【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本申請(qǐng)涉及服務(wù)器，尤其涉及一種故障檢測(cè)方法。
技術(shù)介紹
1、隨著企業(yè)級(jí)nvme?ssd的不斷發(fā)展，其復(fù)雜性的增加確實(shí)帶來(lái)了一系列管理挑戰(zhàn)。硬件沖突、軟件錯(cuò)誤、錯(cuò)誤的電源管理設(shè)置以及固件或驅(qū)動(dòng)不兼容等原因都可能導(dǎo)致nvmessd掛死。
2、目前，服務(wù)器僅通過(guò)i2c通道與nvme?ssd進(jìn)行通信和管理，這種單一通道的依賴性意味著一旦i2c通道出現(xiàn)故障或掛死，服務(wù)器將失去對(duì)nvme?ssd的訪問(wèn)能力。由于i2c通道可能受到多種因素的影響(如硬件沖突、軟件錯(cuò)誤、電源管理問(wèn)題等)，這種依賴性極大地增加了系統(tǒng)的不穩(wěn)定性和風(fēng)險(xiǎn)。任何影響i2c通道穩(wěn)定性的因素都可能導(dǎo)致服務(wù)器無(wú)法正常工作，進(jìn)而影響整個(gè)系統(tǒng)的性能和可靠性。進(jìn)一步的，當(dāng)i2c通道處于異常狀態(tài)時(shí)，服務(wù)器無(wú)法通過(guò)i2c通道獲取存儲(chǔ)在nvme?ssd中的vpd(vital?product?data，關(guān)鍵產(chǎn)品數(shù)據(jù))和smd(solid-state?metadata，固態(tài)元數(shù)據(jù))等關(guān)鍵信息。vpd和smd等關(guān)鍵信息對(duì)于硬盤(pán)的健康狀態(tài)監(jiān)控、性能優(yōu)化以及故障預(yù)測(cè)至關(guān)重要。當(dāng)這些關(guān)鍵信息無(wú)法獲取時(shí)，服務(wù)將無(wú)法準(zhǔn)確評(píng)估硬盤(pán)的狀態(tài)，從而無(wú)法及時(shí)確定i2c是否存在故障，并且無(wú)法對(duì)于異常情況采取有針對(duì)性的應(yīng)對(duì)措施。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種故障檢測(cè)方法，旨在解決無(wú)法進(jìn)行i2c故障檢測(cè)的問(wèn)題。
2、第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種故障檢測(cè)方法，包括：
3、基板管理控制器bmc通過(guò)帶外通道獲取目標(biāo)硬盤(pán)的硬盤(pán)信息
4、當(dāng)bmc通過(guò)帶外通道未獲取到所述硬盤(pán)信息時(shí)，通過(guò)帶內(nèi)通道獲取串行通信總線i2c狀態(tài)信息；
5、根據(jù)所述i2c狀態(tài)信息中的數(shù)據(jù)線sda電平狀態(tài)和時(shí)鐘線scl電平狀態(tài)，確定所述i2c的故障狀態(tài)。
6、本申請(qǐng)實(shí)施例提供的方法，bmc通過(guò)帶外通道獲取硬盤(pán)信息。如果bmc通過(guò)帶外通道無(wú)法獲取硬盤(pán)信息，表明可能存在通道故障或硬盤(pán)本身的問(wèn)題，bmc通過(guò)帶內(nèi)通道獲取i2c的狀態(tài)信息，以確認(rèn)i2c是否處于故障狀態(tài)。即本申請(qǐng)通過(guò)帶外和帶內(nèi)通道的檢查，確保了監(jiān)控的連續(xù)性，即使目標(biāo)硬盤(pán)未能響應(yīng)獲取命令，導(dǎo)致服務(wù)器無(wú)法通過(guò)帶外管理的i2c通道獲取硬盤(pán)的vpd、smd中的相關(guān)硬件信息，bmc仍然可以通過(guò)帶內(nèi)通道獲取i2c的工作狀態(tài)，以確認(rèn)是否i2c是否處于故障狀態(tài)，由此及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題所在，進(jìn)而可以盡快采取有針對(duì)性的措施，盡快將處于故障狀態(tài)的i2c恢復(fù)為正常運(yùn)行狀態(tài)，減少了故障持續(xù)的時(shí)間。
7、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述基板管理控制器bmc通過(guò)帶外通道獲取目標(biāo)硬盤(pán)的硬盤(pán)信息，包括：
