【技術實現步驟摘要】
本申請涉及電子元器件壽命預測，特別是涉及一種壽命特征參數確定方法、裝置、設備、存儲介質和產品。
技術介紹
1、電子元器件是組成電子產品的基礎，因此，研究其貯存可靠性對電子產品而言非常重要。貯存壽命作為研究貯存可靠性的一項考核指標已明確提出。而電子元器件往往具有多項性能參數，那么如何從眾多的性能參數中有效識別能表征其壽命的性能參數，即壽命特征參數，成為本領域亟待解決的技術問題。
2、目前，往往是通過t-檢驗或灰色關聯分析等方法從眾多的性能參數確定壽命特征參數。但是這些方法在確定壽命特征參數時，存在準確性較低的問題。
技術實現思路
1、基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠提高壽命特征參數確定準確性的壽命特征參數確定方法、裝置、設備、存儲介質和產品。
2、第一方面，本申請提供了一種壽命特征參數確定方法。該方法包括：
3、獲取目標電子元器件的各性能參數的第一檢測數據和第二檢測數據；該第一檢測數據為該目標電子元器件初始狀態下性能參數的檢測數據，該第二檢測數據為該目標電子元器件自然貯存預設時長后性能參數的檢測數據；
4、基于該第一檢測數據、該第二檢測數據、各該性能參數在該目標電子元器件初始狀態下的技術要求值，以及該預設時長，確定各該性能參數的失效時間；
5、從各該性能參數中，根據各該性能參數的失效時間，確定壽命特征參數。
6、在其中一個實施例中，該基于該第一檢測數據、該第二檢測數據、各該性能參數在該目標電子元器件初
7、根據該第一檢測數據、該第二檢測數據和該預設時長，確定該性能參數的退化速率；
8、根據該性能參數的退化速率、該技術要求值和該第一檢測數據，確定該性能參數的失效時間。
9、在其中一個實施例中，該第一檢測數據包括：該性能參數經過多次檢測得到的多個第一數據；該第二檢測數據包括：該性能參數經過多次檢測得到的多個第二數據；該根據該第一檢測數據、該第二檢測數據和該預設時長，確定該性能參數的退化速率，包括：
10、確定該多個第一數據的第一平均值，以及該多個第二數據的第二平均值；
11、根據該第一平均值、該第二平均值和該預設時長，確定該性能參數的退化速率。
12、在其中一個實施例中，該根據該第一平均值、該第二平均值和該預設時長，確定該性能參數的退化速率，包括：
13、根據該第二平均值和該第一平均值，確定平均值變化量；
14、將該平均值變化量與該預設時長之間的第一比值，確定為該退化速率。
15、在其中一個實施例中，該根據該性能參數的退化速率、該技術要求值和該第一檢測數據，確定該性能參數的失效時間，包括：
16、根據該技術要求值和該第一檢測數據，確定該性能參數距離失效的量值；
17、將該性能參數距離失效的量值與該退化速率之間的第二比值，確定為該性能參數的失效時間。
18、在其中一個實施例中，該從各該性能參數中，根據各該性能參數的失效時間，確定壽命特征參數，包括：
19、對各該性能參數的失效時間按照從小到大的順序進行排序；
20、將最小失效時間對應的性能參數，確定為該壽命特征參數。
21、第二方面，本申請還提供了一種壽命特征參數確定裝置。該裝置包括：
22、獲取模塊，用于獲取目標電子元器件的各性能參數的第一檢測數據和第二檢測數據；該第一檢測數據為該目標電子元器件初始狀態下性能參數的檢測數據，該第二檢測數據為該目標電子元器件自然貯存預設時長后性能參數的檢測數據；
23、第一確定模塊，用于基于該第一檢測數據、該第二檢測數據、各該性能參數在該目標電子元器件初始狀態下的技術要求值，以及該預設時長，確定各該性能參數的失效時間；
24、第二確定模塊，用于從各該性能參數中，根據各該性能參數的失效時間，確定壽命特征參數。
25、第三方面，本申請還提供了一種計算機設備，包括存儲器和處理器，該存儲器存儲有計算機程序，該處理器執行該計算機程序時實現上述任一方法的步驟。
26、第四方面，本申請還提供了一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，該計算機程序被處理器執行時實現上述任一方法的步驟。
27、第五方面，本申請還提供了一種計算機程序產品，包括計算機程序，該計算機程序被處理器執行時實現上述任一方法的步驟。
28、上述壽命特征參數確定方法、裝置、設備、存儲介質和產品，通過獲取目標電子元器件的各性能參數的第一檢測數據和第二檢測數據，基于第一檢測數據、第二檢測數據、各性能參數在目標電子元器件初始狀態下的技術要求值，以及預設時長，確定各性能參數的失效時間，然后從各性能參數中，根據各性能參數的失效時間，確定了壽命特征參數，從而能夠提高壽命特征參數確定的準確性。并且，本申請實施例中提供的壽命特征參數確定方法簡化了壽命特征參數確定計算步驟，節約了計算資源，提高了壽命特征參數確定的效率。
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1.一種壽命特征參數確定方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一檢測數據、所述第二檢測數據、各所述性能參數在所述目標電子元器件初始狀態下的技術要求值，以及所述預設時長，確定各所述性能參數的失效時間，包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一檢測數據包括：所述性能參數經過多次檢測得到的多個第一數據；所述第二檢測數據包括：所述性能參數經過多次檢測得到的多個第二數據；所述根據所述第一檢測數據、所述第二檢測數據和所述預設時長，確定所述性能參數的退化速率，包括：
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一平均值、所述第二平均值和所述預設時長，確定所述性能參數的退化速率，包括：
5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述性能參數的退化速率、所述技術要求值和所述第一檢測數據，確定所述性能參數的失效時間，包括：
6.根據權利要求1-5任一項所述的方法，其特征在于，所述從各所述性能參數中，根據各所述性能參數的失效時間，確定壽命特征參數，包括：<...
【技術特征摘要】
1.一種壽命特征參數確定方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一檢測數據、所述第二檢測數據、各所述性能參數在所述目標電子元器件初始狀態下的技術要求值，以及所述預設時長，確定各所述性能參數的失效時間，包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一檢測數據包括：所述性能參數經過多次檢測得到的多個第一數據；所述第二檢測數據包括：所述性能參數經過多次檢測得到的多個第二數據；所述根據所述第一檢測數據、所述第二檢測數據和所述預設時長，確定所述性能參數的退化速率，包括：
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一平均值、所述第二平均值和所述預設時長，確定所述性能參數的退化速率，包括：
5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所...
【專利技術屬性】
技術研發人員：李坤蘭，胡湘洪，張洪彬，閆杰，李長虹，張少鋒，張錚，
申請(專利權)人：中國電子產品可靠性與環境試驗研究所工業和信息化部電子第五研究所中國賽寶實驗室，
類型：發明
國別省市：
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