【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本申請涉及自動化設(shè)備，尤其涉及單點(diǎn)標(biāo)定方法、裝置、設(shè)備、存儲介質(zhì)及產(chǎn)品。
技術(shù)介紹
1、在產(chǎn)品平面度ccd檢測項(xiàng)目中，經(jīng)常會用到3d激光傳感器對產(chǎn)品的平面度進(jìn)行3d線掃測量。
2、為保證測量準(zhǔn)確性，在測量產(chǎn)品的平面度前，需要先使用標(biāo)準(zhǔn)檢測設(shè)備omm（optical?measuring?machine，光學(xué)測量機(jī)）對3d激光傳感器進(jìn)行標(biāo)定，以保證3d激光傳感器對產(chǎn)品的測量符合標(biāo)準(zhǔn)。目前，在對3d激光傳感器進(jìn)行標(biāo)定時，通常是先利用omm與3d激光傳感器分別測量產(chǎn)品的平面度，再結(jié)合二者測量的平面度，對3d激光傳感器進(jìn)行標(biāo)定補(bǔ)償。但是，該補(bǔ)償方法容易受產(chǎn)品的平面度整體尺寸波動影響，導(dǎo)致對3d激光傳感器標(biāo)定的精準(zhǔn)性較低。
3、上述內(nèi)容僅用于輔助理解本申請的技術(shù)方案，并不代表承認(rèn)上述內(nèi)容是現(xiàn)有技術(shù)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請的主要目的在于提供一種單點(diǎn)標(biāo)定方法，旨在解決對3d激光傳感器標(biāo)定的精準(zhǔn)性較低的技術(shù)問題。
2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請?zhí)岢鲆环N單點(diǎn)標(biāo)定方法，所述的方法包括：
3、獲取3d激光傳感器對標(biāo)準(zhǔn)件中當(dāng)前測量點(diǎn)測量的第一點(diǎn)位高度，以及omm對所述當(dāng)前測量點(diǎn)測量的第二點(diǎn)位高度；
4、基于所述第一點(diǎn)位高度與所述第二點(diǎn)位高度，對所述3d激光傳感器進(jìn)行補(bǔ)償，獲得所述3d激光傳感器對所述當(dāng)前測量點(diǎn)的補(bǔ)償點(diǎn)位高度；
5、基于所述補(bǔ)償點(diǎn)位高度，對所述3d激光傳感器進(jìn)行單點(diǎn)標(biāo)定。
6、在一實(shí)施例中，所述基于所述補(bǔ)償點(diǎn)位
7、基于所述補(bǔ)償點(diǎn)位高度，對所述3d激光傳感器進(jìn)行單點(diǎn)測試；
8、對標(biāo)定的所述3d激光傳感器進(jìn)行驗(yàn)證，確定對所述3d激光傳感器的標(biāo)定誤差；
9、判斷所述標(biāo)定誤差是否滿足預(yù)設(shè)精度要求；
10、若不滿足所述預(yù)設(shè)精度要求，則執(zhí)行獲取3d激光傳感器對標(biāo)準(zhǔn)件中當(dāng)前測量點(diǎn)測量的第一點(diǎn)位高度，以及omm對所述當(dāng)前測量點(diǎn)測量的第二點(diǎn)位高度的步驟，直至所述標(biāo)定誤差是否滿足預(yù)設(shè)精度要求，完成對所述3d激光傳感器進(jìn)行單點(diǎn)標(biāo)定。
11、在一實(shí)施例中，所述對標(biāo)定的所述3d激光傳感器進(jìn)行驗(yàn)證，確定對所述3d激光傳感器的標(biāo)定誤差的步驟包括：
12、獲取標(biāo)定后所述3d激光傳感器對所述標(biāo)準(zhǔn)件進(jìn)行平面度測量的測量高度；
13、基于所述測量高度與所述第二點(diǎn)位高度，確定對所述3d激光傳感器的標(biāo)定誤差。
14、在一實(shí)施例中，所述基于所述補(bǔ)償點(diǎn)位高度，對所述3d激光傳感器進(jìn)行單點(diǎn)標(biāo)定的步驟之后包括：
15、在獲得到所述3d激光傳感器對所述標(biāo)準(zhǔn)件中所有測量點(diǎn)的補(bǔ)償點(diǎn)位高度后，基于各所述補(bǔ)償點(diǎn)位高度，對所述標(biāo)準(zhǔn)件進(jìn)行平面擬合，確定所述標(biāo)準(zhǔn)件的擬合平面；
16、基于所述擬合平面，檢測對3d激光傳感器的整體標(biāo)定結(jié)果。
17、在一實(shí)施例中，所述基于所述第一點(diǎn)位高度與所述第二點(diǎn)位高度，對所述3d激光傳感器進(jìn)行補(bǔ)償，獲得所述3d激光傳感器對所述當(dāng)前測量點(diǎn)的補(bǔ)償點(diǎn)位高度的步驟包括：
