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    X光檢測輔助裝置及其使用方法制造方法及圖紙

    技術(shù)編號:44482721 閱讀:5 留言:0更新日期:2025-03-04 17:49
    本申請?zhí)峁┝艘环NX光檢測輔助裝置及其使用方法,其中X光檢測輔助裝置包括底座組件、補償件以及驅(qū)動組件;其中,補償件設(shè)于底座組件上,補償件上穿設(shè)有若干個通孔,每一通孔用于容納一圓柱形待測物,驅(qū)動組件設(shè)于底座組件上,驅(qū)動組件與圓柱形待測物連接,驅(qū)動組件用于帶動圓柱形待測物相對于補償件轉(zhuǎn)動,和/或,驅(qū)動組件用于將圓柱形待測物推出通孔;本申請的X光檢測輔助裝置及其使用方法通過一補償件對多個圓柱形待測物進行厚度補償,并通過驅(qū)動組件同時帶動多個圓柱形待測物相對于補償件運動,在無需拆卸補償件的情況下快速完成對多個圓柱形待測物X軸、Y軸相互垂直的兩個方向上的X光檢測,提高了檢測效率。

    【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

    本申請屬于x光檢測,尤其涉及一種x光檢測輔助裝置及其使用方法。


    技術(shù)介紹

    1、x光探傷是工業(yè)金屬類產(chǎn)品生產(chǎn)過程中常用的一種無損探傷方式,能夠?qū)Ξa(chǎn)品的內(nèi)部質(zhì)量進行檢測,減少產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂的的風險,x光檢測是當x射線穿透待測組織后,由于組織的密度、厚度不同在底片上呈現(xiàn)出顏色深淺不一的片區(qū),再根據(jù)底片上顏色分布的形態(tài)、大小、深淺等進行待測組織的內(nèi)部缺陷評定。

    2、圓柱形金屬材料在進行x光拍攝時,因其厚度存在從小到大、從大到小的變化,故而在底片上呈現(xiàn)出的是從深到淺、從淺到深的影像,無法進行缺陷的判定和評級,最終導致無法實現(xiàn)圓柱形金屬材料的x光檢測;現(xiàn)有技術(shù)中,對于圓柱形金屬材料進行無損探傷的方式包括:采用太赫茲三維層析成像系統(tǒng)實現(xiàn)圓柱體材料的無損探傷,或者采用補償塊進行厚度補償。

    3、但是,太赫茲三維層析成像系統(tǒng)價格高昂,且此設(shè)備多用于非金屬材料及復合材料無損檢測;而采用補償塊對圓柱形金屬材料進行厚度補償時,每拍一次都必須重新擺放,而每一根圓柱形金屬材料都需要x軸、y軸兩個方向的檢測來確定缺陷體積和位置并避免出現(xiàn)漏檢,導致實際操作時費時費力,針對批量生產(chǎn)的產(chǎn)品,檢測效率非常的低。


    技術(shù)實現(xiàn)思路

    1、針對相關(guān)技術(shù)中存在的不足之處,本申請?zhí)峁┝艘环Nx光檢測輔助裝置及其使用方法,通過一補償件對多個圓柱形待測物進行厚度補償,并通過驅(qū)動組件同時帶動多個圓柱形待測物相對于補償件運動,在無需拆卸補償件的情況下快速完成對多個圓柱形待測物x軸、y軸相互垂直的兩個方向上的x光檢測,提高了檢測效率。

    2、一方面,本申請?zhí)峁┮环Nx光檢測輔助裝置,包括:

    3、底座組件;

    4、補償件,所述補償件設(shè)于所述底座組件上,所述補償件上穿設(shè)有若干個通孔,每一所述通孔用于容納一圓柱形待測物;

    5、驅(qū)動組件,所述驅(qū)動組件設(shè)于所述底座組件上,所述驅(qū)動組件與所述圓柱形待測物連接,所述驅(qū)動組件用于帶動所述圓柱形待測物相對于所述補償件轉(zhuǎn)動,和/或,所述驅(qū)動組件用于將所述圓柱形待測物推出所述通孔。

    6、在一些實施例中,所述驅(qū)動組件進一步包括:

