【技術實現步驟摘要】
本公開的實施例涉及一種發送電路、接收電路、集成電路芯片和測試方法。
技術介紹
1、在系統級封裝(systemin?a?package，sip)中，通常采用2d、2.5d或3d等先進封裝技術將多顆芯粒(chiplet)集成在一起，從而實現功能完整、復雜的系統。
2、芯粒也稱為小芯片，是指預先制造好、具有特定功能、可組合集成的管芯(die)。管芯是從硅晶圓上切割而成的小片，是芯片還未封裝前的晶粒。在先進封裝中，各個管芯之間的數據傳輸需要通過管芯間互連(die-to-die，d2d)技術實現。用于管芯間互連的物理層(physical?layer，phy)電路是負責在不同管芯之間實現高速數據傳輸的物理層接口。
技術實現思路
1、本公開至少一實施例提供一種發送電路，包括：測試數據發生模塊、待測發送模塊、測試接收模塊、測試數據檢測模塊，其中，所述測試數據發生模塊被配置為生成第一測試數據；所述待測發送模塊被配置為基于所述第一測試數據生成第二測試數據，并輸出至所述測試接收模塊；所述測試接收模塊被配置為基于所述第二測試數據生成第三測試數據，并輸出至所述測試數據檢測模塊；所述測試數據檢測模塊被配置為接收所述第三測試數據，并檢測所述第三測試數據是否與所述第一測試數據相符，其中，所述待測發送模塊還被配置為接收第一時鐘信號，所述測試接收模塊和/或所述測試數據檢測模塊還被配置為接收第二時鐘信號，所述第一時鐘信號與所述第二時鐘信號的相位可調節。
2、在本公開至少一實施例提供的發送電路中，
3、在本公開至少一實施例提供的發送電路中，所述待測發送模塊還被配置為基于所述第一發送數據生成第二發送數據，并輸出至所述發送電路的發送端口。
4、在本公開至少一實施例提供的發送電路中，所述測試接收模塊的輸入參考電壓可調整。
5、在本公開至少一實施例提供的發送電路中，所述待測發送模塊包括緩沖器、并轉串電路和驅動電路，所述緩沖器、并轉串電路和驅動電路依次連接，所述緩沖器被配置為接收第三時鐘信號作為寫時鐘，所述測試數據發生模塊還被配置為接收所述第三時鐘信號。
6、在本公開至少一實施例提供的發送電路中，所述并轉串電路被配置為接收所述第一時鐘信號，所述緩沖器被配置為接收由所述第一時鐘信號分頻得到的第四時鐘信號作為讀時鐘。
7、在本公開至少一實施例提供的發送電路中，所述第一測試數據為多位第一速率的數據，所述第二測試數據為一位第二速率的數據，所述第三測試數據為一位第二速率的數據或多位并行第一速率的數據，所述第二速率高于第一速率。
8、本公開至少一實施例提供一種接收電路，包括：測試數據發生模塊、待測接收模塊和測試數據檢測模塊，其中，所述測試數據發生模塊被配置為生成第一測試數據；所述待測接收模塊被配置為基于所述第一測試數據生成第二測試數據，并輸出至所述測試數據檢測模塊；所述測試數據檢測模塊被配置為接收所述第二測試數據，并檢測所述第二測試數據是否與所述第一測試數據相符，其中，所述測試數據發生模塊還被配置為接收第一時鐘信號，所述待測接收模塊還被配置為接收第二時鐘信號，所述第一時鐘信號與所述第二時鐘信號的相位可調節。
9、在本公開至少一實施例提供的接收電路中，所述待測接收模塊的輸入參考電壓可調整。
10、在本公開至少一實施例提供的接收電路中，還包括：測試驅動電路，被配置為給所述第一測試數據提供可調整的驅動能力。
11、在本公開至少一實施例提供的接收電路中，還包括：測試數據處理模塊，被配置為將所述第一測試數據的速率從第一速率轉化為更高速的第二速率。
12、在本公開至少一實施例提供的接收電路中，所述測試數據處理模塊還被配置為接收所述第一時鐘信號。
13、在本公開至少一實施例提供的接收電路中，所述測試數據檢測模塊被配置為接收由所述第二時鐘信號分頻得到的第三時鐘信號。
