【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及的是一種航天質量控制量化分析方法，具體是一種基于專家庫與層次分析法的立方星改進fmea方法。
技術介紹
1、在立方星整星研發甚至航天質量控制領域，故障模式與影響分析(fmea)作為有效方法被廣泛引用，其傳統分析步驟是依據設計師經驗，對各個單板、單機級別的各類故障模式進行識別、匯總即完成工作。該步驟缺點在于僅能夠對于單機、單板的部分潛在故障模式進行定性分析，無法定量、定位具體的風險元器件個體，同時對于分系統級別以及整星的故障模式識別沒有直觀方法處理。
技術實現思路
1、本專利技術針對現有技術存在的上述不足，提出一種基于層次分析法的立方星改進fmea方法，結合立方星特點，采用量化客觀型專家庫以及層次分析法進行各類元器件級別故障模式和功能故障模式的綜合處理，一方面能夠快速定位潛在風險元器件以及帶來的后果分析，同時能夠科學得到分系統及整星的fmea分析結果。
2、本專利技術是通過以下技術方案實現的：
3、本專利技術涉及一種基于專家庫與層次分析法的立方星改進fmea方法，包括：
4、步驟1、根據立方星整體任務與分系統特點，組建fmea專家團隊，成員由衛星總師z共nz人、分系統主任設計師f共nf人、單機主管d共nd人與單板設計師b共nb人組成。
5、步驟2、分系統級fmea分析。
6、步驟3、采用層次分析法，針對各器件故障模式的sod風險因子，結合專家經驗信息，進行專家主觀權重ω＝[ω1?ω2?ω3]計算。
8、步驟5、計算整星fmea故障模式。
9、技術效果
10、本專利技術采用量化客觀型專家庫以及層次分析法進行各類元器件級別故障模式和功能故障模式的綜合處理，對于專家主觀打分結果進行切空間客觀平均權值修正，充分結合了專家豐富經驗以及客觀評價，給出風險評估結果。相比現有技術，本專利技術能夠快速定位潛在風險元器件以及帶來的風險后果分析的同時，能夠科學得到分系統及整星的fmea分析結果。
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1.一種基于專家庫與層次分析法的立方星改進FMEA方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的基于專家庫與層次分析法的立方星改進FMEA方法，其特征是，所述的步驟2，具體包括：
3.根據權利要求1所述的基于專家庫與層次分析法的立方星改進FMEA方法，其特征是，所述的步驟3，具體包括：
4.根據權利要求1所述的基于專家庫與層次分析法的立方星改進FMEA方法，其特征是，所述的步驟4，具體包括：
5.根據權利要求1所述的基于專家庫與層次分析法的立方星改進FMEA方法，其特征是，所述的步驟5，具體包括：
【技術特征摘要】
1.一種基于專家庫與層次分析法的立方星改進fmea方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的基于專家庫與層次分析法的立方星改進fmea方法，其特征是，所述的步驟2，具體包括：
3.根據權利要求1所述的基于專家庫與層次分析法的立方星改進fmea方法...
【專利技術屬性】
技術研發人員：王曉亮，黃益新，莫乾坤，慕忠成，沈強，吳樹范，王巍，周航，吳航，曹鑫，
申請(專利權)人：上海交通大學，
類型：發明
國別省市：
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