【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)屬于體外診斷設(shè)備，具體涉及多通道檢測的具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀。
技術(shù)介紹
1、體外診斷是醫(yī)學(xué)檢驗(yàn)領(lǐng)域中重要的組成部分，是利用離體樣本來分析受試者的各種生理指標(biāo)，并可通過肉眼或檢測儀來獲得檢驗(yàn)結(jié)果。檢測時(shí)，可將檢測儀放置在檢測卡的載物臺上并被運(yùn)送至檢測儀內(nèi)，檢測光源照射至檢測卡的結(jié)果顯示區(qū)，光電二極管接收到檢測卡的反射光信號，并將數(shù)據(jù)傳輸至數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，完成檢測結(jié)果分析，檢測儀輸出檢測結(jié)果。
2、熒光免疫分析技術(shù)是將免疫學(xué)反應(yīng)的特異性和熒光技術(shù)的敏感性結(jié)合起來的一種方法。熒光免疫分析儀是基于免疫層析的原理，特定波長的光源照射在檢測卡的測試區(qū)，位于測試區(qū)的熒光標(biāo)記物激發(fā)后發(fā)出與光源的光不同波長的光并被光電感應(yīng)裝置捕獲而形成電流信號，電流的大小與樣品中的分析物濃度相關(guān)，從而實(shí)現(xiàn)樣本中被分析物的定性或定量分析。
3、熒光免疫分析儀可用于普通熒光檢測和時(shí)間分辨熒光測定。現(xiàn)有的熒光免疫分析儀有單通道和多通道兩種類型。單通道的熒光免疫分析儀每次只能檢測一個(gè)檢測板，檢測效率低。多通道的熒光免疫分析儀提高了檢測效率。但現(xiàn)有的多通道熒光免疫分析儀，常會容易發(fā)生以下影響檢測的情況：1、檢測卡沒有被完全插入到位，當(dāng)檢測卡被轉(zhuǎn)運(yùn)到分析儀的檢測區(qū)時(shí)，檢測卡上的測試區(qū)偏離了分析儀的檢測區(qū)，導(dǎo)致分析儀無法對檢測卡的測試區(qū)進(jìn)行正確的檢測，從而導(dǎo)致檢測結(jié)果不準(zhǔn)確；2、在分析儀的門打開將檢測卡放入到轉(zhuǎn)盤上時(shí)，操作者的手指可能會碰到轉(zhuǎn)盤而使轉(zhuǎn)盤誤轉(zhuǎn)動，影響整個(gè)測試過程；3、在分析儀關(guān)門的過程中，如果操作者的手指未能及時(shí)抽出，則可能會門夾
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)的目的是提供一種具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，該檢測儀在開啟門的過程中將轉(zhuǎn)盤鎖死，以便防止轉(zhuǎn)盤被意外推動，導(dǎo)致轉(zhuǎn)盤定位不準(zhǔn)確，影響檢測儀的正常工作。
2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)所采用的技術(shù)方案是：一種具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，包括一個(gè)圓形的轉(zhuǎn)盤、位于轉(zhuǎn)盤上方并且可相對轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動的門、第一電機(jī)和第二電機(jī)，轉(zhuǎn)盤上設(shè)有若干個(gè)由轉(zhuǎn)盤的中心區(qū)域向轉(zhuǎn)盤外周延伸的測試通道，每個(gè)測試通道均可插入一個(gè)檢測卡，轉(zhuǎn)盤由第一電機(jī)驅(qū)動轉(zhuǎn)動進(jìn)而帶動所述若干個(gè)測試通道轉(zhuǎn)動，第二電機(jī)用于開啟門，檢測儀還包括一個(gè)鎖死機(jī)構(gòu)，當(dāng)門處于開啟狀態(tài)時(shí)，第一電機(jī)停止驅(qū)動轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動，鎖死機(jī)構(gòu)自動鎖住轉(zhuǎn)盤阻止轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動；當(dāng)門處于關(guān)閉狀態(tài)時(shí)，鎖死機(jī)構(gòu)自動釋放轉(zhuǎn)盤，第一電機(jī)驅(qū)動轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動。
