本發明專利技術公開了一種可連續測量的兩級超細顆粒物檢測裝置，屬于氣體顆粒物檢測測試領域，包括：依次連接的一級檢測裝置和二級檢測裝置；所述一級檢測裝置用于采集超細顆粒物的第一溫度信息，并根據第一溫度信息對超細顆粒物使用不同的通道進行一級檢測，得到一級檢測結果，所述二級檢測裝置用于采集一級檢測后的超細顆粒物的第二溫度信息，并根據第二溫度信息對一級檢測后的超細顆粒物使用不同通道進行二級檢測，得到二次檢測后的超細顆粒物的數量和濃度信息。本發明專利技術通過二級檢測提高檢測精度，并可實現高、低溫場景的連續應用檢測，提高了檢測的環境溫度適應性，同時也提高了檢測效率和檢測的便捷性。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于大氣污染顆粒物排放測試與控制和環境監測，尤其涉及一種可連續測量的兩級超細顆粒物檢測裝置。
技術介紹
1、當前的超細顆粒物檢測技術原理是基于粒子凝結增長和光散射原理、電遷移原理、空氣動力學原理、擴散荷電原理、聲光結合測量原理等。這些檢測技術都是一次性完成檢測，存在系統參數偏差、檢測的顆粒物溫度區間小，檢測靈敏度有限易出錯，環境適應性差導致檢測精度低等問題。
2、一次性檢測在準確性、不確定性以及信息充分性等方面存在缺點。一次性完成檢測時不會考慮超細顆粒物在采樣通道內的擴散效應，忽視了顆粒物的荷電特性與粒徑分布的變化，檢測時出現的顆粒物凝并導致的顆粒粒徑增長和濃度變化都不能有效檢測到，從而降低了實際測量精度。一次性完成檢測時會因為靈敏度及響應問題出現檢測不連續的情況，進而影響測量結果的準確性。
技術實現思路
1、為解決上述技術問題，本專利技術提出了一種可連續測量的兩級超細顆粒物檢測裝置，以解決上述現有技術存在的問題。
2、為實現上述目的，本專利技術提供了一種可連續測量的兩級超細顆粒物檢測裝置，包括：
3、依次連接的一級檢測裝置和二級檢測裝置；所述一級檢測裝置用于采集超細顆粒物的第一溫度信息，并根據第一溫度信息對超細顆粒物使用不同的通道進行一級檢測，得到一級檢測結果，所述二級檢測裝置用于采集一級檢測后的超細顆粒物的第二溫度信息，并根據第二溫度信息對一級檢測后的超細顆粒物使用不同通道進行二級檢測，得到二次檢測后的超細顆粒物的數量和濃度信息。</p>4、可選的，所述一級檢測裝置包括采樣管道、一級溫度傳感器、溫度信號處理模塊、溫度判斷模塊及一級顆粒物檢測裝置；
5、其中所述一級溫度傳感器設置在采樣管道的內部，所述采樣管道與所述一級顆粒物檢測裝置連通，所述一級溫度傳感器、溫度信號處理模塊、溫度判斷模塊依次連接，所述溫度判斷模塊與所述一級顆粒物檢測裝置連接以控制所述一級顆粒物檢測裝置的通道選擇；
6、通過采樣管道收集含有超細顆粒物的氣體，通過一級溫度傳感器采集超細顆粒物的第一溫度信息，通過溫度判斷模塊對經過溫度信號處理模塊處理后的第一溫度信息進行閾值判斷，根據第一溫度信息的閾值判斷結果對所述一級顆粒物檢測裝置進行通道選擇，通過所述一級顆粒物檢測裝置選擇不同的通道對超細顆粒物進行一級檢測。
7、可選的，所述一級顆粒物檢測裝置包括并行連接的一級低溫檢測通道和一級高溫檢測通道；
8、其中一級低溫檢測通道內部設置有一級低溫顆粒物檢測傳感器；一級高溫檢測通道內部設置有一級干燥劑和一級高溫顆粒物檢測傳感器，其中一級干燥劑相較于一級高溫顆粒物檢測傳感器的位置靠近二級高溫檢測通道的輸入端；
9、在第一溫度信息的閾值判斷結果中，當處理后的第一溫度信息小于等于第一閾值時，選擇并開啟一級低溫檢測通道，通過一級低溫顆粒物檢測傳感器對超細顆粒物進行濃度和數量的檢測，得到一級檢測結果；當處理后的第一溫度信息大于第一閾值時，選擇并開啟一級高溫檢測通道，通過一級干燥劑對超細顆粒物進行干燥，并通過一級高溫顆粒物檢測傳感器對干燥后的超細顆粒物進行濃度和數量的檢測，得到一級檢測結果。
10、可選的，所述第一閾值為200℃。
11、可選的，所述二級檢測裝置包括二級干燥劑、二級溫度傳感器、一級顆粒物采樣信號處理單元、二級顆粒物檢測裝置和二級顆粒物采樣信號處理單元；
