【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及芯片測試驗(yàn)證領(lǐng)域，具體涉及一種針對mcu中can總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證方法。
技術(shù)介紹
1、mcu(micro?controller?unit)，又叫微控制器，是指把存儲器、中央處理器、各類接口集成到一塊芯片內(nèi)部的微型計(jì)算機(jī)，具有體積小，可操作性靈活的優(yōu)勢。隨著集成電路產(chǎn)業(yè)、汽車計(jì)算機(jī)產(chǎn)業(yè)和工業(yè)控制、局域網(wǎng)等領(lǐng)域的快速發(fā)展，mcu將面向更加廣泛的應(yīng)用場景，向高度集成化發(fā)展將是mcu未來發(fā)展的重點(diǎn)方向。
2、控制器局域網(wǎng)總線(can，controller?area?network)是一種廣泛應(yīng)用于汽車、自動化和工業(yè)領(lǐng)域的串行通訊協(xié)議總線，由于其采用雙絞線傳輸信號，所在檢測信號傳輸?shù)倪^程中抗干擾能力較強(qiáng)；針對can協(xié)議使用的芯片can總線獨(dú)立控制器，其內(nèi)部有著獨(dú)特的錯誤管理邏輯，可以通過分析不同場景下受到的干擾情形及時檢測錯誤信息，所以can控制器的錯誤檢測功能很好的反映了其在通訊過程中的可靠性。
3、將can控制器集成到mcu內(nèi)部將豐富mcu的功能，并使其面向更多的應(yīng)用場景，然而目前針對于集成后的can控制模塊缺少詳細(xì)的可靠性測試方法，同時測試內(nèi)容也無法更加精準(zhǔn)的反應(yīng)真實(shí)的應(yīng)用場景。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，本專利技術(shù)的目的在于提供一種針對mcu中can總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證方法，將can控制器通過總線互聯(lián)的方式集成到了mcu內(nèi)部，并針對can模塊可靠性進(jìn)行了測試方法的詳細(xì)描述。
2、本專利技術(shù)為實(shí)現(xiàn)
3、一種針對mcu中can總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證系統(tǒng)，包括：
4、監(jiān)測控制平臺，用于向mcu中寫入命令和數(shù)據(jù)、讀取can的狀態(tài)和接收的幀信息、監(jiān)測總線上的數(shù)據(jù)信息和波形以及控制信號控制模塊對總線的信號施加干擾；
5、mcu1，作為發(fā)送節(jié)點(diǎn)，用于根據(jù)監(jiān)測控制平臺的命令向總線發(fā)出幀信息；
6、mcu2，作為接收節(jié)點(diǎn)，用于接收并識別總線上的幀信息，并根據(jù)監(jiān)測控制平臺的命令給出相應(yīng)的反饋；
7、信號控制模塊，用于向總線發(fā)送空閑信號以及在指定延時對節(jié)點(diǎn)發(fā)出的幀信息的不同段施加干擾；
8、振蕩器，用于向mcu1、mcu2和信號控制模塊提供工作時鐘。
9、所述mcu1、mcu2中均通過總線互聯(lián)的方式集成了can控制模塊。
10、一種針對mcu中can總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證方法，包括以下步驟：
11、1)寫入初始化配置信息；
12、2)計(jì)算信號控制模塊對mcu發(fā)出的幀進(jìn)行錯誤干擾的時間點(diǎn)tsepta?l；
13、3)監(jiān)測控制平臺向mcu1發(fā)送幀信息并進(jìn)行不同出錯場景下的檢測功能測試。
14、所述步驟1)具體為：
15、監(jiān)測監(jiān)控平臺向兩個mcu的can控制模塊中寄存器組的對應(yīng)地址寫入初始化配置信息，并通過信號控制模塊向總線發(fā)送總線空閑信號。
16、所述初始化配置信息包括：包括can工作模式、位時序配置、驗(yàn)收濾波配置、中斷配置、輸出控制配置。
17、所述步驟2)包括以下步驟：
18、2.1)測試時通過時鐘記錄監(jiān)測控制平臺對mcu1寫入發(fā)送命令后到mcu1發(fā)出幀啟始位的延時tde?l?ay1；
19、2.2)根據(jù)初始化配置的位時序信息確認(rèn)每一幀中一位的時間tbit；
20、2.3)利用向mcu中寫入的幀信息計(jì)算出從幀啟始到當(dāng)前幀某一位的具體延時tdel?ay2＝n*tbit，其中n為從幀啟始到這一位之間的位數(shù)；
21、2.4)計(jì)算tsepta?l＝tde?l?ay1+tde?l?ay2。
22、所述步驟3)包括以下步驟：
23、3.1)根據(jù)初始化配置的can工作模式，對發(fā)出的不同格式的幀信息每個段的波形進(jìn)行記錄；
