【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本申請涉及處理器領(lǐng)域，具體而言，涉及一種芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法、系統(tǒng)以及電子設(shè)備芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法、系統(tǒng)以及電子設(shè)備。
技術(shù)介紹
1、隨著半導(dǎo)體工藝技術(shù)的發(fā)展和系統(tǒng)設(shè)計(jì)復(fù)雜度的不斷提高，功耗在集成電路設(shè)計(jì)方面的重要性不斷凸顯。高功耗帶來很多嚴(yán)重的挑戰(zhàn)，例如增加芯片的運(yùn)行溫度，降低芯片的可靠性，增加芯片成本等。
2、由于芯片在制造和工作過程中存在差異性，會(huì)造成相同設(shè)計(jì)的芯片在不同生產(chǎn)批次和不同工作環(huán)境下的性能都不一樣，從而難以探測出芯片性能與各影響因素之間的具體關(guān)系，導(dǎo)致難以對芯片的工作電壓進(jìn)行有效調(diào)節(jié)，從而使得芯片的功耗較高。
3、針對上述的問題，目前尚未提出有效的解決方案。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請實(shí)施例提供了一種芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法、系統(tǒng)以及電子設(shè)備芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法、系統(tǒng)以及電子設(shè)備，以至少解決相關(guān)技術(shù)中芯片的工作電壓調(diào)節(jié)效率較低相關(guān)技術(shù)中芯片的功耗較高的技術(shù)問題。
2、根據(jù)本申請實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法包括：響應(yīng)于接收到芯片的工作電壓調(diào)節(jié)指令，采集芯片的多個(gè)檢測值，其中，不同檢測值用于通過不同類型的傳感器對芯片進(jìn)行檢測得到；利用電壓模型對多個(gè)檢測值進(jìn)行預(yù)測，得到芯片的頻率電壓映射關(guān)系，其中，頻率電壓映射關(guān)系用于描述芯片在不同工作頻率下對應(yīng)的最低工作電壓，電壓模型根據(jù)處于不同工作頻率中的樣本芯片對應(yīng)的多個(gè)樣本檢測值和樣本最低工作電壓訓(xùn)練得到；基于頻率電壓映射關(guān)系和芯片的目標(biāo)工作頻率調(diào)節(jié)芯片的當(dāng)前工作電壓，其中，目標(biāo)
3、根據(jù)本申請實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種芯片工作電壓調(diào)節(jié)系統(tǒng)，包括：多個(gè)傳感器，與芯片連接，用于對芯片進(jìn)行檢測，得到多個(gè)檢測值；電壓調(diào)節(jié)裝置，與多個(gè)傳感器連接，用于在接收到芯片的工作電壓調(diào)節(jié)指令后，采集多個(gè)檢測值，并利用電壓模型對多個(gè)檢測值進(jìn)行預(yù)測，得到芯片的頻率電壓映射關(guān)系，基于頻率電壓映射關(guān)系和芯片的目標(biāo)工作頻率芯片的當(dāng)前工作電壓，其中，頻率電壓映射關(guān)系用于描述芯片在不同工作頻率下對應(yīng)的最低工作電壓，電壓模型根據(jù)處于不同工作頻率中的樣本芯片對應(yīng)的多個(gè)樣本檢測值和樣本最低工作電壓訓(xùn)練得到，目標(biāo)工作頻率為芯片所要達(dá)到的工作頻率。
4、根據(jù)本申請實(shí)施例的另一方面，還提供了一種電子設(shè)備，包括：存儲(chǔ)器，存儲(chǔ)有可執(zhí)行程序；處理器，用于運(yùn)行程序，其中，程序運(yùn)行時(shí)執(zhí)行本申請各個(gè)實(shí)施例中的方法。
5、根據(jù)本申請實(shí)施例的另一方面，還提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)包括存儲(chǔ)的可執(zhí)行程序，其中，在可執(zhí)行程序運(yùn)行時(shí)控制計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)所在設(shè)備執(zhí)行本申請各個(gè)實(shí)施例中的方法。
6、根據(jù)本申請實(shí)施例的另一方面，還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序在被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本申請各個(gè)實(shí)施例中的方法。
7、根據(jù)本申請實(shí)施例的另一方面，還提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括非易失性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，非易失性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本申請各個(gè)實(shí)施例中的方法。
8、根據(jù)本申請實(shí)施例的另一方面，還提供了一種計(jì)算機(jī)程序，計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)本申請各個(gè)實(shí)施例中的方法。
