【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本申請實施例涉及計算機(jī)，具體涉及一種芯片設(shè)計的仿真方法、裝置及相關(guān)設(shè)備。
技術(shù)介紹
1、芯片功耗模型(chip?power?model，cpm)數(shù)據(jù)是芯片設(shè)計以及仿真過程中的一個重要工具，其可以幫助設(shè)計者理解和優(yōu)化芯片設(shè)計的功耗特性，確保芯片設(shè)計在實際應(yīng)用中的性能和可靠性。
2、但是，隨著芯片設(shè)計的集成度的不斷提升，芯片設(shè)計和仿真的復(fù)雜度也隨之增加，導(dǎo)致芯片功耗模型數(shù)據(jù)的抽取耗時增大，進(jìn)而影響芯片設(shè)計的仿真效率。因此，在此背景下，如何提供技術(shù)方案，以優(yōu)化芯片功耗模型數(shù)據(jù)的抽取效率，提高芯片設(shè)計的仿真效率，成為了本領(lǐng)域技術(shù)人員亟需解決的技術(shù)問題。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、有鑒于此，本專利技術(shù)實施例提供一種芯片設(shè)計的仿真方法、裝置及相關(guān)設(shè)備，以優(yōu)化芯片功耗模型數(shù)據(jù)的抽取效率，提高芯片設(shè)計的仿真效率。
2、為實現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)實施例提供如下技術(shù)方案。
3、第一方面，本專利技術(shù)實施例提供一種芯片設(shè)計的仿真方法，包括：
4、獲取芯片設(shè)計中各個分區(qū)的設(shè)計數(shù)據(jù)；
5、針對于每一個分區(qū)，基于所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略；
6、利用所確定的數(shù)據(jù)抽取策略，對對應(yīng)類型的設(shè)計數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)抽取，得到每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)對應(yīng)的抽取數(shù)據(jù)；且每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)抽取為并行進(jìn)行；
7、將每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)對應(yīng)的抽取數(shù)據(jù)進(jìn)行合并，形成各個分區(qū)的芯片功耗模型數(shù)據(jù)；
8、利用各個分區(qū)的芯片功耗模型數(shù)據(jù)進(jìn)行芯片設(shè)
9、第二方面，本專利技術(shù)實施例提供一種芯片設(shè)計的仿真裝置，包括：
10、數(shù)據(jù)獲取模塊，用于獲取芯片設(shè)計中各個分區(qū)的設(shè)計數(shù)據(jù)；
11、數(shù)據(jù)抽取策略確定模塊，用于針對于每一個分區(qū)，基于所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略；
12、數(shù)據(jù)抽取模塊，用于利用所確定的數(shù)據(jù)抽取策略，對對應(yīng)類型的設(shè)計數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)抽取，得到每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)對應(yīng)的抽取數(shù)據(jù)；且每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)抽取為并行進(jìn)行；
13、功耗模型數(shù)據(jù)形成模塊，用于將每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)對應(yīng)的抽取數(shù)據(jù)進(jìn)行合并，形成各個分區(qū)的芯片功耗模型數(shù)據(jù)；
14、芯片設(shè)計仿真模塊，用于利用各個分區(qū)的芯片功耗模型數(shù)據(jù)進(jìn)行芯片設(shè)計的仿真。
15、第三方面，本專利技術(shù)實施例提供一種電子設(shè)備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有程序，所述處理器調(diào)用所述存儲器中存儲的程序，執(zhí)行如第一方面所述的芯片設(shè)計的仿真方法。
16、第四方面，本專利技術(shù)實施例提供一種存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)存儲有程序，所述程序被執(zhí)行時實現(xiàn)如第一方面所述的芯片設(shè)計的仿真方法。
17、第五方面，本專利技術(shù)實施例提供一種計算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計算機(jī)程序，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如第一方面所述的芯片設(shè)計的仿真方法。
18、本專利技術(shù)實施例提供的一種芯片設(shè)計的仿真方法，包括：獲取芯片設(shè)計中各個分區(qū)的設(shè)計數(shù)據(jù)；針對于每一個分區(qū)，基于所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略；利用所確定的數(shù)據(jù)抽取策略，對對應(yīng)類型的設(shè)計數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)抽取，得到每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)對應(yīng)的抽取數(shù)據(jù)；且每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)抽取為并行進(jìn)行；將每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)對應(yīng)的抽取數(shù)據(jù)進(jìn)行合并，形成各個分區(qū)的芯片功耗模型數(shù)據(jù)；利用各個分區(qū)的芯片功耗模型數(shù)據(jù)進(jìn)行芯片設(shè)計的仿真。