3、作為本專利技術(shù)的進(jìn)一步改進(jìn)，鎖死機(jī)構(gòu)包括與測試通道相同數(shù)量的限位孔、一個(gè)凸臺、一個(gè)被限制為只可在垂直方向上做上下移動的頂塊和一個(gè)安裝在頂塊上的插銷，限位孔位于轉(zhuǎn)盤的中心區(qū)域并且每個(gè)限位孔對應(yīng)于一個(gè)測試通道，凸臺位于門的上表面，凸臺與頂塊分別包括一個(gè)相互契合的斜坡面，當(dāng)門在開啟的過程中，凸臺上的斜坡面逐步釋放頂塊上的斜坡面導(dǎo)致頂塊垂直向下運(yùn)動，進(jìn)而帶動插銷垂直向下運(yùn)動，插銷的下端進(jìn)入限位孔，插銷自動鎖住轉(zhuǎn)盤，從而阻止轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動；當(dāng)門在關(guān)閉的過程中，凸臺上的斜坡面逐步抬升頂塊上的斜坡面，使頂塊垂直向上運(yùn)動并且?guī)硬邃N垂直向上運(yùn)動，從而使插銷的下端離開限位孔，插銷自動釋放轉(zhuǎn)盤，進(jìn)而不阻止轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動。
4、作為本專利技術(shù)的進(jìn)一步改進(jìn)，插銷的中部套有壓縮彈簧，門在開啟的過程中，門帶動凸臺一起轉(zhuǎn)動，凸臺上的斜坡面與頂塊上的斜坡面逐漸分離，頂塊逐漸失去凸去臺的支撐，壓縮彈簧伸展推動插銷和頂塊垂直向下滑移，使插銷的底端插入到轉(zhuǎn)盤上的限位孔內(nèi)，鎖死轉(zhuǎn)盤從而限制轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動；反之，在門關(guān)閉的過程中，門帶動凸臺一起反方向轉(zhuǎn)動，凸臺上的斜坡面與頂塊上的斜坡面契合，推動項(xiàng)塊垂直向上移動，將頂塊頂起，推動頂塊內(nèi)的插銷向上抬升，使插銷底部脫離轉(zhuǎn)盤上的限位孔，從而解鎖轉(zhuǎn)盤，使轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動不再受限，同時(shí)套在插銷中部的壓縮彈簧被進(jìn)一步壓縮。
5、作為本專利技術(shù)的進(jìn)一步改進(jìn)，頂塊和插銷被檢測儀的導(dǎo)柱限制為只可在垂直方向做上下移動。
6、進(jìn)一步的技術(shù)方案中，該檢測儀還包括自動推卡機(jī)構(gòu)，具有自動推卡機(jī)構(gòu)的檢測儀能自動將未插入到檢測所要求的位置的檢測卡推入到檢測所要求的位置，從而使檢測卡在檢測儀內(nèi)準(zhǔn)確定位，方便后續(xù)檢測。
7、作為本專利技術(shù)的進(jìn)一步改進(jìn)，該自動推卡機(jī)構(gòu)設(shè)置在傳送模塊的轉(zhuǎn)盤的外周合適位置處，啟動檢測儀后，轉(zhuǎn)盤帶動檢測卡轉(zhuǎn)動，當(dāng)檢測卡到達(dá)自動推卡機(jī)構(gòu)所在位置時(shí)，自動推卡機(jī)構(gòu)自動將未插入到檢測所要求的位置的檢測卡在測試通道內(nèi)推入到檢測所要求的位置，從而使檢測卡在測試通道內(nèi)準(zhǔn)確定位。
8、作為本專利技術(shù)的進(jìn)一步改進(jìn)，自動推卡機(jī)構(gòu)包括一個(gè)面向轉(zhuǎn)盤外周的斜面，當(dāng)轉(zhuǎn)盤帶動檢測卡經(jīng)過該斜面時(shí)，該斜面擠壓檢測卡的尾部，斜面推動檢測卡在測試通道向轉(zhuǎn)盤的中心方向移動，直到檢測卡插入到檢測所要求的位置。
