【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本申請(qǐng)涉及集成電路測(cè)試，例如涉及一種用于非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試方法及裝置、測(cè)試設(shè)備。
技術(shù)介紹
1、目前，在現(xiàn)代電子設(shè)備中，非易失性存儲(chǔ)器(例如nor?flash)被廣泛用作存儲(chǔ)固件或其他重要數(shù)據(jù)的介質(zhì)。為了提高生產(chǎn)效率和降低成本，制造商經(jīng)常需要測(cè)試這些存儲(chǔ)器以確保存儲(chǔ)器的性能符合標(biāo)準(zhǔn)。
2、為了確保存儲(chǔ)器的性能符合標(biāo)準(zhǔn)，相關(guān)技術(shù)公開(kāi)了一種用于非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，非易失存儲(chǔ)器配置多個(gè)輸入輸出接口，方法包括：通過(guò)單個(gè)輸入輸出接口對(duì)非易失存儲(chǔ)器進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取操作并獲得測(cè)試數(shù)據(jù)；對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)完整性驗(yàn)證以判斷非易失存儲(chǔ)器的性能是否符合標(biāo)準(zhǔn)。
3、在實(shí)現(xiàn)本公開(kāi)實(shí)施例的過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)相關(guān)技術(shù)中至少存在如下問(wèn)題：
4、相關(guān)技術(shù)只能使用單個(gè)輸入輸出接口對(duì)非易失存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)的讀取驗(yàn)證操作，無(wú)法讀取多輸入輸出端口的測(cè)試數(shù)據(jù)，也就無(wú)法測(cè)試多輸入輸出端口的測(cè)試數(shù)據(jù)，影響測(cè)試效率。
5、需要說(shuō)明的是，在上述
技術(shù)介紹
部分公開(kāi)的信息僅用于加強(qiáng)對(duì)本申請(qǐng)的背景的理解，因此可以包括不構(gòu)成對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、為了對(duì)披露的實(shí)施例的一些方面有基本的理解，下面給出了簡(jiǎn)單的概括。所述概括不是泛泛評(píng)述，也不是要確定關(guān)鍵/重要組成元素或描繪這些實(shí)施例的保護(hù)范圍，而是作為后面的詳細(xì)說(shuō)明的序言。
2、本公開(kāi)實(shí)施例提供了一種用于非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試方法及裝置、測(cè)試設(shè)備，以實(shí)現(xiàn)非易失存儲(chǔ)器陣列多輸入輸出端口的測(cè)試數(shù)據(jù)的驗(yàn)證測(cè)試，非易
3、在一些實(shí)施例中，所述方法包括：響應(yīng)于讀取指令，從非易失存儲(chǔ)器陣列的多個(gè)輸入輸出端口讀取測(cè)試數(shù)據(jù)；輸入測(cè)試數(shù)據(jù)至數(shù)據(jù)校驗(yàn)?zāi)K以對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)處理，并獲得第一形式的校驗(yàn)結(jié)果；存儲(chǔ)第一形式的校驗(yàn)結(jié)果至并行輸入串行輸出移位寄存器，并通過(guò)并行輸入串行輸出移位寄存器的單個(gè)輸出端口輸出第二形式的校驗(yàn)結(jié)果；根據(jù)第二形式的校驗(yàn)結(jié)果對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)完整性驗(yàn)證。
4、在一些實(shí)施例中，數(shù)據(jù)校驗(yàn)?zāi)K包括循環(huán)冗余校驗(yàn)?zāi)K；輸入測(cè)試數(shù)據(jù)至數(shù)據(jù)校驗(yàn)?zāi)K以對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)處理，包括：獲得循環(huán)冗余校驗(yàn)碼；其中，循環(huán)冗余校驗(yàn)碼是循環(huán)冗余校驗(yàn)?zāi)K根據(jù)預(yù)置的多項(xiàng)式生成的；輸入測(cè)試數(shù)據(jù)至循環(huán)冗余校驗(yàn)?zāi)K以通過(guò)循環(huán)冗余校驗(yàn)碼對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行循環(huán)冗余校驗(yàn)處理。
5、在一些實(shí)施例中，并行輸入串行輸出移位寄存器按照如下方式對(duì)第一形式的校驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行處理，獲得第二形式的校驗(yàn)結(jié)果：在低電平時(shí)鐘信號(hào)下，并行輸入串行輸出移位寄存器鎖存第一形式的校驗(yàn)結(jié)果對(duì)應(yīng)的校驗(yàn)數(shù)據(jù)；在高電平時(shí)鐘信號(hào)下，并行輸入串行輸出移位寄存器通過(guò)單個(gè)輸出端口逐位串行移動(dòng)輸出校驗(yàn)數(shù)據(jù)，以獲得第二形式的校驗(yàn)結(jié)果。
6、在一些實(shí)施例中，第一形式的校驗(yàn)結(jié)果為并行校驗(yàn)數(shù)據(jù)，第二形式的校驗(yàn)結(jié)果為串行校驗(yàn)數(shù)據(jù)，且第二形式的校驗(yàn)結(jié)果由第一形式的校驗(yàn)結(jié)果并串轉(zhuǎn)換生成。
7、在一些實(shí)施例中，根據(jù)第二形式的校驗(yàn)結(jié)果對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)完整性驗(yàn)證，包括：讀取校驗(yàn)參考值；在第二形式的校驗(yàn)結(jié)果與校驗(yàn)參考值相匹配的情況下，確定測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)完整性驗(yàn)證；或者，在第二形式的校驗(yàn)結(jié)果與校驗(yàn)參考值不匹配的情況下，確定測(cè)試數(shù)據(jù)未通過(guò)完整性驗(yàn)證，和/或，測(cè)試數(shù)據(jù)損壞。
8、在一些實(shí)施例中，還包括：根據(jù)校驗(yàn)結(jié)果對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)完整性驗(yàn)證后，輸出驗(yàn)證結(jié)果。
9、在一些實(shí)施例中，還包括：監(jiān)控非易失存儲(chǔ)器陣列的狀態(tài)；在狀態(tài)異常的情況下，推送警報(bào)信號(hào)。