19、可以看出，本專利技術(shù)實施例提供的技術(shù)方案，在抽取芯片功耗模型數(shù)據(jù)的過程中，將每個分區(qū)的設(shè)計數(shù)據(jù)首先進(jìn)行類型的區(qū)分；進(jìn)而利用每個類型對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略來完成該類型的設(shè)計數(shù)據(jù)下的數(shù)據(jù)抽取過程的執(zhí)行，最后將每個類型下的數(shù)據(jù)抽取結(jié)果(抽取數(shù)據(jù))進(jìn)行合并，得到每個分區(qū)的芯片功耗模型數(shù)據(jù)。由于，數(shù)據(jù)抽取策略是與設(shè)計數(shù)據(jù)的類型一一對應(yīng)定義的，不同類型的設(shè)計數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)抽取策略之間具有獨立性，且每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)抽取為并行進(jìn)行；從而在對每個分區(qū)進(jìn)行數(shù)據(jù)抽取時，均可以利用與設(shè)計數(shù)據(jù)的類型對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略，獨立且并行的執(zhí)行數(shù)據(jù)抽取的步驟，從而可以增加一個分區(qū)中用于執(zhí)行數(shù)據(jù)抽取步驟的子任務(wù)(執(zhí)行數(shù)據(jù)抽取的程序)的數(shù)量，提升對數(shù)據(jù)抽取步驟的執(zhí)行速度，降低抽取芯片功耗模型數(shù)據(jù)時的耗時，達(dá)到優(yōu)化芯片功耗模型數(shù)據(jù)的抽取效率，提高芯片設(shè)計的仿真效率的目的。
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1.一種芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，包括：
2.如權(quán)利要求1所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，在所述針對于每一個分區(qū)，基于所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略之前，還包括：基于設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，定義對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略；
3.如權(quán)利要求2所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型包括：邏輯設(shè)計類型；所述基于設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定處理每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)的處理路徑，包括：
4.如權(quán)利要求3所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型還包括：物理設(shè)計類型；所述基于設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定處理每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)的處理路徑，包括：
5.如權(quán)利要求1-4任一項所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述針對于每一個分區(qū)，基于所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略，包括：
6.如權(quán)利要求5所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述邏輯設(shè)計數(shù)據(jù)包括芯片設(shè)計在不同的工作場景和工作模式下，仿真后形成的信號波形數(shù)據(jù)，以及芯片設(shè)計中各個分區(qū)內(nèi)的模塊的邏輯連接關(guān)系數(shù)據(jù)；所述利用所述第一數(shù)據(jù)抽取策略對所述邏輯設(shè)計數(shù)據(jù)
7.如權(quán)利要求6所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述信號波形數(shù)據(jù)基于芯片設(shè)計的邏輯設(shè)計過程中，進(jìn)行信號仿真時得到的波形文件獲得；所述芯片設(shè)計中各個模塊的邏輯連接關(guān)系數(shù)據(jù)基于芯片設(shè)計的邏輯設(shè)計過程中形成的，用于描述電路邏輯連接關(guān)系的網(wǎng)表文件獲得。
8.如權(quán)利要求5所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述物理設(shè)計數(shù)據(jù)包括芯片設(shè)計的物理封裝布局?jǐn)?shù)據(jù)；所述利用所述第二數(shù)據(jù)抽取策略對所述物理設(shè)計數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)抽取，得到第二抽取數(shù)據(jù)，包括：
9.如權(quán)利要求8所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述物理封裝布局?jǐn)?shù)據(jù)基于芯片設(shè)計的封裝和電路板布局過程中，形成的焊點位置文件、電源/地再分布層設(shè)計交換格式文件、以及模塊的物理信息描述文件獲得。
10.如權(quán)利要求1-4任一項所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，在所述獲取芯片設(shè)計中各個分區(qū)的設(shè)計數(shù)據(jù)的步驟之后，還包括：
11.一種的芯片設(shè)計的仿真裝置，其特征在于，包括：
12.如權(quán)利要求11所述的芯片設(shè)計的仿真裝置，其特征在于，還包括：
13.如權(quán)利要求12所述的芯片設(shè)計的仿真裝置，其特征在于，所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型包括：邏輯設(shè)計類型；所述數(shù)據(jù)抽取策略定義模塊，用于基于設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定處理每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)的處理路徑，包括：
