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    拋光漿料和拋光方法技術(shù)

    技術(shù)編號(hào):44409877 閱讀:2 留言:0更新日期:2025-02-25 10:23
    本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N拋光漿料和拋光方法。該拋光漿料包括溶劑和分散于溶劑的磨料、穩(wěn)定劑、絡(luò)合劑以及緩蝕劑;絡(luò)合劑可為具有C2?C20的胺類(lèi)化合物,胺類(lèi)化合物含有至少兩個(gè)胺基,絡(luò)合劑在所述拋光漿料中的質(zhì)量占比可為0.05%~0.2%;緩蝕劑可為有機(jī)膦酸,有機(jī)膦酸選自膦羧酸或羥基亞乙基二膦酸中的至少一種;緩蝕劑在所述拋光漿料中的質(zhì)量占比可為0.005%~0.04%。利用該拋光漿料可以提高芯片中鈷的去除速率和高的去除速率選擇比,并獲得良好的拋光表面。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本申請(qǐng)涉及芯片的拋光領(lǐng)域,具體涉及一種拋光漿料和拋光方法


    技術(shù)介紹

    1、隨著半導(dǎo)體器件的小型化和復(fù)雜性的增加,納米電子器件的制造需要越來(lái)越復(fù)雜的多層布線工藝。在多層布線工藝中,由于線路板尺寸的減少,線路板中金屬走線的寬度尺寸也越來(lái)越小。目前,芯片的特征尺寸可降至10nm以下,此時(shí),金屬線寬逐漸接近c(diǎn)u的電子平均自由程,cu的電阻率會(huì)急劇增加,導(dǎo)致互聯(lián)電路中電阻(resistance,r)-電容(capacitance,c)延遲愈發(fā)嚴(yán)重。相對(duì)于cu,co由于具有較低的平均自由程,可以在低技術(shù)節(jié)點(diǎn)有效地替代中道工序的w和后道工序中的cu,以避免芯片尺寸的減少造成的rc延遲的惡化。在芯片的制備工藝過(guò)程中,通常利用拋光漿料對(duì)芯片的表面進(jìn)行化學(xué)機(jī)械拋光以對(duì)芯片進(jìn)行平坦化處理。而現(xiàn)有的拋光漿料一般為針對(duì)銅開(kāi)發(fā)的拋光漿料,在利用該類(lèi)拋光漿料對(duì)co進(jìn)行拋光時(shí),會(huì)對(duì)co造成一定的損傷,或因co和阻擋層的去除速率選擇比不適配造成拋光面缺陷較多。


    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

    1、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N拋光漿料和拋光方法,以提高芯片中鈷的去除速率和高的去除速率選擇比,并獲得良好的拋光表面。

    2、第一方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N拋光漿料,該拋光漿料包括溶劑和分散于所述溶劑的磨料、穩(wěn)定劑、絡(luò)合劑以及緩蝕劑;所述絡(luò)合劑可為具有c2-c20的胺類(lèi)化合物,所述胺類(lèi)化合物含有至少兩個(gè)胺基;所述絡(luò)合劑在所述拋光漿料中的質(zhì)量占比可為0.05%~0.2%;所述緩蝕劑可為有機(jī)膦酸,所述有機(jī)膦酸選自膦羧酸或羥基亞乙基二膦酸中的至少一種;所述緩蝕劑在所述拋光漿料中的質(zhì)量占比可為0.005%~0.04%。

    3、本申請(qǐng)的拋光漿料,通過(guò)利用胺類(lèi)化合物作為絡(luò)合劑,以提升co的去除速率,co的去除速率可在以上。利用有機(jī)膦酸作為緩蝕劑,可減緩拋光漿料對(duì)co的靜態(tài)腐蝕速率,有效保證co拋光后的表面質(zhì)量;同時(shí)可減緩拋光漿料對(duì)保護(hù)層和阻擋層的去除速率,使保護(hù)層和防護(hù)層具有較低的去除速率。由此,本申請(qǐng)的拋光漿料,在實(shí)現(xiàn)高速去除co的同時(shí),可獲得更合理的去除速率選擇比,拋光后可使co的表面粗糙度降至1.0左右,減少表面缺陷。

    4、在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,作為絡(luò)合劑的胺類(lèi)化合物可含有2-6個(gè)胺基。在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,所述胺類(lèi)化合物可選自乙二胺、乙二胺四乙酸、二乙基三胺五乙酸、乙二胺四乙酸二鉀和乙二胺四乙酸二鈉中的至少一種。優(yōu)選地,胺類(lèi)化合物為乙二胺四乙酸。利用乙二胺四乙酸作為絡(luò)合劑,利用其特殊的螯合結(jié)構(gòu),實(shí)現(xiàn)鈷的快速去除。

