【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及攝像頭檢測，特別是涉及一種在亮環境下檢測芯片異常的方法。
技術介紹
1、攝像頭模組是由電容、芯片等于元器件，連接器，軟性線路板、鏡頭+holder一體料等主要零部件組成，其中，芯片為攝像頭模組中尤為重要的一個部件，芯片的好壞決定了攝像頭模組的性能，因此在攝像頭模組出廠前需要對芯片的性能進行檢測。由于某些芯片的特性，在常規的測試中無法測試出芯片有無異常，從而不能保證芯片的性能。
技術實現思路
1、本專利技術的目的是克服現有技術中的不足之處，提供一種在亮環境下檢測芯片異常的方法。
2、本專利技術的目的是通過以下技術方案來實現的：
3、一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，包括以下步驟：
4、步驟1、設置測試光源，將待測攝像頭放置于測試光源下；
5、步驟2、調整測試光源的中心亮度值；
6、步驟3、獲取待測攝像頭位于測試光源下拍攝的中間區域圖片；
7、步驟4、計算中間區域圖片的亮度平均值；
8、步驟5、判斷中間區域圖片的亮度平均值并進行篩選。
9、在其中一種實施方式，在步驟1中，所述測試光源為5100k的光源。
10、在其中一種實施方式，在步驟1中，對測試光源設置一定的亮度值。
11、在其中一種實施方式，在步驟2中，
12、步驟2-1，將所述測試光源的中心亮度值調整至目標值，并設置自動調整曝光時間；
13、步驟2-2，設置待測攝像頭測試的
14、在其中一種實施方式，在步驟3中，中間區域圖片的大小為100*100piexl。
15、在其中一種實施方式，在步驟4中，所述計算中間區域圖片的亮度平均值為分別計算中間區域圖片中r、gr、gb、b通道的亮度平均值。
16、在其中一種實施方式，所述分別計算中間區域圖片中r、gr、gb、b通道的亮度平均值為計算每一通道中每個像素的亮度累加/個數。
17、在其中一種實施方式，在步驟4中，
18、步驟4-1，分別獲取待測攝像頭在測試光源中并在模擬gain值范圍中不同模擬gain值下拍攝的中心區域圖片；
19、步驟4-2，對拍攝的每張中心區域圖片分別計算r、gr、gb、b通道的亮度平均值。
20、在其中一種實施方式，在步驟4-1中，模擬gain值范圍為1x?gain-15x?gain，待測攝像頭在模擬gain值范圍中依次拍攝15張中心區域圖片并進行計算亮度平均值。
21、在其中一種實施方式，在步驟5中，
22、步驟5-1，設置標準線性擬合系數值；
23、步驟5-2，獲取在模擬gain值范圍內，待測攝像頭拍攝的中心區域圖片r、gr、gb、b亮度平均值的線性擬合系數；
24、步驟5-3，判斷r、gr、gb、b亮度的線性擬合系數是否大于標準線性擬合系數值；
25、步驟5-4，篩選具有小于標準線性擬合系數值的待測攝像頭，并判斷為不良。
26、與現有技術相比，本專利技術至少具有以下優點：
27、本專利技術的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法通過將待測攝像頭放置于測試光源下在模擬gain值范圍內依次進行拍攝并獲取中心區域圖片，對獲取到的中心區域圖片分別計算r、gr、gb、b通道的亮度平均值，并生成線性擬合系數與標準線性擬合系數進行比對，如大于標準線性擬合系數值，判斷待測攝像頭的芯片合格，如小于標準線性擬合系數值，則進行篩選并判斷為不良，以此來判斷出芯片的好壞，保證出廠攝像頭芯片的性能。
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1.一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟1中，所述測試光源為5100k的光源。
3.根據權利要求2所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟1中，對測試光源設置一定的亮度值。
4.根據權利要求3所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟2中，
5.根據權利要求4所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟3中，中間區域圖片的大小為100*100piexl。
6.根據權利要求5所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟4中，所述計算中間區域圖片的亮度平均值為分別計算中間區域圖片中R、GR、GB、B通道的亮度平均值。
7.根據權利要求6所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，所述分別計算中間區域圖片中R、GR、GB、B通道的亮度平均值為計算每一通道中每個像素的亮度累加/個數。
8.根據權利要求7所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的
9.根據權利要求8所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟4-1中，模擬gain值范圍為1x?gain-15x?gain，待測攝像頭在模擬gain值范圍中依次拍攝15張中心區域圖片并進行計算亮度平均值。
10.根據權利要求8所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟5中，
...【技術特征摘要】
1.一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟1中，所述測試光源為5100k的光源。
3.根據權利要求2所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟1中，對測試光源設置一定的亮度值。
4.根據權利要求3所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟2中，
5.根據權利要求4所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟3中，中間區域圖片的大小為100*100piexl。
6.根據權利要求5所述的一種在亮環境下檢測芯片異常的方法，其特征在于，在步驟4中，所述計算中間區域圖片的亮度平...
【專利技術屬性】
技術研發人員：林挺，林鋒芳，
申請(專利權)人：信利光電股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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