【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及測(cè)井勘探，具體為一種頁(yè)巖優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別方法和系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
1、近些年來(lái)，各地隨著常規(guī)油氣產(chǎn)量逐漸下降，非常規(guī)油氣資源作為一種替代性能源占據(jù)越來(lái)越高地位，已經(jīng)作為油氣增產(chǎn)增儲(chǔ)的重要資源之一，同時(shí)，伴隨著國(guó)內(nèi)外多處頁(yè)巖油氣井取得了突破性進(jìn)展，頁(yè)巖油氣的受關(guān)注程度越來(lái)越高。
2、在陸地頁(yè)巖油儲(chǔ)集相測(cè)井識(shí)別研究方向上，現(xiàn)存在較多的解決方法，多數(shù)方法為通過(guò)測(cè)井曲線的幅度變化定性地給出優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相多數(shù)情況下的曲線狀態(tài)，或是通過(guò)從儲(chǔ)集性或者物性等方面的單因素分析，不同方法傾向于不同的參數(shù)及不同的權(quán)重，但仍存在一定的問(wèn)題：
3、1.在頁(yè)巖優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相判斷前，往往利用巖石礦物組分三角形圖版與toc含量實(shí)現(xiàn)巖石的初步判別與命名。在研究中未表明巖石結(jié)構(gòu)變化對(duì)巖石類型的影響，此外，沒(méi)有把巖石結(jié)構(gòu)、礦物組分，以及彰顯巖石生成環(huán)境的伽馬能譜共同作為巖石分類的手段。
4、2.多數(shù)基于測(cè)井的儲(chǔ)層優(yōu)勢(shì)相研究，采用加入不同的參數(shù)關(guān)系以代表儲(chǔ)層變化狀況，但這些研究未考慮在參數(shù)構(gòu)建中利用孔徑微觀參數(shù)與宏觀孔滲參數(shù)相結(jié)合，并以地化錄井參數(shù)作為補(bǔ)充，同時(shí)，未考慮因巖石結(jié)構(gòu)變化而造成優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)層(甜點(diǎn)區(qū))識(shí)別參數(shù)變化的情況。
5、因此，現(xiàn)有技術(shù)中針對(duì)陸地頁(yè)巖油儲(chǔ)集相測(cè)井識(shí)別方法，都存在著因考慮參數(shù)不全面導(dǎo)致的優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相評(píng)價(jià)結(jié)果不可靠的技術(shù)問(wèn)題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)的目的就在于為了解決上述至少一個(gè)技術(shù)問(wèn)題而提供一種頁(yè)巖優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別方法和系統(tǒng)。
2、
3、進(jìn)一步地，基于所述目標(biāo)頁(yè)巖的巖石構(gòu)造、所述礦物含量和所述自然伽馬能譜，對(duì)所述目標(biāo)頁(yè)巖按小層進(jìn)行巖石類型劃分，得到所述目標(biāo)頁(yè)巖的多個(gè)層位，包括：基于所述巖石構(gòu)造將所述目標(biāo)頁(yè)巖劃分為多個(gè)構(gòu)造類型；基于所述礦物含量將所述目標(biāo)頁(yè)巖劃分為多個(gè)礦物類型；基于所述自然伽馬能譜，計(jì)算th/u比值；基于所述th/u比值，將所述目標(biāo)頁(yè)巖劃分為多個(gè)釷鈾比類型；將所述多個(gè)構(gòu)造類型、所述多個(gè)礦物類型和所述多個(gè)釷鈾比類型進(jìn)行組合分類，將所述目標(biāo)頁(yè)巖劃分為多個(gè)層位。
4、進(jìn)一步地，所述構(gòu)造類型包括：基質(zhì)型、紋層型和夾層型；所述礦物類型包括：長(zhǎng)英質(zhì)類型、灰質(zhì)類型、粘土質(zhì)類型和混合質(zhì)類型；所述釷鈾比類型包括：高釷鈾比、中釷鈾比和低釷鈾比；所述多個(gè)層位包括：基質(zhì)型中釷鈾比含長(zhǎng)英混合質(zhì)頁(yè)巖、紋層型中釷鈾比含粘土混合質(zhì)頁(yè)巖、紋層型中釷鈾比長(zhǎng)英質(zhì)頁(yè)巖、紋層型低釷鈾比長(zhǎng)英質(zhì)頁(yè)巖、紋層型中釷鈾比含粘土混合質(zhì)頁(yè)巖、紋層型低釷鈾比長(zhǎng)英質(zhì)頁(yè)巖、夾層型低釷鈾比長(zhǎng)英質(zhì)頁(yè)巖。
5、進(jìn)一步地，所述校正孔滲數(shù)據(jù)包括有效孔隙度和校正滲透率；基于所述元素測(cè)井曲線數(shù)據(jù)、所述常規(guī)測(cè)井曲線數(shù)據(jù)和所述核磁測(cè)井曲線數(shù)據(jù)，確定所述目標(biāo)頁(yè)巖的校正孔滲數(shù)據(jù)，包括：基于所述元素測(cè)井曲線數(shù)據(jù)結(jié)合所述常規(guī)測(cè)井曲線數(shù)據(jù)，計(jì)算所述有效孔隙度；其中，所述有效孔隙度計(jì)算算式包括：
6、