9、作為本專利技術(shù)的進(jìn)一步改進(jìn)，自動推卡機(jī)構(gòu)包括一個(gè)彈片，該彈片包括一個(gè)面向轉(zhuǎn)盤外周的斜面，當(dāng)轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動帶動檢測卡經(jīng)過該斜面時(shí)，斜面擠壓檢測卡的尾部，從而推動檢測卡在測試通道向轉(zhuǎn)盤的中心方向移動，直到檢測卡插入到檢測所要求的位置。
10、作為本專利技術(shù)的進(jìn)一步改進(jìn)，轉(zhuǎn)盤在每一個(gè)測試通道的盡頭均設(shè)有一個(gè)凸塊，在檢測卡被插入測試通道過程中，當(dāng)檢測卡的頭部被該凸塊阻擋時(shí)，即表示檢測卡已經(jīng)插入到檢測所要求的位置。
11、作為本專利技術(shù)的進(jìn)一步改進(jìn)，每個(gè)檢測卡上分別包括有對應(yīng)其生物參數(shù)檢測項(xiàng)目的標(biāo)識，檢測儀具有識別檢測卡上標(biāo)識的部件，檢測儀根據(jù)識別后的信息對每個(gè)檢測卡賦予與其標(biāo)識信息相對應(yīng)的孵育參數(shù)。
12、作為本專利技術(shù)的進(jìn)一步改進(jìn)，檢測卡上的標(biāo)識包括三個(gè)二維碼，每個(gè)二維碼對應(yīng)一段信息，將這三個(gè)二維碼的信息進(jìn)行排列組合后可以獲得多組信息。
13、另一方面，本專利技術(shù)還提供一種檢測系統(tǒng)，該檢測系統(tǒng)具有多個(gè)檢測通道，能同時(shí)容納多個(gè)檢測卡，并且適用不同類型的檢測卡。
14、本專利技術(shù)的一種檢測系統(tǒng)，包括前述的檢測儀和檢測卡，檢測儀還包括殼體和殼體內(nèi)的檢測組件，殼體包括插入口用于將檢測卡插入檢測儀進(jìn)行檢測，檢測組件包括傳送模塊、測試模塊和退出模塊，傳送模塊包括一個(gè)圓形的轉(zhuǎn)盤，轉(zhuǎn)盤上設(shè)有至少三個(gè)測試通道，所述測試通道呈星形均勻分布在轉(zhuǎn)盤上，測試通道的一端靠近轉(zhuǎn)盤的中心另一端延伸到轉(zhuǎn)盤的外周，每個(gè)測試通道均可插入一個(gè)檢測卡，檢測卡上設(shè)有至少二個(gè)標(biāo)識，檢測組件包括與檢測卡上標(biāo)識數(shù)量相等的標(biāo)識識別部件，在轉(zhuǎn)盤傳送檢測卡的過程中，這些標(biāo)識識別部件依次識別檢測卡上的標(biāo)識后形成信號組合并傳送到檢測儀的控制系統(tǒng)，該信號組合至少包括檢測卡的最少孵育時(shí)間，檢測卡在檢測儀內(nèi)開始孵育后，檢測儀的控制系統(tǒng)開始根據(jù)各個(gè)檢測卡的最少孵育時(shí)間為每個(gè)檢測卡倒計(jì)時(shí)并且按照倒計(jì)時(shí)結(jié)束的先后順序?qū)⒏鱾€(gè)檢測卡傳送到測試模塊進(jìn)行檢測，測試模塊識本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，其特征在于：檢測儀包括一個(gè)圓形的轉(zhuǎn)盤、位于轉(zhuǎn)盤上方并且可相對轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動的門、第一電機(jī)和第二電機(jī)，轉(zhuǎn)盤上設(shè)有若干個(gè)由轉(zhuǎn)盤的中心區(qū)域向轉(zhuǎn)盤外周延伸的測試通道，每個(gè)測試通道均可插入一個(gè)檢測卡，轉(zhuǎn)盤由第一電機(jī)驅(qū)動轉(zhuǎn)動進(jìn)而帶動所述若干個(gè)測試通道轉(zhuǎn)動，第二電機(jī)用于開啟門，檢測儀還包括一個(gè)鎖死機(jī)構(gòu)，當(dāng)門處于開啟狀態(tài)時(shí)，第一電機(jī)停止驅(qū)動轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動，鎖死機(jī)構(gòu)自動鎖住轉(zhuǎn)盤阻止轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動；當(dāng)門處于關(guān)閉狀態(tài)時(shí)，鎖死機(jī)構(gòu)自動釋放轉(zhuǎn)盤，第一電機(jī)驅(qū)動轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動。
