【技術實現步驟摘要】
本申請涉及測試，尤其是涉及一種基于微指令分類運行的測試方法、系統、終端及存儲介質。
技術介紹
1、電子元器件測試是電子元器件在出廠之前所必須要經過的一道測試工藝，目的是確保電子元器件符合設計要求，能夠正常工作并達到預期性能，測試過程中需要考慮元器件的各類參數、工作狀態以及其與其他元器件的相互作用。
2、相關技術在進行測試過程中，通過步驟指令來進行各個操作步驟的，步驟指令包括兩個部分：測試指令和微指令。在微指令的設置中，需要根據功能需求，對微指令進行整體的羅列，如需要先進行循環再跳轉，則需要將循環的微指令設置在前，將跳轉的微指令設置在后。
3、針對上述中的相關技術，專利技術人認為微指令的設置順序需要嚴格按照測試邏輯，在實際操作時，容易出現設置順序錯誤，導致整體測試流程出錯，使步驟指令的設置較為不便。
技術實現思路
1、為了簡化步驟指令的設置，本申請提供一種基于微指令分類運行的測試方法、系統、終端及存儲介質。
2、第一方面，本申請提供一種基于微指令分類運行的測試方法，采用如下的技術方案：
3、一種基于微指令分類運行的測試方法，包括：
4、響應于接收步驟指令，對所述步驟指令中的微指令進行分類，并確定所述微指令的分類優先級，所述步驟指令還包括測試指令；
5、響應于滿足測試開始條件，根據所述分類優先級，按序讀取所述微指令；
6、按照所述分類優先級運行所述微指令，得到所述測試指令的特殊執行狀態，所述特殊執行狀態
7、按照所述特殊執行狀態讀取并執行所述測試指令，得到電子元器件的測試結果。
8、通過采用上述技術方案，設置微指令的分類優先級，使得在測試電子元器件時，按照分類優先級依次讀取微指令，而不是按照微指令的輸入順序進行讀取。因此可以在輸入微指令時不考慮微指令的輸入順序，簡化了微指令的輸入，從而簡化了步驟指令的輸入。
9、可選的，響應于接收所述步驟指令，根據所述測試指令與所述微指令之間的對應關系，將所述微指令劃分為若干組微指令組；
10、讀取所述微指令組對應的測試指令的指令類型；
11、獲取所述電子元器件的測試場景；
12、根據所述指令類型和所述測試場景確定所述分類優先級。
13、通過采用上述技術方案，為不同微指令組分配不同的分類優先級，使得每組微指令組對應的分類優先級可以適應不同的場景，增強了方案的普適性。
14、可選的，在所述測試結果為結果報錯的情況下，根據所述測試結果讀取問題微指令組；
15、獲取所述問題微指令組對應的候選分類優先級；
16、執行第一更新步驟，所述第一更新步驟包括：更新所述候選分類優先級，使每次迭代過程中的所述候選分類優先級各不相同；
17、執行第一測試步驟，所述第一測試步驟包括：按照所述候選分類優先級對所述電子元器件進行測試，得到第一候選測試結果；
18、迭代所述第一更新步驟和所述第一測試步驟，得到若干組所述第一候選測試結果；
19、確定若干組所述第一候選測試結果中的目標測試結果，并記錄所述目標測試結果對應的分類優先級，所述目標測試結果為測試通過。
20、通過采用上述技術方案，通過更新分類優先級來調整電子元器件的測試邏輯，并從中確定正確的分類優先級。因此，本技術方案提供了一種自動修復分類優先級錯誤的方法，即使相關人員輸入錯誤的分類優先級，仍然可以對分類優先級進行修復。
21、可選的，在所述目標測試結果存在至少兩個的情況下，按照預設標準對所述目標測試結果進行評分，得到評價分數；
22、計算所述評價分數中的最大評價分數與其他評價分數的分數差值；
23、若所述評價分數中存在第一評價分數，使所述第一評價分數與所述最大評價分數的差值小于預設差值閾值，則通過測試模型確定所述第一評價分數對應的第一測試目的，以及通過所述測試模型確定所述最大評價分數對應的第二測試目的；
24、計算所述第一測試目的相對于所述電子元器件的初始測試要求的第一相似度，以及計算所述第二測試目的相對于所述初始測試要求的第二相似度；
25、在所述第一相似度大于所述第二相似度的情況下，記錄所述第一評價分數對應的分類優先級；
26、在所述第一相似度小于所述第二相似度的情況下，記錄所述最大評價分數對應的分類優先級。
27、通過采用上述技術方案，從多個目標測試結果中確定理想的測試結果，并記錄下前述測試結果對應的分類優先級，進而為后續測試提供樣本，保證后續測試的準確性。
28、可選的，在未檢測到所述目標測試結果的情況下，按照預設標準對所述第一候選測試結果進行評分，得到若干組候選評價分數；
