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    一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法技術(shù)

    技術(shù)編號:44454596 閱讀:4 留言:0更新日期:2025-02-28 19:00
    本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,涉及陶瓷馬達(dá)軸檢測技術(shù)領(lǐng)域,包括以下步驟:搭建視覺采集環(huán)境,對馬達(dá)軸進(jìn)行圖像采集;將采集到的馬達(dá)軸圖像進(jìn)行二值化處理,使得馬達(dá)軸圖像邊緣信息清晰展示出來;通過選定ROI區(qū)域并進(jìn)行亞像素提取來鎖定輪廓邊緣,通過擬合算法將其擬合成直線,得到產(chǎn)品的尺寸信息;本發(fā)明專利技術(shù)根據(jù)陶瓷馬達(dá)軸尺寸形狀的特點,將OTSU閾值法、Tukey擬合算法以及Huber擬合算法相結(jié)合,能夠快速準(zhǔn)確的測量出陶瓷馬達(dá)軸的尺寸及倒角信息,且根據(jù)陶瓷馬達(dá)軸的缺陷特點,通過高斯濾波、差值運算以及Blob分析圖像檢測算法來鎖定馬達(dá)軸上缺陷所在的位置、大小和形狀信息,從而實現(xiàn)對陶瓷馬達(dá)軸質(zhì)量的精準(zhǔn)高效檢測。

    【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)涉及陶瓷馬達(dá)軸檢測,具體涉及一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法


    技術(shù)介紹

    1、由于馬達(dá)軸尺寸較小,基準(zhǔn)為長度2.3mm,寬度1mm,其公差范圍為長度±0.03mm,寬度±0.002mm,且馬達(dá)軸上下均有倒角,其倒角公差為±0.0015mm,尺寸精度要求極高,且部分馬達(dá)軸表面會帶有黃斑、瑕點、裂紋的缺陷,肉眼難以進(jìn)行辨別,缺陷檢測難度也較大。目前對于馬達(dá)軸的尺寸測量及外觀檢測是否合格的檢測,主要是依靠員工手動拿千分尺測量和放到高精度相機(jī)下人工檢測表面缺陷來完成的,這種檢測方式存在著以下不足之處:

    2、(1)生產(chǎn)效率慢,難以滿足產(chǎn)量要求。

    3、(2)尺寸精度要求高,檢測采用人工操作,容易影響檢測的精度。

    4、(3)員工長時間對著屏幕工作,容易疲勞和走神,進(jìn)而會導(dǎo)致漏檢和誤檢。

    5、因此,需要一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,以解決上述問題。


    技術(shù)實現(xiàn)思路

    1、本專利技術(shù)的目的在于提供一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,以解決上述
    技術(shù)介紹
    中提出的現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題。

    2、為實現(xiàn)上述目的,本專利技術(shù)提供如下技術(shù)方案:

    3、一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,包括以下步驟:

    4、s1:搭建視覺采集環(huán)境,對馬達(dá)軸進(jìn)行圖像采集;

    5、s2:將采集到的馬達(dá)軸圖像進(jìn)行二值化處理,使得馬達(dá)軸圖像邊緣信息清晰展示出來;

    >6、s3:通過選定roi區(qū)域并進(jìn)行亞像素提取來鎖定輪廓邊緣,通過擬合算法將其擬合成直線,得到產(chǎn)品的尺寸信息;

    7、s4:選取倒角所在的roi區(qū)域,通過huber算法擬合圓來定位倒角弧度信息,得到產(chǎn)品的倒角弧度信息;

    8、s5:通過高斯濾波、差值運算以及blob分析圖像檢測算法來鎖定馬達(dá)軸上缺陷所在的位置、大小和形狀信息,實現(xiàn)馬達(dá)軸的缺陷檢測;

    9、s6:結(jié)合尺寸測量信息和缺陷檢測結(jié)果判斷產(chǎn)品檢測是否合格。

    10、優(yōu)選的,所述s1中,選用兩千萬像素ccd相機(jī)搭配遠(yuǎn)心鏡頭,并輔以側(cè)面面光和底部面光的打光方案進(jìn)行視覺環(huán)境搭建。

    11、優(yōu)選的,所述s2中,馬達(dá)軸圖像二值化處理的具體步驟為:

    12、采用otsu閾值法對馬達(dá)軸圖像進(jìn)行二值化處理,按照灰度值大小對圖像中每個灰度像素進(jìn)行分類,得到n0,?n1,?n2...ni...n255,其中設(shè)ni為圖像中灰度為i的像素的數(shù)量,則圖像中像素灰度值為i的概率的公式如式1-1所示:

    13、?????????????????????(1-1)

    14、其中,概率滿足且pi>0,假設(shè)閾值為k時,像素被分配到背景區(qū)域的概率為pm(k),背景區(qū)域的平均灰度為gm(k),分配到目標(biāo)區(qū)域的概率為pn(k),目標(biāo)區(qū)域的平均灰度為gn(k),整個圖像的灰度值為g,類間方差的表達(dá)式如式1-2所示:

    15、???(1-2)

    16、其中,為最大類間平方差,t為最佳閾值。

    17、優(yōu)選的,所述s3中,采用tukey加權(quán)擬合函數(shù),如式1-3所示:

    18、???????????????????(1-3)

    19、上式中,為點到直線的距離,為設(shè)置的閾值,當(dāng)小于等于?時,對這些點賦予權(quán)重,這樣越小,權(quán)重越大;當(dāng)大于時,賦予權(quán)重。

    20、優(yōu)選的,所述s4中,huber損失函數(shù)結(jié)合了線性回歸損失函數(shù)和絕對值損失函數(shù),是為了增強(qiáng)最小二乘法對噪聲異常值的魯棒性提出的,函數(shù)公式如式1-4所示:

    21、???????????????????(1-4)

    22、上式中,α為殘差,在直線擬合中即為生成直線與離散點之間的距離;δ為殘差閾值,用于判斷是否為誤差點。

    23、優(yōu)選的,所述s5中,采用高斯濾波進(jìn)行降噪處理,將一個滑動卷積塊移動到圖像的每個像素點上,卷積核內(nèi)的每個像素點都會根據(jù)其與中心點的距離,按照高斯函數(shù)的權(quán)重進(jìn)行加權(quán)平均,得到新的像素點值,具體如式1-5、1-6所示:

    24、?????????????????????????(1-5)

    25、????????????????????????(1-6)

    26、式中代表圖像在第i行第j列的像素值,代表濾波后的圖像在第i行第j列的像素值,代表高斯核,*為卷積操作,為高斯核的標(biāo)準(zhǔn)差,(x,y)為二維平面的像素點坐標(biāo);

    27、將原灰度圖像與背景圖像進(jìn)行差值運算,得到差分圖像:

    28、??????????????????(1-7)

    29、式中為去噪后的圖像,為背景圖像,圖像經(jīng)過差分后,最大程度的分割出缺陷區(qū)域;得到只包含缺陷區(qū)域的差分圖像后,再通過blob分析來確定缺陷的位置、大小和形狀等信息,再結(jié)合之前測得的尺寸及倒角信息,將結(jié)果在圖像上進(jìn)行可視化展示。

    30、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本專利技術(shù)的有益效果是:

    31、本專利技術(shù)針對陶瓷馬達(dá)軸尺寸小精度高的特點和檢測需求,設(shè)計出尺寸測量與缺陷檢測的全流程檢測方法,根據(jù)陶瓷馬達(dá)軸尺寸形狀的特點,將otsu閾值法、tukey擬合算法以及huber擬合算法相結(jié)合,能夠快速準(zhǔn)確的測量出陶瓷馬達(dá)軸的尺寸及倒角信息,且根據(jù)陶瓷馬達(dá)軸的缺陷特點,通過高斯濾波、差值運算以及blob分析圖像檢測算法來鎖定馬達(dá)軸上缺陷所在的位置、大小和形狀信息,實現(xiàn)馬達(dá)軸的缺陷檢測,從而實現(xiàn)對陶瓷馬達(dá)軸質(zhì)量的精準(zhǔn)高效檢測。

    本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點】

    1.一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,其特征在于:所述S1中,選用兩千萬像素CCD相機(jī)搭配遠(yuǎn)心鏡頭,并輔以側(cè)面面光和底部面光的打光方案進(jìn)行視覺環(huán)境搭建。

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,其特征在于,所述S2中,馬達(dá)軸圖像二值化處理的具體步驟為:

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,其特征在于,所述S3中,采用Tukey加權(quán)擬合函數(shù),如式1-3所示:

    5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,其特征在于,所述S4中,Huber損失函數(shù)結(jié)合了線性回歸損失函數(shù)和絕對值損失函數(shù),是為了增強(qiáng)最小二乘法對噪聲異常值的魯棒性提出的,函數(shù)公式如式1-4所示:

    6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,其特征在于,所述S5中,采用高斯濾波進(jìn)行降噪處理,將一個滑動卷積塊移動到圖像的每個像素點上,卷積核內(nèi)的每個像素點都會根據(jù)其與中心點的距離,按照高斯函數(shù)的權(quán)重進(jìn)行加權(quán)平均,得到新的像素點值,具體如式1-5、1-6所示:

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,其特征在于,包括以下步驟:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,其特征在于:所述s1中,選用兩千萬像素ccd相機(jī)搭配遠(yuǎn)心鏡頭,并輔以側(cè)面面光和底部面光的打光方案進(jìn)行視覺環(huán)境搭建。

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,其特征在于,所述s2中,馬達(dá)軸圖像二值化處理的具體步驟為:

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于機(jī)器視覺的馬達(dá)軸尺寸測量及表面缺陷檢測方法,其特征在于,所述s3中,采用tukey加權(quán)擬合函...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:譚毅成劉德發(fā)朱佐祥付苒蔡群
    申請(專利權(quán))人:合肥商德應(yīng)用材料有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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