【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及鈣華微觀孔隙判別，更具體地，涉及一種基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法及系統。
技術介紹
1、當前階段，鈣華的研究從碳酸鹽巖研究的小領域，逐步擴展到油氣資源儲層等方面研究。而在油氣勘探領域，通常認為鈣華是由化學沉積作用形成的，不具備形成油氣儲集的能力。然而，生物作用也廣泛的參與到鈣華的形成過程中，使鈣華可能具備一定的生烴能力；同時，鈣華的孔隙度最高可超過30％，即使孔隙度較小的鈣華，由于其具有較多的微觀孔隙，常具有較大的滲透性，是一種極好的儲集體，可形成小而富的油氣儲藏。因此，鈣華的微觀孔隙對鈣華的高滲透性起著顯著的作用，對判斷古鈣華儲層的物性好壞，對指導古鈣華油氣的勘探開發具有指導意義。
2、目前，最接近的現有技術：是將鈣華樣品制成約1～2cm3大小，表面新鮮且平整的樣品進行鍍金膜處理，在掃描電鏡下觀察。而在利用掃描電鏡低倍數下觀察時，不易發現微觀孔隙，通常需要放大至數千倍至上萬倍。同時，由于視域的選擇具有隨機性，發現微觀孔隙也具有隨機性。在沒有發現微觀孔隙，或者微觀孔隙發育較差時則需要重新選取觀察區域，增加實驗所需的時間。
3、掃描電鏡已經廣泛的運用于觀察各類粘土礦物、油氣儲層孔隙等方面的研究中并取得了較好的效果，但目前對于利用掃描電鏡對鈣華微觀孔隙進行觀察以及鑒定孔隙類型時，仍存在視域選擇隨機性、裂隙類型劃分難等問題。主要體現在利用掃描電鏡觀察鈣華的微觀孔隙時，由于需要放大至數千倍至上萬倍，觀察視域小，發現微觀孔隙的難度大，微觀孔隙發育不典型時仍需要重新選擇視域。同時，微觀孔隙
4、因此，有必要開發一種基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法及系統。
5、公開于本專利技術
技術介紹
部分的信息僅僅旨在加深對本專利技術的一般
技術介紹
的理解，而不應當被視為承認或以任何形式暗示該信息構成已為本領域技術人員所公知的現有技術。
技術實現思路
1、本專利技術提出了一種基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法及系統，其有效減少發現鈣華微觀孔隙的耗時，提高孔隙類型劃分效率，提高實驗效率，以節約觀察時間。
2、第一方面，本公開實施例提供了一種基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法，包括：
3、采集鈣華樣品并制樣，劃分所述鈣華樣品的巖相類型；
4、通過偏光顯微鏡確定所述鈣華樣品的微觀孔隙分布位置；
5、通過掃描電鏡觀察所述鈣華樣品的微觀孔隙特征；
6、通過能譜儀確定所述鈣華樣品的組分，劃分孔隙類型。
7、優選地，通過偏光顯微鏡確定所述鈣華樣品的微觀孔隙分布位置，包括：
8、將所述鈣華樣品置于所述偏光顯微鏡下觀察，在20-50倍放大情況下，初步判斷所述鈣華樣品的物質組分以及微觀孔隙的分布位置；在50倍情況下觀察硅藻化石，在所述鈣華樣品上標記。
9、優選地，通過掃描電鏡觀察所述鈣華樣品的微觀孔隙特征，包括：
10、在所述微觀孔隙分布位置上貼電膠布，在所述鈣華樣品上鍍金膜；
11、根據所述鈣華樣品上的標記，在300倍數下確定所述微觀孔隙分布位置，在5000-8000倍數下對微觀孔隙進行觀察，分析孔隙發育特征。
12、優選地，通過能譜儀確定所述鈣華樣品的組分，劃分孔隙類型，包括：
13、在偏光顯微鏡和掃描電鏡觀察的基礎上，對于已確定的組分，根據孔隙特征直接劃分孔隙類型；
14、對于不確定組分，通過所述能譜儀進行能譜分析，確定物質組分，劃分孔隙類型。
15、優選地，所述孔隙類型包括：生物殘留孔道、氣體擴散孔穴、顆粒間微裂隙、溶蝕孔隙。
16、第二方面，本公開實施例還提供了一種基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定系統，包括：
17、存儲器，存儲有計算機可執行指令；
18、處理器，所述處理器運行所述存儲器中的計算機可執行指令，執行以下步驟：
19、采集鈣華樣品并制樣，劃分所述鈣華樣品的巖相類型；
20、通過偏光顯微鏡確定所述鈣華樣品的微觀孔隙分布位置；
21、通過掃描電鏡觀察所述鈣華樣品的微觀孔隙特征；
22、通過能譜儀確定所述鈣華樣品的組分，劃分孔隙類型。
23、優選地，通過偏光顯微鏡確定所述鈣華樣品的微觀孔隙分布位置，包括：
24、將所述鈣華樣品置于所述偏光顯微鏡下觀察，在20-50倍放大情況下，初步判斷所述鈣華樣品的物質組分以及微觀孔隙的分布位置；在50倍情況下觀察硅藻化石，在所述鈣華樣品上標記。
25、優選地，通過掃描電鏡觀察所述鈣華樣品的微觀孔隙特征，包括：