2.如權(quán)利要求1所述的具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，其特征在于：鎖死機(jī)構(gòu)包括與測試通道相同數(shù)量的限位孔、一個(gè)凸臺、一個(gè)被限制為只可在垂直方向上做上下移動的頂塊和一個(gè)安裝在頂塊上的插銷，限位孔位于轉(zhuǎn)盤的中心區(qū)域并且每個(gè)限位孔對應(yīng)于一個(gè)測試通道，凸臺位于門的上表面，凸臺與頂塊分別包括一個(gè)相互契合的斜坡面，當(dāng)門在開啟的過程中，凸臺上的斜坡面逐步釋放頂塊上的斜坡面，頂塊垂直向下運(yùn)動，進(jìn)而帶動插銷垂直向下運(yùn)動，插銷的下端進(jìn)入限位孔，插銷自動鎖住轉(zhuǎn)盤，從而阻止轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動；當(dāng)門在關(guān)閉的過程中，凸臺上的斜坡面逐步抬升頂塊上的斜坡面，使頂塊垂直
3.如權(quán)利要求2所述的具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，其特征在于：插銷的中部套有壓縮彈簧，門在開啟的過程中，門帶動凸臺一起轉(zhuǎn)動，凸臺上的斜坡面與頂塊上的斜坡面逐漸分離，頂塊逐漸失去凸去臺的支撐，壓縮彈簧伸展推動插銷和頂塊垂直向下滑移，使插銷的底端插入到轉(zhuǎn)盤上的限位孔內(nèi)，鎖死轉(zhuǎn)盤從而限制轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動；反之，在門關(guān)閉的過程中，門帶動凸臺一起反方向轉(zhuǎn)動，凸臺上的斜坡面與頂塊上的斜坡面契合，推動項(xiàng)塊垂直向上移動，將頂塊頂起，推動頂塊內(nèi)的插銷向上抬升，使插銷底部脫離轉(zhuǎn)盤上的限位孔，從而解鎖轉(zhuǎn)盤，使轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動不再受限，同時(shí)套在插銷中部的壓縮彈簧被進(jìn)一步壓縮。
4.如權(quán)利要求3所述的具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，其特征在于：檢測儀還包括固定到底座或者底座支架而不可移動的導(dǎo)柱，頂塊和插銷被檢測儀的導(dǎo)柱限制為只可在垂直方向做上下移動。
5.如權(quán)利要求1所述的具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，其特征在于：檢測儀在轉(zhuǎn)盤的外周合適位置處設(shè)置一個(gè)自動推卡機(jī)構(gòu)，檢測儀啟動檢測后，轉(zhuǎn)盤帶動檢測卡轉(zhuǎn)動，當(dāng)檢測卡到達(dá)自動推卡機(jī)構(gòu)所在位置時(shí)，所述自動推卡機(jī)構(gòu)自動將未插入到檢測所要求的位置的檢測卡在測試通道內(nèi)推入到檢測所要求的位置，從而使檢測卡在測試通道內(nèi)準(zhǔn)確定位。
6.如權(quán)利要求5所述的具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，其特征在于：所述自動推卡機(jī)構(gòu)包括一個(gè)面向轉(zhuǎn)盤外周的斜面，當(dāng)轉(zhuǎn)盤帶動檢測卡經(jīng)過該斜面時(shí)，該斜面擠壓檢測卡的尾部，斜面推動檢測卡在測試通道向轉(zhuǎn)盤的中心方向移動，直到檢測卡插入到檢測所要求的位置。
7.如權(quán)利要求5所述的具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，其特征在于：所述自動推卡機(jī)構(gòu)包括一個(gè)彈片，該彈片包括一個(gè)面向轉(zhuǎn)盤外周的斜面，當(dāng)轉(zhuǎn)盤帶動檢測卡經(jīng)過該斜面時(shí)，斜面擠壓檢測卡的尾部，從而推動檢測卡在測試通道向轉(zhuǎn)盤的中心方向移動，直到檢測卡插入到檢測所要求的位置。