    5、在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,所述有機(jī)膦酸選自膦羧酸。

    6、在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,所述絡(luò)合劑為乙二胺四乙酸,所述有機(jī)膦酸為膦羧酸。在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,所述絡(luò)合劑為乙二胺四乙酸,所述有機(jī)膦酸為羥基亞乙基二膦酸。

    7、在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,所述拋光漿料中還包括表面活性劑,所述表面活性劑可為非離子型表面活性劑。通過(guò)選用非離子型表面活性劑,可避免引入額外的雜質(zhì)離子,同時(shí)可避免拋光漿料中出現(xiàn)大顆粒聚集的情況。

    8、示例性地,所述非離子型表面活性劑可選自乳化硅油、高碳醇脂肪酸酯復(fù)合物、聚氧乙烯、聚氧丙烯季戊四醇醚、聚氧乙烯聚氧丙醇胺醚、聚氧丙烯甘油醚、聚氧丙烯聚氧乙烯甘油醚和聚二甲基硅氧烷中的至少一種。

    9、在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,所述拋光漿料還包括消泡劑、殺菌劑和ph調(diào)節(jié)劑中的至少一種。

    10、消泡劑可選自聚二甲基硅氧烷消泡劑、有機(jī)硅消泡劑和聚醚類(lèi)有機(jī)硅消泡劑中的至少一種。

    11、殺菌劑可選自十二烷基二甲基芐基氯化銨、十二烷基二甲基芐基溴化銨、十四烷基二甲基芐基氯化銨、聚季銨鹽、異噻唑啉酮、苯并異噻唑啉酮和戊二醛中的至少一種。所述ph調(diào)節(jié)劑可選自氫氧化鉀、氫氧化鈉、四甲基氫氧化銨、四乙基氫氧化銨、氨水、硝酸、鹽酸、hedp、硫酸及其衍生物中的至少一種。

    12、在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,所述穩(wěn)定劑可選自羥乙基纖維素、羧甲基纖維素、甲基纖維素、羥乙基甲基纖維素和芐基纖維素中的至少一種。

    13、除此之外,拋光漿料中還可包括氧化劑。示例性地,氧化劑可選自雙氧水。本申請(qǐng)中的溶劑可為水性溶劑,如去離子水。

    14、在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,拋光漿料按1000重量份數(shù)計(jì),包括如下組分:磨料40-60份、穩(wěn)定劑0.4-0.6份、絡(luò)合劑0.5-2份和緩蝕劑0.05-0.4份,剩余余量的溶劑。

    15、在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,拋光漿料按1000重量份數(shù)計(jì),包括如下組分:磨料40-60份、穩(wěn)定劑0.4-0.6份、絡(luò)合劑0.5-2份和緩蝕劑0.05-0.4份和非離子型表面活性劑0.01-0.03份,剩余余量的溶劑。

    16、在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,拋光漿料按1000重量份數(shù)計(jì),包括如下組分:磨料40-60份、穩(wěn)定劑0.4-0.6份、絡(luò)合劑0.5-2份和緩蝕劑0.05-0.4份、非離子型表面活性劑0.01-0.03份、消泡劑0.004-0.006份、殺菌劑0.005-0.02份和ph調(diào)節(jié)劑以及剩余余量的溶劑。拋光漿料的ph值為2-12。ph調(diào)節(jié)劑的添加量可根據(jù)目標(biāo)ph值進(jìn)行添加。

    17、在一種可選的實(shí)現(xiàn)方式中,拋光漿料按1000重量份數(shù)計(jì),包括如下組分:磨料40-60份、穩(wěn)定劑0.4-0.6份、絡(luò)合劑0.5-2份和緩蝕劑0.05-0.4份、非離子型表面活性劑0.01-0.03份、消泡劑0.004-0.006份、殺菌劑0.01-0.03份、氧化劑3-5份和ph調(diào)節(jié)劑以及余量的溶劑。拋光漿料的ph值為2-12。ph調(diào)節(jié)劑的添加量可根據(jù)目標(biāo)ph值進(jìn)行添加。

    18、第二方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N基底的拋光方法,包括以下步驟:將本申請(qǐng)第一方面以及任一可選的實(shí)現(xiàn)方式中的拋光漿料施加于所述基底的表面,并驅(qū)動(dòng)拋光物在覆有所述拋光漿料的基底表面進(jìn)行拋光;其中,所述基底包括金屬區(qū)域,所述金屬區(qū)域的表面與所述拋光漿料接觸。