14、在本公開至少一實施例提供的接收電路中，所述待測接收模塊包括模擬前端、采樣電路和串轉并電路，所述模擬前端、采樣電路和串轉并電路依次連接，所述采樣電路和/或串轉并電路被配置為接收所述第二時鐘信號；所述模擬前端的輸入參考電壓可調整。
15、在本公開至少一實施例提供的接收電路中，所述第一測試數據為一位第二速率的數據或多位第一速率的數據，所述第二測試數據為多位第一速率的數據，所述第二速率高于第一速率。
16、本公開至少一實施例提供一種集成電路芯片，包括：如上述至少一實施例所述的發送電路，和/或如上述至少一實施例所述的接收電路。
17、在本公開至少一實施例提供的集成電路芯片中，所述集成電路芯片包括彼此互連通信的多個管芯，所述多個管芯中的至少一個管芯包括所述發送電路和/或所述接收電路。
18、本公開至少一實施例提供一種根據上述至少一實施例所述的發送電路的測試方法，包括：調整所述第一時鐘信號與所述第二時鐘信號之間的相位差值；對于每個相位差值，記錄所述測試數據檢測模塊輸出的測試結果，以得到一維眼圖；根據所述一維眼圖的眼寬對所述發送電路進行性能測試。
19、在本公開至少一實施例提供的測試方法中，在所述調整所述第一時鐘信號與所述第二時鐘信號之間的相位差值之后，還包括：對于每個相位差值，調整所述測試接收模塊的輸入參考電壓，對于每個輸入參考電壓，記錄所述測試數據檢測模塊輸出的測試結果，以得到二維眼圖；根據所述二維眼圖的眼寬和眼高對所述發送電路進行性能測試。
20、在本公開至少一實施例提供的測試方法中，還包括：調整所述待測發送模塊中驅動電路的驅動能力，以模擬封裝后的信道性能；或調整所述測試接收模塊的接收能力，以模擬封裝后與所述發送電路連接的接收電路的性能；根據所述一維眼圖或二維眼圖確定所述發送電路的封裝位置。
21、本公開至少一實施例提供一種根據上述至少一實施例所述的接收電路的測試方法，包括：調整所述第一時鐘信號與所述第二時鐘信號之間的相位差值；對于每個相位差值，記錄所述測試數據檢測模塊輸出的測試結果，以得到一維眼圖；根據所述一維眼圖的眼寬對所述接收電路進行性能測試。
22、在本公開至少一實施例提供的測試方法中，在所述調整所述第一時鐘信號與所述第二時鐘信號之間的相位差值之后，還包括：對于每個相位差值，調整所述待測接收模塊的輸入參考電壓，對于每個輸入參考電壓，記錄所述測試數據檢測模塊輸出的測試結果，以得到二維眼圖；根據所述二維眼圖的眼寬和眼高對所述接收電路進行性能測試。
23、在本公開至少一實施例提供的測試方法中，還包括：調整所述接收電路中測試驅動電路的驅動能力，以模擬封裝后的所述接收電路的接收端口接收到的信號質量；或調整所述待測接收模塊中模擬前端的接收能力，以模擬封裝后所述接收電路的性能波動；根據所述一維眼圖或二維眼圖確定所述接收電路的封裝位置。
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1.一種發送電路，包括：測試數據發生模塊、待測發送模塊、測試接收模塊、測試數據檢測模塊，其中，
2.根據權利要求1所述的發送電路，還包括：
3.根據權利要求2所述的發送電路，其中，所述待測發送模塊還被配置為基于所述第一發送數據生成第二發送數據，并輸出至所述發送電路的發送端口。
4.根據權利要求1所述的發送電路，其中，所述測試接收模塊的輸入參考電壓可調整。
5.根據權利要求1所述的發送電路，其中，所述待測發送模塊包括緩沖器、并轉串電路和驅動電路，所述緩沖器、并轉串電路和驅動電路依次連接，
6.根據權利要求5所述的發送電路，其中，所述并轉串電路被配置為接收所述第一時鐘信號，所述緩沖器被配置為接收由所述第一時鐘信號分頻得到的第四時鐘信號作為讀時鐘。