9、在本申請實(shí)施例中，響應(yīng)于接收到芯片的工作電壓調(diào)節(jié)指令，采集芯片的多個(gè)檢測值，其中，不同檢測值用于通過不同類型的傳感器對芯片進(jìn)行檢測得到；利用電壓模型對多個(gè)檢測值進(jìn)行預(yù)測，得到芯片的頻率電壓映射關(guān)系，其中，頻率電壓映射關(guān)系用于描述芯片在不同工作頻率下對應(yīng)的最低工作電壓，電壓模型根據(jù)處于不同工作頻率中的樣本芯片對應(yīng)的多個(gè)樣本檢測值和樣本最低工作電壓訓(xùn)練得到；基于頻率電壓映射關(guān)系和芯片的目標(biāo)工作頻率調(diào)節(jié)芯片的當(dāng)前工作電壓，其中，目標(biāo)工作頻率為芯片所要達(dá)到的工作頻率，實(shí)現(xiàn)了提高芯片的工作電壓調(diào)節(jié)效率的目的；容易注意到的是，本申請通過提前根據(jù)處于不同工作頻率中的樣本芯片對應(yīng)的多個(gè)樣本檢測值和樣本最低工作電壓訓(xùn)練得到電壓模型，可以在采集到芯片的多個(gè)檢測值后，利用電壓模型快速計(jì)算出頻率電壓的映射關(guān)系，基于頻率電壓映射關(guān)系和芯片的目標(biāo)工作頻率，自動(dòng)調(diào)節(jié)芯片的當(dāng)前工作電壓，確保在目標(biāo)工作頻率下，芯片工作在最低功耗狀態(tài)，從而提高芯片的工作電壓調(diào)節(jié)效率，以便有效的降低芯片的功耗，進(jìn)而解決了相關(guān)技術(shù)中芯片的工作電壓調(diào)節(jié)效率較低的技術(shù)問題。
10、容易注意到的是，上面的通用描述和后面的詳細(xì)描述僅僅是為了對本申請進(jìn)行舉例和解釋，并不構(gòu)成對本申請的限定。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，基于所述頻率電壓映射關(guān)系和所述芯片的目標(biāo)工作頻率調(diào)節(jié)所述芯片的當(dāng)前工作電壓，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，基于所述最低工作電壓調(diào)節(jié)所述當(dāng)前工作電壓，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，所述電壓模型通過損失函數(shù)對初始電壓模型的模型參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)得到，所述損失函數(shù)基于測試工作電壓和所述樣本最低工作電壓構(gòu)建，所述測試工作電壓為所述初始電壓模型對所述多個(gè)樣本檢測值進(jìn)行預(yù)測得到。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，響應(yīng)于接收到芯片的工作電壓調(diào)節(jié)指令，采集所述芯片的多個(gè)檢測值，包括：
6.一種芯片工作電壓調(diào)節(jié)系統(tǒng)，其特征在于，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的芯片工作電壓調(diào)節(jié)系統(tǒng)，其特征在于，所述多個(gè)傳感器包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的芯片工作電壓調(diào)節(jié)系統(tǒng)，其特征在于，所述工藝傳感器包括：
9.根據(jù)權(quán)利要
10.一種片上系統(tǒng)，其特征在于，包括：權(quán)利要求7至9中任意一項(xiàng)所述的系統(tǒng)。
11.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
12.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)包括存儲(chǔ)的可執(zhí)行程序，其中，在所述可執(zhí)行程序運(yùn)行時(shí)控制所述存儲(chǔ)介質(zhì)所在設(shè)備執(zhí)行權(quán)利要求1至6中任意一項(xiàng)所述的方法。
13.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，其特征在于，包括計(jì)算機(jī)程序或指令，所述計(jì)算機(jī)程序在被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)根據(jù)權(quán)利要求1至6中任意一項(xiàng)所述的方法。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，基于所述頻率電壓映射關(guān)系和所述芯片的目標(biāo)工作頻率調(diào)節(jié)所述芯片的當(dāng)前工作電壓，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，基于所述最低工作電壓調(diào)節(jié)所述當(dāng)前工作電壓，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，所述電壓模型通過損失函數(shù)對初始電壓模型的模型參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)得到，所述損失函數(shù)基于測試工作電壓和所述樣本最低工作電壓構(gòu)建，所述測試工作電壓為所述初始電壓模型對所述多個(gè)樣本檢測值進(jìn)行預(yù)測得到。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片工作電壓調(diào)節(jié)方法，其特征在于，響應(yīng)于接收到芯片的工作電壓調(diào)節(jié)指令，采集所述芯片的多個(gè)檢測值，包括：
6.一種芯片工作電壓調(diào)節(jié)系統(tǒng)，其特...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：王彤，奚嘉琦，王梓任，楊雪燕，
申請(專利權(quán))人：阿里巴巴達(dá)摩院杭州科技有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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