29、選取所述候選評價分數中的最大值，得到最大候選評價分數；
30、確定所述最大候選評價分數對應的第一分類優先級和第一微指令組；
31、執行第二更新步驟，所述第二更新步驟包括：更新所述第一微指令組中每種微指令組的單條微指令讀取順序；
32、執行第二測試步驟，所述第二測試步驟包括：按照所述第二更新步驟之后的分類優先級對所述電子元器件進行測試，得到第二候選測試結果；
33、迭代所述第二更新步驟和所述第二測試步驟，得到若干組所述第二候選測試結果；
34、確定若干組所述第二候選測試結果中的所述目標測試結果，并記錄所述目標測試結果對應的分類優先級。
35、通過采用上述技術方案，在沒有得到目標測試結果的情況下，通過改變每種微指令組的單條微指令讀取順序來修復測試結果。
36、可選的，確定與所述第一微指令組相關的其他微指令組；
37、在所述第一微指令組保持采用所述第一分類優先級的情況下，更新所述其他微指令組的分類優先級，得到所述電子元器件的第三候選測試結果；
38、確定所述第三候選測試結果中的所述目標測試結果，并記錄所述目標測試結果對應的分類優先級。
39、通過采用上述技術方案，改變其他微指令組的分類優先級來修復步驟指令，使得修復后的步驟指令可以正常工作，并輸出準確的測試結果。
40、可選的，在歷史測試記錄中查找目標歷史測試記錄，所述目標歷史測試記錄與所述電子元器件的測試場景一致，且所述目標歷史測試記錄與所述電子元器件的測試結果的相似度小于預設閾值；
41、按照所述目標歷史測試記錄中的報錯處理方式，對所述分類優先級進行更新，得到歷史分類優先級；
42、通過所述歷史分類優先級對所述電子元器件進行測試。
43、通過采用上述技術方案，在歷史測試記錄中確定目標歷史測試記錄，并使用目標歷史測試記錄來對分類優先級進行更新，使得更新后的分類優先級盡可能地準確。
44、第二方面，本申請提供一種基于微指令分類運行的測試系統，采用如下的技術方案：...
【技術保護點】
1.一種基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
3.根據權利要求2所述的基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
4.根據權利要求3所述的基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
5.根據權利要求3所述的基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
6.根據權利要求5所述的基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
7.根據權利要求2所述的基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
8.一種基于微指令分類運行的測試系統，其特征在于，所述系統包括：
9.一種智能終端，其特征在于，包括存儲器和處理器，存儲器上存儲有能夠被處理器加載并執行如權利要求1至7中任一種方法的計算機程序。
10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，存儲有能夠被處理器加載并執行如權利要求1至7中任一種方法的計算機程序。
【技術特征摘要】
1.一種基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
3.根據權利要求2所述的基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
4.根據權利要求3所述的基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
5.根據權利要求3所述的基于微指令分類運行的測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
6.根據權利要求5所述的基于微指...
【專利技術屬性】
技術研發人員：胡久恒，趙興貴，
申請(專利權)人：杭州高坤電子科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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