【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及電子設(shè)計自動化，尤其涉及一種芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法、電子設(shè)備及計算機可讀介質(zhì)。
技術(shù)介紹
1、在現(xiàn)代電子設(shè)計自動化（electronic?design?automation,?eda）領(lǐng)域，芯片仿真軟件是設(shè)計和驗證集成電路（ic）性能的重要工具。隨著集成電路的復雜度不斷增加，芯片仿真軟件需要處理的幾何模型也變得越來越復雜。這些幾何模型通常包含大量的幾何特征，如直線、曲線、平面和曲面等。為了提高仿真效率和準確性，需要對這些幾何特征進行有效的提取和處理。
2、現(xiàn)有的芯片仿真軟件在處理幾何模型時，通常采用網(wǎng)格化方法將復雜的幾何模型離散化為一系列簡單的單元（如三角形或四邊形）。然而，這種方法存在一些問題：
3、生成重復幾何特征：在網(wǎng)格化過程中，由于幾何模型的復雜性和網(wǎng)格劃分的不均勻性，往往會生成大量重復的幾何特征。這些重復特征不僅增加了數(shù)據(jù)存儲的需求，還可能導致仿真計算的冗余，降低仿真效率。
4、幾何特征識別不準確：現(xiàn)有的網(wǎng)格化方法在識別幾何特征時，可能會出現(xiàn)誤識別或漏識別的情況，導致仿真結(jié)果的不準確。
5、計算資源消耗大：處理大規(guī)模的幾何模型時，現(xiàn)有的網(wǎng)格化方法需要大量的計算資源，尤其是在處理高分辨率的網(wǎng)格時，計算時間和內(nèi)存消耗會顯著增加。
6、針對上述問題，現(xiàn)有的解決方案存在以下技術(shù)挑戰(zhàn)：
7、如何在網(wǎng)格化過程中高效地識別和去除重復的幾何特征，減少數(shù)據(jù)冗余，提高仿真效率。
8、如何準確地識別和提取幾何特征，避免誤識別和漏識別，
9、如何在保證仿真精度的前提下，優(yōu)化計算資源的使用，減少計算時間和內(nèi)存消耗。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一，提出了一種芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法、電子設(shè)備及計算機可讀介質(zhì)，其解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的重復幾何特征、識別不準確和計算資源消耗大的問題，通過該方法，可以有效提高芯片仿真軟件的仿真效率和準確性，優(yōu)化計算資源的使用，滿足現(xiàn)代集成電路設(shè)計和驗證的需求。
2、第一方面，本專利技術(shù)提供了一種芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，包括如下步驟：對獲取的幾何模型進行網(wǎng)格劃分，生成若干網(wǎng)格單元；
3、對每個網(wǎng)格單元進行幾何特征識別，當識別到幾何特征時，查詢特征列表，判斷該特征是否已經(jīng)存在，如果不存在，則將該特征存儲到特征列表，直至幾何特征提取步驟結(jié)束，得到不重復幾何特征列表；
4、輸出不重復幾何特征列表，供芯片仿真軟件使用。
5、進一步地，特征列表為特征哈希表；
6、當識別到幾何特征時，查詢特征列表，判斷該特征是否已經(jīng)存在，如果不存在，則將該特征存儲到特征列表，具體包括：當識別到幾何特征時，計算該幾何特征的鍵，每個鍵唯一標識一個幾何特征，查詢特征哈希表，判斷該幾何特征是否已經(jīng)存在，如果不存在，則將該幾何特征及其鍵添加到特征哈希表中。
7、進一步地，當識別到幾何特征時，計算該幾何特征的鍵，具體包括：
8、當識別到的幾何特征為點特征時，計算該點特征的鍵；
9、當識別到的幾何特征為線段特征時，計算該線段特征的鍵；
10、當識別到的幾何特征為面特征時，計算該面特征的鍵。
11、進一步地，計算該點特征的鍵，具體包括：計算該點坐標的哈希值，將該點坐標的哈希值作為該點特征的鍵；
12、計算該線段特征的鍵，具體包括：計算線段特征上設(shè)定的關(guān)鍵點坐標的哈希值，將線段特征上關(guān)鍵點坐標的哈希值之和作為該線段特征的鍵；
13、計算該面特征的鍵，具體包括：計算面特征上設(shè)定的關(guān)鍵點坐標的哈希值，將面特征上關(guān)鍵點坐標的哈希值之和作為該面特征的鍵。
14、進一步地，計算該線段特征的鍵，具體包括：
15、當該線段特征為直線段特征時，計算直線段特征的鍵，包括：計算直線段的兩個端點坐標的哈希值，將直線段的兩個端點坐標的哈希值之和作為該直線段特征的鍵；
16、當該線段特征為曲線段特征時，計算曲線段特征的鍵，包括：計算曲線段上設(shè)定關(guān)鍵點坐標的哈希值，將曲線段上關(guān)鍵點坐標的哈希值之和作為該曲線段特征的鍵；
17、計算該面特征的鍵，具體包括：
18、當該面特征為平面特征時，計算平面特征的鍵，包括：計算平面特征上設(shè)定關(guān)鍵點坐標的哈希值，將平面特征上關(guān)鍵點坐標的哈希值之和作為平面特征的鍵；
19、當該面特征為曲面特征時，計算曲面特征的鍵，包括：計算曲面特征上設(shè)定關(guān)鍵點坐標的哈希值，將曲面特征上關(guān)鍵點坐標的哈希值之和作為曲面特征的鍵。
20、進一步地，計算點坐標的哈希值，具體包括：
21、計算點坐標的哈希值，具體包括：
22、設(shè)置一個隨機的種子值seed；
23、設(shè)置一個隨機的乘法系數(shù)mul；
24、將點坐標放在連續(xù)的內(nèi)存區(qū)域，令內(nèi)存區(qū)域訪問地址為mem,內(nèi)存區(qū)域長度為len；