    19、本申請(qǐng)的拋光方法,利用本申請(qǐng)的拋光漿料對(duì)基底進(jìn)行拋光,在拋光過(guò)程中,絡(luò)合劑與基底中金屬區(qū)域的金屬進(jìn)行螯合,如co金屬進(jìn)行真螯合,可快速去除co金屬。同時(shí),由于緩蝕劑的存在,避免氧化層和阻擋層出現(xiàn)快速腐蝕,也不會(huì)對(duì)腐蝕面產(chǎn)生過(guò)大的腐蝕孔洞,以形成表面粗糙度交底的表面,提高基底的表面質(zhì)量。

    20、其中,本申請(qǐng)上述各可能實(shí)現(xiàn)方式中的數(shù)據(jù),例如拋光漿料中各組分的含量和占比等數(shù)據(jù),在測(cè)量時(shí),工程測(cè)量誤差范圍內(nèi)的數(shù)值均應(yīng)理解為在本申請(qǐng)所限定的范圍內(nèi)。

    本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    1.一種拋光漿料,其特征在于,包括溶劑和分散于所述溶劑的磨料、穩(wěn)定劑、絡(luò)合劑以及緩蝕劑;

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的拋光漿料,其特征在于,所述胺類(lèi)化合物選自乙二胺、乙二胺四乙酸、二乙基三胺五乙酸、乙二胺四乙酸二鉀和乙二胺四乙酸二鈉中的至少一種。

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的拋光漿料,其特征在于,所述絡(luò)合劑為乙二胺四乙酸,所述有機(jī)膦酸為膦羧酸。

    4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的拋光漿料,其特征在于,所述絡(luò)合劑為乙二胺四乙酸,所述有機(jī)膦酸為羥基亞乙基二膦酸。

    5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的拋光漿料,其特征在于,所述拋光漿料中還包括表面活性劑,所述表面活性劑為非離子性表面活性劑。

    6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的拋光漿料,其特征在于,所述非離子型表面活性劑選自乳化硅油、高碳醇脂肪酸酯復(fù)合物、聚氧乙烯、聚氧丙烯季戊四醇醚、聚氧乙烯聚氧丙醇胺醚、聚氧丙烯甘油醚、聚氧丙烯聚氧乙烯甘油醚和聚二甲基硅氧烷中的至少一種。

    7.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一項(xiàng)所述的拋光漿料,其特征在于,所述拋光漿料還包括助絡(luò)劑、消泡劑、殺菌劑和pH調(diào)節(jié)劑中的至少一種。</p>

    8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的拋光漿料,其特征在于,消泡劑選自聚二甲基硅氧烷消泡劑、有機(jī)硅消泡劑和聚醚類(lèi)有機(jī)硅消泡劑中的至少一種;

    9.根據(jù)權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的拋光漿料,其特征在于,所述穩(wěn)定劑選自羥乙基纖維素、羧甲基纖維素、甲基纖維素、羥乙基甲基纖維素和芐基纖維素中的至少一種。

    10.一種基底的拋光方法,其特征在于,包括:將如權(quán)利要求1-9任一項(xiàng)所述的拋光漿料施加于所述基底的表面,并驅(qū)動(dòng)拋光物在覆有所述拋光漿料的基底表面進(jìn)行拋光;其中,所述基底包括金屬區(qū)域,所述金屬區(qū)域的表面與所述拋光漿料接觸,所述金屬區(qū)域中的金屬為Co。

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種拋光漿料,其特征在于,包括溶劑和分散于所述溶劑的磨料、穩(wěn)定劑、絡(luò)合劑以及緩蝕劑;

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的拋光漿料,其特征在于,所述胺類(lèi)化合物選自乙二胺、乙二胺四乙酸、二乙基三胺五乙酸、乙二胺四乙酸二鉀和乙二胺四乙酸二鈉中的至少一種。

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的拋光漿料,其特征在于,所述絡(luò)合劑為乙二胺四乙酸,所述有機(jī)膦酸為膦羧酸。

    4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的拋光漿料,其特征在于,所述絡(luò)合劑為乙二胺四乙酸,所述有機(jī)膦酸為羥基亞乙基二膦酸。

    5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的拋光漿料,其特征在于,所述拋光漿料中還包括表面活性劑,所述表面活性劑為非離子性表面活性劑。

    6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的拋光漿料,其特征在于,所述非離子型表面活性劑選自乳化硅油、高碳醇脂肪酸酯復(fù)合物、聚氧乙烯、聚氧丙烯季戊四醇醚、聚氧乙烯聚氧丙...

    【專(zhuān)利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:張力飛謝順?lè)?/a>,曹均助顧忠華劉洪濤王同慶路新春
    申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人:華為技術(shù)有限公司
    類(lèi)型:發(fā)明
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