【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于天線環境效應參數測試領域，具體涉及一種用于天線環境效應參數測試的幅相校準方法。
技術介紹
1、天線應用場景越來越復雜，溫濕度環境的變化對天線輻射、接收性能的影響已經不容忽視。不同溫度、濕度環境條件下天線性能指標測量已經成為雷達、通信等領域關注的重點。
2、目前國內外均已有具備溫度精確可控功能的天線環境效應參數測試系統，其中一種實現方法是采用低介電透波材料設計透波保溫罩，在保溫罩內構建局部溫度可控的測試空間，在該空間內放置被測天線，實現天線環境效應參數測試。但是在該類測試系統工作時，收發天線傳輸路徑上的低介電透波材料在不同溫度、不同頻率下呈現不同的電磁波衰減特性，另外測試系統保溫罩內的測試電纜、轉接器等部件同樣存在該問題。保溫罩、測試電纜、轉接器等在不同溫度環境狀態下的性能差異會導致天線環境效應參數測試誤差，為提升測試準確度，有必要針對采用保溫罩方案的天線環境效應參數測試設備，進行系統級電磁波信號的幅度相位校準補償。
3、現有技術中，基于透波保溫罩的天線環境效應參數測試設備典型組成如圖1所示，包括環境控制設備與透波保溫罩，通過環境控制設備產生溫度濕度可控的氣體，并在透波保溫罩形成的局部空間內循環流動，從而為工作于該局部空間的被測天線提供溫度濕度可變可控的測試環境。透波保溫罩、電纜、轉接器等部件在不同溫濕度環境狀態下的電磁波傳輸特性不同，存在一定的幅相差異，為補償該傳輸信號幅相差異導致的天線環境效應參數測試誤差，現有的幅相誤差測試校準處理流程如下：(1)拿掉透波保溫罩，收發天線對準，測試掃頻傳輸
技術實現思路
1、針對上述技術問題，本專利技術提供一種用于天線環境效應參數測試的幅相校準方法，通過在不同溫濕度、不同頻率、不同位置角度的多維數據采集，以及數據處理方法實現系統幅相校準，提升校準效率與精度。
2、本專利技術是通過以下技術方案實現的：
3、一種用于天線環境效應參數測試的幅相校準方法，所述幅相校準方法包括：
4、步驟一：獲取沒有保溫罩時，包含位置、頻率兩個變量以及包含溫度、濕度兩個定量的空間傳輸矢量數據矩陣s1；并獲取有保溫罩時，包含位置、頻率、溫度、濕度四個變量的空間傳輸矢量數據矩陣s2；根據空間傳輸矢量數據矩陣s1和空間傳輸矢量數據矩陣s2兩組多維矢量數據，完成透波罩插損補償因子、環境影響補償因子的獲取，并對測試數據進行初始校準；
5、步驟二：對初始校準后數據做模式域濾波處理，消除天線罩反射誤差的影響，完成天線環境效應參數測試數據的幅相校準。
6、進一步地，步驟一中，空間傳輸矢量數據矩陣s1和空間傳輸矢量數據矩陣s2的獲取方法為：
7、(1)控制測試校準場所內的溫度、濕度，保證溫度變換范圍在±1℃內，濕度變化范圍在±4％rh內；
8、(2)移除透波保溫罩，通過射頻電纜連接標準校準天線和微波毫米波幅相測試設備，并用通過射頻電纜連接微波毫米波幅相測試設備和測試探頭；調整所述標準校準天線和所述測試探頭的位置和極化角旋向，使兩者極化方向一致，同為水平極化或垂直極化；
9、(3)設置所述微波毫米波幅相測試設備的參數信息；
10、將測試探頭固定設置在機械設備的末端，所述機械設備用于帶動測試探頭在球面采樣軌跡上運動，所述球面采樣軌跡以標準校準天線為圓心；設置所述機械設備的運動參數、打開環境控制設備的溫度濕度傳感器，等待測試；
11、(4)控制機械設備運動，使標準校準天線、測試探頭之間形成球面采樣軌跡；在球面采樣軌跡上的每個采樣位置，控制微波毫米波幅相測試設備完成系列不同頻率點的幅度相位數據采集并存儲，同步記錄環境控制設備的溫度濕度傳感器測量的溫度、濕度信息；
