【技術實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術涉及半導體，并且更具體地，涉及一種用于微控制器mcu芯片測試的裝置及方法。
技術介紹
1、微控制器(以下簡稱“mcu”)芯片是一種將微型計算機的主要功能集成在單個集成電路上的設備。它的組成通常包括中央處理器(cpu)、存儲器(包括程序存儲的閃存和數(shù)據(jù)存儲的ram)、輸入/輸出接口、定時器/計數(shù)器等關鍵功能模塊。mcu芯片的性能和功能可以通過在mcu芯片存儲器中燒寫特定程序、芯片自動執(zhí)行程序并輸出結果，測試芯片輸出實現(xiàn)定量或定性的評估。
2、用這種方式可以在應用層面判斷芯片的性能和功能水平，也可以用于判斷芯片在經(jīng)受靜電打擊、高溫貯存等惡劣條件后的功能完整性。行業(yè)內(nèi)mcu芯片的測試多在芯片的物理層或數(shù)據(jù)鏈路層進行，通過給予芯片特定組合的引腳特定的輸入、讀取輸入引腳的數(shù)據(jù)，判斷芯片性能好壞。
3、由于不同廠家、不同封裝的mcu的物理層和數(shù)據(jù)鏈路層差別巨大，測試設備成本高且不通用，這種測試方法只適用于芯片廠家對自家產(chǎn)品的測試。作為應用mcu芯片的電子設備廠家，該方法成本高、效率低、操作困難，不適合在選擇芯片供應商和比較不同供應商的mcu芯片性能時使用。
技術實現(xiàn)思路
1、針對上述問題，本專利技術提出了一種用于微控制器mcu芯片測試的裝置，包括：主控電路板、mcu測試母電路板和mcu測試子電路板；
2、所述mcu測試子電路板用于獲取待測mcu芯片的多路輸出參數(shù)，并將所述多路輸出參數(shù)通過所述mcu測試母電路板發(fā)送至所述主控電路板，所述主控電路板用于
3、所述mcu測試子電路板與待測mcu芯片通信連接。
4、可選的，mcu測試子電路板通過連接插座將多路輸出參數(shù)發(fā)送至mcu測試母電路板。
5、可選的，mcu測試子電路板包括多個，mcu測試母電路板通過多個器件連接插座分別和多個mcu測試子電路板進行通信。
6、可選的，主控電路板與mcu測試母電路板通過數(shù)據(jù)連接線進行數(shù)據(jù)通信。
7、可選的，mcu測試子電路板，包括：燒錄插座，所述燒錄插座用于為待測mcu芯片下載不同性能和功能測試的測試程序。
8、可選的，mcu測試母電路板通過插接不同的mcu測試子電路板，以對不同的待測mcu芯片進行測試。
9、可選的，輸出參數(shù)，包括如下中的至少一種：輸入電流、輸出電平及輸出信號頻率。
10、再一方面，本專利技術還提出了一種用于微控制器mcu芯片測試的方法，包括：
11、通過mcu測試子電路板獲取待測mcu芯片的多路輸出參數(shù)；
12、將所述多路輸出參數(shù)通過所述mcu測試母電路板發(fā)送至所述主控電路板；
13、通過主控電路板選擇所述多路輸出參數(shù)中的一路輸出參數(shù)進行輸出；
14、以所述一路輸出參數(shù)進行待測mcu芯片的性能或功能測試，直至所述多路輸出參數(shù)均完成測試。
15、再一方面，本專利技術還提供了一種計算設備，包括：一個或多個處理器；
16、處理器，用于執(zhí)行一個或多個程序；
17、當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執(zhí)行時，實現(xiàn)如上述所述的方法。
18、再一方面，本專利技術還提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存有計算機程序，所述計算機程序被執(zhí)行時，實現(xiàn)如上述所述的方法。
19、與現(xiàn)有技術相比，本專利技術的有益效果為：
20、本專利技術提供了一種用于微控制器mcu芯片測試的裝置，包括：主控電路板、mcu測試母電路板和mcu測試子電路板；所述mcu測試子電路板用于獲取待測mcu芯片的多路輸出參數(shù)，并將所述多路輸出參數(shù)通過所述mcu測試母電路板發(fā)送至所述主控電路板，所述主控電路板用于選擇所述多路輸出參數(shù)中的一路輸出參數(shù)進行輸出，以所述一路輸出參數(shù)進行待測mcu芯片的性能或功能測試，直至所述多路輸出參數(shù)均完成測試；所述mcu測試子電路板與待測mcu芯片通信連接。本專利技術裝置實施測試簡單高效且兼容性高。
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1.一種用于微控制器MCU芯片測試的裝置，其特征在于，包括：主控電路板、MCU測試母電路板和MCU測試子電路板；
2.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述MCU測試子電路板通過連接插座將多路輸出參數(shù)發(fā)送至MCU測試母電路板。
3.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述MCU測試子電路板包括多個，MCU測試母電路板通過多個器件連接插座分別和多個MCU測試子電路板進行通信。
4.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述主控電路板與MCU測試母電路板通過數(shù)據(jù)連接線進行數(shù)據(jù)通信。
5.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述MCU測試子電路板，包括：燒錄插座，所述燒錄插座用于為待測MCU芯片下載不同性能和功能測試的測試程序。
6.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述MCU測試母電路板通過插接不同的MCU測試子電路板，以對不同的待測MCU芯片進行測試。
7.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述輸出參數(shù)，包括如下中的至少一種：輸入電流、輸出電平及輸出信號頻率。
8.一種使用如權利要求
9.一種計算機設備，其特征在于，包括：
10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，其上存有計算機程序，所述計算機程序被執(zhí)行時，實現(xiàn)如權利要求8所述的方法。
...【技術特征摘要】
1.一種用于微控制器mcu芯片測試的裝置，其特征在于，包括：主控電路板、mcu測試母電路板和mcu測試子電路板；
2.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述mcu測試子電路板通過連接插座將多路輸出參數(shù)發(fā)送至mcu測試母電路板。
3.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述mcu測試子電路板包括多個，mcu測試母電路板通過多個器件連接插座分別和多個mcu測試子電路板進行通信。
4.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述主控電路板與mcu測試母電路板通過數(shù)據(jù)連接線進行數(shù)據(jù)通信。
5.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述mcu測試子電路板，包括：燒錄插座，所...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：高天予，熊素琴，鄒和平，鄭安剛，李揚，李求洋，成達，李甲祎，李龍濤，許佳佳，楊巍，陳思禹，王雅濤，趙越，秦程林，趙立濤，郭建寧，李禹凡，謝思博，譚琛，
申請(專利權)人：中國電力科學研究院有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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