18、對所述第一點(diǎn)位高度與所述第二點(diǎn)位高度進(jìn)行差值計(jì)算，獲得所述3d激光傳感器對所述當(dāng)前測量點(diǎn)的測量誤差；
19、基于所述測量點(diǎn)的測量誤差，對所述3d激光傳感器進(jìn)行補(bǔ)償，獲得所述當(dāng)前測量點(diǎn)的補(bǔ)償點(diǎn)位高度。
20、在一實(shí)施例中，所述獲取3d激光傳感器對標(biāo)準(zhǔn)件中當(dāng)前測量點(diǎn)測量的第一點(diǎn)位高度，以及omm對所述當(dāng)前測量點(diǎn)測量的第二點(diǎn)位高度的步驟之前還包括：
21、從預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)件集中選擇預(yù)設(shè)數(shù)量個標(biāo)準(zhǔn)件，所述標(biāo)準(zhǔn)件包括預(yù)設(shè)子數(shù)量個超出平面度標(biāo)準(zhǔn)波動下限的下限標(biāo)準(zhǔn)件、預(yù)設(shè)子數(shù)量個超出所述平面度標(biāo)準(zhǔn)波動上限的上限標(biāo)準(zhǔn)件、預(yù)設(shè)子數(shù)量個位于所述平面度標(biāo)準(zhǔn)波動中值的中值標(biāo)準(zhǔn)件、預(yù)設(shè)子數(shù)量個位于所述平面度標(biāo)準(zhǔn)波動內(nèi)最靠近下限的下限靠近標(biāo)準(zhǔn)件，以及預(yù)設(shè)子數(shù)量個位于所述平面度標(biāo)準(zhǔn)波動內(nèi)最靠近上限的上限靠近標(biāo)準(zhǔn)件。
22、此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請還提出一種單點(diǎn)標(biāo)定裝置，所述單點(diǎn)標(biāo)定裝置包括：
23、獲取模塊，用于獲取3d激光傳感器對標(biāo)準(zhǔn)件中當(dāng)前測量點(diǎn)測量的第一點(diǎn)位高度，以及omm對所述當(dāng)前測量點(diǎn)測量的第二點(diǎn)位高度；
24、補(bǔ)償模塊，用于基于所述第一點(diǎn)位高度與所述第二點(diǎn)位高度，對所述3d激光傳感器進(jìn)行補(bǔ)償，獲得所述3d激光傳感器對所述當(dāng)前測量點(diǎn)的補(bǔ)償點(diǎn)位高度；
25、標(biāo)定模塊，用于基于所述補(bǔ)償點(diǎn)位高度，對所述3d激光傳感器進(jìn)行單點(diǎn)標(biāo)定。
26、此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請還提出一種單點(diǎn)標(biāo)定設(shè)備，所述設(shè)備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序配置為實(shí)現(xiàn)如上文所述的單點(diǎn)標(biāo)定方法的步驟。
27、此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請還提出一種存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)為計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)上存儲有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如上文所述的單點(diǎn)標(biāo)定方法的步驟。
28、此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請還提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，所述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如上文所述的單點(diǎn)標(biāo)定方法的步驟。
29、本申請?zhí)岢龅囊粋€或多個技術(shù)方案，至少具有以下技術(shù)效果：
30、通過3d激光傳感器與omm分別測量標(biāo)準(zhǔn)件的相同測量點(diǎn)，獲得3d激光傳感器測量當(dāng)前測量點(diǎn)的第一點(diǎn)位高度，以及omm測量當(dāng)前測量點(diǎn)的第二點(diǎn)位高度，以保證omm與3d激光傳感器對標(biāo)準(zhǔn)件測量的點(diǎn)位是相同的，減少點(diǎn)位不同帶來的標(biāo)定誤差，再根據(jù)第一點(diǎn)位高度與第二點(diǎn)位高度，對3d激光傳感器進(jìn)行單點(diǎn)補(bǔ)償，獲得補(bǔ)償點(diǎn)位高度，以對3d激光傳感器針對當(dāng)前測量點(diǎn)進(jìn)行標(biāo)定補(bǔ)償，由于3d激光傳感器與omm測量的測量點(diǎn)是相同，且點(diǎn)不容易受到產(chǎn)品尺寸的影響，因此，提高了對3d激光傳感器標(biāo)定的精準(zhǔn)性。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種單點(diǎn)標(biāo)定方法，其特征在于，所述的方法包括：
