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    半導(dǎo)體裝置制造方法及圖紙

    技術(shù)編號(hào):44441830 閱讀:5 留言:0更新日期:2025-02-28 18:49
    本發(fā)明專利技術(shù)提供了一種半導(dǎo)體裝置,包括:襯底;化合物半導(dǎo)體層,設(shè)置于襯底上;以及源極電極和漏極電極,設(shè)置于化合物半導(dǎo)體層上。源極電極包括多個(gè)源極指部彼此平行排列。漏極電極包括多個(gè)漏極指部彼此平行排列,其中源極指部與漏極指部交叉排列。半導(dǎo)體裝置更包括場(chǎng)板結(jié)構(gòu),由漏極指部的每一個(gè)向外延伸。場(chǎng)板結(jié)構(gòu)包括第一場(chǎng)板和多個(gè)第二場(chǎng)板。第一場(chǎng)板直接接觸漏極指部的每一個(gè)的平側(cè)段。多個(gè)第二場(chǎng)板圍繞漏極指部的每一個(gè)的指尖段。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)是關(guān)于半導(dǎo)體裝置,特別是關(guān)于場(chǎng)板結(jié)構(gòu)。


    技術(shù)介紹

    1、以氮化鎵為主(gan-based)的半導(dǎo)體材料具有許多卓越的材料特性,例如高抗熱性、寬能隙(band-gap)、以及高電子飽和速率。因此,以氮化鎵為主的半導(dǎo)體材料適合應(yīng)用于高溫、高電壓、或高電流的環(huán)境。近年來,以氮化鎵為主的半導(dǎo)體材料已廣泛地應(yīng)用于發(fā)光二極管(light?emitting?diode,led)元件或高頻元件,例如具有異質(zhì)結(jié)結(jié)構(gòu)的高電子遷移率晶體管(high?electron?mobility?transistor,hemt)。

    2、然而,在高壓的操作中,在施加高電壓的漏極接觸件容易因高電場(chǎng)產(chǎn)生很多“熱”載流子。這些熱載流子可能產(chǎn)生碰撞、產(chǎn)生缺陷中心(trap?center)、以及降低裝置性能,進(jìn)而導(dǎo)致元件失效(例如燒毀)。為了因應(yīng)高電場(chǎng)的問題,可運(yùn)用許多可行的方法,如插入阻擋層、優(yōu)化漏極電極的輪廓、或調(diào)整源極電極和漏極電極的排列。

    3、雖然現(xiàn)有技術(shù)所制造的高電子遷移率晶體管裝置可大致滿足它們?cè)阮A(yù)定的用途,但其仍未在各個(gè)方面皆徹底地符合需求。舉例來說,盡管上述方法可有效地分散電場(chǎng),但卻無法使分散后的電場(chǎng)在漏極接觸件的各個(gè)區(qū)段達(dá)到平衡。因此,除了企圖改善電場(chǎng)過高的問題之外,可能也需要提出其他方法來解決電場(chǎng)分布的問題。


    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

    1、一種半導(dǎo)體裝置,包括:襯底;化合物半導(dǎo)體層,設(shè)置于襯底上;以及源極電極和漏極電極,設(shè)置于化合物半導(dǎo)體層上。源極電極包括多個(gè)源極指部彼此平行排列。漏極電極包括多個(gè)漏極指部彼此平行排列,其中源極指部與漏極指部交叉排列。半導(dǎo)體裝置更包括場(chǎng)板結(jié)構(gòu),由漏極指部的每一個(gè)向外延伸。場(chǎng)板結(jié)構(gòu)包括第一場(chǎng)板和多個(gè)第二場(chǎng)板。第一場(chǎng)板直接接觸漏極指部的每一個(gè)的平側(cè)段(flat?side?segment)。多個(gè)第二場(chǎng)板圍繞漏極指部的每一個(gè)的指尖段(fingertip?segment)。