    7、第一安裝座;

    8、第一傳動件,若干個所述第一傳動件對應(yīng)所述通孔設(shè)于所述補償件的一端,所述第一傳動件的一端伸入所述通孔內(nèi)與所述圓柱形待測物連接,所述第一傳動件的另一端設(shè)于所述第一安裝座上;

    9、第一縱向驅(qū)動件,所述第一縱向驅(qū)動件設(shè)于所述底座組件上,所述第一縱向驅(qū)動件的作動端與所述第一安裝座連接,所述第一縱向驅(qū)動件用于通過所述安裝座以及所述第一傳動件將所述圓柱形待測物從通孔內(nèi)推出。

    10、在一些實施例中,所述驅(qū)動組件進一步包括:

    11、第二安裝座,所述第二安裝座設(shè)于所述底座組件上;

    12、第二傳動件,若干個所述第二傳動件對應(yīng)所述通孔設(shè)于所述補償件的一端,所述第二傳動件的一端伸入所述通孔內(nèi)與所述圓柱形待測物連接,所述第二傳動件的另一端轉(zhuǎn)動設(shè)于所述安裝座上;

    13、第一橫向驅(qū)動件,所述第一橫向驅(qū)動件設(shè)于所述底座組件上,所述第一橫向驅(qū)動件的作動端與所述第二傳動件連接,所述第一橫向驅(qū)動件用于通過所述第二傳動件使所述圓柱形待測物相對于所述補償件轉(zhuǎn)動。

    14、在一些實施例中,所述驅(qū)動組件進一步包括:

    15、第三安裝座;

    16、第三傳動件,若干個第三所述傳動件對應(yīng)所述通孔設(shè)于所述補償件的一端,所述第三傳動件的一端伸入所述通孔內(nèi)與所述圓柱形待測物連接,所述第三傳動件的另一端轉(zhuǎn)動設(shè)于所述安裝座上;

    17、第二縱向驅(qū)動件,所述第二縱向驅(qū)動件設(shè)于所述底座組件上,所述第二縱向驅(qū)動件的作動端與所述安裝座連接,所述第二縱向驅(qū)動件用于通過所述安裝座以及所述第三傳動件將所述圓柱形待測物從通孔內(nèi)推出;

    18、第二橫向驅(qū)動件,所述第二橫向驅(qū)動件設(shè)于所述底座組件上,所述第二橫向驅(qū)動件的作動端與所述第三傳動件連接,所述第二橫向驅(qū)動件用于通過所述第三傳動件使所述圓柱形待測物相對于所述補償件轉(zhuǎn)動。

    19、在一些實施例中,所述x光檢測輔助裝置還包括:

    20、齒輪套,所述齒輪套固設(shè)于所述第二傳動件或所述第三傳動件外;

    21、直齒條,所述直齒條設(shè)于所述齒輪套的一側(cè)并與其嚙合連接,所述直齒條與所述第一橫向驅(qū)動件或所述第二橫向驅(qū)動件的作動端連接;

    22、所述第一橫向驅(qū)動件或所述第二橫向驅(qū)動件通過所述直齒條與所述齒輪套帶動所述第二傳動件或所述第三傳動件轉(zhuǎn)動,從而使所述圓柱形待測物相對于所述補償件轉(zhuǎn)動。

    23、在一些實施例中,底座組件進一步包括:

    24、固定座,所述固定座用于安裝所述驅(qū)動組件;

    25、支撐架,所述支撐架的一端固設(shè)于所述固定座上,所述支撐架的另一端用于支撐所述補償件,以使所述補償件與所述固定座相隔預設(shè)間距。

    26、在一些實施例中,所述固定座進一步包括:

    27、第一部,所述第一部用于安裝所述第二縱向驅(qū)動件以及所述支撐架,所述第二縱向驅(qū)動件位于所述第一部與所述補償件之間;

    28、第二部,所述第二部垂直設(shè)于所述第一部上,所述第二部用于安裝所述第一橫向驅(qū)動件或所述第二橫向驅(qū)動件,以使所述第一橫向驅(qū)動件或所述第二橫向驅(qū)動件位于所述補償件的一側(cè)。