8.如權(quán)利要求5所述的具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，其特征在于：轉(zhuǎn)盤在每一個(gè)測試通道的盡頭均設(shè)有一個(gè)凸塊，在檢測卡被插入測試通道的過程中，當(dāng)檢測卡的頭部被該凸塊阻擋時(shí)，即表示檢測卡已經(jīng)插入到檢測所要求的位置。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，其特征在于：檢測儀包括一個(gè)圓形的轉(zhuǎn)盤、位于轉(zhuǎn)盤上方并且可相對轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動的門、第一電機(jī)和第二電機(jī)，轉(zhuǎn)盤上設(shè)有若干個(gè)由轉(zhuǎn)盤的中心區(qū)域向轉(zhuǎn)盤外周延伸的測試通道，每個(gè)測試通道均可插入一個(gè)檢測卡，轉(zhuǎn)盤由第一電機(jī)驅(qū)動轉(zhuǎn)動進(jìn)而帶動所述若干個(gè)測試通道轉(zhuǎn)動，第二電機(jī)用于開啟門，檢測儀還包括一個(gè)鎖死機(jī)構(gòu)，當(dāng)門處于開啟狀態(tài)時(shí)，第一電機(jī)停止驅(qū)動轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動，鎖死機(jī)構(gòu)自動鎖住轉(zhuǎn)盤阻止轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動；當(dāng)門處于關(guān)閉狀態(tài)時(shí)，鎖死機(jī)構(gòu)自動釋放轉(zhuǎn)盤，第一電機(jī)驅(qū)動轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動。
2.如權(quán)利要求1所述的具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，其特征在于：鎖死機(jī)構(gòu)包括與測試通道相同數(shù)量的限位孔、一個(gè)凸臺、一個(gè)被限制為只可在垂直方向上做上下移動的頂塊和一個(gè)安裝在頂塊上的插銷，限位孔位于轉(zhuǎn)盤的中心區(qū)域并且每個(gè)限位孔對應(yīng)于一個(gè)測試通道，凸臺位于門的上表面，凸臺與頂塊分別包括一個(gè)相互契合的斜坡面，當(dāng)門在開啟的過程中，凸臺上的斜坡面逐步釋放頂塊上的斜坡面，頂塊垂直向下運(yùn)動，進(jìn)而帶動插銷垂直向下運(yùn)動，插銷的下端進(jìn)入限位孔，插銷自動鎖住轉(zhuǎn)盤，從而阻止轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動；當(dāng)門在關(guān)閉的過程中，凸臺上的斜坡面逐步抬升頂塊上的斜坡面，使頂塊垂直向上運(yùn)動并且?guī)硬邃N垂直向上運(yùn)動，從而使插銷的下端離開限位孔，插銷自動釋放轉(zhuǎn)盤，進(jìn)而不阻止轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動。
3.如權(quán)利要求2所述的具有鎖死機(jī)構(gòu)的檢測儀，其特征在于：插銷的中部套有壓縮彈簧，門在開啟的過程中，門帶動凸臺一起轉(zhuǎn)動，凸臺上的斜坡面與頂塊上的斜坡面逐漸分離，頂塊逐漸失去凸去臺的支撐，壓縮彈簧伸展推動插銷和頂塊垂直向下滑移，使插銷的底端插入到轉(zhuǎn)盤上的限位孔內(nèi)，鎖死轉(zhuǎn)盤從而限制轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動；反之，在門關(guān)閉的過程中，門帶動凸臺一起反...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：方煒，鄭存明，唐林勇，
申請(專利權(quán))人：艾康生物技術(shù)杭州有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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