【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及電池，尤其涉及一種電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法及裝置、計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)。
技術(shù)介紹
1、鋰離子電池卷芯，芯包在組裝過(guò)程中可能引入異物，可能刺穿隔膜導(dǎo)致正負(fù)極搭接短路，若不及時(shí)發(fā)生短路情況并進(jìn)行處理則容易引發(fā)后續(xù)電池充放電過(guò)程中的安全問(wèn)題，因此需要添加檢測(cè)電芯是否發(fā)生短路的流程。目前，常見(jiàn)的電芯短路點(diǎn)檢測(cè)方式包括：(1)hipot耐壓絕緣測(cè)試檢測(cè)方式，其是通過(guò)給予電芯一個(gè)較高的電壓，通過(guò)監(jiān)測(cè)漏電流，計(jì)算電阻，判斷電芯內(nèi)部是否存在短路的方法；(2)老化自放電測(cè)試檢測(cè)方式，其是一種通過(guò)測(cè)試電芯自放電速率判斷電芯內(nèi)部是否短路的方法。
2、然而，實(shí)踐發(fā)現(xiàn)，hipot測(cè)試的方法的劣勢(shì)在于：未注液卷芯不僅具有電阻性，還具有電容性，使得測(cè)試值容易受到雜散電容影響，造成電芯內(nèi)部是否存在短路的檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確性較低；老化自放電測(cè)試檢測(cè)的不足之處在于：電芯的自放電速率容易受到溫度、電芯荷電狀態(tài)(soc)、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試儀器準(zhǔn)確性等參數(shù)的影響，容易造成電芯內(nèi)部是否短路的檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性較低。可見(jiàn)，提出一種提高鋰離子電池內(nèi)是否存在短路的檢測(cè)準(zhǔn)確性的技術(shù)方案顯得尤為重要。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)提供了一種電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法及裝置、計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)，能夠提高電池內(nèi)是否發(fā)生短路的檢測(cè)準(zhǔn)確性及效率，有利于提高對(duì)電池內(nèi)短路情況的處理準(zhǔn)確性和及時(shí)性，有利于減少后續(xù)電池充放電過(guò)程中可能出現(xiàn)的安全問(wèn)題。
2、為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本專利技術(shù)第一方面公開(kāi)了一種電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，所述方法包括：
3、對(duì)待測(cè)試的電池進(jìn)行電芯調(diào)荷處理，得到調(diào)荷后的電池，所述電池包括一個(gè)或多個(gè)電芯；
4、在電池靜置過(guò)程中，采集在預(yù)設(shè)的多個(gè)采集時(shí)刻內(nèi)每個(gè)所述采集時(shí)刻中每一所述電芯的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)；
5、根據(jù)所有所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，對(duì)調(diào)荷后的所述電池的內(nèi)部進(jìn)行短路檢測(cè)，得到所述電池的內(nèi)部檢測(cè)結(jié)果。
6、作為一種可選的實(shí)施方式，在本專利技術(shù)第一方面中，所述根據(jù)所有所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，對(duì)調(diào)荷后的所述電池的內(nèi)部進(jìn)行短路檢測(cè)，得到所述電池的內(nèi)部檢測(cè)結(jié)果，包括：
7、根據(jù)每個(gè)所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，計(jì)算每個(gè)所述電芯的目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)，所述目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)包括：預(yù)設(shè)的靜置時(shí)長(zhǎng)對(duì)應(yīng)的開(kāi)路電壓變化值，和/或，確定出的每個(gè)采集時(shí)間段中的開(kāi)路電壓變化率；
8、根據(jù)每個(gè)所述電芯的目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)，判斷每個(gè)所述電芯是否存在短路點(diǎn)，得到每個(gè)所述電芯的短路判斷結(jié)果；
9、根據(jù)所有所述電芯的短路判斷結(jié)果，確定所述電池的內(nèi)部檢測(cè)結(jié)果。
10、作為一種可選的實(shí)施方式，在本專利技術(shù)第一方面中，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，計(jì)算每個(gè)所述電芯的目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)，包括：
11、根據(jù)每個(gè)所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，從每個(gè)所述電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)中篩選出初始采集時(shí)刻對(duì)應(yīng)的初始開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)；
