一種PINFET光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)技術方案

技術編號：44492441 閱讀：2 留言：0更新日期：2025-03-04 17:58

本發(fā)明專利技術涉及光纖測量技術領域，尤其為一種PINFET光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，包括主控單元、總電源模塊以及測試通道，所述測試通道包括與總電源模塊串聯一起的繼電器，所述繼電器串聯連接有電源模塊，所述電源模塊并聯連接有調制激光模塊、光功率測量模塊以及TEC溫控模塊，所述調制激光模塊通過光纖連接有測試座，所述測試座并聯連接有直流測試模塊和交流測試模塊，本發(fā)明專利技術可以有效解決現有技術無法實現單次多通道的器件測量，生產效率和測量效率較低，而且無法測量高/低溫下的器件性能參數，測試成本較高，測試難度較大的微調。

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【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及光纖測量，具體為一種pinfet光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)。

技術介紹

1、在光纖通訊和光纖傳感
中，pin/fet光接收組件是光纖陀螺中重要的組成部分。陀螺精度的好壞，在很大程度上取決于pin/fet光接收組件的性能和指標，從而對于pin/fet光接收組件的性能準確、快速、簡便的測量尤為重要，pin/fet光接收組件全溫性能測試主要包括為噪聲、帶寬、響應度、靈敏度、無光電壓值、線性最小光功率、線性飽和光功率、響應度變化比等，目前傳統(tǒng)方式的測量方式主要通過源表堆疊，通過不同功能性的源表來測量各個參數，系統(tǒng)組成復雜，體積龐大，單臺設備采購成本高，測試程序可移植性較差。

2、針對于上述問題，中國專利公開了《pin/fet光接收組件性能指標測試方法》(專利號2011101193366)，提出了測量pin/fet光接收組件性能測量的技術問題，但是該專利沒有給出將其方法用于實際的pin/fet器件參數測試，也沒有實現自動數據記錄與測量計算。專利《pin/fet光接收組件自動測試系統(tǒng)的制作方法》中提出集成多種功能的測量設備，包括高頻信號源、光源、電萬用表、電示波器、光功率計、光衰減器、高頻噪聲毫伏表等設備，并且實現了常溫狀態(tài)下自動數據記錄與測量計算，但是該專利技術無法實現單次多通道的器件測量，降低了生產效率及測量效率，而且無法測量高/低溫下的器件性能參數，提高了測試成本，增大了測試難度。

3、因此，需要一種pinfet光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)來解決上述
技術介紹
中提出的問題。</p>

技術實現思路

1、本專利技術的目的在于提供一種pi?nfet光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，以解決上述
技術介紹
中提出的問題。

2、為實現上述目的，本專利技術提供如下技術方案：

3、一種pi?nfet光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，包括主控單元、總電源模塊以及測試通道，所述測試通道包括與總電源模塊串聯一起的繼電器，所述繼電器串聯連接有電源模塊，所述電源模塊并聯連接有調制激光模塊、光功率測量模塊以及tec溫控模塊，所述調制激光模塊通過光纖連接有測試座，所述測試座并聯連接有直流測試模塊和交流測試模塊。

4、作為本專利技術優(yōu)選的方案，所述測試通道設置有多組，且多組測試通道與總電源模塊并聯連接在一起，且多組測試通道與主控電源并聯連接。

5、作為本專利技術優(yōu)選的方案，所述光功率測量模塊、調制激光模塊、tec溫控模塊、繼電器、直流測試模塊以及交流測試模塊均通過信號反饋線與主控電源并聯連接在一起。

6、作為本專利技術優(yōu)選的方案，所述繼電器為有源繼電器，所述電源模塊、tec溫控模塊均通過導線與測試座串聯連接在一起，所述測試座內與器件接觸的部分采用烏銅材質，在烏銅底部通過焊接與tec溫控模塊相連接。

7、作為本專利技術優(yōu)選的方案，所述電源模塊通過主控單元發(fā)送命令控制各繼電器的工作狀態(tài)，保證存在器件測量的通道有電壓輸入，空余通道則關閉電壓輸入。

8、作為本專利技術優(yōu)選的方案，所述上位機通過232串口與主控單元進行通信，上位機會根據主控單元上傳的各個模塊的反饋命令作為下一步的觸發(fā)信號，下發(fā)擬定程序控制及監(jiān)測相應測試通道內各個模塊的工作狀態(tài)。

9、作為本專利技術優(yōu)選的方案，所述總電源模塊與主控模塊通過電源線串聯連接在一起，所述光功率測量模塊與調制激光模塊之間通過測試線串聯在一起。

10、作為本專利技術優(yōu)選的方案，所述主控單元、總電源模塊以及測試通道采用統(tǒng)一的通信接口和通訊協(xié)議，調制激光模塊的光纖端與器件光纖通過法蘭盤連接。

