【技術實現步驟摘要】
本申請涉及電子元器件測試，尤其是涉及一種電子元器件測試方法、系統、智能終端及存儲介質。
技術介紹
1、電子元器件測試是電子元器件在出廠之前所必須要經過的一道測試工藝，目的是確保電子元器件符合設計要求，能夠正常工作并達到預期性能，測試過程中需要考慮元器件的各類參數、工作狀態以及其與其他元器件的相互作用。
2、相關技術在對電子元器件進行測試時，會向電子元器件發送步驟指令，步驟指令包括測試指令和微指令，測試指令是對電子元器件的各個pin腳的高低電平的控制信息，微指令是一些特殊狀態指令，如跳轉、循環等。電子元器件在執行步驟指令的同時，由上位機實時監測pin腳的輸出電平，并通過輸出電平判斷電子元器件是否正常工作。
3、針對上述中的相關技術，專利技術人認為步驟指令由測試指令和微指令組成，但是微指令出現的幾率較小，使得一些不需要微指令的測試指令后會跟有空白的微指令，占據了步驟指令的存儲空間，影響測試速度。
技術實現思路
1、為了減小指令的存儲空間，提高測試速度，本申請提供一種電子元器件測試方法、系統、智能終端及存儲介質。
2、第一方面，本申請提供一種電子元器件測試方法，采用如下的技術方案：
3、一種電子元器件測試方法，包括：
4、響應于檢測到測試操作，將測試指令存儲至第一存儲空間，以及將微指令存儲至第二存儲空間，所述微指令與所述測試指令存在關聯信息；
5、讀取所述微指令，確定所述微指令對應的目標測試指令并確定所述目標微指令在
6、根據所述測試指令位置從所述第一存儲空間中讀取本次測試使用的當前測試指令；
7、按照所述當前測試指令和所述測試指令位置，生成電子元器件的測試指令運行邏輯；
8、按照所述測試指令運行邏輯執行所述測試指令，以完成對所述電子元器件的測試。
9、通過采用上述技術方案，將測試指令和微指令分開存儲，不需要將微指令放置在測試后指令后，可以有效減小指令的存儲空間，提升了測試指令的讀取速度，提高了電子元器件的測試運行速度。
10、可選的，確定所述目標測試指令在所述測試指令的初始排列順序中的排列位置；
11、按照所述測試指令位置和所述排列位置，對所述初始排列順序進行調整，得到所述測試指令的讀取順序；
12、按照所述讀取順序從所述第一存儲空間中依次讀取所述當前測試指令。
13、通過采用上述技術方案，通過微指令的內容決定測試指令的讀取順序，使讀取順序與測試指令的執行順序一致，可以提高測試指令的讀取效率，而且可以同步實現測試指令的讀取與實施。
14、可選的，響應于第一更新操作，確定所述第二存儲空間中的第一微指令，所述第一更新操作包括增加操作、刪除操作和修改操作中的至少一種；
15、讀取所述第一微指令，獲取所述第一微指令對應的第一測試指令并確定所述第一微指令在操作后對應的第一測試指令位置；
16、比較原測試指令位置和所述第一測試指令位置是否一致，所述原測試指令位置是在接收所述更新操作之前所述第一微指令在操作后對應的測試指令位置；
17、若是，則保持所述讀取順序不變；
18、若否，則根據所述第一測試指令位置對所述讀取順序進行更新。
19、通過采用上述技術方案，可以只對微指令進行單獨更新，更新過程不會影響測試指令，也不需要重新寫入新的測試指令，可以實現測試指令的在線實時調整。
20、可選的，按照更新后的讀取順序從第一存儲空間中讀取第一測試指令；
21、提取所述測試指令的優先級順序；
22、判斷所述更新后的讀取順序是否與所述優先級順序互斥；
23、若是，則識別所述更新后的讀取順序與所述優先級順序產生互斥對應的候選測試指令；組合所述候選測試指令和所述優先級順序，生成提示信息；
24、若否，則繼續執行后續步驟。
25、通過采用上述技術方案，評判更新后的微指令是否會影響測試指令的正常執行，保證更新后的微指令能夠正確地指示測試指令正常工作。
26、可選的，在所述第一微指令為目標類型的微指令的情況下，判斷更新前的讀取順序與更新后的讀取順序是否均與優先級順序互斥；
27、若否，則使用所述更新前的讀取順序生成第一測試指令運行邏輯，并使用所述更新后的讀取順序生成第二測試指令運行邏輯；
28、確定所述第一測試指令運行邏輯和所述第二測試指令運行邏輯的重合部分；
29、使用所述重合部分對所述電子元器件進行測試；
30、在測試進行到所述重合部分的結尾部分時，根據所述電子元器件的測試場景，選擇執行所述第一測試指令運行邏輯或所述第二測試指令運行邏輯。
31、通過采用上述技術方案，通過設置目標類型的微指令，為測試指令分配兩種不同的測試指令運行邏輯，在實際測試過程中，會根據不同情形使用不同的測試指令運行邏輯進行測試。而且，針對不同的測試指令運行邏輯，不需要存儲多套不同的測試指令，只需要存儲一套測試指令即可，可以減少測試指令的存儲空間，保證電子元器件測試過程的測試效率。
