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    電致變色組件的檢測方法、電致變色組件及玻璃產品技術
    
                            
    技術編號：44443855 閱讀：3 留言：0更新日期：2025-02-28 18:51
    
                        
    
                        
    
                            
                            本發明專利技術屬于電致變色產品檢測技術領域，公開了電致變色組件的檢測方法、電致變色組件以及玻璃產品，電致變色組件的表面設有激光刻劃槽，檢測方法包括以下步驟：S100、在電致變色組件的表面選取第一導電接觸點和第二導電接觸點，第一導電接觸點和第二導電接觸點分別位于激光刻劃槽的兩側；S200、檢測第一導電接觸點與第二導電接觸點之間的電阻值，判斷電阻值是否大于第一預設值且小于第二預設值，若是，則判定激光刻劃槽的刻劃深度滿足要求，若否，則判定激光刻劃槽的刻劃深度不滿足要求。本發明專利技術的檢測效率高，在檢測過程中對產品屬性無影響，快速得到檢驗結果，有利于生產過程中的產線監控，滿足電致變色組件的生產要求。
    
                            
                            
    


    
                            

                            
    【技術實現步驟摘要】
    
                                
    本專利技術涉及電致變色產品檢測，尤其涉及電致變色組件的檢測方法、電致變色組件及玻璃產品。

    技術介紹
    1、電致變色現象是指電致變色材料在外加電場的作用下發生穩定、可逆的顏色變化的現象。為了提高產品的感觀，通常在電致變色產品的表面進行激光刻劃，得到所需要的圖形，但是，刻劃的深度對產品的性能至關重要，若刻劃的深度太淺，則不能阻斷上層導電膜和底層導電膜直接的邊緣連接，導致產品有短路的風險，如刻劃的深度太深，則會破壞電壓在底層導電膜上的傳遞，造成整個產品內部電路斷開，產品失效。
    2、目前一般常用兩種方法對刻劃深度進行檢測，第一種是臺階儀檢測法，臺階儀屬于接觸式表面形貌測量儀器，其測量原理是：當臺階儀的觸針沿被測表面輕輕滑過時，由于產品表面有微小的峰谷，使觸針在滑行的同時還沿峰谷作上下運動，觸針的運動情況能夠反映產品表面輪廓的情況，進而反饋刻劃深度，第二種是顯微鏡觀測法，通過顯微鏡高倍放大產品表面某一特定區域，進而觀察該區域的表面特征。
    3、但是，激光刻劃的行程較長，而臺階儀和顯微鏡每一次都只能檢測一個微小的區域，檢測效率極低。