7、式中，ai表示所述元素測(cè)井曲線數(shù)據(jù)中第i種礦物的體積分?jǐn)?shù)，dmai表示第i種礦物的骨架密度，vtoc為有機(jī)質(zhì)體積，ρb表示所述常規(guī)測(cè)井曲線數(shù)據(jù)中的密度測(cè)井計(jì)算的體積密度，φe為有效孔隙度，ρma為計(jì)算校正骨架密度，ρtoc為有機(jī)質(zhì)密度，ρf為流體密度；基于所述核磁測(cè)井曲線數(shù)據(jù)中的t2分布的幾何平均值估算初始滲透率，并利用所述物性實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行校正，得到所述校正滲透率。
8、進(jìn)一步地，所述頁(yè)巖孔徑微觀參數(shù)包括排驅(qū)壓力和飽和度中值壓力；其中，所述排驅(qū)壓力的計(jì)算算式包括：
9、
10、式中，pd為所述排驅(qū)壓力，t2gm為所述核磁測(cè)井曲線數(shù)據(jù)中的t2分布的幾何平均值；基于所述核磁測(cè)井曲線數(shù)據(jù)中核磁壓汞轉(zhuǎn)換后的偽毛管壓力曲線，確定所述飽和度中值壓力；所述飽和度中值壓力為非潤(rùn)濕相飽和度50％時(shí)對(duì)應(yīng)毛管壓力；分別對(duì)所述排驅(qū)壓力和所述飽和度中值壓力進(jìn)行歸一化處理，得到歸一化后的排驅(qū)壓力和歸一化后的飽和度中值壓力。
11、進(jìn)一步地，所述校正孔滲數(shù)據(jù)包括有效孔隙度和校正滲透率，所述頁(yè)巖孔徑微觀參數(shù)包括排驅(qū)壓力和飽和度中值壓力；所述優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別指數(shù)的計(jì)算算式包括：
12、
13、式中，m表示所述優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別指數(shù)，k為所述校正滲透率，φe為所述有效孔隙度，p′50表示歸一化后的飽和度中值壓力，pd′表示歸一化后的排驅(qū)壓力，hi表示所述地化參數(shù)含氫指數(shù)，l表示所述預(yù)設(shè)巖石結(jié)構(gòu)補(bǔ)正指數(shù)。
14、進(jìn)一步地，識(shí)別所述目標(biāo)頁(yè)巖的優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相，包括：基于每個(gè)層位對(duì)應(yīng)的優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別指數(shù)的大小，結(jié)合每個(gè)層位所屬巖石類型，識(shí)別所述目標(biāo)頁(yè)巖的優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相。
15、第二方面，本專利技術(shù)實(shí)施例還提供了一種頁(yè)巖優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別系統(tǒng)，包括：獲取模塊，第一確定模塊，分類模塊，第二確定模塊，第三確定模塊，構(gòu)建模塊和識(shí)別模塊；其中，所述獲取模塊，用于獲取目標(biāo)頁(yè)巖的常規(guī)測(cè)井曲線數(shù)據(jù)、元素測(cè)井曲線數(shù)據(jù)、核磁測(cè)井曲線數(shù)據(jù)、物性實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)及地化參數(shù)含氫指數(shù)；所述第一確定模塊，用于基于所述元素測(cè)井曲線數(shù)據(jù)和所述常規(guī)測(cè)井曲線數(shù)據(jù)，分別確定所述目標(biāo)頁(yè)巖的礦物含量和自然伽馬能譜；所述分類模塊，用于基于所述目標(biāo)頁(yè)巖的巖石構(gòu)造、所述礦物含量和所述自然伽馬能譜，對(duì)所述目標(biāo)頁(yè)巖按小層進(jìn)行巖石類型劃分，得到所述目標(biāo)頁(yè)巖的多個(gè)層位；所述第二確定模塊，用于基于所述元素測(cè)井曲線數(shù)據(jù)、所述常規(guī)測(cè)井曲線數(shù)據(jù)、所述核磁測(cè)井曲線數(shù)據(jù)和所述物性實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，確定所述目標(biāo)頁(yè)巖的校正孔滲數(shù)據(jù)；所述第三確定模塊，用于根據(jù)所述核磁測(cè)井曲線數(shù)據(jù)，確定頁(yè)巖孔徑微觀參數(shù)；所述構(gòu)建模塊，用于基于所述地化參數(shù)含氫指數(shù)、所述校正孔滲數(shù)據(jù)、所述頁(yè)巖孔徑微觀參數(shù)和預(yù)設(shè)巖石結(jié)構(gòu)補(bǔ)正指數(shù)，構(gòu)建所述目標(biāo)頁(yè)巖的優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別指數(shù)；所述識(shí)別模塊，用于分別計(jì)算所述目標(biāo)頁(yè)巖的每個(gè)層位對(duì)應(yīng)的優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別指數(shù)，得到所述目標(biāo)頁(yè)巖的縱向儲(chǔ)集相分布狀態(tài)，并識(shí)別所述目標(biāo)頁(yè)巖的優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相。