11、與現有技術相比，本專利技術的有益效果是：

12、1、本專利技術中，通過將測試器件安裝在測試座中，主控單元來檢測相應測試通道中的繼電器反饋信號并將反饋信號上傳到上位機中，上位機下發(fā)觸發(fā)命令到主控單元，主控單元根據觸發(fā)命令程控直流電壓測試模塊和交流電壓測試模塊測試出該器件的無光電壓值與噪聲值，數值通過主控單元自動記錄并保存到上位機，并作為下個操作指令的觸發(fā)條件，主控單元接收到上一步觸發(fā)命令后會控制調制激光模塊輸出直流光信號到測試座，此時直流電壓測試模塊就會檢測器件的有光電壓值并上傳保存，再通過擬定算法根據有光電壓值及無光電壓值計算出器件響應度，數值通過主控單元自動記錄并保存到上位機，并作為下個操作指令的觸發(fā)條件，主控單元接收到上一步觸發(fā)命令后會控制調制激光模塊輸出調制光信號到測試座，此時交流電壓測試模塊就會實時記錄器件電壓輸出的峰峰值，通過不斷控制調制激光模塊輸出光信號的頻率大小，交流電壓測試模塊檢測的峰峰值會實時發(fā)生變化，直到器件輸出交流電壓峰峰值為最高點峰峰值的0.707倍，則認為該峰峰值對應的光信號頻率為器件的帶寬頻率，數值通過主控單元自動記錄并保存到上位機，并作為下個操作指令的觸發(fā)條件，主控單元接收到上一步觸發(fā)命令后會控制tec溫控模塊對測試座進行溫度調節(jié)，測試座內與器件接觸的部分采用烏銅材質，在烏銅底部通過焊接與tec溫控模塊相連接，這樣可以極大保證溫度的均勻性，同時tec溫控模塊帶有溫度反饋系統(tǒng)，可以通過上位機實時監(jiān)控器件溫度，保證器件高/低溫性能測量的準確性，當上位機監(jiān)控器件溫度到達-45℃或者70℃，直流電壓測試模塊測試出該溫度下的無光/有光電壓值，再通過擬定算法根據有光電壓值及無光電壓值計算出器件響應度變化比，數值通過主控單元自動記錄并保存到上位機，并作為下個操作指令的觸發(fā)條件，測試過程中，光功率測量模塊會實時測量調制激光模塊輸出光功率的穩(wěn)定性以保證測量結果的準確性，當發(fā)現光功率波動范圍產出限定值，會立即通過主控單元上傳到上位機進行報警，上位機接到報警命令會立即反饋到主控單元停止相應通道內的模塊工作狀態(tài)，集成了高功率tec模塊,控溫范圍達到-45℃～180℃，即可實現器件全溫性能測試，并實現器件單次多通道測試，且器件相互之前并無干擾，降低了測試系統(tǒng)的復雜性，具有易于操作、體積小、成本低，模塊化工作、批量測試等優(yōu)勢，解決了無法實現單次多通道的器件測量，生產效率和測量效率較低，而且無法測量高/低溫下的器件性能參數，測試成本較高，測試難度較大的問題。

本文檔來自技高網...

【技術保護點】

1.一種PINFET光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，包括主控單元、總電源模塊以及測試通道，其特征在于：所述測試通道包括與總電源模塊串聯一起的繼電器，所述繼電器串聯連接有電源模塊，所述電源模塊并聯連接有調制激光模塊、光功率測量模塊以及TEC溫控模塊，所述調制激光模塊通過光纖連接有測試座，所述測試座并聯連接有直流測試模塊和交流測試模塊。

2.根據權利要求1所述的一種PINFET光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，其特征在于：所述測試通道設置有多組，且多組測試通道與總電源模塊并聯連接在一起，且多組測試通道與主控電源并聯連接。

3.根據權利要求1所述的一種PINFET光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，其特征在于：所述光功率測量模塊、調制激光模塊、TEC溫控模塊、繼電器、直流測試模塊以及交流測試模塊均通過信號反饋線與主控電源并聯連接在一起。

4.根據權利要求1所述的一種PINFET光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，其特征在于：所述繼電器為有源繼電器，所述電源模塊、TEC溫控模塊均通過導線與測試座串聯連接在一起，所述測試座內與器件接觸的部分

5.根據權利要求1所述的一種PINFET光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，其特征在于：所述電源模塊通過主控單元發(fā)送命令控制各繼電器的工作狀態(tài)，保證存在器件測量的通道有電壓輸入，空余通道則關閉電壓輸入。

6.根據權利要求1所述的一種PINFET光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，其特征在于：所述上位機通過232串口與主控單元進行通信，上位機會根據主控單元上傳的各個模塊的反饋命令作為下一步的觸發(fā)信號，下發(fā)擬定程序控制及監(jiān)測相應測試通道內各個模塊的工作狀態(tài)。

7.根據權利要求1所述的一種PINFET光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，其特征在于：所述總電源模塊與主控模塊通過電源線串聯連接在一起，所述光功率測量模塊與調制激光模塊之間通過測試線串聯在一起。

8.根據權利要求1所述的一種PINFET光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，其特征在于：所述主控單元、總電源模塊以及測試通道采用統(tǒng)一的通信接口和通訊協(xié)議，調制激光模塊的光纖端與器件光纖通過法蘭盤連接。

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【技術特征摘要】

1.一種pinfet光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，包括主控單元、總電源模塊以及測試通道，其特征在于：所述測試通道包括與總電源模塊串聯一起的繼電器，所述繼電器串聯連接有電源模塊，所述電源模塊并聯連接有調制激光模塊、光功率測量模塊以及tec溫控模塊，所述調制激光模塊通過光纖連接有測試座，所述測試座并聯連接有直流測試模塊和交流測試模塊。

2.根據權利要求1所述的一種pinfet光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，其特征在于：所述測試通道設置有多組，且多組測試通道與總電源模塊并聯連接在一起，且多組測試通道與主控電源并聯連接。

3.根據權利要求1所述的一種pinfet光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，其特征在于：所述光功率測量模塊、調制激光模塊、tec溫控模塊、繼電器、直流測試模塊以及交流測試模塊均通過信號反饋線與主控電源并聯連接在一起。

4.根據權利要求1所述的一種pinfet光接收組件多通道全溫參數程控測量系統(tǒng)，其特征在于：所述繼電器為有源繼電器，所述電源模塊、tec溫控模塊均通過導線與測試座串聯連接在一起，所述測試座內與器件...

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：田振，張德川，
申請(專利權)人：武漢海飛通光電子科技有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：

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