12、所述一級檢測裝置與二級顆粒物檢測裝置通過管道連通，在連通的管道內部設置二級干燥劑和二級溫度傳感器，其中二級干燥劑相較于二級溫度傳感器的位置靠近一級檢測裝置的輸出端；二級溫度傳感器與所述一級顆粒物采樣信號處理單元連接，所述一級顆粒物采樣信號處理單元與二級顆粒物檢測裝置連接以控制所述二級顆粒物檢測裝置的通道選擇；二級顆粒物采樣信號處理單元與二級顆粒物檢測裝置連接以獲取二次檢測結果；
13、通過二級干燥劑對一次檢測的超細顆粒物進行干燥，通過二級溫度傳感器對干燥后的超細顆粒物進行檢測，得到第二溫度信息，通過一級顆粒物采樣信號處理單元對第二溫度信息進行閾值判斷，根據第二溫度信息的閾值判斷結果對所述二級顆粒物檢測裝置進行通道選擇，通過所述二級顆粒物檢測裝置選擇不同的通道對干燥后的超細顆粒物進行二級檢測；通過二級顆粒物采樣信號處理單元獲取二級檢測結果。
14、可選的，所述二級顆粒物檢測裝置包括并行連接的二級低溫檢測通道和二級高溫檢測通道，其中二級低溫檢測通道中設置有二級低溫顆粒物檢測傳感器；二級高溫檢測通道中設置有二級高溫顆粒物檢測傳感器；
15、在第二溫度信息的閾值判斷結果中，當第二溫度信息小于等于第二閾值時，選擇并開啟二級低溫檢測通道，通過二級低溫顆粒物檢測傳感器對干燥后的超細顆粒物進行濃度和數量的檢測，得到二級檢測結果；當第二溫度信息大于第二閾值時，選擇并開啟二級高溫檢測通道，通過二級高溫顆粒物檢測傳感器對干燥后的超細顆粒物進行濃度和數量的檢測，得到二級檢測結果。
16、可選的，所述第二閾值為500℃。
17、可選的，所述二級檢測裝置中還設置有信息管理模塊，其中信息管理模塊與一級顆粒物采樣信號處理單元與所述二級顆粒物采樣信號處理單元連接；
18、所述一級顆粒物采樣信號處理單元與所述一級檢測裝置連接以獲取一級檢測結果；
19、其中所述信息管理模塊用于對所述一級檢測結果和二級檢測結果進行信息管理，其中信息管理包括一級檢測結果和二級檢測結果的單通道或者整體的顯示、存儲和共享。
20、與現有技術相比，本專利技術具有如下優點和技術效果：
21、本專利技術提出的一種可連續測量的兩級超細顆粒物檢測裝置，該裝置涉及一級檢測和二級檢測兩個顆粒物檢測階段，可以實現連續且精準的超細顆粒物檢測。具有可實現連續測量、廣泛的環境溫度及場景適用性、小型化與便攜性、數據準確性與可靠性的優勢，本專利技術提出的一種可連續測量的兩級超細顆粒物檢測裝置可提供更準確、全面的超細顆粒物監測數據。
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【技術保護點】
1.一種可連續測量的兩級超細顆粒物檢測裝置，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，
3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，
4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于，
5.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，
6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，
7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，
8.根據權利要求4所述的裝置，其特征在于，
【技術特征摘要】
1.一種可連續測量的兩級超細顆粒物檢測裝置，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，
3.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，
4.根據權利要求3所述的裝置，其特征在于...
【專利技術屬性】
技術研發人員：趙曉歡，
申請(專利權)人：暨南大學，
類型：發明
國別省市：
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