12、根據(jù)每個(gè)所述電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，從該電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)中篩選出滿足預(yù)設(shè)靜置條件的目標(biāo)開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)；
13、計(jì)算所述初始開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)與所述目標(biāo)開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)之間的差值，得到每個(gè)所述電芯的開(kāi)路電壓變化值。
14、作為一種可選的實(shí)施方式，在本專利技術(shù)第一方面中，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，從該電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)中篩選出滿足預(yù)設(shè)靜置條件的目標(biāo)開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，包括：
15、根據(jù)每個(gè)所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，建立每個(gè)所述電芯的開(kāi)路電壓變化曲線；并根據(jù)每個(gè)所述電芯的開(kāi)路電壓變化曲線，判斷該電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)中是否存在滿足預(yù)設(shè)電壓變化條件的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)；
16、當(dāng)判斷出存在滿足所述電壓變化條件的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)時(shí)，確定滿足所述電壓變化條件的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，作為滿足預(yù)設(shè)靜置條件的目標(biāo)開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)；
17、當(dāng)判斷出該電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)均不滿足所述電壓變化條件時(shí)，根據(jù)每個(gè)所述電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，以及預(yù)設(shè)的靜置時(shí)長(zhǎng)，從所有所述采集時(shí)刻中確定出目標(biāo)采集時(shí)刻；并確定所述目標(biāo)采集時(shí)刻對(duì)應(yīng)的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，作為滿足預(yù)設(shè)靜置條件的目標(biāo)開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)。
18、作為一種可選的實(shí)施方式，在本專利技術(shù)第一方面中，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯的開(kāi)路電壓變化曲線，判斷該電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)中是否存在滿足預(yù)設(shè)電壓變化條件的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，包括：
19、獲取預(yù)設(shè)的靜置結(jié)束條件對(duì)應(yīng)的電壓標(biāo)準(zhǔn)變化趨勢(shì)；
20、對(duì)于每個(gè)所述電芯，根據(jù)該電芯的開(kāi)路電壓變化曲線，將所述開(kāi)路電壓變化曲線進(jìn)行劃分，得到該電芯在一個(gè)或多個(gè)電壓變化階段中的開(kāi)路電壓變化趨勢(shì)；
21、根據(jù)該電芯在每個(gè)所述電壓變化階段中的開(kāi)路電壓變化趨勢(shì)與所述電壓標(biāo)準(zhǔn)變化趨勢(shì)，計(jì)算該電芯在每個(gè)所述電壓變化階段中的變化趨勢(shì)貼合度；
22、根據(jù)該電芯在所有所述電壓變化階段中的變化趨勢(shì)貼合度，判斷所有所述電壓變化階段中是否存在所述變化趨勢(shì)貼合度大于等于預(yù)設(shè)貼合度的目標(biāo)電壓變化階段；
23、當(dāng)判斷出存在所述變化趨勢(shì)貼合度大于等于所述預(yù)設(shè)貼合度的目標(biāo)電壓變化階段時(shí)，從所述目標(biāo)電壓變化階段對(duì)應(yīng)的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)中選擇對(duì)應(yīng)的采集時(shí)刻最小的其中一個(gè)，作為滿足預(yù)設(shè)電壓變化條件的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)；
24、當(dāng)判斷出該電芯在所有所述電壓變化階段中的變化趨勢(shì)貼合度均小于所述預(yù)設(shè)貼合度時(shí)，確定該電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)均不滿足預(yù)設(shè)電壓變化條件。
25、作為一種可選的實(shí)施方式，在本專利技術(shù)第一方面中，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，計(jì)算每個(gè)所述電芯的目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)，包括：
26、根據(jù)所有所述采集時(shí)刻，確定多個(gè)采集時(shí)間段；
27、根據(jù)每個(gè)所述電芯在每個(gè)所述采集時(shí)間段中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，計(jì)算每個(gè)所述電芯在每個(gè)所述采集時(shí)間段中的開(kāi)路電壓差值；
