【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本申請涉及物品的外觀檢查方法。
技術介紹
1、在現有的半導體封裝體等物品的外觀檢查方法中，對從供給部搬運來的被檢查對象物采用如下方法：經由設置于搬運路的透光性部件，在上方和下方設置兩臺照相機，對透光性部件的兩個側面進行鏡面加工，從而利用設置在上方和下方的兩個照相機對除搬運方向的兩端部以外的被檢查物的整周進行拍攝并檢查(例如，參照專利文獻1)。
2、另外，公開了如下方法：以包圍被檢查對象物的方式朝向斜上方配置四個鏡子，照相機將被檢查對象物的上表面和由四個鏡子捕獲的被檢查對象物的側面圖像獲取為檢查圖像，從而同時對被檢查對象物外觀的上表面及側面進行檢查(例如，參照專利文獻2)。
3、專利文獻1：日本特開2014-139525號公報
4、專利文獻2：日本特開2000-018927號公報
5、在專利文獻1中，由于構成為從供給部搬運被檢查對象物并在被檢查對象物從搬運路滑落的中途進行拍攝，因此若被檢查對象物的構造為表背同形、檢查項目也相同那樣比較簡單且沒有限定接觸區域則有效，但在紅外線傳感器模塊那樣的、形狀及檢查項目在表背不同且接觸區域受限的情況下，存在需要固定拍攝、檢查的方向或者檢查的位置，并且保持被檢查對象物的部位需要是能夠接觸的部位等問題。
6、另外，在專利文獻2中，通過以包圍被檢查對象物的方式具備四個鏡子，從而能夠同時檢查上表面和四個側面，但需要將被檢查對象物搭載于被檢查對象物專用的檢查工作臺上，為了更加高效地進行檢查，并且為了同時檢查多個，需要設置多個相同的環境。此時，存在
技術實現思路
1、本申請公開了用于解決上述那樣的課題的技術，其目的在于，提供一種即使物品的檢查方法中形狀及檢查項目在表背不同且接觸區域受限，也能夠僅在被檢查對象物的限定的區域保持，且能夠在拍攝、檢查的方向或者位置固定的狀態下一并拍攝多個并能夠檢查的物品的外觀檢查方法。
2、本申請所公開的物品的外觀檢查方法，使用外觀檢查裝置進行被檢查對象物的外觀檢查，
3、上述外觀檢查裝置具備：
4、平面狀的托盤，具備將多個上述被檢查對象物分別分離地載置的多個透明的凹槽；
5、多個第一照相機，分離地設置在上述平面狀的托盤的表面側和背面側，能夠從上述托盤的表面側和背面側分別一并同時拍攝多個上述被檢查對象物；以及
6、第二照相機，能夠從上述平面狀的托盤的除表面和背面以外的側面進行拍攝，
7、各凹槽具有在載置了上述被檢查對象物的情況下以沿著上述被檢查對象物的外周的方式與上述被檢查對象物接觸而支承該被檢查對象物的支承件，
8、上述物品的外觀檢查方法的特征在于，
9、利用上述第一照相機，從上述托盤的表面側和背面側分別拍攝多個上述被檢查對象物，并且利用上述第二照相機，從上述側面拍攝上述被檢查對象物。
10、根據本申請所公開的物品的外觀檢查方法，能夠提供即使形狀及檢查項目在表背不同且接觸區域受限，也能夠僅在被檢查對象物的限定的區域保持并在拍攝、檢查的方向或者位置固定的狀態下一并拍攝多個并能夠進行檢查的物品的外觀檢查方法。
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1.一種物品的外觀檢查方法，使用外觀檢查裝置進行被檢查對象物的外觀檢查，
2.一種物品的外觀檢查方法，使用外觀檢查裝置進行被檢查對象物的外觀檢查，
3.根據權利要求1所述的物品的外觀檢查方法，其特征在于，
4.根據權利要求3所述的物品的外觀檢查方法，其特征在于，
5.根據權利要求1～4中任一項所述的物品的外觀檢查方法，其特征在于，
6.根據權利要求1～5中任一項所述的物品的外觀檢查方法，其特征在于，
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】
1.一種物品的外觀檢查方法，使用外觀檢查裝置進行被檢查對象物的外觀檢查，
2.一種物品的外觀檢查方法，使用外觀檢查裝置進行被檢查對象物的外觀檢查，
3.根據權利要求1所述的物品的外觀檢查方法，其特征在于，
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