【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及電子設計自動化的，尤其涉及一種更為簡單的集成電路的物理驗證系統及方法。
技術介紹
1、目前，在集成電路設計過程中，物理驗證是確保集成電路設計符合制造規范的關鍵步驟。calibre等工具采用svrf(standard?verification?rule?format)作為其規則定義語言，然而，隨著集成電路設計復雜度的增加，svrf規則的編寫與維護變得日益繁瑣，導致驗證周期延長，開發成本上升。
2、此外，svrf的復雜性也影響了新工程師的學習曲線，限制了團隊的生產力提升。因此，開發一種更簡潔、易用且高效的規則驗證格式語言變得尤為重要。
3、因此，提供一種更為簡單、易操作的集成電路的物理驗證方法是待解決的技術問題。
技術實現思路
1、為了解決現有技術中采用svrf對規模越來越大的集成電路進行物理驗證腳本編寫時，代碼日益繁雜的技術問題，本專利技術提出了一種集成電路的物理驗證系統及方法。
2、本專利技術提出的集成電路的物理驗證方法，包括：
3、定義規則驗證語法，定義規則驗證語法包括：定義輸入語句、命令語句和輸出語句；定義命令語句時，若是該命令語句用于對層進行操作，則被輸入的層、選項以及數值或選項的開關用標注符號進行標注；
4、針對于待驗證的集成電路，采用所述規則驗證語法編輯所述待驗證的集成電路的物理驗證腳本；
5、基于所述規則驗證語法對所述物理驗證腳本進行物理驗證，并輸出解析結果。
6、進一步，
7、進一步，所述賦值符號為:＝、＝＝或:≈。
8、進一步，對集成電路的層進行聲明和生成操作時，采用m.n或m-n的形式表示層，其中m為layer?map的值，n為datatype的值。
9、進一步，當采用標注符號對待賦值的多個層變量進行標注，解析時以對一個數據集的多個元素進行分別賦值來進行解析。
10、進一步，所述標注符號為[]、{}或()。
11、進一步，所述第二符號進行給標注的層為操作對應的一個層或者多個層。
12、進一步，當多個標注符號嵌套使用時，對應于內部的標注符號的操作命令的操作結果無直接賦值對象時，在編譯時采用對應數量的臨時層進行接收。
13、進一步，基于所述規則驗證語法對所述物理驗證腳本進行物理驗證，并輸出解析結果包括：
14、基于所述規則驗證語法進行詞法分析和語法分析；
15、構建抽象語法樹；
16、將抽象語法樹轉換成易于理解的格式。
17、本專利技術提出的集成電路的物理驗證系統，采用上述技術方案的集成電路的物理驗證方法對待驗證的版圖文件進行物理驗證，所述集成電路的物理驗證系統包括：
18、驗證語言模塊，接收用戶定義的規則驗證語法文件；
19、腳本模塊，接收用戶輸入的待驗證的版圖文件對應的物理驗證腳本文件；
20、編譯模塊，基于所述規則驗證語法文件對所述物理驗證腳本文件進行物理驗證，并輸出解析結果。
21、相比較于現有技術，rvrf在實現相同功能的前提下，表現出顯著的優勢。首先，rvrf的recipe(腳本)長度更短，內容更加簡潔，這不僅節省了存儲空間，還提高了處理速度。其次，rvrf的命令語法更加規范和直觀，使得工程師更容易學習、掌握和維護。最后，rvrf支持多計算層同時輸出的功能，使其在需要處理多個結果的場景中更為高效和便捷。
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1.一種集成電路的物理驗證方法，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，定義命令語句時，采用用戶自定義變量和賦值符號對集成電路的層進行聲明和生成操作。
3.如權利要求2所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，所述賦值符號為:＝、＝＝或:≈。
4.如權利要求2所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，對集成電路的層進行聲明和生成操作時，采用M.N或M-N的形式表示層，其中M為layer?map的值，N為Datatype的值。
5.如權利要求1所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，當采用標注符號對待賦值的多個層變量進行標注，解析時以對一個數據集的多個元素進行分別賦值來進行解析。
6.如權利要求1或5所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，所述標注符號為[]、{}或()。
7.如權利要求5所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，所述第二符號進行給標注的層為操作對應的一個層或者多個層。
8.如權利要求5所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，當多個標注符號
9.如權利要求1所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，基于所述規則驗證語法對所述物理驗證腳本進行物理驗證，并輸出解析結果包括：
10.一種集成電路的物理驗證系統，其特征在于，采用如權利要求1-9任意一項所述的集成電路的物理驗證方法對待驗證的版圖文件進行物理驗證，所述集成電路的物理驗證系統包括：
...【技術特征摘要】
1.一種集成電路的物理驗證方法，其特征在于，包括：
2.如權利要求1所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，定義命令語句時，采用用戶自定義變量和賦值符號對集成電路的層進行聲明和生成操作。
3.如權利要求2所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，所述賦值符號為:＝、＝＝或:≈。
4.如權利要求2所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，對集成電路的層進行聲明和生成操作時，采用m.n或m-n的形式表示層，其中m為layer?map的值，n為datatype的值。
5.如權利要求1所述的集成電路的物理驗證方法，其特征在于，當采用標注符號對待賦值的多個層變量進行標注，解析時以對一個數據集的多個元素進行分別賦值來進行解析。
6.如權利要求1或5所述的集...
【專利技術屬性】
技術研發人員：付靜，王宏業，趙寬紅，毛子彧，
申請(專利權)人：深圳國微芯科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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