28、對(duì)于每個(gè)所述電芯，將每個(gè)所述采集時(shí)間段作為微分算子，以及將該電芯在相應(yīng)采集時(shí)間段中的開(kāi)路電壓差值作為微分變量，計(jì)算該電芯在每個(gè)所述采集時(shí)間段中的開(kāi)路電壓變化率。
29、作為一種可選的實(shí)施方式，在本專利技術(shù)第一方面中，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯的目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)，判斷每個(gè)所述電芯是否存在短路點(diǎn)，得到每個(gè)所述電芯的短路判斷結(jié)果，包括：
30、對(duì)于每個(gè)所述電芯，判斷該電芯的開(kāi)路電壓變化值是否小于預(yù)設(shè)電壓變化值，記為第一條件；和/或，
31、對(duì)于每個(gè)所述電芯，判斷該電芯在所有所述采集時(shí)間段中的開(kāi)路電壓變化率是否均小于預(yù)設(shè)電壓變化率，或者，均大于所述預(yù)設(shè)電壓變化率，記為第二條件；
32、其中，當(dāng)所述第一條件和/或所述第二條件被滿足時(shí)，確定該電芯的短路判斷結(jié)果為該電芯存在短路點(diǎn)；當(dāng)所述第一條件及所述第二條件均不被滿足時(shí)，確定該電芯的短路判斷結(jié)果為該電芯不存在短路點(diǎn)。
33、作為一種可選的實(shí)施方式，在本專利技術(shù)第一方面中，所述在電池靜置過(guò)程中，采集在預(yù)設(shè)的本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述根據(jù)所有所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，對(duì)調(diào)荷后的所述電池的內(nèi)部進(jìn)行短路檢測(cè)，得到所述電池的內(nèi)部檢測(cè)結(jié)果，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，計(jì)算每個(gè)所述電芯的目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，從該電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)中篩選出滿足預(yù)設(shè)靜置條件的目標(biāo)開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯的開(kāi)路電壓變化曲線，判斷該電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)中是否存在滿足預(yù)設(shè)電壓變化條件的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求2-5任一項(xiàng)所述的電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，計(jì)算每個(gè)所述電芯的目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)，包括：
7
8.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述在電池靜置過(guò)程中，采集在預(yù)設(shè)的多個(gè)采集時(shí)刻內(nèi)每個(gè)所述采集時(shí)刻中每一所述電芯的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，包括：
9.一種電池內(nèi)短路檢測(cè)的裝置，其特征在于，所述裝置包括：
10.一種計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)指令，所述計(jì)算機(jī)指令被調(diào)用時(shí)，用于執(zhí)行如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述根據(jù)所有所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，對(duì)調(diào)荷后的所述電池的內(nèi)部進(jìn)行短路檢測(cè)，得到所述電池的內(nèi)部檢測(cè)結(jié)果，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯在所有所述采集時(shí)刻中的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，計(jì)算每個(gè)所述電芯的目標(biāo)測(cè)試數(shù)據(jù)，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，從該電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)中篩選出滿足預(yù)設(shè)靜置條件的目標(biāo)開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電池內(nèi)短路檢測(cè)的方法，其特征在于，所述根據(jù)每個(gè)所述電芯的開(kāi)路電壓變化曲線，判斷該電芯的所有開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)中是否存在滿足預(yù)設(shè)電壓變化條件的開(kāi)路電壓數(shù)據(jù)...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：馮航，李洋，馬天國(guó)，馬錫鋒，彭愛(ài)成，王世峰，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：惠州億緯鋰能股份有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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