【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及電壓故障檢測，具體涉及一種適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測方法及裝置。
技術介紹
1、電壓暫降通常由電網、變電設施故障或者負荷大幅變化導致，是一種電網電壓均方根值突然下降至額定電壓的90％～10％，持續0.01s～1min后恢復正常的短時擾動現象。由于在輸配電系統中雷擊等惡劣氣候導致的電力系統故障、短路故障、大型電機啟動和電容器投切等復雜負載不可避免地存在，電壓暫降故障的發生較為頻繁。
2、針對電壓暫降問題，通常采用動態電壓恢復器、不間斷電源等加以治理，這些治理裝置的性能依賴于電網電壓暫降的檢測速度和精度。作為其控制策略中的重要環節，提高適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測的速度和精度尤為重要。
3、現有三相不對稱電壓檢測多采用dq變換法，該方法需要電壓頻率已知用于進行park變換，同時除基于求導構造的αβ-dq變換法(該方法易放大系統噪聲)外均需通過延時構造一相或兩相電壓，并在此基礎上進行坐標變換以計算電壓幅值和相位，這一定程度上制約了檢測速度。
技術實現思路
1、為了克服上述缺陷，本專利技術提出了一種適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測方法及裝置。
2、第一方面，提供一種適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測方法，所述適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測方法包括：
3、基于待測采樣周期之前兩個采樣周期的電壓采樣值對待測采樣周期的電壓采樣值進行一次濾波，得到待測采樣周期的一次濾波值；
4、采用二
5、對所述待測采樣周期的一次濾波值和二次濾波值進行加權平均，得到待測采樣周期的加權平均值；
6、基于所述待測采樣周期的加權平均值確定待測采樣周期的電壓幅值和相角。
7、優選的，所述待測采樣周期的一次濾波值如下：
8、
9、上式中，為第k個采樣周期的一次濾波值，第k個采樣周期為待測采樣周期，分別為第k、k-1和k-2個采樣周期的電壓采樣值的平方，ts為采樣周期數量，w0為電網標稱角頻率。
10、進一步的，所述待測采樣周期的二次濾波值如下：
11、
12、上式中，分別為第k、k-1、k-2采樣周期的二次濾波值，ξ為阻尼系數，wc為截止頻率，分別為第k-1和k-2個采樣周期的一次濾波值。
13、進一步的，所述待測采樣周期的加權平均值如下：
14、
15、上式中，f(k)為第k個采樣周期的加權平均值，w(k)為第k個采樣周期的權重系數。
16、進一步的，所述第k個采樣周期的權重系數如下：
17、
18、上式中，e為自然常數，β為預設可調參數，kd為電壓發生跌落的采樣周期。
19、進一步的，所述電壓發生跌落的采樣周期的更新過程包括：
20、基于第k個采樣周期的一次濾波值確定第k個采樣周期的電壓跌落標志位；
21、當第k個采樣周期的電壓跌落標志位為1時，更新kd＝k。
22、進一步的，所述第k個采樣周期的電壓跌落標志位如下：
23、
24、上式中，flagk為第k個采樣周期的電壓跌落標志位，α為電壓跌落檢測閾值。
25、優選的，所述待測采樣周期的電壓幅值和相角如下：
26、
27、φ(k)＝asin(u(k)/a(k))
28、上式中，a(k)為第k個采樣周期的電壓幅值，第k個采樣周期為待測采樣周期，f(k)為第k個采樣周期的加權平均值，φ(k)為第k個采樣周期的電壓相角，u(k)為第k個采樣周期的電壓采樣值。
29、第二方面，提供一種適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測裝置，所述適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測裝置包括：
30、第一濾波模塊，用于基于待測采樣周期之前兩個采樣周期的電壓采樣值對待測采樣周期的電壓采樣值進行一次濾波，得到待測采樣周期的一次濾波值；
31、第二濾波模塊，用于采用二階低通濾波器對所述待測采樣周期的一次濾波值進行二次濾波，得到待測采樣周期的二次濾波值；
32、第三濾波模塊，用于對所述待測采樣周期的一次濾波值和二次濾波值進行加權平均，得到待測采樣周期的加權平均值；
33、確定模塊，用于基于所述待測采樣周期的加權平均值確定待測采樣周期的電壓幅值和相角。
34、優選的，所述待測采樣周期的一次濾波值如下：
35、
36、上式中，為第k個采樣周期的一次濾波值，第k個采樣周期為待測采樣周期，分別為第k、k-1和k-2個采樣周期的電壓采樣值的平方，ts為采樣周期數量，w0為電網標稱角頻率。
37、進一步的，所述待測采樣周期的二次濾波值如下：
38、
39、上式中，分別為第k、k-1、k-2采樣周期的二次濾波值，(為阻尼系數，wc為截止頻率，分別為第k-1和k-2個采樣周期的一次濾波值。