    2、本專利技術(shù)的半導(dǎo)體裝置提供一種場(chǎng)板結(jié)構(gòu),特別適用于均勻地分散電場(chǎng)強(qiáng)度。如上所提及,漏極指部的指尖段的熱載流子能量高于漏極指部的平側(cè)段的熱載流子能量。因此,場(chǎng)板在指尖段的配置也應(yīng)與場(chǎng)板在平側(cè)段的配置有所不同。本專利技術(shù)提出一種創(chuàng)新的場(chǎng)板配置來進(jìn)一步調(diào)節(jié)指尖段和平側(cè)段的電場(chǎng)差異。與其在漏極指部的每個(gè)區(qū)段配置相同類型的場(chǎng)板,可在平側(cè)段和指尖段分別設(shè)置漏極場(chǎng)板和多個(gè)浮置場(chǎng)板。如先前所提及,浮置場(chǎng)板可比漏極場(chǎng)板更有效地調(diào)整電場(chǎng)分布。本專利技術(shù)在較高電場(chǎng)的指尖段設(shè)置浮置場(chǎng)板,并在較低電場(chǎng)的平側(cè)段設(shè)置漏極場(chǎng)板。換言之,刻意地使指尖段的電場(chǎng)減緩程度大于平側(cè)段的電場(chǎng)減緩程度,使得整體漏極指部的電場(chǎng)可達(dá)到較佳的平衡(也就是更均勻的分布)。當(dāng)平側(cè)段的電場(chǎng)分布與指尖段的電場(chǎng)分布達(dá)到相同或相似的水平時(shí),最脆弱點(diǎn)(也就是最可能發(fā)生失效的地點(diǎn))即不存在。此外,若指尖段的電場(chǎng)被過度分散而導(dǎo)致指尖段的熱載流子能量低于平側(cè)段的熱載流子能量,最脆弱點(diǎn)則會(huì)由指尖段被轉(zhuǎn)移至平側(cè)段。即便如此,由于平側(cè)段所延伸的面積遠(yuǎn)大于指尖段所延伸的面積,最脆弱點(diǎn)將可輕易地被淡化,進(jìn)而顯著地減少失效發(fā)生的機(jī)率,并提升元件可靠度。

    本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    1.一種半導(dǎo)體裝置,其特征在于,包括:

    2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該源極電極包括一源極共用線,電連接該多個(gè)源極指部,其中該漏極電極包括一漏極共用線,電連接該多個(gè)漏極指部。

    3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,更包括一柵極電極,設(shè)置于該源極電極與該漏極電極之間。

    4.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該多個(gè)第二場(chǎng)板為多個(gè)浮置場(chǎng)板,彼此隔開,且與該指尖段隔開,其中該多個(gè)浮置場(chǎng)板包括:

    5.如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該第一子場(chǎng)板、該第二子場(chǎng)板、以及該第三子場(chǎng)板具有相同的尺寸,而該第一間距、該第二間距、以及該第三間距相等。

    6.如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該第一子場(chǎng)板、該第二子場(chǎng)板、以及該第三子場(chǎng)板具有相同的尺寸,而該第三間距大于該第二間距,該第二間距大于該第一間距。

    7.如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該第一子場(chǎng)板的尺寸大于該第二子場(chǎng)板的尺寸,該第二子場(chǎng)板的尺寸大于該第三子場(chǎng)板的尺寸,而該第一間距、該第二間距、以及該第三間距相等。

    8.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該多個(gè)第二場(chǎng)板為多個(gè)復(fù)合場(chǎng)板,彼此隔開,其中該多個(gè)復(fù)合場(chǎng)板包括:

    9.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該多個(gè)源極指部的每一個(gè)包括一平側(cè)段和一指尖段。

    10.如權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該多個(gè)漏極指部的每一個(gè)的該指尖段的曲率半徑大于該多個(gè)源極指部的每一個(gè)的該指尖段的曲率半徑。

    11.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,更包括一介電層,位于該化合物半導(dǎo)體層與該場(chǎng)板結(jié)構(gòu)之間。

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種半導(dǎo)體裝置,其特征在于,包括:

    2.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該源極電極包括一源極共用線,電連接該多個(gè)源極指部,其中該漏極電極包括一漏極共用線,電連接該多個(gè)漏極指部。

    3.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,更包括一柵極電極,設(shè)置于該源極電極與該漏極電極之間。

    4.如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該多個(gè)第二場(chǎng)板為多個(gè)浮置場(chǎng)板,彼此隔開,且與該指尖段隔開,其中該多個(gè)浮置場(chǎng)板包括:

    5.如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該第一子場(chǎng)板、該第二子場(chǎng)板、以及該第三子場(chǎng)板具有相同的尺寸,而該第一間距、該第二間距、以及該第三間距相等。

    6.如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,該第一子場(chǎng)板、該第二子場(chǎng)板、以及該第三子場(chǎng)板具有相同的尺寸,...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:陳柏安葉岡麟
    申請(qǐng)(專利權(quán))人:新唐科技股份有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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