10、在一些實(shí)施例中，所述測(cè)試裝置，包括：數(shù)據(jù)校驗(yàn)?zāi)K，與非易失存儲(chǔ)器陣列電連接，被配置為對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)以獲得第一形式的校驗(yàn)結(jié)果；其中，測(cè)試數(shù)據(jù)是由數(shù)據(jù)校驗(yàn)?zāi)K讀取非易失存儲(chǔ)器陣列的多個(gè)輸入輸出端口獲得的；并行輸入串行輸出移位寄存器，與數(shù)據(jù)校驗(yàn)?zāi)K電連接，被配置為通過(guò)單個(gè)輸出端口輸出第二形式的校驗(yàn)結(jié)果；比較邏輯模塊，與并行輸入串行輸出移位寄存器電連接，被配置為根據(jù)第二形式的校驗(yàn)結(jié)果對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)完整性驗(yàn)證。
11、在一些實(shí)施例中，所述測(cè)試裝置，包括處理器和存儲(chǔ)有程序指令的存儲(chǔ)器，所述處理器被配置為在運(yùn)行所述程序指令時(shí)，執(zhí)行如上述的用于非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試方法。
12、在一些實(shí)施例中，所述測(cè)試設(shè)備，包括：測(cè)試設(shè)備本體；如上述的用于非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試裝置，安裝于所述測(cè)試設(shè)備本體。
13、本公開(kāi)實(shí)施例提供的用于非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試方法及裝置、測(cè)試設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)以下技術(shù)效果：
14、本公開(kāi)實(shí)施例在測(cè)試階段，在從非易失存儲(chǔ)器陣列的多個(gè)輸入輸出端口讀取的測(cè)試數(shù)據(jù)后，對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)后的第一形式的校驗(yàn)結(jié)果可通過(guò)并行輸入串行輸出的移位寄存器進(jìn)行處理后輸出第二形式的校驗(yàn)結(jié)果，從而可通過(guò)移位寄存器的單個(gè)輸出端口實(shí)現(xiàn)非易失存儲(chǔ)器陣列多輸入輸出端口的測(cè)試數(shù)據(jù)的驗(yàn)證，與單獨(dú)對(duì)每個(gè)輸入輸出端口的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行驗(yàn)證相比，縮短了數(shù)據(jù)驗(yàn)證的時(shí)長(zhǎng)，從而提升非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試效率。
15、以上的總體描述和下文中的描述僅是示例性和解釋性的，不用于限制本申請(qǐng)。
本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種用于非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，數(shù)據(jù)校驗(yàn)?zāi)K包括循環(huán)冗余校驗(yàn)?zāi)K；輸入測(cè)試數(shù)據(jù)至數(shù)據(jù)校驗(yàn)?zāi)K以對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)處理，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，并行輸入串行輸出移位寄存器按照如下方式對(duì)第一形式的校驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行處理，獲得第二形式的校驗(yàn)結(jié)果：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，第一形式的校驗(yàn)結(jié)果為并行校驗(yàn)數(shù)據(jù)，第二形式的校驗(yàn)結(jié)果為串行校驗(yàn)數(shù)據(jù)，且第二形式的校驗(yàn)結(jié)果由第一形式的校驗(yàn)結(jié)果并串轉(zhuǎn)換生成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，根據(jù)第二形式的校驗(yàn)結(jié)果對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)完整性驗(yàn)證，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的測(cè)試方法，其特征在于，還包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的測(cè)試方法，其特征在于，還包括：
8.一種用于非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試裝置，其特征在于，包括：
9.一種用于非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試裝置，包括處理器和存儲(chǔ)有程序指令的存儲(chǔ)器，其特征在于，所述處理器被配
10.一種用于非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試設(shè)備，其特征在于，包括：
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種用于非易失存儲(chǔ)器的測(cè)試方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，數(shù)據(jù)校驗(yàn)?zāi)K包括循環(huán)冗余校驗(yàn)?zāi)K；輸入測(cè)試數(shù)據(jù)至數(shù)據(jù)校驗(yàn)?zāi)K以對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)處理，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，并行輸入串行輸出移位寄存器按照如下方式對(duì)第一形式的校驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行處理，獲得第二形式的校驗(yàn)結(jié)果：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試方法，其特征在于，第一形式的校驗(yàn)結(jié)果為并行校驗(yàn)數(shù)據(jù)，第二形式的校驗(yàn)結(jié)果為串行校驗(yàn)數(shù)據(jù)，且第二形式的校驗(yàn)結(jié)果由第一形式的校驗(yàn)結(jié)果并串轉(zhuǎn)換生成。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：續(xù)素芬，劉家齊，黃金煌，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：北京紫光青藤微系統(tǒng)有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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