【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及放射性檢測，具體涉及一種能夠同時對α/β/γ/n射線進行探測的方法。
技術介紹
1、放射性粉塵、核事故放射性泄露、次生核輻射災害等都將導致放射性污染。放射性沾染測量的應用場合中，一般同時存在α/β/γ/n射線，形成混合輻射場。現有儀器中，α/β射線一般是用同一個設備實現探測，γ/n射線一般是單獨監測，現在也有γ/n混合探測劑量計，因此在這種混合輻射場就需要使用2到3中劑量計進行2到3次的測量，過程繁瑣，設備數量多且不利于隨身攜帶。
技術實現思路
1、針對上述現有技術的不足，本專利技術所要解決的技術問題是：如何提供一種能夠同時測量混合場中α/β/γ/n粒子，減少設備攜帶數量的探測方法。
2、為了解決上述技術問題，本專利技術采用如下技術方案：
3、一種能夠同時對α/β/γ/n射線進行探測的方法，獲取探測器，探測器包括外殼，外殼內設置有隔板將外殼內分隔為上、下檢測層，外殼和隔板由能夠同時對α/β射線進行屏蔽的材料制作而成，外殼上對應上檢測層的位置開設有檢測口，上檢測層內安裝有能夠對α/β射線進行探測的閃爍體ⅰ以及對應的探測電路ⅰ，下檢測層內安裝有能夠對γ/n射線進行探測的閃爍體ⅱ以及對應的探測電路ⅱ；
4、將探測器置于在待檢測輻射環境中，利用閃爍體ⅰ以及探測電路ⅰ獲取α/β射線的總響應曲線，分別計算兩條曲線的prompt部分和delayed部分的面積，利用prompt部分的面積除以delayed部分的面積得到prompt部分與delaye
5、利用閃爍體ⅱ以及探測電路ⅱ獲取γ/n射線的總響應曲線，分別計算兩條曲線的prompt部分和delayed部分的面積，利用prompt部分的面積除以delayed部分的面積得到prompt部分與delayed部分的比值，通過比值大小區分γ/n射線的信號，進而探測γ/n射線各自的輻射強度。
6、在本專利技術中，α/β射線的穿透能力較弱，隔板能夠同時對α/β射線進行阻擋，因此在混合輻射場中，α/β射線只能夠通過檢測口進入到上檢測層中卻無法進入到下檢測層內，而γ/n射線穿透能力強，能夠穿透外殼進入到下檢測層內，再結合psd甄別算法通過比值區分α/β/γ/n射線，進而分別探測得到各射線的輻射強度。
7、作為優化，所述外殼上還可拆卸式連接有用于對所述檢測口進行遮蔽的殼蓋，殼蓋由能夠同時對α/β射線進行屏蔽的材料制作而成。在蓋上殼蓋的時候，由于α/β射線無法穿透，而γ/n射線可以穿透，因此還可以單獨對γ/n射線進行探測。
8、作為優化，所述閃爍體ⅰ為含zns(ag)涂層閃爍體，所述閃爍體ⅱ為li塑料閃爍體。
9、作為優化，所述含zns(ag)涂層閃爍體為薄片狀且面朝所述檢測口所在方向設置。
10、相比現有技術，本專利技術能夠實現一個探測器同時測量混合場中α/β/γ/n粒子，能夠減輕測量人員的負載，探測更加方便。
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1.一種能夠同時對α/β/γ/n射線進行探測的方法，其特征在于：
2.根據權利要求1所述的一種能夠同時對α/β/γ/n射線進行探測的方法，其特征在于：所述外殼上還可拆卸式連接有用于對所述檢測口進行遮蔽的殼蓋，殼蓋由能夠同時對α/β射線進行屏蔽的材料制作而成。
3.根據權利要求1所述的一種能夠同時對α/β/γ/n射線進行探測的方法，其特征在于：所述閃爍體Ⅰ為含ZnS(Ag)涂層閃爍體，所述閃爍體Ⅱ為Li塑料閃爍體。
4.根據權利要求3所述的一種能夠同時對α/β/γ/n射線進行探測的方法，其特征在于：所述含ZnS(Ag)涂層閃爍體為薄片狀且面朝所述檢測口所在方向設置。
【技術特征摘要】
1.一種能夠同時對α/β/γ/n射線進行探測的方法，其特征在于：
2.根據權利要求1所述的一種能夠同時對α/β/γ/n射線進行探測的方法，其特征在于：所述外殼上還可拆卸式連接有用于對所述檢測口進行遮蔽的殼蓋，殼蓋由能夠同時對α/β射線進行屏蔽的材料制作而成。
3.根據權利要求1所...
【專利技術屬性】
技術研發人員：史元清，陳漱宇，韓寧，趙培茜，黃明偉，楊歐，
申請(專利權)人：重慶建安儀器有限責任公司，
類型：發明
國別省市：
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