25、將內(nèi)存區(qū)域訪問地址mem賦值給字符串指針buf，此時內(nèi)存區(qū)域可看作訪問地址為buf，長度為len的字符串；
26、設(shè)置初始哈希值：
27、
28、其中，為異或運算符；
29、將字符串buf以每n個字節(jié)分段，每段記為li,下標i表示第i段；對于三維坐標，i取值范圍為[1,3]，對于二維坐標，i取值范圍為[1,2]；
30、使用迭代方法用hashi-1計算hashi,計算公式為：
31、
32、其中為右移位運算符，對于三維坐標，迭代計算得到hash3，對于二維坐標，迭代計算得到hash2，
33、對于三維坐標，三維坐標的哈希值計算公式為：
34、
35、對于二維坐標，二維坐標的哈希值計算公式為：
36、。
37、進一步地，本專利技術(shù)的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法還包括如下步驟：如果存在，則跳過該幾何特征。
38、進一步地，生成若干網(wǎng)格單元后還包括如下步驟：為每個網(wǎng)格單元分配唯一的標識符。
39、第二方面，本專利技術(shù)還提供了一種電子設(shè)備，包括：
40、至少一個處理器；以及
41、與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，
42、所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執(zhí)行的一個或多個計算機程序，一個或多個所述計算機程序被所述至少一個處理器執(zhí)行，以使所述至少一個處理器能夠執(zhí)行如第一方面所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法。
43、第三方面，本專利技術(shù)還提供了一種計算機可讀介質(zhì)，該計算機可讀介質(zhì)上存儲有計算機程序，其中，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如第一方面所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法中的步驟。
44、本專利技術(shù)至少具有如下有益效果：
45、1.?提高仿真效率
46、減少數(shù)據(jù)冗余：本專利技術(shù)本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護點】
1.一種芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于，包括如下步驟：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于：特征列表為特征哈希表；
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于：當識別到幾何特征時，計算該幾何特征的鍵，具體包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于：計算該點特征的鍵，具體包括：計算該點坐標的哈希值，將該點坐標的哈希值作為該點特征的鍵；
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于：計算該線段特征的鍵，具體包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于：計算點坐標的哈希值，具體包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于：還包括如下步驟：如果存在，則跳過該幾何特征。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于：生成若干網(wǎng)格單元后還包括如下步驟：為每個網(wǎng)格單元分配唯一的標識符。>
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
10.一種計算機可讀介質(zhì)，其特征在于，該計算機可讀介質(zhì)上存儲有計算機程序，其中，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1-8中任一項所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法中的步驟。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于，包括如下步驟：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于：特征列表為特征哈希表；
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于：當識別到幾何特征時，計算該幾何特征的鍵，具體包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于：計算該點特征的鍵，具體包括：計算該點坐標的哈希值，將該點坐標的哈希值作為該點特征的鍵；
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的芯片仿真軟件中的幾何特征提取方法，其特征在于：計算該線段特征的鍵，具體包括：
6.根據(jù)...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：張適，陳濤，秦松，
申請(專利權(quán))人：武創(chuàng)芯研科技武漢有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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