8、所述bmc基于獲取周期通過(guò)帶外通道獲取目標(biāo)硬盤(pán)的硬盤(pán)信息；
9、所述當(dāng)bmc通過(guò)帶外通道未獲取到所述硬盤(pán)信息時(shí)，通過(guò)帶內(nèi)通道獲取串行通信總線i2c狀態(tài)信息，包括：
10、當(dāng)所述bmc在第一預(yù)設(shè)次數(shù)的獲取周期內(nèi)未獲取到硬盤(pán)信息時(shí)，通過(guò)帶內(nèi)通道獲取i2c狀態(tài)信息。
11、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述i2c狀態(tài)信息預(yù)存儲(chǔ)于目標(biāo)存儲(chǔ)區(qū)域，所述目標(biāo)存儲(chǔ)區(qū)域?yàn)樗瞿繕?biāo)硬盤(pán)內(nèi)用于記錄硬件內(nèi)部狀態(tài)和運(yùn)行信息的區(qū)域，所述i2c狀態(tài)信息的確定方式包括：
12、目標(biāo)硬件根據(jù)巡檢周期多次檢測(cè)數(shù)據(jù)線sda電平狀態(tài)和時(shí)鐘線scl電平狀態(tài)；
13、將每次檢測(cè)到的sda電平狀態(tài)和scl電平狀態(tài)反饋至目標(biāo)硬件的主控制器soc；
14、soc將多次檢測(cè)到的sda電平狀態(tài)和scl電平狀態(tài)記錄至目標(biāo)硬盤(pán)內(nèi)的目標(biāo)存儲(chǔ)區(qū)域。
15、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述i2c狀態(tài)信息中的數(shù)據(jù)線sda電平狀態(tài)和時(shí)鐘線scl電平狀態(tài)，確定所述i2c的故障狀態(tài)，包括：
16、當(dāng)連續(xù)第二預(yù)設(shè)次數(shù)個(gè)巡檢周期內(nèi)，所述i2c狀態(tài)信息中的sda電平狀態(tài)持續(xù)為低電平且scl電平狀態(tài)持續(xù)為高電平時(shí)，所述bmc確定i2c處于掛死狀態(tài)；
17、當(dāng)所述i2c狀態(tài)信息中的sda電平狀態(tài)和scl電平狀態(tài)，在連續(xù)第三預(yù)設(shè)次數(shù)個(gè)巡檢周期內(nèi)未發(fā)生翻轉(zhuǎn)時(shí)，所述bmc確定i2c處于掛死狀態(tài)。
18、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述方法還包括：
19、所述soc基于多次檢測(cè)到的sda電平狀態(tài)和scl電平狀態(tài)，對(duì)i2c的狀態(tài)信息進(jìn)行標(biāo)記，并將所述i2c狀態(tài)信息的標(biāo)記結(jié)果存儲(chǔ)至目標(biāo)硬盤(pán)內(nèi)的目標(biāo)存儲(chǔ)區(qū)域；
20、所述soc基于多次檢測(cè)到的sda電平狀態(tài)和scl電平狀態(tài)，對(duì)i2c的狀態(tài)信息進(jìn)行標(biāo)記：
21、當(dāng)連續(xù)第二預(yù)設(shè)次數(shù)個(gè)巡檢周期內(nèi)，所述i2c狀態(tài)信息中的sda電平狀態(tài)持續(xù)為低電平且scl電平狀態(tài)持續(xù)為高電平時(shí)，所述soc將i2c的狀態(tài)信息標(biāo)記為掛死狀態(tài)；
22、當(dāng)所述i2c狀態(tài)信息中的sda電平狀態(tài)和scl電平狀態(tài)，在連續(xù)第三預(yù)設(shè)次數(shù)個(gè)巡檢周期內(nèi)未發(fā)生翻轉(zhuǎn)時(shí)，所述soc將i2c的狀態(tài)信息標(biāo)記為掛死狀態(tài)。
23、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述i2c狀態(tài)信息中的數(shù)據(jù)線sda電平狀態(tài)和時(shí)鐘線scl電平狀態(tài)，確定所述i2c的故障狀態(tài)，包括：
24、讀取所述i2c狀態(tài)信息中的sda電平狀態(tài)和scl電平狀態(tài)對(duì)應(yīng)的標(biāo)記結(jié)果，作為所述i2c的故障狀態(tài)。
25、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述故障狀態(tài)包括掛死狀態(tài)，所述方法還包括：