40、進一步的，所述待測采樣周期的加權平均值如下：
41、
42、上式中，v(k)為第k個采樣周期的加權平均值，w(k)為第k個采樣周期的權重系數。
43、進一步的，所述第k個采樣周期的權重系數如下：
44、
45、上式中，e為自然常數，β為預設可調參數，kd為電壓發生跌落的采樣周期。
46、進一步的，所述電壓發生跌落的采樣周期的更新過程包括：
47、基于第k個采樣周期的一次濾波值確定第k個采樣周期的電壓跌落標志位；
48、當第k個采樣周期的電壓跌落標志位為1時，更新kd＝k。
49、進一步的，所述第k個采樣周期的電壓跌落標志位如下：
50、
51、上式中，flagk為第k個采樣周期的電壓跌落標志位，α為電壓跌落檢測閾值。
52、優選的，所述待測采樣周期的電壓幅值和相角如下：
53、
54、φ(k)＝asin(u(k)/a(k))
55、上式中，a(k)為第k個采樣周期的電壓幅值，第k個采樣周期為待測采樣周期，f(k)為第k個采樣周期的加權平均值，φ(k)為第k個采樣周期的電壓相角，u(k)為第k個采樣周期的電壓采樣值。
56、第三方面，提供一種計算機設備，包括：一個或多個處理器；
57、所述處理器，用于執行一個或多個程序；
58、當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行時，實現所述的適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測方法。
59、第四方面，提供一種計算機可讀存儲介質，其上存有計算機程序，所述計算機程序被執行時，實現所述的適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測方法。
60、本專利技術上述一個或多個技術本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測采樣周期的一次濾波值如下：
3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述待測采樣周期的二次濾波值如下：
4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述待測采樣周期的加權平均值如下：
5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述第k個采樣周期的權重系數如下：
6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述電壓發生跌落的采樣周期的更新過程包括：
7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述第k個采樣周期的電壓跌落標志位如下：
8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測采樣周期的電壓幅值和相角如下：
9.一種適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：
10.如權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述待測采樣周期的一次濾波值如下：
11.如權利要求10所述的裝置，其特征在于，所述待測采樣周期的二次濾波值如下：
...【技術特征摘要】
1.一種適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測采樣周期的一次濾波值如下：
3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述待測采樣周期的二次濾波值如下：
4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述待測采樣周期的加權平均值如下：
5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述第k個采樣周期的權重系數如下：
6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述電壓發生跌落的采樣周期的更新過程包括：
7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述第k個采樣周期的電壓跌落標志位如下：
8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測采樣周期的電壓幅值和相角如下：
9.一種適用于電壓暫降檢測的電壓幅值、相位檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：
10.如權利要求9所述的裝置，其特征在于...
【專利技術屬性】
技術研發人員：李官軍，陳國偉，相中華，牛勃，馬飛越，
申請(專利權)人：中國電力科學研究院有限公司，
類型：發明
國別省市：
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