    技術實現思路
    1、本專利技術的一個目的在于提供電致變色組件的檢測方法，提高檢測效率。
    2、本專利技術的另一個目的在于，提供電致變色組件，采用以上的檢測方法進行檢測，保證產品質量。
    3、本專利技術的又一目的在于，提供玻璃產品，采用以上的電致變色組件，保證產品質量。
    4、為達此目的，本專利技術采用以下技術方案：</p>
    5、第一方面，提供電致變色組件的檢測方法，所述電致變色組件的表面設有激光刻劃槽，所述檢測方法包括以下步驟：
    6、s100、在所述電致變色組件的表面選取第一導電接觸點和第二導電接觸點，所述第一導電接觸點和所述第二導電接觸點分別位于所述激光刻劃槽的兩側；
    7、s200、檢測所述第一導電接觸點與所述第二導電接觸點之間的電阻值，判斷所述電阻值是否大于第一預設值且小于第二預設值，若是，則判定所述激光刻劃槽的刻劃深度滿足要求，若否，則判定所述激光刻劃槽的刻劃深度不滿足要求。
    8、作為一種可選的技術方案，在同一次檢測過程中，所述第一導電接觸點和所述第二導電接觸點位于所述電致變色組件的同一橫截面上。
    9、作為一種可選的技術方案，在所述步驟s200中，使電阻檢測設備的正極匯流條和負極匯流條二者中的一個與所述第一導電接觸點電連接，所述正極匯流條和所述負極匯流條二者中的另一個與所述第二導電接觸點電連接。
    10、作為一種可選的技術方案，在所述步驟s200中，在檢測過程中，使得所述正極匯流條和所述負極匯流條均固定于所述電致變色組件的表面。
    11、作為一種可選的技術方案，進行所述步驟s200之前，對所述電致變色組件的表面進行激光刻劃，得到環繞于所述激光刻劃槽周部的變色分隔槽，所述變色分隔槽將所述電致變色組件分隔為絕緣隔離的變色功能區和非變色功能區，所述激光刻劃槽、所述第一導電接觸點以及所述第二導電接觸點均位于所述變色功能區。
    12、作為一種可選的技術方案，所述變色功能區包括底層透明導電膜、設置于所述底層透明導電膜上的電致變色膜以及設置于所述電致變色膜上的表層透明導電膜，所述底層透明導電膜包括第一覆蓋區、第二覆蓋區以及裸露區，所述電致變色膜覆蓋于所述第一覆蓋區，所述表層透明導電膜的邊緣延伸覆蓋于所述第二覆蓋區。
    13、作為一種可選的技術方案，在所述步驟s100中，在所述裸露區選取所述第二導電接觸點。
    14、第二方面，提供電致變色組件，包括：
    15、底層透明導電膜，所述底層透明導電膜包括第一覆蓋區、第二覆蓋區以及裸露區；
    16、電致變色膜，沉積覆蓋所述第一覆蓋區；
    17、表層透明導電膜，沉積覆蓋所述電致變色膜和所述第二覆蓋區；
    18、所述電致變色組件的表面設有激光刻劃槽，所述激光刻劃槽的開口位于所述表層透明導電膜，所述激光刻劃槽的深度方向從所述表層透明導電膜指向所述底層透明導電膜，所述激光刻劃槽的深度采用如上所述的檢測方法進行檢測。
    19、第三方面，提供玻璃產品，所述玻璃產品包括玻璃層以及如上所述的電致變色組件，所述電致變色組件沉積設置于所述玻璃層的一側，沿所述玻璃層的厚度方向，所述底層透明導電膜、所述電致變色膜以及所述表層透明導電膜由近至遠依次設置。
    20、作為一種可選的技術方案，所述玻璃層的材料為氧化銦錫。
    21、本專利技術的有益效果：
    22、本專利技術提供電致變色組件的檢測方法、電致變色組件以及玻璃產品，電致變色組件的表面設有激光刻劃槽，檢測方法包括以下步驟：s100、在電致變色組件的表面選取第一導電接觸點和第二導電接觸點，第一導電接觸點和第二導電接觸點分別位于激光刻劃槽的兩側；s200、檢測第一導電接觸點與第二導電接觸點之間的電阻值，判斷電阻值是否大于第一預設值且小于第二預設值，若是，則判定激光刻劃槽的刻劃深度滿足要求，若否，則判定激光刻劃槽的刻劃深度不滿足要求。
    23、本專利技術通過檢測激光刻劃槽兩側電阻值的結果可以判定激光刻劃槽的刻劃深度是否滿足要求，檢測效率高，在檢測過程中對產品屬性無影響，且可以針對整條激光刻劃槽進行深度評估，快速得到檢驗結果，有利于生產過程中的產線監控，滿足電致變色組件的生產要求。
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    【技術保護點】
    