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述補(bǔ)償點(diǎn)位高度，對所述3D激光傳感器進(jìn)行單點(diǎn)標(biāo)定的步驟包括：
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述對標(biāo)定的所述3D激光傳感器進(jìn)行驗(yàn)證，確定對所述3D激光傳感器的標(biāo)定誤差的步驟包括：
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述補(bǔ)償點(diǎn)位高度，對所述3D激光傳感器進(jìn)行單點(diǎn)標(biāo)定的步驟之后包括：
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一點(diǎn)位高度與所述第二點(diǎn)位高度，對所述3D激光傳感器進(jìn)行補(bǔ)償，獲得所述3D激光傳感器對所述當(dāng)前測量點(diǎn)的補(bǔ)償點(diǎn)位高度的步驟包括：
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取3D激光傳感器對標(biāo)準(zhǔn)件中當(dāng)前測量點(diǎn)測量的第一點(diǎn)位高度，以及OMM對所述當(dāng)前測量點(diǎn)測量的第二點(diǎn)位高度的步驟之前還包括：
7.一種單點(diǎn)標(biāo)定裝置，其特征在于，所述裝置包括：
8.一種單點(diǎn)標(biāo)定設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運(yùn)行的
9.一種存儲介質(zhì)，其特征在于，所述存儲介質(zhì)為計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)上存儲有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的單點(diǎn)標(biāo)定方法的步驟。
10.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的單點(diǎn)標(biāo)定方法的步驟。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種單點(diǎn)標(biāo)定方法，其特征在于，所述的方法包括：
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述補(bǔ)償點(diǎn)位高度，對所述3d激光傳感器進(jìn)行單點(diǎn)標(biāo)定的步驟包括：
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述對標(biāo)定的所述3d激光傳感器進(jìn)行驗(yàn)證，確定對所述3d激光傳感器的標(biāo)定誤差的步驟包括：
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述補(bǔ)償點(diǎn)位高度，對所述3d激光傳感器進(jìn)行單點(diǎn)標(biāo)定的步驟之后包括：
5.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一點(diǎn)位高度與所述第二點(diǎn)位高度，對所述3d激光傳感器進(jìn)行補(bǔ)償，獲得所述3d激光傳感器對所述當(dāng)前測量點(diǎn)的補(bǔ)償點(diǎn)位高度的步驟包括：
6.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取3d激光傳感器對標(biāo)準(zhǔn)件中...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：喬海濤，孫傳路，王新福，郭連超，郝治超，
申請(專利權(quán))人：歌爾股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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