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【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種陶瓷基座,尤其,涉及一種氣孔的異常放電防止銷。
技術介紹
1、通常,半導體裝置或顯示裝置是將包括介電層及金屬層的多個薄膜層依次層疊在玻璃基板、柔性基板或半導體晶圓基板上,然后通過圖案化的半導體工藝來制造。尤其,在反應離子刻蝕(reactive?ion?etching,rie)設備等中,可設置有陶瓷基座,用于支撐玻璃基板、柔性基板及半導體晶圓基板等并用于圖案化的干蝕刻工藝等。所述陶瓷基座設置有高頻(rf)電極,因此也可在形成于基板上的薄膜層的蝕刻工藝(etching?process)等中用于形成等離子體。進而,所述陶瓷基座還可設置有用于支撐基板的吸盤電極或用于加熱基板的發熱線等。
2、圖1a至圖1c是用于說明現有陶瓷基座的問題的圖。圖1a及圖1b是示出在現有陶瓷基座的干蝕刻工序等中在氣孔部分中發生的電弧(arcing)的實例的圖。圖1c是示出插入現有陶瓷基座的氣孔中的放電防止銷的磨損狀態的圖。
3、參照圖1a至圖1c,通常,陶瓷基座的壽命為5000小時~15000小時,根據使用環境,可使用約10個月~30個月。此時,適用于陶瓷基座的氣孔部分的放電防止銷長期暴露在等離子體中并產生如圖1c所示的磨損。由此,當通常以小于1mm的直徑插入到直徑為1mm以下的氣孔中的所述放電防止銷的耐等離子體特性欠佳時,如圖1a及圖1b所示,存在嚴重磨損以致誘發電弧的問題。這決定了陶瓷基座的壽命,因此需要對其進行改善。
技術實現思路
1、專利技術要解決的問題
< ...【技術保護點】
1.一種陶瓷基座,其特征在于,
2.根據權利要求1所述的陶瓷基座,其特征在于,
3.根據權利要求1所述的陶瓷基座,其特征在于,
4.根據權利要求1所述的陶瓷基座,其特征在于,
5.根據權利要求1所述的陶瓷基座,其特征在于,
6.根據權利要求1所述的陶瓷基座,其特征在于,
7.根據權利要求1所述的陶瓷基座,其特征在于,
【技術特征摘要】
1.一種陶瓷基座,其特征在于,
2.根據權利要求1所述的陶瓷基座,其特征在于,
3.根據權利要求1所述的陶瓷基座,其特征在于,
4.根據權利要求1所述的陶瓷基座...
【專利技術屬性】
技術研發人員:趙美娜,金恩妃,
申請(專利權)人:美科陶瓷科技有限公司,
類型:發明
國別省市:
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