【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及太赫茲時域光譜測量，尤其涉及一種太赫茲時域光譜brdf測量系統及方法。
技術介紹
1、目前，太赫茲時域光材料反射率測量系統中，通常有多角度測量系統，但缺少更全面角度范圍的雙向反射分布函數(bidirectional?reflectance?distribution?function，brdf)的測量系統。因此，提供一種brdf測量系統，可以補足太赫茲時域光譜在brdf測量方面的欠缺。
2、目前尚未有此類測量系統。
技術實現思路
1、本專利技術的目的是提供一種太赫茲時域光譜brdf測量系統及方法，實現太赫茲時域光譜brdf測量。
2、為了實現上述目的，第一方面，本專利技術提供了一種太赫茲時域光譜brdf測量系統，包括全光纖激光收發鏈路，全光纖激光收發鏈路的發射天線和接收天線，分別用于發射太赫茲波和接收太赫茲波回波，還包括：
3、六軸式機械臂，用于支撐并調節待測材料的測試角度，實現待測材料空間任意姿態的定位；
4、第一離軸拋物面鏡，相對發射天線固定，用于將發射天線出射的太赫茲波轉換為平行波束照射到待測材料；
5、第二離軸拋物面鏡，相對接收天線固定，且能夠圍繞六軸式機械臂發生圓周運動，用于將待測材料反射的太赫茲波回波反射至接收天線，第一離軸拋物面鏡和第二離軸拋物面鏡位于同一平面；
6、控制器，用于采集待測材料的半球空間角度的太赫茲波的回波信號，通過處理分析得到待測材料的雙向反射分布函數。
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8、轉動結構包括支撐架和環形滑軌，環形滑軌鋪設在基座上，六軸式機械臂位于環形滑軌的中心，第二離軸拋物面鏡和接收天線固定安裝在支撐架上，支撐架沿環形滑軌滑動。
9、可選地，太赫茲時域光譜brdf測量系統還包括用于驅動支撐架沿環形滑軌滑動的驅動電機，驅動電機和六軸式機械臂與控制器信號連接。
10、可選地，基座為地面或者工作臺。
11、可選地，第一離軸拋物面鏡和發射天線固定在金屬板上。
12、第二方面，本專利技術還提供了一種太赫茲時域光譜brdf測量方法，包括以下步驟：
13、構建第一方面中任一實現方式的太赫茲時域光譜brdf測量系統；
14、通過六軸式機械臂對待測材料的測量角度進行調整，并分別對位于不同測量角度的待測材料進行測量；
15、控制器采集待測材料的半球空間角度的太赫茲波的回波信號，通過處理分析得到待測材料的雙向反射分布函數。
16、本專利技術的上述技術方案具有如下優點：
17、本專利技術提供的太赫茲時域光譜brdf測量系統，包括全光纖激光收發鏈路，全光纖激光收發鏈路的發射天線和接收天線，分別用于發射太赫茲波和接收太赫茲波回波，還包括用于支撐并調節待測材料的測試角度，實現待測材料空間任意姿態的定位的六軸式機械臂，第一離軸拋物面鏡相對發射天線固定，用于將發射天線出射的太赫茲波轉換為平行波束照射到待測材料，第二離軸拋物面鏡相對接收天線固定，且能夠圍繞六軸式機械臂發生圓周運動，第一離軸拋物面鏡和第二離軸拋物面鏡位于同一平面用于將待測材料反射的太赫茲波回波反射至接收天線，第一離軸拋物面鏡和第二離軸拋物面鏡位于同一平面。控制器用于采集待測材料的半球空間角度的太赫茲波的回波信號，通過處理分析得到待測材料的雙向反射分布函數。該測量系統通過簡單的結構，實現待測材料的半球空間角度的太赫茲波的回波信號采集，進而實現待測材料的雙向反射分布函數。
18、本專利技術提供的太赫茲時域光譜brdf測量方法，通過六軸式機械臂對待測材料的測量角度進行調整，并分別對位于不同測量角度的待測材料進行測量，控制器采集待測材料的半球空間角度的太赫茲波的回波信號，通過處理分析得到待測材料的雙向反射分布函數，操作簡單、測量方便。
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1.一種太赫茲時域光譜BRDF測量系統，包括全光纖激光收發鏈路，所述全光纖激光收發鏈路的發射天線和接收天線，分別用于發射太赫茲波和接收太赫茲波回波，其特征在于，還包括：
2.根據權利要求1所述的太赫茲時域光譜BRDF測量系統，其特征在于：所述六軸式機械臂安裝在基座上，所述第二離軸拋物面鏡和所述接收天線通過轉動結構安裝所述基座上；
3.根據權利要求2所述的太赫茲時域光譜BRDF測量系統，其特征在于：還包括用于驅動所述支撐架沿所述環形滑軌滑動的驅動電機，所述驅動電機和所述六軸式機械臂與所述控制器信號連接。
4.根據權利要求2所述的太赫茲時域光譜BRDF測量系統，其特征在于：所述基座為地面或者工作臺。
5.根據權利要求1所述的太赫茲時域光譜BRDF測量系統，其特征在于：所述第一離軸拋物面鏡和所述發射天線固定在金屬板上。
6.一種太赫茲時域光譜BRDF測量方法，其特征在于：包括以下步驟：
【技術特征摘要】
1.一種太赫茲時域光譜brdf測量系統，包括全光纖激光收發鏈路，所述全光纖激光收發鏈路的發射天線和接收天線，分別用于發射太赫茲波和接收太赫茲波回波，其特征在于，還包括：
2.根據權利要求1所述的太赫茲時域光譜brdf測量系統，其特征在于：所述六軸式機械臂安裝在基座上，所述第二離軸拋物面鏡和所述接收天線通過轉動結構安裝所述基座上；
3.根據權利要求2所述的太赫茲時域光譜brdf測量系統，其特征在于：還...
【專利技術屬性】
技術研發人員：張旭濤，蔡禾，劉子龍，李糧生，庾韜穎，孫金海，李進春，
申請(專利權)人：北京環境特性研究所，
類型：發明
國別省市：
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