7.根據權利要求1所述的發送電路，其中，所述第一測試數據為多位第一速率的數據，所述第二測試數據為一位第二速率的數據，所述第三測試數據為一位第二速率的數據或多位并行第一速率的數據，所述第二速率高于第一速率。
8.一種接收電路，包括：測試數據發生模塊、待測接收模
9.根據權利要求8所述的接收電路，其中，所述待測接收模塊的輸入參考電壓可調整。
10.根據權利要求8所述的接收電路，還包括：
11.根據權利要求10所述的接收電路，還包括：
12.根據權利要求11所述的接收電路，其中，所述測試數據處理模塊還被配置為接收所述第一時鐘信號。
13.根據權利要求8所述的接收電路，其中，所述測試數據檢測模塊被配置為接收由所述第二時鐘信號分頻得到的第三時鐘信號。
14.根據權利要求8所述的接收電路，其中，所述待測接收模塊包括模擬前端、采樣電路和串轉并電路，所述模擬前端、采樣電路和串轉并電路依次連接，
15.根據權利要求8所述的接收電路，其中，所述第一測試數據為一位第二速率的數據或多位第一速率的數據，所述第二測試數據為多位第一速率的數據，所述第二速率高于第一速率。
16.一種集成電路芯片，包括：
17.根據權利要求16所述的集成電路芯片，其中，所述集成電路芯片包括彼此互連通信的多個管芯，所述多個管芯中的至少一個管芯包括所述發送電路和/或所述接收電路。
18.一種根據權利要求1-7任一項所述的發送電路的測試方法，包括：
19.根據權利要求18所述的測試方法，其中，在所述調整所述第一時鐘信號與所述第二時鐘信號之間的相位差值之后，還包括：
20.根據權利要求18所述的測試方法，還包括：
21.一種根據權利要求8-15任一項所述的接收電路的測試方法，包括：
22.根據權利要求21所述的測試方法，其中，在所述調整所述第一時鐘信號與所述第二時鐘信號之間的相位差值之后，還包括：
23.根據權利要求21所述的測試方法，還包括：
...【技術特征摘要】
1.一種發送電路，包括：測試數據發生模塊、待測發送模塊、測試接收模塊、測試數據檢測模塊，其中，
2.根據權利要求1所述的發送電路，還包括：
3.根據權利要求2所述的發送電路，其中，所述待測發送模塊還被配置為基于所述第一發送數據生成第二發送數據，并輸出至所述發送電路的發送端口。
4.根據權利要求1所述的發送電路，其中，所述測試接收模塊的輸入參考電壓可調整。
5.根據權利要求1所述的發送電路，其中，所述待測發送模塊包括緩沖器、并轉串電路和驅動電路，所述緩沖器、并轉串電路和驅動電路依次連接，
6.根據權利要求5所述的發送電路，其中，所述并轉串電路被配置為接收所述第一時鐘信號，所述緩沖器被配置為接收由所述第一時鐘信號分頻得到的第四時鐘信號作為讀時鐘。
7.根據權利要求1所述的發送電路，其中，所述第一測試數據為多位第一速率的數據，所述第二測試數據為一位第二速率的數據，所述第三測試數據為一位第二速率的數據或多位并行第一速率的數據，所述第二速率高于第一速率。
8.一種接收電路，包括：測試數據發生模塊、待測接收模塊和測試數據檢測模塊，其中，
9.根據權利要求8所述的接收電路，其中，所述待測接收模塊的輸入參考電壓可調整。
10.根據權利要求8所述的接收電路，還包括：
11.根據權利要求10所述的接收電路，還包括：
12.根據權利要求11所述的接收電...
【專利技術屬性】
技術研發人員：楊思彥，祁薩麗，鄧雪青，
申請(專利權)人：海光信息技術股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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