26、在所述微觀孔隙分布位置上貼電膠布，在所述鈣華樣品上鍍金膜；
27、根據所述鈣華樣品上的標記，在300倍數下確定所述微觀孔隙分布位置，在5000-8000倍數下對微觀孔隙進行觀察，分析孔隙發育特征。
28、優選地，通過能譜儀確定所述鈣華樣品的組分，劃分孔隙類型，包括：
29、在偏光顯微鏡和掃描電鏡觀察的基礎上，對于已確定的組分，根據孔隙特征直接劃分孔隙類型；
30、對于不確定組分，通過所述能譜儀進行能譜分析，確定物質組分，劃分孔隙類型。
31、優選地，所述孔隙類型包括：生物殘留孔道、氣體擴散孔穴、顆粒間微裂隙、溶蝕孔隙。
32、其有益效果在于：
33、(1)本專利技術采用偏光顯微鏡及掃描電鏡鑒定鈣華的微觀孔隙可有效解決目前存在的直接利用掃描電鏡觀察鈣華微觀孔隙時，微觀孔隙發現難、類型劃分難、觀察時間長等問題，導致實驗以及科研效率低。
34、(2)本專利技術將偏光顯微鏡和掃描電鏡的使用結合起來，樣品制作、實驗步驟簡單，能夠快速定位微觀孔隙的位置進行觀察。同時，能在偏光顯微鏡的基礎上利用能譜儀對不確定組分進行分析，為鈣華微觀孔隙類型劃分提供依據。
35、本專利技術的方法和裝置具有其它的特性和優點，這些特性和優點從并入本文中的附圖和隨后的具體實施方式中將是顯而易見的，或者將在并入本文中的附圖和隨后的具體實施方式中進行詳細陳述，這些附圖和具體實施方式共同用于解釋本專利技術的特定原理。
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1.一種基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法，其中，通過偏光顯微鏡確定所述鈣華樣品的微觀孔隙分布位置，包括：
3.根據權利要求2所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法，其中，通過掃描電鏡觀察所述鈣華樣品的微觀孔隙特征，包括：
4.根據權利要求1所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法，其中，通過能譜儀確定所述鈣華樣品的組分，劃分孔隙類型，包括：
5.根據權利要求1所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法，其中，所述孔隙類型包括：生物殘留孔道、氣體擴散孔穴、顆粒間微裂隙、溶蝕孔隙。
6.一種基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定系統，其特征在于，該系統包括：
7.根據權利要求6所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定系統，其中，通過偏光顯微鏡確定所述鈣華樣品的微觀孔隙分布位置，包括：
8.根據權利要求7所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定系統，其中，通過掃描電鏡觀察所述
9.根據權利要求6所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定系統，其中，通過能譜儀確定所述鈣華樣品的組分，劃分孔隙類型，包括：
10.根據權利要求6所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定系統，其中，所述孔隙類型包括：生物殘留孔道、氣體擴散孔穴、顆粒間微裂隙、溶蝕孔隙。
...【技術特征摘要】
1.一種基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法，其中，通過偏光顯微鏡確定所述鈣華樣品的微觀孔隙分布位置，包括：
3.根據權利要求2所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法，其中，通過掃描電鏡觀察所述鈣華樣品的微觀孔隙特征，包括：
4.根據權利要求1所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法，其中，通過能譜儀確定所述鈣華樣品的組分，劃分孔隙類型，包括：
5.根據權利要求1所述的基于偏光顯微鏡和掃描電鏡的鈣華孔隙確定方法，其中，所述孔隙類型包括：生物殘留孔道、氣體擴散孔穴、顆粒間微裂隙、溶蝕孔隙。
【專利技術屬性】
技術研發人員：毛翔，汪新偉，曹銳，吳陳冰潔，羅璐，孫少川，高楠安，蒙暉仁，
申請(專利權)人：中國石油化工股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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