【技術實現步驟摘要】
本申請涉及電子，尤其涉及一種電子設備的擬合參數確定方法、溫度確定方法及電子設備。
技術介紹
1、目前，可以通過給手機、平板電腦、筆記本電腦、電子書等電子設備內部的多個熱敏電阻以及擬合參數擬合電子設備的溫度，以便可以采取更為準確的溫度控制策略以及快速判斷電子設備的狀態是否異常。
2、但是，這種方式會產生擬合場景覆蓋不全的問題，影響擬合精度，無法準確描述電子設備的表面溫度。
技術實現思路
1、本申請提供一種電子設備的擬合參數確定方法、溫度確定方法及電子設備，用以提高擬合精度，進而準確描述電子設備的表面溫度。
2、第一方面，本申請提供一種電子設備的擬合參數確定方法，包括：
3、對訓練集進行分類，獲取所述電子設備的每個使用場景對應的子訓練集，所述子訓練集包括所述電子設備的實測溫度和所述電子設備中對應熱敏電阻的溫度；
4、基于每個使用場景對應的子訓練集形成每個使用場景對應的擬合參數，所述擬合參數用于擬合所述電子設備的溫度。
5、在一些實施例中，所述基于每個使用場景對應的子訓練集形成每個使用場景對應的擬合參數，包括：
6、將所述子訓練集中各熱敏電阻的溫度形成一個自變量矩陣，將所述子訓練集中實測溫度形成一個因變量矩陣；
7、在所述自變量矩陣為滿秩時，對所述自變量矩陣和所述因變量矩陣進行損失函數計算，以獲得所述子訓練集中各熱敏電阻的加權系數和截距值。
8、在一些實施例中，自變量矩陣是否為滿秩的判斷方法包
9、對所述自變量矩陣進行矩陣轉置，獲得所述自變量矩陣的轉置矩陣；
10、計算所述自變量矩陣和所述轉置矩陣的乘積矩陣，判斷所述乘積矩陣的秩是否為所述乘積矩陣中行數和列數二者的較小者；
11、若是，所述自變量矩陣滿秩，若否，所述自變量矩陣不滿秩。
12、在一些實施例中，所述對所述自變量矩陣和所述因變量矩陣進行損失函數計算，包括：
13、將所述因變量矩陣和擬合殼溫之間的平方差作為所述損失函數；
14、所述擬合殼溫為所述自變量矩陣和加權矩陣的乘積，所述加權矩陣為加權系數和截距值組成的矩陣；
15、計算所述損失函數關于所述加權矩陣的偏導數，所述偏導數為預設值時，獲取所述加權矩陣。
16、在一些實施例中，所述對訓練集進行分類之前，所述方法還包括：
17、對所述訓練集進行預處理，所述預處理包括數據清洗、利用差值的方式替換異常值中的至少一個。
18、第二方面，本申請提供一種電子設備的溫度確定方法，所述方法包括：
19、獲取所述電子設備的當前使用場景，并根據第一方面及第一方面任一種可能的設計中的方法確定的使用場景和擬合參數之間的對應關系，獲取所述當前使用場景對應的擬合參數；
20、基于所述當前使用場景對應的擬合參數確定所述電子設備的當前溫度。
21、在一些實施例中，所述獲取所述電子設備的當前使用場景，包括：
22、在電子設備處于充電狀態時，判斷所述電子設備是否正在運行應用，若是，基于當前運行應用確定所述電子設備的當前使用場景，若否，確定所述電子設備的當前使用場景為充電場景；
23、在電子設備處于非充電狀態時，判斷所述電子設備是否正在運行應用，若是，基于當前運行應用確定所述電子設備的使用場景。
24、在一些實施例中，所述基于所述當前使用場景對應的擬合參數確定所述電子設備的當前溫度，包括：
25、獲取所述當前使用場景對應的熱敏電阻的溫度；
26、基于所述當前使用場景對應的熱敏電阻的溫度以及所述擬合參數中各熱敏電阻的加權系數和截距值，確定所述電子設備的當前溫度。
27、第三方面，本申請提供一種電子設備，包括：存儲器和處理器；
28、存儲器用于存儲指令；處理器用于調用存儲器中的指令執行第一方面及第一方面任一種可能的設計中的方法。
29、第四方面，本申請提供一種計算機可讀存儲介質，計算機可讀存儲介質中存儲有計算機指令，當電子設備的至少一個處理器執行該計算機指令時，電子設備執行第一方面及第一方面任一種可能的設計中的方法。
30、第五方面，本申請提供一種計算機程序產品，所述計算機程序產品包括計算機指令，當電子設備的至少一個處理器執行該計算機指令時，電子設備執行第一方面及第一方面任一種可能的設計中的方法。
31、本申請提供的電子設備的擬合參數確定方法、溫度確定方法及電子設備，對訓練集進行分類，獲取電子設備的每個使用場景對應的子訓練集，子訓練集包括電子設備的實測溫度和電子設備中對應熱敏電阻的溫度，而后基于每個使用場景對應的子訓練集形成每個使用場景對應的擬合參數，從而能夠解決擬合場景覆蓋不全以及過擬合的問題，更為準確的描述電子設備的溫度。
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1.一種電子設備的擬合參數確定方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于每個使用場景對應的子訓練集形成每個使用場景對應的擬合參數，包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，自變量矩陣是否為滿秩的判斷方法包括：
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述對所述自變量矩陣和所述因變量矩陣進行損失函數計算，包括：
5.根據權利要求1-4中任意一項所述的方法，其特征在于，所述對訓練集進行分類之前，所述方法還包括：
6.一種電子設備的溫度確定方法，其特征在于，所述方法包括：
7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述獲取所述電子設備的當前使用場景，包括：
8.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述當前使用場景對應的擬合參數確定所述電子設備的當前溫度，包括：
9.一種電子設備，其特征在于，包括：處理器，以及與所述處理器通信連接的存儲器；
10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質中存儲有計算機指
...【技術特征摘要】
1.一種電子設備的擬合參數確定方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于每個使用場景對應的子訓練集形成每個使用場景對應的擬合參數，包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，自變量矩陣是否為滿秩的判斷方法包括：
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述對所述自變量矩陣和所述因變量矩陣進行損失函數計算，包括：
5.根據權利要求1-4中任意一項所述的方法，其特征在于，所述對訓練集進行分類之前，所述方法還包括：
6.一種電子...
【專利技術屬性】
技術研發人員：張寧，程黎輝，關亞東，
申請(專利權)人：上海龍旗科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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