14.如權(quán)利要求13所述的芯片設(shè)計的仿真裝置，其特征在于，所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型還包括：物理設(shè)計類型；所述數(shù)據(jù)抽取策略定義模塊，用于基于設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定處理每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)的處理路徑，包括：
15.如權(quán)利要求11-14任一項所述的芯片設(shè)計的仿真裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)抽取策略確定模塊，用于針對于每一個分區(qū)，基于所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略，包括：
16.如權(quán)利要求11-14任一項所述的芯片設(shè)計的仿真裝置，其特征在于，還包括：
17.如權(quán)利要求11-14任一項所述的芯片設(shè)計的仿真裝置，其特征在于，所述芯片設(shè)計仿真模塊為電源完整性驗證模塊。
18.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有程序，所述處理器調(diào)用所述存儲器中存儲的程序，執(zhí)行如權(quán)利要求1-11任一項所述的芯片設(shè)計的仿真方法。
19.一種存儲介質(zhì)，其特征在于，所述存儲介質(zhì)存儲有程序，所述程序被執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1-11任一項所述的芯片設(shè)計的仿真方法。
20.一種計算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計算機(jī)程序，其特征在于，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1-11任一項所述的芯片設(shè)計的仿真方法。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，包括：
2.如權(quán)利要求1所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，在所述針對于每一個分區(qū)，基于所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略之前，還包括：基于設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，定義對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略；
3.如權(quán)利要求2所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型包括：邏輯設(shè)計類型；所述基于設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定處理每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)的處理路徑，包括：
4.如權(quán)利要求3所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型還包括：物理設(shè)計類型；所述基于設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定處理每個類型的設(shè)計數(shù)據(jù)的處理路徑，包括：
5.如權(quán)利要求1-4任一項所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述針對于每一個分區(qū)，基于所述設(shè)計數(shù)據(jù)的類型，確定對應(yīng)的數(shù)據(jù)抽取策略，包括：
6.如權(quán)利要求5所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述邏輯設(shè)計數(shù)據(jù)包括芯片設(shè)計在不同的工作場景和工作模式下，仿真后形成的信號波形數(shù)據(jù)，以及芯片設(shè)計中各個分區(qū)內(nèi)的模塊的邏輯連接關(guān)系數(shù)據(jù)；所述利用所述第一數(shù)據(jù)抽取策略對所述邏輯設(shè)計數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)抽取，得到第一抽取數(shù)據(jù)，包括：
7.如權(quán)利要求6所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述信號波形數(shù)據(jù)基于芯片設(shè)計的邏輯設(shè)計過程中，進(jìn)行信號仿真時得到的波形文件獲得；所述芯片設(shè)計中各個模塊的邏輯連接關(guān)系數(shù)據(jù)基于芯片設(shè)計的邏輯設(shè)計過程中形成的，用于描述電路邏輯連接關(guān)系的網(wǎng)表文件獲得。
8.如權(quán)利要求5所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述物理設(shè)計數(shù)據(jù)包括芯片設(shè)計的物理封裝布局?jǐn)?shù)據(jù)；所述利用所述第二數(shù)據(jù)抽取策略對所述物理設(shè)計數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)抽取，得到第二抽取數(shù)據(jù)，包括：
9.如權(quán)利要求8所述的芯片設(shè)計的仿真方法，其特征在于，所述物理封裝布局?jǐn)?shù)據(jù)基于芯片設(shè)計的封裝和電路板布局過程中，形成的焊點位置文...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：方勇，張巖，
申請(專利權(quán))人：成都海光集成電路設(shè)計有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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