采集，得到環境溫度數據；其中，所述目標環境為所述電子筆所處的環境；
33、差量數據獲取模塊，用于獲取與所述環境溫度數據匹配的出水判定差量；
34、基準參量獲取模塊，用于基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量；
35、校準處理模塊，用于基于所述出水基準參量和所述出水判定差量，對所述電子筆的目標出水閾值進行校準處理。
36、為實現上述目的，本申請實施例的第三方面提出了一種電子設備，所述電子設備包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序時實現上述第一方面所述的電子筆校準方法。
37、為實現上述目的，本申請實施例的第四方面提出了一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現上述第一方面所述的電子筆校準方法。
38、本申請提出的電子筆校準方法、裝置、電子設備及存儲介質,其通過響應于電子筆被配置為自校準狀態，形成自校準指令，然后根據自校準指令對目標環境進行溫度采集，得到環境溫度數據，其中，目標環境為電子筆所處的環境。再獲取與環境溫度數據匹配的出水判定差量，基于環境溫度數據對電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量，之后基于出水基準參量和出水判定差量，對電子筆的目標出水閾值進行校準處理。由此，本申請通過采集環境溫度數據，并基于環境溫度數據進行適應性的調整，確定出水基準參量，并通過出水基準參量和出水判定差量實現準確的電子筆校準，從而避免溫度變化給電子筆帶來的影響，以避免漏墨或誤觸現象。
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1.一種電子筆校準方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量之前包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量包括：
4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量還包括：
5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量還包括：
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述環境溫度數據，從預設的多個候選溫度區間中確定目標溫度區域之前，還包括預設多個所述候選溫度區間，包括：
7.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量還包括：
8.一種電子筆校準裝置，其特征在于，所述裝置包括：
9.一種電子設備，其特征在于
10.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至7中任一項所述的電子筆校準方法。
...【技術特征摘要】
1.一種電子筆校準方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量之前包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量包括：
4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量還包括：
5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述環境溫度數據對所述電子筆進行環境適應處理，確定出水基準參量還包括：
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所...
【專利技術屬性】
技術研發人員：李玉川，胡文傳，陳浩，莊初偉，
申請(專利權)人：深圳市欣威智能有限公司，
類型：發明
國別省市：
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