    29、在一些實施例中,所述通孔的內(nèi)徑不小于所述圓柱形待測物的最大圓形截面直徑,并且所述通孔兩端之間的間距不小于所述圓柱形待測物的最大高度。

    30、在一些實施例中,所述x光檢測輔助裝置還包括:

    31、二限位件,二所述限位件分別設(shè)于所述第一橫向驅(qū)動件或所述第二橫向驅(qū)動件的兩側(cè),所述限位件用于限制所述直齒條的行程,從而限制所述圓柱形待測物的轉(zhuǎn)動角度。

    32、另一方面,還提供一種x光檢測輔助裝置的使用方法,通過使用上述x光檢測輔助裝置對圓柱形待測物進行檢測,所述x光檢測輔助裝置包括底座組件、補償件以及驅(qū)動組件,所述x光檢測輔助裝置的使用方法包括:

    33、準備步驟,將多個所述圓柱形待測物分別裝入所述補償件的通孔內(nèi),并使所述圓柱形待測物與所述驅(qū)動組件連接;

    34、檢測步驟,通過x光檢測裝設(shè)有所述圓柱形待測物的所述補償件,以得到所述圓柱形待測物在第一方向上的圖像,通過所述驅(qū)動組件帶動所述圓柱形待測物繞其軸線轉(zhuǎn)動90°后,再通過x光檢測裝設(shè)有所述圓柱形待測物的所述補償件,以得到所述圓柱形待測物在第二方向上的圖像;

    35、拆卸步驟,通過所述驅(qū)動組件使所述圓柱形待測物沿其軸線方向運動,以使所述圓柱形待測物被推出所述補償件,通過取下所述圓柱形待測物并使所述驅(qū)動組件復位后以完成拆卸。

    36、綜上所述,本申請?zhí)峁┝艘环Nx光檢測輔助裝置及其使用方法,通過一補償件對多個圓柱形待測物進行厚度補償,并通過驅(qū)動組件同時帶動多個圓柱形待測物相對于補償件運動,在無需拆卸補償件的情況下快速完成對多個圓柱形待測物相互垂直的x軸、y軸兩個方本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護點】

    1.一種X光檢測輔助裝置,其特征在于,包括:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X光檢測輔助裝置,其特征在于,所述驅(qū)動組件進一步包括:

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X光檢測輔助裝置,其特征在于,所述驅(qū)動組件進一步包括:

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X光檢測輔助裝置,其特征在于,所述驅(qū)動組件進一步包括:

    5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的X光檢測輔助裝置,其特征在于,還包括:

    6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的X光檢測輔助裝置,其特征在于,底座組件進一步包括:

    7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的X光檢測輔助裝置,其特征在于,所述固定座進一步包括:

    8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X光檢測輔助裝置,其特征在于,所述通孔的內(nèi)徑不小于所述圓柱形待測物的最大圓形截面直徑,并且所述通孔兩端之間的間距不小于所述圓柱形待測物的最大高度。

    9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的X光檢測輔助裝置,其特征在于,還包括:

    10.一種X光檢測輔助裝置的使用方法,通過使用一種X光檢測輔助裝置對圓柱形待測物進行檢測,所述X光檢測輔助裝置包括底座組件、補償件以及驅(qū)動組件,其特征在于,所述X光檢測輔助裝置的使用方法包括:

    ...

    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種x光檢測輔助裝置,其特征在于,包括:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的x光檢測輔助裝置,其特征在于,所述驅(qū)動組件進一步包括:

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的x光檢測輔助裝置,其特征在于,所述驅(qū)動組件進一步包括:

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的x光檢測輔助裝置,其特征在于,所述驅(qū)動組件進一步包括:

    5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的x光檢測輔助裝置,其特征在于,還包括:

    6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的x光檢測輔助裝置,其特征在于,底座組件進一步包括:

    7.根據(jù)權(quán)利要求6所...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:王樂樂趙小梅張旭姚貝貝于婧李鵬蔣淑芳楊建軍曹長青張月琦秦永彪史曉慧琚鵬翀
    申請(專利權(quán))人:山西江淮重工有限責任公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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