24、3.2)從幀啟始發(fā)出的時刻開始通過時鐘計(jì)時，計(jì)算從幀啟始到每段結(jié)束的延時，當(dāng)監(jiān)測控制平臺監(jiān)測到總線上mcu1發(fā)出的信號波形后，根據(jù)計(jì)算好的延時tsepta?l控制波形發(fā)生器在當(dāng)前幀的不同段施加干擾，使發(fā)送和接收節(jié)點(diǎn)處于不同的出錯類型狀態(tài)；
25、3.3)通過讀取mcu1和mcu2中can控制模塊內(nèi)部錯誤捕捉、中斷和狀態(tài)寄存器的值驗(yàn)證錯誤檢測邏輯的功能。
26、所述幀信息包括遠(yuǎn)程幀、數(shù)據(jù)幀，每條幀信息包括：起始段、仲裁段、控制段、數(shù)據(jù)段、crc段、ack段。
27、本專利技術(shù)具有以下有益效果及優(yōu)點(diǎn)：
28、1.本專利技術(shù)提供了一種測試集成的can控制模塊的可靠性驗(yàn)證方法，采用雙mcu作為節(jié)點(diǎn)收發(fā)的情形進(jìn)行測試，模擬了真實(shí)通訊中的使用場景。
29、2.本專利技術(shù)通過采用計(jì)算幀信息中每一位延時的方法控制施加干擾的時刻，更加靈活全面的對于節(jié)點(diǎn)出錯情形進(jìn)行了詳細(xì)測試。
30、3.本專利技術(shù)測試方法對于獨(dú)立can控制器和集成了can模塊的mcu都具有測試通用性。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種針對MCU中CAN總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種針對MCU中CAN總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，所述MCU1、MCU2中均通過總線互聯(lián)的方式集成了CAN控制模塊。
3.一種針對MCU中CAN總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證方法，其特征在于，包括以下步驟：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種針對MCU中CAN總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證方法，其特征在于，所述步驟1)具體為：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種針對MCU中CAN總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證方法，其特征在于，所述初始化配置信息包括：包括CAN工作模式、位時序配置、驗(yàn)收濾波配置、中斷配置、輸出控制配置。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種針對MCU中CAN總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證方法，其特征在于，所述步驟2)包括以下步驟：
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種針對MCU中CAN總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證方法，其特征在于，所述步驟3)包括以下步驟：
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種針對MCU中
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種針對mcu中can總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種針對mcu中can總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證系統(tǒng)，其特征在于，所述mcu1、mcu2中均通過總線互聯(lián)的方式集成了can控制模塊。
3.一種針對mcu中can總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證方法，其特征在于，包括以下步驟：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種針對mcu中can總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證方法，其特征在于，所述步驟1)具體為：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種針對mcu中can總線控制模塊的可靠性測試驗(yàn)證方法，其...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：孫常偉，郭銳，楊東，張可，王淪，董昀赫，
申請(專利權(quán))人：中國電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所，
類型：發(fā)明
國別省市：
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