16、第三方面，本專利技術(shù)實(shí)施例還提供了一種電子設(shè)備，包括：存儲(chǔ)器、處理器和存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種頁(yè)巖優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：基于所述目標(biāo)頁(yè)巖的巖石構(gòu)造、所述礦物含量和所述自然伽馬能譜，對(duì)所述目標(biāo)頁(yè)巖按小層進(jìn)行巖石類型劃分，得到所述目標(biāo)頁(yè)巖的多個(gè)層位，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于：所述構(gòu)造類型包括：基質(zhì)型、紋層型和夾層型；
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述校正孔滲數(shù)據(jù)包括有效孔隙度和校正滲透率；基于所述元素測(cè)井曲線數(shù)據(jù)、所述常規(guī)測(cè)井曲線數(shù)據(jù)、所述核磁測(cè)井曲線數(shù)據(jù)和所述物性實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，確定所述目標(biāo)頁(yè)巖的校正孔滲數(shù)據(jù)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述頁(yè)巖孔徑微觀參數(shù)包括排驅(qū)壓力和飽和度中值壓力；其中，所述排驅(qū)壓力的計(jì)算算式包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述校正孔滲數(shù)據(jù)包括有效孔隙度和校正滲透率，所述頁(yè)巖孔徑微觀參數(shù)包括排驅(qū)壓力和飽和度中值壓力；所述優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別指數(shù)的計(jì)算算式包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：識(shí)別所述目標(biāo)頁(yè)巖的優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相，包括：基于每個(gè)層位
8.一種頁(yè)巖優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別系統(tǒng)，其特征在于，包括：獲取模塊，第一確定模塊，分類模塊，第二確定模塊，第三確定模塊，構(gòu)建模塊和識(shí)別模塊；其中，
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：存儲(chǔ)器、處理器和存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的方法。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)指令，所述計(jì)算機(jī)指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的方法。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種頁(yè)巖優(yōu)勢(shì)儲(chǔ)集相識(shí)別方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：基于所述目標(biāo)頁(yè)巖的巖石構(gòu)造、所述礦物含量和所述自然伽馬能譜，對(duì)所述目標(biāo)頁(yè)巖按小層進(jìn)行巖石類型劃分，得到所述目標(biāo)頁(yè)巖的多個(gè)層位，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于：所述構(gòu)造類型包括：基質(zhì)型、紋層型和夾層型；
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述校正孔滲數(shù)據(jù)包括有效孔隙度和校正滲透率；基于所述元素測(cè)井曲線數(shù)據(jù)、所述常規(guī)測(cè)井曲線數(shù)據(jù)、所述核磁測(cè)井曲線數(shù)據(jù)和所述物性實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，確定所述目標(biāo)頁(yè)巖的校正孔滲數(shù)據(jù)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述頁(yè)巖孔徑微觀參數(shù)包括排驅(qū)壓力和飽和度中值壓力；其中，所述排驅(qū)壓力的計(jì)算算式包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于：所述校正孔滲數(shù)據(jù)包括有效孔隙度和校...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：徐長(zhǎng)貴，范彩偉，黃志潔，高永德，胡向陽(yáng)，楊冬，吳進(jìn)波，成家杰，楊毅，譚偉，吳健，劉土亮，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：中國(guó)海洋石油集團(tuán)有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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