32、可選的，響應于第二更新操作，確定所述第一存儲空間中第二測試指令，所述第二更新操作包括增加操作、刪除操作和修改操作中的至少一種；
33、在所述第二測試指令是當前測試指令的情況下，使用第二測試指令更新所述測試指令運行邏輯；
34、檢測所述測試指令運行邏輯是否通過可行性判斷；
35、若是，則按照所述測試指令運行邏輯執行所述測試指令；
36、若否，則識別所述測試指令運行邏輯中的報錯指令；使用所述報錯指令生成報錯信號，所述報錯信號用于指示所述報錯指令在所述讀取順序中的位置。
37、通過采用上述技術方案，可以實現對測試指令的單獨更新，且更新不會影響微指令。在測試指令的單獨更新出現錯誤的情況下，還會生成報錯信號來提示相關人員，以保證電子元器件的測試正常執行。
38、可選的，提取所述報錯指令以及所述報錯指令對應的第二微指令；
39、根據所述第二微指令以及所述測試指令的優先級順序，識別所述報錯指令的報錯原因；
40、按照所述報錯原因對所述第二微指令進行修改。
41、通過采用上述技術方案，在測試指令發生更新之后，可以對報錯指令進行適應性的修改，使得修改后的報錯指令能夠被電子元器件正常執行，保證了電子元器件的正常測試。
42、第二方面，本申請提供一種電子元器件測試系統，采用如下的技術方案：
43、一種電子元器件測試系統，包括：
44、獲取模塊，用于獲取測試操作、測試指令、微指令、第一更新操作、原測試指令位置、優先級順序和第二更新操作；
45、存儲器，用于存儲上述中任一項的電子元器件測試方法的程序；
46、處理器，存儲器中的程序能夠被處理器加本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種電子元器件測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的電子元器件測試方法，其特征在于，所述根據所述測試指令位置從所述第一存儲空間中讀取本次測試使用的當前測試指令，包括：
3.根據權利要求2所述的電子元器件測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
4.根據權利要求3所述的電子元器件測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
5.根據權利要求3所述的電子元器件測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
6.根據權利要求2所述的電子元器件測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
7.根據權利要求6所述的電子元器件測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
8.一種電子元器件測試系統，其特征在于，包括：
9.一種智能終端，其特征在于，包括存儲器和處理器，存儲器上存儲有能夠被處理器加載并執行如權利要求1至7中任一種方法的計算機程序。
10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，存儲有能夠被處理器加載并執行如權利要求1至7中任一種方法的計算機程序。
【技術特征摘要】
1.一種電子元器件測試方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的電子元器件測試方法，其特征在于，所述根據所述測試指令位置從所述第一存儲空間中讀取本次測試使用的當前測試指令，包括：
3.根據權利要求2所述的電子元器件測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
4.根據權利要求3所述的電子元器件測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
5.根據權利要求3所述的電子元器件測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
6.根據...
【專利技術屬性】
技術研發人員：胡久恒，趙興貴，
申請(專利權)人：杭州高坤電子科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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