【技術實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術涉及集成電路的形式驗證的，尤其涉及集成電路的形式驗證方法。
技術介紹
1、隨著集成電路的復雜度的提高，形式驗證需要檢查同一設計上的大量屬性。屬性包括斷言屬性(assertion)、約束屬性(assumption)和覆蓋率屬性(coverage)。
2、斷言屬性用于檢查設計的實際行為是否符合預期。常見的斷言屬性包括以下幾種情況。
3、安全性斷言(safety?assertions)：確保系統(tǒng)在特定條件下不會進入不良狀態(tài)。例如，"如果電路設計的輸入a為高電平，則輸出b必須在100個時鐘周期內(nèi)保持高電平"。
4、活躍性斷言(liveness?assertions)：確保某些事件最終會發(fā)生。例如，"如果電路設計的請求信號被激活，則在有限時間內(nèi)應獲得應答"。
5、時序斷言(temporal?assertions)：檢查信號在時間上的關系，例如，"信號x在信號y上升沿后3個時鐘周期內(nèi)必須變?yōu)楦?。
6、約束屬性用于定義設計行為的前提條件。常見的約束屬性包括以下幾種情況。
7、環(huán)境約束(environmental?assumptions)：假設某些輸入信號在特定情況下的行為。例如，"輸入信號a的有效狀態(tài)在時鐘周期0到10之間"。
8、接口約束(interface?assumptions)：規(guī)定與外部接口的交互方式。例如，"外部信號x在時鐘周期內(nèi)不應同時為高電平和低電平"。
9、覆蓋率屬性用于監(jiān)控特定事件是否發(fā)生。常見的覆蓋率屬性包括以下幾
10、狀態(tài)覆蓋率(state?coverage)：檢查設計中所有可能的狀態(tài)是否都被觸發(fā)。
11、條件覆蓋率(condition?coverage)：確保所有條件都經(jīng)歷過所有可能的真值組合。
12、跨越覆蓋率(cross?coverage)：監(jiān)控多個信號組合的事件發(fā)生情況，例如，"信號a和b同時為高的情況"。
13、然而，目前常規(guī)的形式驗證工具通常同時或者一次解決所有屬性。即采用coi(影響錐)進行劃分，每條屬性劃分單個coi，然后再連續(xù)多次進行驗證。這種方法需多次遍歷coi和調(diào)用驗證引擎。或者整個設計結合所有屬性一次性驗證，這種方法可以避免多次遍歷，但是每次驗證都是整個設計，驗證空間過大，存在多次重復驗證的現(xiàn)象。倘若要形象比喻驗證空間過大的話，可以將形式驗證的過程理解為解方程，驗證空間是方程中的變量數(shù)，變量越多，驗證空間越大，計算復雜度越大。對于整個電路設計結合所有屬性一次性驗證來說，這是由于此時得到的coi涉及集成電路的所有信號，信號量越大，則驗空間越大，驗證越復雜。
14、因此，在有限驗證周期內(nèi)，如何高效地驗證大量屬性是待解決的技術問題。
技術實現(xiàn)思路
1、為了解決現(xiàn)有技術中要么過多的遍歷次數(shù)，要么過多的重復驗證的技術問題，本專利技術提出了一種集成電路的形式驗證方法。
2、本專利技術提出的集成電路的形式驗證方法，包括：
3、獲取集成電路的待驗證的屬性，并依次分析每一個屬性；
4、若不存在已分析的屬性，或者當前屬性與任意一個已分析的屬性的無關聯(lián)關系，則直接為當前屬性生成其對應的影響錐，并記錄該影響錐對應的信號集；
5、若當前屬性與任意一個已分析的屬性互為關聯(lián)屬性，則判斷兩者的影響錐共享程度；
6、若兩者的影響錐共享程度低于預設共享程度，則直接為當前屬性生成其對應的影響錐，并記錄該影響錐對應的信號集；否則以對應的已分析的屬性的影響錐為基礎，生成擴展影響錐作為當前屬性與該已分析的屬性的影響錐，并記錄該影響錐對應的信號集；所述擴展錐為在對應的影響錐的基礎上追加當前屬性的信號而生成的影響錐；
7、當所有屬性均分析完畢時，基于所述屬性的影響錐進行形式驗證。
8、進一步，分析所述屬性包括分析所述屬性相關的信號及狀態(tài)。
9、進一步，判斷當前屬性與任意一個已分析的屬性是否互為關聯(lián)屬性包括：判斷當前屬性的信號是否屬于任意一個已分析的屬性的信號集；若是，則當前屬性與該已分析的屬性互為關聯(lián)屬性，否則兩者無關聯(lián)關系。
10、進一步，判斷當前屬性與其關聯(lián)屬性的共享程度包括：
11、依次判斷當前屬性的各個信號與該當前屬性的關聯(lián)屬性之間的共享程度；
12、在當前屬性的關聯(lián)屬性的影響錐中找到當前信號；
13、統(tǒng)計當前信號到該影響錐的錐頂所跨的基元的數(shù)量m，以及當前信號到該影響錐的錐底所跨的基元的數(shù)量n；
14、m和n滿足n＜m*k，則認為當前信號對應的影響錐與該關聯(lián)屬性對應的影響錐低于預設共享程度，否則認為當前信號對應的影響錐與該關聯(lián)屬性對應的影響錐高于預設共享程度，0＜k＜1。
15、進一步，所述屬性包括斷言屬性、約束屬性和覆蓋率屬性當中的至少一種。
16、進一步，所述屬性的信號包括輸入信號、輸出信號、內(nèi)部信號、始終信號和復位信號當中的至少一種。
17、本專利技術通過研究集成電路的屬性之間的子問題共享關系，從而減少屬性的影響錐的數(shù)量，避免多次重復驗證，提高了整體的驗證效率。
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1.一種集成電路的形式驗證方法，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的集成電路的形式驗證方法，其特征在于，分析所述屬性包括分析所述屬性相關的信號及狀態(tài)。
3.如權利要求1所述的集成電路的形式驗證方法，其特征在于，判斷當前屬性與任意一個已分析的屬性是否互為關聯(lián)屬性包括：判斷當前屬性的信號是否屬于任意一個已分析的屬性的信號集；若是，則當前屬性與該已分析的屬性互為關聯(lián)屬性，否則兩者無關聯(lián)關系。
4.如權利要求3所述的集成電路的形式驗證方法，其特征在于，判斷當前屬性與其關聯(lián)屬性的共享程度包括：
5.如權利要求1至4任意一項所述的集成電路的形式驗證方法，其特征在于，所述屬性包括斷言屬性、約束屬性和覆蓋率屬性當中的至少一種。
6.如權利要求2所述的集成電路的形式驗證方法，其特征在于，所述屬性的信號包括輸入信號、輸出信號、內(nèi)部信號、始終信號和復位信號當中的至少一種。
【技術特征摘要】
1.一種集成電路的形式驗證方法，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的集成電路的形式驗證方法，其特征在于，分析所述屬性包括分析所述屬性相關的信號及狀態(tài)。
3.如權利要求1所述的集成電路的形式驗證方法，其特征在于，判斷當前屬性與任意一個已分析的屬性是否互為關聯(lián)屬性包括：判斷當前屬性的信號是否屬于任意一個已分析的屬性的信號集；若是，則當前屬性與該已分析的屬性互為關聯(lián)屬性，否則兩者無關聯(lián)關...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：劉美華，蘇宇，林巖，
申請(專利權)人：深圳國微福芯技術有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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