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    低電平掃掠電流測試系統和低電平掃掠電流測試方法技術方案
    
                            
    技術編號：44438462 閱讀：4 留言：0更新日期：2025-02-28 18:47
    
                        
    
                        
    
                            
                            本申請涉及一種低電平掃掠電流測試系統和低電平掃掠電流測試方法。低電平掃掠電流測試系統包括計算機設備、信號分析儀和收發設備；信號分析儀，用于在計算機設備的控制下，基于多個輸出頻點向收發設備發送低電平掃頻信號；收發設備，用于基于低電平掃頻信號輻射電磁波，并檢測被測電子設備中的線纜在電磁波下的感應電流，得到多個目標電流信號；信號分析儀，還用于自動跟隨輸出頻點接收多個目標電流信號；計算機設備，用于獲取目標電流信號，并基于目標電流信號確定線纜的目標傳遞函數值。本申請實施例中信號分析儀中輸出和接收信號通過鎖相環同步，自動跟隨輸出頻點接收目標電流信號，可以避免輸出頻點和接收頻點出現頻偏誤差。
    
                            
                            
    


    
                            

                            
    【技術實現步驟摘要】
    
                                
    本申請涉及電磁波測試，特別是涉及一種低電平掃掠電流測試系統和低電平掃掠電流測試方法。

    技術介紹
    1、由人類活動造成的電磁環境日益惡劣，使得電子設備在正常工作過程中面臨高強度輻射場（high?intensity?radiated?fields，hirf）的照射，外部電磁場通過線纜耦合或直接輻射作用于電子設備，使其存在失效風險，從而影響電子設備運行安全，為了保護電子設備的有效工作，需開展hirf環境下的輻射敏感度試驗。例如，電子設備可以是飛機、飛行器、船舶等。
    2、以飛機為例，由于hirf環境下的電場強度高，試驗實施困難，目前采用低電平掃描法來獲取飛機全機級在hirf環境下的傳遞函數。低電平掃描法根據測試頻段劃分為低電平掃掠電流、低電平掃掠場和低電平直接驅動。
    3、目前低電平掃掠電流在測試程序控制中，信號源只能輸出單一頻點，計算機設備只能控制信號源輸出頻點后再控制頻譜儀接收同一頻點，再切換到下一個頻率實現掃頻的目的。但是該方法存在頻偏誤差的問題。