                                
    1.電致變色組件的檢測方法，所述電致變色組件的表面設有激光刻劃槽(14)，其特征在于，所述檢測方法包括以下步驟：
    2.根據權利要求1所述的電致變色組件的檢測方法，其特征在于，在同一次檢測過程中，所述第一導電接觸點和所述第二導電接觸點位于所述電致變色組件的同一橫截面上。
    3.根據權利要求1所述的電致變色組件的檢測方法，其特征在于，在所述步驟S200中，使電阻檢測設備的正極匯流條(100)和負極匯流條(200)二者中的一個與所述第一導電接觸點電連接，所述正極匯流條(100)和所述負極匯流條(200)二者中的另一個與所述第二導電接觸點電連接。
    4.根據權利要求3所述的電致變色組件的檢測方法，其特征在于，在所述步驟S200中，在檢測過程中，使得所述正極匯流條(100)和所述負極匯流條(200)均固定于所述電致變色組件的表面。
    5.根據權利要求1所述的電致變色組件的檢測方法，其特征在于，進行所述步驟S200之前，對所述電致變色組件的表面進行激光刻劃，得到環繞于所述激光刻劃槽(14)周部的變色分隔槽(15)，所述變色分隔槽(15)將所述電致變色組件分隔為絕緣隔離的變色功能區和非變色功能區，所述激光刻劃槽(14)、所述第一導電接觸點以及所述第二導電接觸點均位于所述變色功能區。
    6.根據權利要求5所述的電致變色組件的檢測方法，其特征在于，所述變色功能區包括底層透明導電膜(11)、設置于所述底層透明導電膜(11)上的電致變色膜(12)以及設置于所述電致變色膜(12)上的表層透明導電膜(13)，所述底層透明導電膜(11)包括第一覆蓋區、第二覆蓋區以及裸露區，所述電致變色膜(12)覆蓋于所述第一覆蓋區，所述表層透明導電膜(13)的邊緣延伸覆蓋于所述第二覆蓋區。
    7.根據權利要求6所述的電致變色組件的檢測方法，其特征在于，在所述步驟S100中，在所述裸露區選取所述第二導電接觸點。
    8.電致變色組件，其特征在于，包括：
    9.玻璃產品，其特征在于，所述玻璃產品包括玻璃層(16)以及如權利要求8所述的電致變色組件，所述電致變色組件沉積設置于所述玻璃層(16)的一側，沿所述玻璃層(16)的厚度方向，所述底層透明導電膜(11)、所述電致變色膜(12)以及所述表層透明導電膜(13)由近至遠依次設置。
    10.根據權利要求9所述的玻璃產品，所述玻璃層(16)的材料為氧化銦錫。
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    【技術特征摘要】
    
                                
    1.電致變色組件的檢測方法，所述電致變色組件的表面設有激光刻劃槽(14)，其特征在于，所述檢測方法包括以下步驟：
    2.根據權利要求1所述的電致變色組件的檢測方法，其特征在于，在同一次檢測過程中，所述第一導電接觸點和所述第二導電接觸點位于所述電致變色組件的同一橫截面上。
    3.根據權利要求1所述的電致變色組件的檢測方法，其特征在于，在所述步驟s200中，使電阻檢測設備的正極匯流條(100)和負極匯流條(200)二者中的一個與所述第一導電接觸點電連接，所述正極匯流條(100)和所述負極匯流條(200)二者中的另一個與所述第二導電接觸點電連接。
    4.根據權利要求3所述的電致變色組件的檢測方法，其特征在于，在所述步驟s200中，在檢測過程中，使得所述正極匯流條(100)和所述負極匯流條(200)均固定于所述電致變色組件的表面。
    5.根據權利要求1所述的電致變色組件的檢測方法，其特征在于，進行所述步驟s200之前，對所述電致變色組件的表面進行激光刻劃，得到環繞于所述激光刻劃槽(14)周部的變色分隔槽(15)，所述變色分隔槽(15)將所述電致變色組件分隔為絕緣隔離的變色功能區和非變色功能區，...
                            
    
                            
    【專利技術屬性】
    
                                技術研發人員：姚力軍，張威，姚舜，王予叢，沈棟棟，
    
        申請(專利權)人：浙江景昇薄膜科技有限公司，
    
        類型：發明
    
        國別省市：
    
                            
    
                            
                        
    
                    
    
                    
                    
                     
                
    
                
                
    
                    
    
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