【技術實現步驟摘要】
本技術是一種pin針缺陷檢測裝置，屬于處理器領域。
技術介紹
1、處理器的側邊上一般安裝有多個pin針，其中pin針為z字形結構，且多個pin針等距布置，因pin針的硬度不大，故pin針容易存在變形彎曲的情況，故需要對處理器側邊上的pin針進行檢測，在檢測處理器上的pin針時，將處理器置于托板上，然后人工推動處理器，使處理器側邊上的多個pin針與一個直板相接觸，通過觀察處理器側邊上pin針與直板的接觸情況，即存在變形的pin針會不與直板接觸或影響其他pin針與直板接觸，達到檢測pin針有無變形的情況，但人工推動處理器，推動的力度難以把控，當推動處理器的力度較大時，從而使pin針與直板接觸過程中變形，導致處理器不合格，故需要設計一種預防pin針在檢測過程中因推力過大變形的pin針缺陷檢測裝置。
技術實現思路
1、針對現有技術存在的不足，本技術目的是提供一種pin針缺陷檢測裝置，以解決上述
技術介紹
中提出的問題，本技術防止pin針與直板之間存在較大的擠壓力，預防pin針在檢測過程中變形。
2、為了實現上述目的，本技術是通過如下的技術方案來實現：一種pin針缺陷檢測裝置，包括用于托舉處理器的托板，所述托板一側面通過調節件安裝有固定板，所述固定板面向托板的一面安裝有直板，所述直板延伸至托板上側并與托板平行布置，所述托板上表面遠離固定板的一側安裝有豎板，所述豎板上端安裝有用于驅動處理器與直板相接觸的移動件。
3、進一步地，所述移動件包括管套，所述豎板上端連接固定有管套，
4、進一步地，所述螺桿處于管套外側的一端安裝有手柄，所述手柄與螺桿相互垂直布置。
5、進一步地，所述限位孔橫截面為矩形，所述限位桿橫截面為矩形。
6、進一步地，所述托板下表面四個拐角處均連接固定有兩個l型座，所述l型座水平部上表面開設有固定孔。
7、進一步地，所述螺桿處于管套內的一端連接固定有第一載板，所述第一磁鐵固定在第一載板背離螺桿的一面，所述第一載板尺寸小于管套內部空間尺寸。
8、進一步地，所述方形桿處于管套內的一端連接固定有第二載板，所述第二磁鐵固定在第二載板背離方形桿的一面。
9、本技術的有益效果：
10、1、利用橡膠吸盤吸住處理器，此時處理器在自身重量作用下與托板表面接觸，限位桿和限位孔相互配合，實現防止處理器發生轉動，利用手柄擰動螺桿，進而第一磁鐵與第二磁鐵的間距縮小，在排斥力的作用下，使方形桿處于管套內的長度變短，即方形桿通過限位桿和橡膠吸盤形成的結構移動處理器，使處理器側邊上安裝的pin針與直板接觸，因采用了電磁排斥力的方式驅動處理器移動，故不會出現處理器側邊上的pin針與直板存在較大擠壓力的情況，預防pin針在檢測過程中變形，觀察直板與多個pin針之間的間隙，當處理器一側邊上的多個pin針與直板之間均貼合，則pin針無變形，反之，pin針變形。
11、2、在直板背離固定板的一面插接橡膠條，實現使直板與pin針柔性接觸的目的。
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1.一種PIN針缺陷檢測裝置，包括用于托舉處理器的托板（1），其特征在于：所述托板（1）一端安裝有固定板（4），所述固定板（4）面向托板（1）的一面安裝有直板（5），所述直板（5）延伸至托板（1）上側并與托板（1）平行布置，所述托板（1）上表面遠離固定板（4）的一側安裝有豎板（13），所述豎板（13）上端安裝有用于驅動處理器與直板（5）相接觸的移動件。
2.根據權利要求1所述的一種PIN針缺陷檢測裝置，其特征在于：所述移動件包括管套（10），所述豎板（13）上端連接固定有管套（10），所述管套（10）朝向固定板（4）的一面為開口狀，所述管套（10）開口端安裝有端蓋（9），所述端蓋（9）一側面開設有方形孔（14），所述方形孔（14）內安插有方形桿（7），所述方形桿（7）處于管套（10）外側的一端開設有豎向布置的限位孔（19），所述限位孔（19）內安插有橫截面為矩形的限位桿（6），所述限位桿（6）下端安裝有用于吸附在處理器表面上的橡膠吸盤（8），所述方形桿（7）處于管套（10）內的一端安裝有第二磁鐵（17），所述管套（10）背離端蓋（9）的一面開設有螺紋孔，所述螺紋孔內螺
3.根據權利要求2所述的一種PIN針缺陷檢測裝置，其特征在于：所述螺桿（11）處于管套（10）外側的一端安裝有手柄（12），所述手柄（12）與螺桿（11）垂直布置。
4.根據權利要求2所述的一種PIN針缺陷檢測裝置，其特征在于：所述限位孔（19）橫截面為矩形，所述限位桿（6）橫截面為矩形。
5.根據權利要求1所述的一種PIN針缺陷檢測裝置，其特征在于：所述托板（1）下表面四個拐角處均連接固定有兩個L型座（3），所述L型座（3）水平部上表面開設有固定孔（2）。
6.根據權利要求2所述的一種PIN針缺陷檢測裝置，其特征在于：所述螺桿（11）處于管套（10）內的一端連接固定有第一載板（15），所述第一磁鐵（16）固定在第一載板（15）背離螺桿（11）的一面，所述第一載板（15）尺寸小于管套（10）內部空間尺寸。
7.根據權利要求2所述的一種PIN針缺陷檢測裝置，其特征在于：所述方形桿（7）處于管套（10）內的一端連接固定有第二載板（18），所述第二磁鐵（17）固定在第二載板（18）背離方形桿（7）的一面。
...【技術特征摘要】
1.一種pin針缺陷檢測裝置，包括用于托舉處理器的托板（1），其特征在于：所述托板（1）一端安裝有固定板（4），所述固定板（4）面向托板（1）的一面安裝有直板（5），所述直板（5）延伸至托板（1）上側并與托板（1）平行布置，所述托板（1）上表面遠離固定板（4）的一側安裝有豎板（13），所述豎板（13）上端安裝有用于驅動處理器與直板（5）相接觸的移動件。
2.根據權利要求1所述的一種pin針缺陷檢測裝置，其特征在于：所述移動件包括管套（10），所述豎板（13）上端連接固定有管套（10），所述管套（10）朝向固定板（4）的一面為開口狀，所述管套（10）開口端安裝有端蓋（9），所述端蓋（9）一側面開設有方形孔（14），所述方形孔（14）內安插有方形桿（7），所述方形桿（7）處于管套（10）外側的一端開設有豎向布置的限位孔（19），所述限位孔（19）內安插有橫截面為矩形的限位桿（6），所述限位桿（6）下端安裝有用于吸附在處理器表面上的橡膠吸盤（8），所述方形桿（7）處于管套（10）內的一端安裝有第二磁鐵（17），所述管套（10）背離端蓋（9）的一面開設有螺紋孔，所述螺紋孔內螺紋連接有螺桿（11），所述螺桿（11）處于管套...
【專利技術屬性】
技術研發人員：梁剛藝，
申請(專利權)人：成都態凡計科技有限公司，
類型：新型
國別省市：
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