    技術實現思路
    1、基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠解決頻偏誤差，提高測試效率的低電平掃掠電流測試系統和低電平掃掠電流測試方法。
    2、第一方面，本申請提供了一種低電平掃掠電流測試系統，所述系統包括計算機設備、信號分析儀和收發設備；所述信號分析儀分別與所述計算機設備和所述收發設備連接；
    3、所述信號分析儀，用于在所述計算機設備的控制下，基于多個輸出頻點向所述收發設備發送低電平掃頻信號；</p>
    4、所述收發設備，用于基于所述低電平掃頻信號輻射電磁波，并檢測被測電子設備中的線纜在所述電磁波下的感應電流，得到多個目標電流信號；
    5、所述信號分析儀，還用于自動跟隨所述輸出頻點接收多個所述目標電流信號；
    6、所述計算機設備，用于獲取所述目標電流信號，并基于所述目標電流信號確定所述線纜的目標傳遞函數值。
    7、在其中一個實施例中，所述收發設備包括發射天線和電流卡鉗，所述電流卡鉗與所述線纜連接；
    8、所述發射天線，用于基于所述低電平掃頻信號輻射所述電磁波；所述電磁波包括所述發射天線在各極化方向下的多個輻射角度輻射的電磁波；
    9、所述電流卡鉗，用于檢測所述線纜在所述電磁波下的感應電流，得到多個所述目標電流信號。
    10、在其中一個實施例中，所述收發設備還包括接收天線；
    11、所述接收天線，用于接收所述電磁波得到初始電場信號，并向所述信號分析儀發送所述初始電場信號；所述初始電場信號用于對測試區域內各測試位置的電場進行校準，得到校準電場信號，所述校準電場信號用于與所述目標電流信號確定所述線纜的目標傳遞函數值。
    12、在其中一個實施例中，所述計算機設備，用于根據各所述測試位置的初始電場信號對應的電場強度頻譜曲線，確定所述測試區域的多路徑反射結果和各所述測試位置的第一電場強度，以及在所述多路徑反射結果表征所述測試區域內不存在多路徑反射現象，且各所述測試位置的第一電場強度的差值小于預設強度差值的情況下，將任一所述初始電場信號作為所述校準電場信號。
    13、在其中一個實施例中，所述計算機設備，用于在所述多路徑反射結表征所述測試區域存在多路徑反射現象的情況下，根據所述電磁波的直射波到達所述信號分析儀的第一時間，和所述電磁波的反射波到達所述信號分析儀的第二時間，確定所述信號分析儀的時域門開始時間和時域門結束時間；所述第一時間和所述第二時間為所述信號分析儀根據所述初始電場信號確定，并發送給所述計算機設備的；
    14、所述信號分析儀，用于根據所述時域門開始時間和所述時域門結束時間，對各所述初始電場信號中所述反射波對應的電場信號進行過濾處理，得到各中間電場信號；
    15、所述計算機設備，用于基于各所述中間電場信號對應的電場強度頻譜曲線，確定各所述測試位置的第二電場強度，以及在各所述第二電場強度的差值小于所述預設強度差值的情況下，將任一所述中間電場信號作為所述校準電場信號。
    16、在其中一個實施例中，所述計算機設備，用于針對于每一個所述極化方向，根據多個所述目標電流信號對應的感應電流測試曲線，獲取同一輸出頻點下的最大感應電流，以及根據所述最大感應電流與同一輸出頻點下的第三電場強度，確定同一極化方向下各所述輸出頻點對應的初始傳遞函數值；將不同極化方向下各所述初始傳遞函數值的最大值，作為所述線纜在各所述輸出頻點下的目標傳遞函數值；其中，所述第三電場強度為根據所述校準電場信號對應的電場強度頻譜曲線確定的。
    17、在其中一個實施例中，所述系統還包括功率放大器；所述功率放大器與所述信號分析儀和所述發射天線連接；
    18、所述功率放大器，用于對所述信號分析儀輸出的低電平掃頻信號進行放大，并將放大后的低電平掃頻信號發送至所述發射天線。
    19、在其中一個實施例中，所述系統還包括光纖傳輸設備，所述光纖傳輸設備包括光纖發射端和光纖接收端，所述光纖發射端與所述接收天線或所述電流卡鉗連接，所述光纖接收端和所述信號分析儀連接；
    20、所述光纖發射端，用于將所述電流卡鉗發送的目標電流信號，和所述接收天線發送的初始電場信號轉換為光信號；
    21、所述光纖接收端，用于將所述光信號轉換為電信號發送至信號分析儀，以將所述目標電流信號和所述初始電場信號發送至所述信號分析儀。
    22、在其中一個實施例中，所述被測電子設備包括多個線纜，所述收發設備包括多個電流卡鉗，所述線纜和所述電流卡鉗一一對應連接；所述光纖發射端包括多個輸入通道，多個所述輸入通道與對應的電流卡鉗連接，所述光纖接收端與所述計算機設備連接；
    23、所述計算機設備，還用于通過控制所述光纖接收端以切換所述輸入通道，從多個所述電流卡鉗中確定目標電流卡鉗。
    24、第二方面，本申請提供了一種低電平掃掠電流測試方法，包括：
    25、控制信號分析儀基于多個輸出頻點向收發設備發送低電平掃頻信號；
    26、接收所述信號分析儀發送的多個目標電流信號，并根據多個所述目標電流信號確定被測電子設備中線纜的目標傳遞函數值；其中，多個所述目標電流信號為所述收發設備基于所述低電平掃頻信號輻射電磁波，并檢測所述線纜在所述電磁波下的感應電流信號，以及所述信號分析儀自動跟隨所述輸出頻點從收發設備接收得到的。
    27、第三方面，本申請還提供了一種低電平掃掠電流測試裝置，包括：
    28、控制模塊，用于控制信號分析儀基于多個輸出頻點向收發設備發送低電平掃頻信號；
    29、接收模塊，用于接收所述信號分析儀發送的多個目標電流信號，并根據多個所述目標電流信號確定被測電子設備中線纜的目標傳遞函數值；其中，多個所述目標電流信號為所述收發設備基于所述低電平掃頻信號輻射電磁波，并檢測所述線纜在所述電磁波下的感應電流信號，以及所述信號分析儀自動跟隨所述輸出頻點從收發設備接收得到的。
    30、第四方面，本申本文檔來自技高網...
                            