12、(5)完成對整個球面采樣軌跡上的每個采樣位置的數據采集，獲取沒有保溫罩時，包含位置、頻率兩個變量以及包含溫度、濕度兩個定量的空間傳輸矢量數據矩陣s1；
13、(6)保持設備連接狀態不變、保持微波毫米波幅相測試設備的參數信息不變、且保持機械設備的運動參數不變，安裝固定透波保溫罩；
14、(7)以無保溫罩測試時溫度、濕度為基準，以天線環境效應參數測試設備工作溫度范圍及工作濕度范圍為邊界，以1℃、4％rh為正負向步進值，通過環境控制設備依次設置保溫罩內溫度濕度參數組合，保溫罩內溫度濕度穩定后，依據無保溫罩時幅度相位數據采集流程，重復步驟(3)-(5)，完成有保溫罩狀態下包含位置、頻率、溫度、濕度四個變量的空間傳輸矢量數據矩陣s2。
15、進一步地，步驟一中，根據空間傳輸矢量數據矩陣s1和空間傳輸矢量數據矩陣s2兩組多維矢量數據，完成透波罩插損補償因子、環境影響補償因子的獲取，并對測試數據進行初始校準；具體為：
16、將據空間傳輸矢量數據矩陣s1和空間傳輸矢量數據矩陣s2兩組多維矢量數據作為基礎幅相校準數據，提取透波罩插損補償因子s罩和環境影響補償因子s環境：
17、透波罩插損補償因子s罩通過同一標準校準天線在有、無透波保溫罩下兩組測量數據的矢量減運算獲取：
18、s罩＝s2(頻率，位置，定溫，定濕)-s1(頻率，位置，定溫，定濕)；
19、環境影響補償因子s環境通過在透波保溫罩存在情況下，不同溫度濕度環境下的兩組測量數據的矢量減運算獲取：
20、s環境＝s2(頻率，位置，溫度，濕度)-s2(頻率，位置，定溫，定濕)；
21、被測天線在不同溫度、不同濕度、不同頻率狀態下實測電磁參數測試數據表示為：
22、s測試(頻率，位置，溫度，濕度)＝s罩+s實際(頻率，位置，溫度，濕度)+s環境；
23、對測試數據進行初始校準補償處理后，有效數據表示為：
24、s實際(頻率，位置，溫度，濕度)＝s測試(頻率，位置，溫度，濕度)-s罩-s環境。
25、進一步地，步驟二具體為：
26、s實際(頻率，位置，溫度，濕度)的數據本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種用于天線環境效應參數測試的幅相校準方法，其特征在于，所述幅相校準方法包括：
2.根據權利要求1所述一種用于天線環境效應參數測試的幅相校準方法，其特征在于，步驟一中，空間傳輸矢量數據矩陣S1和空間傳輸矢量數據矩陣S2的獲取方法為：
3.根據權利要求2所述一種用于天線環境效應參數測試的幅相校準方法，其特征在于，步驟一中，根據空間傳輸矢量數據矩陣S1和空間傳輸矢量數據矩陣S2兩組多維矢量數據，完成透波罩插損補償因子、環境影響補償因子的獲取，并對測試數據進行初始校準；具體為：
4.根據權利要求1所述一種用于天線環境效應參數測試的幅相校準方法，其特征在于，步驟二具體為：
【技術特征摘要】
1.一種用于天線環境效應參數測試的幅相校準方法，其特征在于，所述幅相校準方法包括：
2.根據權利要求1所述一種用于天線環境效應參數測試的幅相校準方法，其特征在于，步驟一中，空間傳輸矢量數據矩陣s1和空間傳輸矢量數據矩陣s2的獲取方法為：
3.根據權利要求2所述一種用于天線環境效應參...
【專利技術屬性】
技術研發人員：常慶功，王亞海，胡大海，孫啟，包立威，周楊，董繼剛，曹桂財，王磊，
申請(專利權)人：中電科思儀科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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