26、當(dāng)所述bmc確定i2c為掛死狀態(tài)時(shí)，通過(guò)帶內(nèi)通道向目標(biāo)硬盤(pán)發(fā)送i2c復(fù)位命令，所述i2c復(fù)位命令用于指示對(duì)i2c的供電單元下電并重新上電，以使i2c恢復(fù)為正常工作狀態(tài)。
27、在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述方法還包括：
28、在i2c復(fù)位命令執(zhí)行完畢后，bmc通過(guò)所述帶外通道獲取硬盤(pán)信息；
29、當(dāng)所述bmc通過(guò)所述帶外通道獲取到硬盤(pán)信息時(shí)，確定所述i2c通道恢復(fù)為正常運(yùn)行狀態(tài)；
30、當(dāng)所述bmc通過(guò)所述帶外通道無(wú)法獲取到硬盤(pán)信息時(shí)，生成告警指令
31、第二方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種故障檢測(cè)方法，包括：
32、目標(biāo)硬盤(pán)接收基板管理控制器bmc發(fā)送的獲取命令，所述獲取命令為bmc通過(guò)帶外通道獲取目標(biāo)硬盤(pán)的硬盤(pán)信息的命令；
33、當(dāng)目標(biāo)硬盤(pán)未通過(guò)帶外通道向bmc返回所述硬盤(pán)信息時(shí)，通過(guò)帶內(nèi)通道向bmc返回串行通信總線i2c狀態(tài)信息，以使所述bmc根據(jù)所述i2c狀態(tài)信息中的數(shù)據(jù)線sda電平狀態(tài)和時(shí)鐘線scl電平狀態(tài)，確定所述i2c的故障狀態(tài)。
34、本申請(qǐng)實(shí)施例提供的方法，目標(biāo)硬盤(pán)接收基板管理控制器bmc發(fā)送的獲取命令后未能通過(guò)帶外通道向bmc返回所述硬盤(pán)信息時(shí)，表明可能存在通道故障或硬盤(pán)本身的問(wèn)題，目標(biāo)硬盤(pán)可以通過(guò)帶內(nèi)通道向bmc返回串行通信總線i2c狀態(tài)信息，以使bmc根據(jù)所述i2c狀態(tài)信息中的數(shù)據(jù)線sda電平狀態(tài)和時(shí)鐘線scl電平狀態(tài)確認(rèn)i2c是否處于故障狀態(tài)。即本申請(qǐng)通過(guò)帶外和帶內(nèi)通道的檢查，確保了監(jiān)控的連續(xù)性，即使目標(biāo)硬盤(pán)未能響應(yīng)獲取命令，導(dǎo)致服務(wù)器無(wú)法通過(guò)帶外管理的i2c通本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種故障檢測(cè)方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基板管理控制器BMC通過(guò)帶外通道獲取目標(biāo)硬盤(pán)的硬盤(pán)信息，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述I2C狀態(tài)信息預(yù)存儲(chǔ)于目標(biāo)存儲(chǔ)區(qū)域，所述目標(biāo)存儲(chǔ)區(qū)域?yàn)樗瞿繕?biāo)硬盤(pán)內(nèi)用于記錄硬件內(nèi)部狀態(tài)和運(yùn)行信息的區(qū)域，所述I2C狀態(tài)信息的確定方式包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述I2C狀態(tài)信息中的數(shù)據(jù)線SDA電平狀態(tài)和時(shí)鐘線SCL電平狀態(tài)，確定所述I2C的故障狀態(tài)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述I2C狀態(tài)信息中的數(shù)據(jù)線SDA電平狀態(tài)和時(shí)鐘線SCL電平狀態(tài)，確定所述I2C的故障狀態(tài)，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述故障狀態(tài)包括掛死狀態(tài)，所述方法還包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
9.一種故障檢測(cè)方法，其特征在于，包括：
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