    
                            
    【技術保護點】
    
                                
    1.一種低電平掃掠電流測試系統，其特征在于，所述系統包括計算機設備、信號分析儀和收發設備；所述信號分析儀分別與所述計算機設備和所述收發設備連接；
    2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述收發設備包括發射天線和電流卡鉗，所述電流卡鉗與所述線纜連接；
    3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述收發設備還包括接收天線；
    4.根據權利要求3所述的系統，其特征在于，所述計算機設備，用于根據各所述測試位置的初始電場信號對應的電場強度頻譜曲線，確定所述測試區域的多路徑反射結果和各所述測試位置的第一電場強度，以及在所述多路徑反射結果表征所述測試區域內不存在多路徑反射現象，且各所述測試位置的第一電場強度的差值小于預設強度差值的情況下，將任一所述初始電場信號作為所述校準電場信號。
    5.根據權利要求4所述的系統，其特征在于，所述計算機設備，用于在所述多路徑反射結表征所述測試區域存在多路徑反射現象的情況下，根據所述電磁波的直射波到達所述信號分析儀的第一時間，和所述電磁波的反射波到達所述信號分析儀的第二時間，確定所述信號分析儀的時域門開始時間和時域門結束時間；所述第一時間和所述第二時間為所述信號分析儀根據所述初始電場信號確定，并發送給所述計算機設備的；
    6.根據權利要求3所述的系統，其特征在于，所述計算機設備，用于針對于每一個所述極化方向，根據多個所述目標電流信號對應的感應電流測試曲線，獲取同一輸出頻點下的最大感應電流，以及根據所述最大感應電流與同一輸出頻點下的第三電場強度，確定同一極化方向下各所述輸出頻點對應的初始傳遞函數值；將不同極化方向下各所述初始傳遞函數值的最大值，作為所述線纜在各所述輸出頻點下的目標傳遞函數值；其中，所述第三電場強度為根據所述校準電場信號對應的電場強度頻譜曲線確定的。
    7.根據權利要求2-6任一項所述的系統，其特征在于，所述系統還包括功率放大器；所述功率放大器與所述信號分析儀和所述發射天線連接；
    8.根據權利要求3-6任一項所述的系統，其特征在于，所述系統還包括光纖傳輸設備，所述光纖傳輸設備包括光纖發射端和光纖接收端，所述光纖發射端與所述接收天線或所述電流卡鉗連接，所述光纖接收端和所述信號分析儀連接；
    9.根據權利要求8所述的系統，其特征在于，所述被測電子設備包括多個線纜，所述收發設備包括多個電流卡鉗，所述線纜和所述電流卡鉗一一對應連接；所述光纖發射端包括多個輸入通道，多個所述輸入通道與對應的電流卡鉗連接，所述光纖接收端與所述計算機設備連接；
    10.一種低電平掃掠電流測試方法，其特征在于，其特征在于，所述方法應用于如權利要求1-9任一項所述的低電平掃掠電流測試系統中的計算機設備，所述方法包括：
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    【技術特征摘要】
    
                                
    1.一種低電平掃掠電流測試系統，其特征在于，所述系統包括計算機設備、信號分析儀和收發設備；所述信號分析儀分別與所述計算機設備和所述收發設備連接；
    2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述收發設備包括發射天線和電流卡鉗，所述電流卡鉗與所述線纜連接；
    3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述收發設備還包括接收天線；
    4.根據權利要求3所述的系統，其特征在于，所述計算機設備，用于根據各所述測試位置的初始電場信號對應的電場強度頻譜曲線，確定所述測試區域的多路徑反射結果和各所述測試位置的第一電場強度，以及在所述多路徑反射結果表征所述測試區域內不存在多路徑反射現象，且各所述測試位置的第一電場強度的差值小于預設強度差值的情況下，將任一所述初始電場信號作為所述校準電場信號。
    5.根據權利要求4所述的系統，其特征在于，所述計算機設備，用于在所述多路徑反射結表征所述測試區域存在多路徑反射現象的情況下，根據所述電磁波的直射波到達所述信號分析儀的第一時間，和所述電磁波的反射波到達所述信號分析儀的第二時間，確定所述信號分析儀的時域門開始時間和時域門結束時間；所述第一時間和所述第二時間為所述信號分析儀根據所述初始電場信號確定，并發送給所述計算機設備的；
    6.根據權利要求3所述的系統，其特征在于，所述計算機設備，用于...
                            
    
                            
    【專利技術屬性】
    
                                技術研發人員：黎亮文，史云雷，陳輝，劉鑫，余海濤，邵鄂，李岷軒，李帥男，李宣毅，
    
        申請(專利權)人：中國電子產品可靠性與環境試驗研究所工業和信息化部電子第五研究所中國賽寶實驗室，
    
        類型：發明
    
        國別省市：
    
                            
    
                            
                        
    
                    
    
                    
                    
                     
                
    
                
                
    
                    
    
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