【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于存儲，特別涉及一種存儲芯片的測試方法及測試裝置。
技術介紹
1、固態存儲器是一種新型的存儲設備，使用固態存儲器可以制成多種存儲芯片，例如包括固態硬盤，嵌入式多媒體存儲卡，通用閃存存儲，安全卡等存儲芯片。在存儲新片內設置有控制器、緩存器和存儲器，且緩存器的成本遠高于存儲器。
2、在做競品分析時，需要評價緩存器的容量大小。雖然通過x光等物理手段可以檢測出內部緩存的大小。但是該手段的成本較高，且無法獲取緩存器中具體種類的緩存器的大小，例如寫緩存器的大小。
技術實現思路
1、本專利技術的目的在于提供一種存儲芯片的測試方法及測試裝置，可解決無法有效獲取存儲芯片中具體種類的緩存器大小的問題。
2、為實現上述目的，本專利技術提供一種存儲芯片的測試方法及測試裝置，且所述存儲芯片的測試方法至少包括以下步驟：
3、向存儲芯片寫入填充數據，直至填充數據填滿存儲器；
4、開啟所述存儲芯片的緩存功能，并向所述存儲芯片中寫入測試數據，每個數據單元中所述測試數據的數據格式與寫入順序相關，且每個所述數據單元中寫入的所述測試數據的數據格式相同；
5、當向所述存儲芯片中寫入的所述測試數據的數據量達到設定閾值時，在向所述存儲芯片中寫入所述測試數據的過程中，斷開所述存儲芯片的供電；以及
6、依據所述存儲器中最后寫入的所述測試數據和寫緩存器中最后寫入的所述測試數據獲取寫緩存器的容量。
7、在本專利技術一實施例中，所述填充數據與
8、在本專利技術一實施例中，所述填充數據的值大于所述存儲器中所述數據單元的數量。
9、在本專利技術一實施例中，向所述存儲芯片中寫入的所述填充數據的數據量大于所述存儲器和所述緩存器的總容量。
10、在本專利技術一實施例中，在向所述存儲芯片中寫入測試數據時，每寫入一個所述數據單元的所述測試數據，所述測試數據的值加一。
11、在本專利技術一實施例中，每個數據格式的所述測試數據的數量等于所述數據單元的容量除以一個所述測試數據的大小。
12、在本專利技術一實施例中，所述設定閾值大于所述寫緩存器的容量。
13、在本專利技術一實施例中，所述寫緩存器的容量通過以下公式獲取：
14、t=（m-n）×q；
15、其中，t為所述寫緩存器的容量，m為所述寫緩存器中最后寫入的所述測試數據的值，n為所述存儲器中最后寫入的所述測試數據的值，q為所述數據單元的容量。
16、在本專利技術一實施例中，所述測試方法還包括：
17、減小所述數據單元的容量，重新獲取所述寫緩存器的容量。
18、本專利技術還提供一種存儲芯片的測試裝置，所述測試裝置包括：
19、存儲器，存儲有程序指令；以及
20、處理器，運行所述程序指令實現如上所述任意一項所述的存儲芯片的測試方法。
21、綜上所述，本專利技術提供的一種存儲芯片的測試方法及測試裝置，通過主機向存儲芯片發送填充數據填滿存儲器。接著，在緩存功能開啟的條件下，向存儲芯片中寫入測試數據。并在測試數據填滿寫緩存器后，使得存儲芯片斷電。依據寫緩存器最后寫入的測試數據和最后下發的測試數據，獲取寫緩存器中保存的測試數據量，進而獲取寫緩存器的大小。故通過本申請在不清楚存儲芯片的內部結構時，較為準確的測試出讀緩存器的大小。
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1.一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，至少包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，所述填充數據與所述測試數據的數據格式不同。
3.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，所述填充數據的值大于所述存儲器中所述數據單元的數量。
4.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，向所述存儲芯片中寫入的所述填充數據的數據量大于所述存儲器和所述緩存器的總容量。
5.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，在向所述存儲芯片中寫入測試數據時，每寫入一個所述數據單元的所述測試數據，所述測試數據的值加一。
6.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，每個數據格式的所述測試數據的數量等于所述數據單元的容量除以一個所述測試數據的大小。
7.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，所述設定閾值大于所述寫緩存器的容量。
8.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，所述寫緩存器的容量通過以下公式獲取
9.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，所述測試方法還包括：
10.一種存儲芯片的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括：
...【技術特征摘要】
1.一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，至少包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，所述填充數據與所述測試數據的數據格式不同。
3.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，所述填充數據的值大于所述存儲器中所述數據單元的數量。
4.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，向所述存儲芯片中寫入的所述填充數據的數據量大于所述存儲器和所述緩存器的總容量。
5.根據權利要求1所述的一種存儲芯片的測試方法，其特征在于，在向所述存儲芯片中寫入測試數據時，每寫入一個所述數據單元...
【專利技術屬性】
技術研發人員：王守磊，蘇忠益，
申請(專利權)人：合肥康芯威存儲技術有限公司，
類型：發明
國別省市：
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